| george1977 |
2007-03-15 10:44 |
薄膜测量设备（膜厚、n、k等）
美国Filmetrics公司F20系列薄膜测量设备：可精确快速测量各种光学及半导体薄膜的厚度、折射率及消光系数等。 n!SHEx Bp
精度：0.4%或1埃 dP_bFU zg
测量速度：秒级 w8$>
2
光谱范围：紫外到红外 (`#z@,1
厚度范围：几十埃到几百微米 stW
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多种光接入方式（样品测量平台）。 s3@mk\?qMe
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Nr* X1lJ6
详情请来信或登录www.clight.com.cn查看。
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