角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 ;"5&b!=t 系统简介 $]/{[@5 O`IQ(,yef ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 MzdV2. BUDi&|, 特征及技术参数 >
PRFWO /=nJRC3. - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, vxBgGl - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) c<:-T - 入射光与探测器可共面或异面。 xX&+WR - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 oGnSPI5KGC - 可对样品进行扫描。 |.: q - 动态范围: 13个数量级。 i#n0U/ - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 ]nn98y+ - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 !GjQPAW - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 t%0VJB,Q2 - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 BO?%'\ - 方便操作的测量及分析软件。 ?=Z?6fw - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 Y.(PiuG$G Uiw2oi&_ 应用 K<3A1'_ t\dN DS 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 L\J;J%fz. - 产品质量检测。 #CTE-W"|HE - 光学性能分析。 I3L<[-ZE - 粗糙度分析。 ~w+c8c8pW /l~p=PK BA:VPTZq QQ:2987619807 y%cP1y)
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