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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 }N#hg>; B  
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 ()EiBl(kWk  
zy@ nBi^  
亮点 6$\'dkufQ  
\`|OAC0a  
 Kw&t\},8@  
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 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ^}<h_T?<_-  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 %g=SkQ&d  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 <):= mr7  
b,-qyJW6  
说明：光源 E3 aj  
gP>`DPgb^  
? VHOh9|AT  
oGqbk x  
说明：透镜系统 /\UFJ  
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 kPF qsq  
说明：样品结构 )\fLS d  
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说明：探测器 fV5MI[ t  
"1>48Z-UC  
Zf8_ko;|:-  
N Uo   
结果：3D光线追迹 K_CE.8G&{  
#@K %Mx  
 [BKX$A:Y  
J=AF`[  
结果：场追迹矩形光栅 QX|y};7\e  
H+F>#  
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 si`h(VD9w  
结果：场追迹锯齿形光栅 ;n;bap  
-)$5[jM]  
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