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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 /w!b2KwV  
<HG~#oBRq  
QA.B.U7!  
f9JD_hhP'  
亮点 )TM![^d  
,^|+n()O  
AUoi$DF(@  
e?L$RY,7  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 h=4m2m  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 8dUwJ"<5  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 |MMr}]`  
nH% /  
说明:光源 guSgTUJ}  
u[s+YGS  
e7/J:n$  
jRB:o?S  
说明:透镜系统 oLX6w  
pa+^5N  
`"(7)T{  
BD=;4SLT  
说明:样品结构 7"*- >mg  
&.<{c `-  
AGCqJ8`|T  
%)l2dK&9"j  
说明:探测器 yYdXAenQ  
Ko''G5+  
)l30~5u<J  
V%y kHo  
结果:3D光线追迹 $j{ynh)^  
66)@4 3V  
Os@ofnC  
Q6%m}R  
结果:场追迹矩形光栅 1Q?hskL  
a+weBF#Z  
`?=AgGg  
"VcGr#zW  
结果:场追迹锯齿形光栅 [(ty{  
ej%C<0/%n  
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