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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 {Wu[e,p  
`.J17mQe"  
 {Ay dt8  
1GK>&;  
亮点 ZvMU3])u  
~clX2U8u`  
 Eku  9u  
Pc2!OQC'""  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 5n{d jP  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 v; R2,`[W  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Id&e'  
P=_fYA3  
说明：光源 i;-M8Q^  
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b?c/J {me  
说明：透镜系统 qR_>41JU"  
mEsb_3?#+  
>0W P:-\*  
 >7zC-3  
说明：样品结构 =/`]lY&  
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说明：探测器 JWIY0iP  
0Q`v#$?":  
-z0;4O (K]  
Kk6=61}A  
结果：3D光线追迹 p@nj6N.--  
!ltq@8#_|  
 ir/uHN@  
{(!JYz~P  
结果：场追迹矩形光栅 vg1J N"S[  
brs`R#e \  
3 h d30o  
 sQac%.H;`U  
结果：场追迹锯齿形光栅 JE7m5k Ta  
{ ]_j)R  
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