角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 {?@t/.4[W3 系统简介 |5}rX!wS4 :Wyn+ ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 gqP-E H9Y2n 0 特征及技术参数 93E, %k3NT~ - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, S+) l[0 - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) ba(arGZ+{ - 入射光与探测器可共面或异面。 .%x"t>] - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 l)tTg+: - 可对样品进行扫描。 IgPV# - 动态范围: 13个数量级。 DEUd[ - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 sorSyuGr - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 0`VD!_` - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 YVQ_tCC_! - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 zdxT35h - 方便操作的测量及分析软件。 8
3z'# - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 dWsT Jyx~ HG{&U:>) 应用 ZNzR`6}
Veb+^& 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 d] b~)!VW - 产品质量检测。 P &;y]
,)E - 光学性能分析。 $$haVY& - 粗糙度分析。 u-AWJc+F . `3f_d}b ,N;))3 QQ:2987619807 CCbkxHMf|!
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