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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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infotek
2021-12-27 09:25
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
任务/系统说明
QxW+|Gt._
4dFr~ {
]2f-oz*hU
nD/B:0'
亮点
wnd #J `
.B~yI3D`M
1W>/4l
+3.9)w
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
]'xci"qV`
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
zNo,PERG
fpQFNV
具体要求:光源
0-uj0"r`
kIS )*_
bgE]Wk0
]_B<K5
具体要求:用于准直的消色差透镜
TW&s c9
i5le0lM
c`3`}&g#
16Ka>=G
mr}o0@5av
KB~[nZs7
Ld_u Me?Z
QmSj6pB>
具体要求:分束器
;q-c[TZC
NqF*hat
4`l$0m@>
;C*2Djb*n
具体要求:参考光路反射镜
6,LE_ -G5
dl=)\mSFjF
k8ILo)
.&b^6$dC
r+%3Y:dZE
_"Y7}A\9
具体要求:测试光路反射镜
`/m]K~~
SPb`Q"
r|}Pg}O
?pJ2"/K
具体要求:探测器
OcF_x/#
a+z>pV|
r:o9:w:
h/C{
结果:3D光线追迹
[MAPa
A ,0}bFK
th*!EFA^o
>,zU=I?9Y
结果:场追迹
:f Rta[
5D/Td#T04
AiR#:r
.mrv"k\<
结果:移动样品的场追迹结果
oAN,_1v)
<^;~8:0]
T)22P<M8
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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