首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2021-12-27 09:25

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

任务/系统说明 b LM"t0  
y /:T(tk$  
x:?a;muf  
 pP0Vg'V  
亮点 $?)3&\)R  
sVZZp  
l/ rZcf8z  
 O GFE*  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； lg onR  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； 3K#mF7)a  
 r[v-?W'  
具体要求：光源 1n`1o-&l-  
W>0"CUp  
JOdwv4(3V  
SCurO9RN  
具体要求：用于准直的消色差透镜 }PFt  
(}C^_q:7d  
/iUUM t'  
r6n5Jz  
(H8C\%g:  
'8l yj&  
Sn(l$wk=  
!)%>AH'  
具体要求：分束器 MV<!<Qmj  
Cfr<D3&,]  
EDHg'q  
 *t.q m5h  
具体要求：参考光路反射镜 ("?&p3];b  
w<Yv`$-`  
|}M0,AS  
AbF(MK=i  
GOf`Z'\xt  
 CQSpPQA  
具体要求：测试光路反射镜 MyH[vE^b  
ut$,?k!M  
Z cm<Fw  
 xJ~ gT  
具体要求：探测器 hV-V eKjZ(  
i,#k}CNu  
;}/U+`=D?  
VT% KN`l  
结果：3D光线追迹 i*S|qX7``  
R <;OEN  
|DE%SVZB  
h(@R]GUX  
结果：场追迹 skIiJ'db  
%kh#{*q$  
]cm6 |`pz  
 T- |9o|~z  
结果：移动样品的场追迹结果 \.H9$C$  
JiFA]M`^Q  
bmOqeUgB  
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 76-jMcGi  
查看本帖完整版本: [-- 用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2024 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计