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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 68z#9}  
\]<R`YMV  
 @ 3=pFYW)  
( 3B1X  
亮点 5Hu[*  
4JK6<Pk  
 [nxYfER7  
@HbRfD/!  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 GPHb-  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 x >ah,  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Fl.?*KBz  
!d()'N  
说明：光源 W]eILCo  
^)9/Wz _x  
_5 SvZ;4  
&$|~",  
说明：透镜系统 \L(jNN0_R  
6ZI Pe~`  
:(XyiF<Ud  
 "^z%|uXkf  
说明：样品结构 Nmx\qJUR(  
n@+?tYk*e  
enPtW  
q,ie)`  
说明：探测器 7=N%$]DKZ  
g sm%4>sc  
Mk#r_:[BS  
}K 'A/]'  
结果：3D光线追迹 p|->z  
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 R7rM$|n=o  
WILa8"M  
结果：场追迹矩形光栅 AT I=&O`  
sBZn0h@  
/b # w.>e  
 <y?+xZM]#|  
结果：场追迹锯齿形光栅 \{<ml n  
?jMM@O`Nu  
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