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infotek 2021-07-28 09:23

角分辨散射测量仪ALBATROSS

左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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系统简介 C6A!JegU  
Y^b}~t  
ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 'HJ<"<  
y*!8[wASHq  
特征及技术参数 L),r\#Y(v  
{wD:!\5  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, S5\KI+;PW  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) !b?cY{  
-  入射光与探测器可共面或异面。 pP%9MSCi  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 )cU$I)  
-  可对样品进行扫描。 Y/T-2)D  
-  动态范围: 13个数量级。 e_}tK1XY  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 l[^0Ik-G  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 yCwe:58  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 O-!Q~;3][  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 3Xm> 3  
-  方便操作的测量及分析软件。 U6#9W}CE  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 @w(X}q1  
8On MtP  
应用 8x-(7[#e<g  
,I H~  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 N%9?8X[5  
-  产品质量检测。 Y*sw;2Z;a  
-  光学性能分析。 :Sn4Pg `Q  
-  粗糙度分析。 Cx&l0ZXHEX  
&t6:1T  
SPm2I(at7  
QQ:2987619807 I~4!8W-Y  
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