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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 sD3|Qj;  
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$\!;*SSj  
o {LFXNcg[  
亮点 <6~;-ZQY  
!?*!"S-Sl  
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}AqD0Qd2Hj  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析  vB*oI~<  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 %Ab_PAw  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 QZox3LM1&.  
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说明:光源 +:%FJCOT  
r_E)HL/A  
Z|% 2495\  
3]es$Jy  
说明:透镜系统 Fd&!-` T?  
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X2YOD2<v  
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说明:样品结构 )6 <byO  
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D])YP0|}  
说明:探测器 B!ibE<7,  
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Z[S+L"0  
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结果:3D光线追迹 p3FnYz-V  
f\U&M,L\ '  
ko2j|*D6@~  
ZCFf@2&z8  
结果:场追迹矩形光栅 "ak9LZQ9z  
fbTw6Fde$  
YQdX>k  
H&Y{jqua  
结果:场追迹锯齿形光栅 2 RUR=%C  
SuH.lCF-g  
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