角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 j[4l'8Ek 系统简介 C6A!JegU Y^b}~t ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 'HJ<"< y*!8[wASHq 特征及技术参数 L),r\#Y(v {wD:!\5 - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, S5\KI+;PW - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) !b?cY{ - 入射光与探测器可共面或异面。 pP%9MSCi - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 )cU$I) - 可对样品进行扫描。 Y/T-2)D - 动态范围: 13个数量级。 e_}tK1XY - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 l[^0Ik-G - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 yCwe:58 - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 O-!Q~;3][ - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 3Xm>
3 - 方便操作的测量及分析软件。 U6#9W}CE - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 @w(X}q1 8On MtP 应用 8x-(7[#e<g ,I
H~ 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 N%9?8X[5 - 产品质量检测。 Y*sw;2Z;a - 光学性能分析。 :Sn4Pg
`Q - 粗糙度分析。 Cx&l0ZXHEX &t6:1 T SPm2I(at7 QQ:2987619807 I~4!8W-Y
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