角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 <HnJD/g 系统简介 |2'WSAWG sd4eG ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 IWYQ67Yj h`U-{VIrqi 特征及技术参数 /BgXY}JC. tHzgZoBz - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, w*{{bISw| - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) _V3z!aI - 入射光与探测器可共面或异面。 Qw_uw QZ) - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 3^KR{N p - 可对样品进行扫描。 l4DBGZB - 动态范围: 13个数量级。 bR3Crz(9G - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 +8<$vzB - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 hV $Zr4' - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 \asn^V@"zz - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 wHbmK - 方便操作的测量及分析软件。 $mK;{9Z
- 可分析值: 粗糙度,PSD等。 Uic 7a>+ma\ 应用 9O &]!ga E3a^"V3p 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 .S:(O+#Gm - 产品质量检测。 j![1 - 光学性能分析。 %KF I~Qk - 粗糙度分析。 :UT\L2 q= Lp%J:ogV` <LZ#A@]71 QQ:2987619807 $@s-OQ}
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