george1977 |
2007-03-15 10:44 |
薄膜测量设备(膜厚、n、k等)
美国Filmetrics公司F20系列薄膜测量设备:可精确快速测量各种光学及半导体薄膜的厚度、折射率及消光系数等。 _(J 7^rN 精度:0.4%或1埃 W11Wv& 测量速度:秒级 ..qAE.%% 光谱范围:紫外到红外 6KiI3%y?0 厚度范围:几十埃到几百微米 &z;;Bx0s 多种光接入方式(样品测量平台)。 Q)\7(n q<> .I{b]6 详情请来信或登录www.clight.com.cn查看。
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