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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 pN)9 GO5  
>C`b 4xQ  
 `o 6Hm  
;J~NfL  
亮点 `5[d9z/6  
_(}{=:M?  
 !79^M  
,OX(z=i_  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 $#g1Mx{  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 2NLD7A  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 m ?a&XZ  
]w/`02w"$  
说明：光源 iw\RQ 0  
gv}Esps R  
+s:!\(BM  
'b#`8k~>  
说明：透镜系统 X ?/C9  
dyRKmLb  
M1^?_;B  
 1nb]~{l  
说明：样品结构 gRS}Y8  
:A\8#]3  
C`z[25o  
y#5xS  
说明：探测器 m]8rljo  
(c ?OcwTH  
.(OFYK<  
_ cK"y2  
结果：3D光线追迹 JzJS?ZF  
0b9;v lGq$  
 31 \l0Jg  
Q# w`ZQX3  
结果：场追迹矩形光栅 Y]aVa2!Wb  
EELS-qA  
{ as#lHn  
 V?Y;.n&y  
结果：场追迹锯齿形光栅 pe>R2<!$  
=7@N'xX  
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