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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 I5{SC-7  
o'G")o  
 ZC"p^~U_e[  
~9=g"v  
亮点 NeH^g0Q2,g  
ET4YoH>  
 t$b`Am  
5n<Efi]j  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 o/&Q^^Xj^~  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 <?+ \\Z!7  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 8Pq|jK "  
@C#lA2(I4  
说明：光源 o 0B`~7(  
cOSUe_S0w[  
bTJ7RqL  
o&zeOJW  
说明：透镜系统 iVE+c"c!2&  
n=`UhC  
,xGkE7=5  
 B|tP3<  
说明：样品结构 ral0@\T  
k7?(I U  
xGjEEBL  
b?z8Yp6  
说明：探测器 U.&=b<f(0r  
opKtSF|)  
uXXwMc<p  
N7XRk= J  
结果：3D光线追迹 m6s32??m  
_15r!RZ:1  
 _95V"h  
I<DS07K  
结果：场追迹矩形光栅 WlU5`NJl]2  
*g7dB2{  
pl5!Ih6  
 vNP,c]:%  
结果：场追迹锯齿形光栅 koFY7;_<?  
6:Ra3!V"v  
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