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infotek 2021-07-28 09:23

角分辨散射测量仪ALBATROSS

左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
K<Y-/t  
系统简介 RFm9dHI27  
DfP vi1  
ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 !O8vr4=  
}Rq-IRa'  
特征及技术参数 JSiLG0  
<0)@Ikhx  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, %OsV(7  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) [k6 5i  
-  入射光与探测器可共面或异面。 ?x &"EhA>  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 ^ )/oDyO  
-  可对样品进行扫描。 9Fxz9_ i  
-  动态范围: 13个数量级。 "7a;Ap q*  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 *YY:JLe  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 V?Zvu9b&  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 >@d=\Kyu  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 E%+1^ L  
-  方便操作的测量及分析软件。 Nb;Yti@Y.  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 c=HL 6v<  
)<jT;cT!&  
应用 u7<s_M3%N  
[&FWR  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 Kth^WHL  
-  产品质量检测。 $ V"7UA22  
-  光学性能分析。 QFf lx  
-  粗糙度分析。 Y 1vSwS%{T  
$ p{Q]|ww  
j^~WAWbFh  
QQ:2987619807 C"ZCX6p+$  
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