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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 yq+'O&+   
m` ^o<V&  
8A/"ia  
| Qo`K%8  
亮点 "L^]a$&  
9TRS#iVL+*  
l"^'uGB'  
U@21N3_@_  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ZHT_o\  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 -d]-R ?mQ  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 HwTb753  
+{U0PI82  
说明:光源 F N6 GV  
`|?K4<5|  
:YaEMQJ^  
&R+/Ie#0dz  
说明:透镜系统 dbM~41C6  
Vg'vL[Y  
6'CZfs\  
h[~JCYA  
说明:样品结构 C(-wA  
Sy|fX_i  
<QbD ;(%  
K ZoIjK]  
说明:探测器 o %GVg  
2F* spu  
GaV6h|6_  
ZlQ@k{Es~  
结果:3D光线追迹 pQv`fr=  
{Q9?Q?  
i) v ]  
~D# -i >Z  
结果:场追迹矩形光栅 QOXG:?v\  
{l$DNnS  
d%+oCoeb  
v2=Iqo  
结果:场追迹锯齿形光栅 E4;vC ?K{  
Y'-@O"pK  
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