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对高数值孔径显微镜下不同样品研究
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infotek
2021-12-24 09:56
对高数值孔径显微镜下不同样品研究
任务/系统描述
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m` ^o<V&
8A/"ia
|Qo`K%8
亮点
"L^]a$&
9TRS#iVL+*
l"^'uGB'
U@21N3_@_
显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析
ZHT_o\
对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析
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在光线追迹以及物理光学建模间简单切换
HwTb753
+{U0PI82
说明:光源
F N6GV
`|?K4<5|
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&R+/Ie#0dz
说明:透镜系统
dbM~41C6
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说明:样品结构
C(-w A
Sy|fX_i
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KZoIjK]
说明:探测器
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2F*spu
GaV6h|6_
ZlQ@k{Es~
结果:3D光线追迹
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i) v ]
~D# -i >Z
结果:场追迹矩形光栅
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{l$DNnS
d%+oCoeb
v2=Iqo
结果:场追迹锯齿形光栅
E4;vC ?K{
Y'-@O"pK
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对高数值孔径显微镜下不同样品研究
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