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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 G9|w o)N  
4[.DQ#r  
 </jzM?i  
K.R4.{mo  
亮点 bzC| aUGM  
oRALhaI  
 sx]kH$  
2d:5~fEJp  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 5j{jbo =!  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 N}/|B}  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 g2|qGfl{C  
lR8Lfa*/7  
说明：光源 L T2UY*  
+{5y,0R  
h8)m2KrZ!.  
vUNmN2pRJ  
说明：透镜系统 zQ=c6xvm8  
/E32^o|,>  
3%0ShMFP@  
 d8p<f+  
说明：样品结构 +5k^-  
7%0V?+]P  
"N*bV  
4[P]+Z5b+  
说明：探测器 +! F+m V9  
!Y95e'f.x  
MJ..' $>TC  
.IkQo`_s:  
结果：3D光线追迹 &$V&gAN  
Pf/_lBtL  
 U%?  
6 *GR_sMm  
结果：场追迹矩形光栅 >[A7oH  
#JD:i%  
I%Yeq"5RB  
 -KA Y  
结果：场追迹锯齿形光栅 ~#SLb=K   
v{44`tR   
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