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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 \c+)Y}:D  
IEdC _6G  
 uRQm.8b  
A?3hNvfx  
亮点 <$n%h/2%  
|$":7)e H!  
 Mu18s}  
F9ry?g=h  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 hNXPm~OK\  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 uRKCvsisX  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 REhXW_x  
#"6(Q2| l  
说明：光源 FK{ YRt  
W?G4\ubM3<  
=eSG7QfS  
rB}UFS)  
说明：透镜系统 @<\f[Znto  
fEdQR->  
>/EmC3?b!  
 /g712\?M4  
说明：样品结构 pK4I?=A'  
d5]9FIj  
0X-u'=Bs  
<FMW%4   
说明：探测器 dh%C@n:B  
tuK"}HepB  
qJFBdJU(1  
bmc1S  
结果：3D光线追迹 bc5+}&W  
?};}#%971  
 g||{Qmr=1  
LDW":k|  
结果：场追迹矩形光栅 }.4`zK&SB  
|v}"UW(y  
(zBa2Vmmv  
 PX[taDN  
结果：场追迹锯齿形光栅 [Zl  
abWmPi  
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