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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 <4,>`#NEo  
|HXI4 MU"  
 w? A&XB+  
s4bLL  
亮点 +5Yc/Qp  
"q4c[dna  
 |:n4t6  
2-i>ymoOS  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 s.]7c CY  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 pS vDH-  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 a?CV;9   
wE:hl  
说明：光源 ` /JJ\`Pu  
zlIXia5  
r'M|mQ$s>  
~M%r.WFpA  
说明：透镜系统 >bWsUG9  
k.>*!l0  
P]-d (N}/H  
 %iY-}uhO  
说明：样品结构 #P$=P2o  
Wq8Uq}~_g  
>I Aw Nr  
$QmP' <  
说明：探测器 :^FOh*H  
:BG/]7>|V  
|i5A F\w  
d paZ6g  
结果：3D光线追迹 sY!PXD0Q  
g,U~3#   
 R| t"(6  
+Ck F#H ~  
结果：场追迹矩形光栅 M%+l21&  
oX@nWQBc_  
0l!%}E  
 4]RGLN  
结果：场追迹锯齿形光栅 72@raA#y  
7(lR$,bE;=  
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