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infotek 2021-12-27 09:25

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

任务/系统说明 IOF~V)8k=  
vb: '%^v  
aO "JT  
 *[ Wh9 ,H  
亮点 +x G](?  
\ :})R{  
kSU*d/}*u  
 %P_\7YBC>  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； &IT'%*Y:V  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； {eIE|   
 tt|U,o  
具体要求：光源 0J$wX yh  
po=*%Zs*T  
wVE"nN#  
^!{oyw   
具体要求：用于准直的消色差透镜 N$Gx$u3Cd  
G2a fHL<  
"4g1I<  
RfN5X}&A  
HLYM(Pz  
_?kf9.  
ddnWr"_  
fhH* R*4  
具体要求：分束器 5*g@;aR1  
>z^T~@m7l  
b4%IyJr  
 fbw {)SZ  
具体要求：参考光路反射镜 [FiXsYb.8  
KN}[N+V>  
xR#hU;E}  
_nx|ZJ  
::TUSz2/2  
 `R:<(:  
具体要求：测试光路反射镜 qh.c#t  
F,:F9r?l,H  
b17p; wS  
 B|,6m 3.  
具体要求：探测器 {B\.8)&8  
}=f}@JlFB  
,nHz~Xi1t  
gLpWfT29V  
结果：3D光线追迹 X]1ep  
"A/kL@-C  
T7W+K7kbI  
+IS$Un  
结果：场追迹 ;quGy3  
'Y vW|Iq  
i"e) LJz  
 c,D'Hl6(%  
结果：移动样品的场追迹结果 #=O0-si ]P  
DJn>. Gd  
}kOhwT8sI  
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 AOWI`  
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