角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 >R\lqLILb, 系统简介 K2{aNvR)t -' g*^ ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 bq>_qpr -VxDNT}Tr 特征及技术参数 up>c$jJ |~!U4D\ - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, tM4Cx - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) *v
?m6R=)h - 入射光与探测器可共面或异面。 F@ Swe - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 !-<p,z - 可对样品进行扫描。 {vEOn-(7 - 动态范围: 13个数量级。 1)m@?CaI` - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 8[vc?+>& - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 SAYLG - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 MN^Aw9U - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 9h&R]yz; - 方便操作的测量及分析软件。 EU7|,>a - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 .*g0w`H5pU _{<seA 应用 7%f&M>/ zk-.u}RBFG 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 R;,g1m|] - 产品质量检测。 ,R%q}IH# - 光学性能分析。 SZaS;hhhHu - 粗糙度分析。 -Eu6U`"( H0m|1
7 @,Gxk
QQ:2987619807 7xRl9
|