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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 "x~su?KiA  
X Z4q{^o  
 *w,C5 f  
!U[/P6 +0  
亮点 Uz$.sa  
QFX/x  
 [#mRlL0yk  
 J]4pPDm  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 n~Qo@%Jr  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 -)E nr6  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 K|V<e[X[V  
`E:&a]ul  
说明：光源 mnm 7{?#[  
;t\oM7J|  
,(y6XUV~  
;w(tXcXZ  
说明：透镜系统 O;83A  
>p?Vv0*  
8m"(T-wb6{  
 ttfCiP$  
说明：样品结构 Wz&[ cj  
~9ynlVb7)r  
MfG8=H2#|  
/#-zI#iK  
说明：探测器 #dhce0m  
o8c5~fG1  
}O+`X) 9  
G:4'')T  
结果：3D光线追迹 dBb &sA-A  
.g?Ppma  
 wY xk[)&Y  
,?oC+9w  
结果：场追迹矩形光栅 W'! I+nh  
E x )fXQ+  
YMr2Dv\y  
 PUbfQg  
结果：场追迹锯齿形光栅 {'NXJ!I;t  
Ge^(Ag}vE  
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