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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 s g6e% 5  
@sG5Do  
 ,/Yo1@U  
JrJTIUf_  
亮点 &B@qb?UE1  
3F\UEpQ  
 m'"Ra-  
Vd+5an?  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 be(p13&od  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 G1S:hw%rp  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 &aWY{ ?_  
qy,X#y'FuE  
说明：光源 kT ,2eel  
- * _"ZgE  
nOdAp4{:q%  
l EsE]f  
说明：透镜系统 EC f $  
0qk.NPMB0  
tbq_ Rg7s  
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说明：样品结构 fS- 31<?  
-^<`v{}Dn  
mqv!"rk'w  
d A' h7D  
说明：探测器 OJ4-p&1  
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P(XNtQ=K  
>a5avSn  
结果：3D光线追迹 +{/*P 5  
ko<VB#pOMr  
 ^`Qh*:T$  
liG3   
结果：场追迹矩形光栅 V[BlT|t  
#Cz6c%yK  
9KLhAYaq  
 (??|\ &DTi  
结果：场追迹锯齿形光栅 `Ef &h V  
Gj(UA1~1  
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