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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 c #8@>;  
p 8lm1;  
 x8RiYi+  
Q^Q6| n  
亮点 zB#.EW  
C&RZdh,$  
 (6X{ &  
23P7%\  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Qsr+f~"W  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 !~ZAm3GwL  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 @eN,m {b  
cf*SWKs  
说明：光源 W%< z|  
*~8g:;u  
N=c{@h  
Fz@U\\94z  
说明：透镜系统 V_jGL<X|  
rVDOco+w  
z KNac[:  
 O\}w&BE:h  
说明：样品结构 Vu Ey`c  
MQl GEJ  
w,;ox2  
5ih5=qX  
说明：探测器 O5A]{ W  
!.w|+-JKO  
uUh6/=y  
M8f[ck  
结果：3D光线追迹 "Q;Vy t  
]|B_3* A  
 X@%4N<  
qDjH^f  
结果：场追迹矩形光栅 G( #EW+  
I\('b9"*  
hj=k[t|g}  
 <P-AlHYV-  
结果：场追迹锯齿形光栅 lYy:A%yDT  
<(BIWm*  
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