角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 |pfhrwJp 系统简介 KC@k9e '"!z$i~G= ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 L9E;Uii0 CQ@#::'F1 特征及技术参数 ;cM8EU^. t/l! KdY$ - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, F Q8RK~?` - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) >2l13^Y - 入射光与探测器可共面或异面。 08TaFzP81 - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 b@nri5noBm - 可对样品进行扫描。
3MNhH - 动态范围: 13个数量级。 $=e&q - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 r
Iya\z1W - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 vjexx_fq
- 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 .V5q$5j - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 $nUd\B$.= - 方便操作的测量及分析软件。 N?MJ#lC
F - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 OaD
Alrm D8r>a"gx 应用 !Iw{Y' P!`Q_h6a 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 Hs:4I - 产品质量检测。 K7t&fDI - 光学性能分析。 6%\7.h - 粗糙度分析。 Hmz=/.$ 4A\BGD*5 |i,zY{GI+2 QQ:2987619807 /3CHE8nSh
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