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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 b4!(~"b.  
MFaK=1  
 rAwq$!xx  
[ECSJc&i  
亮点 <g5Bt wo%  
@3c5"  
 xIf,1g@Cq9  
U5z^R>k  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 AQU4~g mI  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 X3#|9  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 "2)<'4q5)  
YQ g03i  
说明：光源 kYl$V =  
pMYEL  
C[gCwDwl  
! ]&a/$U  
说明：透镜系统 !`hjvJryw  
`+1+0?9  
~4'e)g.hG  
 IrjKI.PR  
说明：样品结构 u1/4WYJeJ  
LpeQx\  
jn>3(GRGC$  
#+|{l*>  
说明：探测器 |8 c3%jve  
vr/V_  
2PE|4zG  
@zB{Ig  
结果：3D光线追迹 VmHok  
+^Eruv+F  
 v#@"Evh7  
J"yO\Y  
结果：场追迹矩形光栅 iKN~fGRc  
++-HdSHY  
kjfZ*V=-  
 %RG kXOgp  
结果：场追迹锯齿形光栅 tm@&f  
7f#e#_sM;  
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