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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 q >|:mXR  
[BpIzhy&}  
 jz%%r Q(  
2,Og(_0>  
亮点 ;oQ*gd  
x05yU  
 L"akV,w4p  
6mnj!p]3  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 w{t2Oo6Q0+  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 w}<CH3cx  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 >t,BNsWB  
SJRiMR_F~  
说明：光源 8()L}@y  
e[HP]$\   
X/_e#H0  
<303PPX^6  
说明：透镜系统 $Q[a^V~:  
9~^%v zM  
9nFPGIz+  
 tTT./-*0  
说明：样品结构 }2^_Gaj  
O3JN?25s  
Qo !/]\  
(=d%Bn$6b  
说明：探测器 uM\(#jZ  
R$<LEwjSw  
#-ioLt%  
ZqHh$QBD 9  
结果：3D光线追迹 sglYT!O  
xD}ha  
 EROf%oaz=  
<n iq*  
结果：场追迹矩形光栅 /;t42 g9w  
T#.5F7$u  
e~C^*wL  
 w z-9+VN6  
结果：场追迹锯齿形光栅 xF'9`y^]!@  
S{7*uK3$  
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