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infotek 2021-07-28 09:23

角分辨散射测量仪ALBATROSS

左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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系统简介 Wh?3vZ^  
`g'9)Xf4KT  
ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 ?D@WXE0a  
Q=498Y~x  
特征及技术参数 /a-OB U  
- [vH4~  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, DvBRK}'  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) %c&< {D}r  
-  入射光与探测器可共面或异面。 csv;u'  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 Tml>>O  
-  可对样品进行扫描。 Qvhy9Cr;  
-  动态范围: 13个数量级。 WD'[|s\  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 qJJ~#W)  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 )cRP6 =  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 lT- LOu|  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 X_J(P?  
-  方便操作的测量及分析软件。 :8Ql (I  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 FJ V!B&  
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应用 5l /EZ\q  
cY%6+uJ1  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 tq8rG@-C  
-  产品质量检测。 s#C~HK  
-  光学性能分析。 sxn^1|O;m  
-  粗糙度分析。 E<4'4)FHuQ  
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H.s:a#l?  
QQ:2987619807 p V`)  
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