角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 D84&=EpVZ 系统简介 ^Mq@} 0 nh@JGy*L ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 lOeX5%$Z D]*|Zmr+} 特征及技术参数 %bF157X5An 8UgogNR\ - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, ||wi4TP - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) Nj2l>[L; - 入射光与探测器可共面或异面。 =fnBE`Uc - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 9DM,,h<` - 可对样品进行扫描。 P;z\vq<h - 动态范围: 13个数量级。 Nr$78] o9 - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 <7rj,O1= - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 TB.>?*<n] - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 P/1YN - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 2#^g] o-N - 方便操作的测量及分析软件。 ]*mUc` - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 ^zO{A ks V?G%-+^ 应用 =:w,wI. (2>q 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 OOXSJE1 - 产品质量检测。 u*=^>LD - 光学性能分析。 bsU$$; - 粗糙度分析。 fw,,cu`YA w*/@|r39 SDE+"MjBY QQ:2987619807 O<L=N-
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