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infotek 2021-07-28 09:23

角分辨散射测量仪ALBATROSS

左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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系统简介 |5}rX!wS4  
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ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 gqP -E  
H9Y2n 0  
特征及技术参数 93E,  
%k3NT~  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, S+) l[0  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) ba(arGZ+{  
-  入射光与探测器可共面或异面。 .%x"t>]  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 l)tTg+:  
-  可对样品进行扫描。 IgPV#  
-  动态范围: 13个数量级。 D EUd[  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 sorSyuGr  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 0`VD!_`  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 YVQ_tCC_!  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 zdxT35h  
-  方便操作的测量及分析软件。 8 3z'#  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 dWsT Jyx~  
HG{&U:>)  
应用 ZNzR `6}  
Veb+^&  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 d] b~)!VW  
-  产品质量检测。 P &;y] ,)E  
-  光学性能分析。 $$haVY&  
-  粗糙度分析。 u-AWJc+F.  
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QQ:2987619807 CCbkxHMf|!  
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