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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 &/tGT3)  
\KT}T  
 !i*bb~  
#ybtjsu'"U  
亮点 I,wgu:}P#  
tP]-u3  
 ieG%D HN  
LFT)_DG7(  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 .m_-L Y-  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 3( `NHS~h  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 K!BS?n;  
ecG,[1];  
说明：光源 ~x 0x.-^A  
89X`U)Ws  
)TV{n#n  
EG3?C  
说明：透镜系统 F)^:WWVc#  
<zhN7="  
QocR)aN=+  
 v35=4>Y  
说明：样品结构 '+*{u]\  
Kzz]ZO*3  
13KfI  
gdkQ h_\  
说明：探测器 AQa;D2B$  
|ZuS"'3_w  
*='J>z.]  
)Me$BK>  
结果：3D光线追迹 O0Sk?uJ <  
hd)HJb-aR  
 w5tcO%+k1  
8 s#2Zv  
结果：场追迹矩形光栅 {e'V^l.v  
"g>, X[g  
-VVJf5/  
 )S 2GPn7  
结果：场追迹锯齿形光栅 B+8B<xZ  
jX8,y  
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