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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 /{^Qup  
*#w+*ywVZH  
 K#kU6/  
V`m'r+ Y  
亮点 a)/!ifJ;  
V)=!pT  
 S2'./!3yv  
Gk g)\ 3  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 {}y"JbXMj  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 N^jQ\|A<  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 pa*bqPi  
]nY,%XE  
说明：光源 \]1qAFB5  
e3oHe1"hP  
,4M7:=gf  
B>hf|.GI  
说明：透镜系统 Zn0e#n  
o'O;69D]tX  
fP# !ywgr%  
 wVX]"o  
说明：样品结构 0A9llE  
%38HGjS  
-j9Wf=  
jwhc;y  
说明：探测器 1k"<T7K  
A:! _ &  
o{MF'B #  
[}:;B$,  
结果：3D光线追迹 Vi1l^ Za  
F#NuZ'U  
 1seWR"  
;&7dX^oH  
结果：场追迹矩形光栅 ~P!\;S  
eLFxGZZ  
r)<c ~\0 7  
 M]|tXo$?  
结果：场追迹锯齿形光栅 (-S\%,hO  
HE!"3S2S&+  
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