角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 2G/CN" 系统简介 Wh?3vZ^ `g'9)Xf4KT ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。
?D@WXE0a Q=498Y~x 特征及技术参数 /a-OBU -
[vH4~ - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, Dv BRK}' - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) %c&<{D}r - 入射光与探测器可共面或异面。 csv;u' - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 Tml>>O - 可对样品进行扫描。 Qvhy9Cr; - 动态范围: 13个数量级。 WD'[|s\ - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 qJJ~#W) - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 )cRP6 = - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 lT-LOu| - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 X_J(P? - 方便操作的测量及分析软件。 :8Ql(I - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 FJ
V!B& uRRp8hht 应用 5l
/EZ\q cY%6+uJ1 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 tq8rG@-C - 产品质量检测。 s#C~HK - 光学性能分析。 sxn^1|O;m - 粗糙度分析。 E<4'4)FHuQ l 1Ns~ H.s:a#l? QQ:2987619807 p V`)
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