角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 ^ssK 系统简介 Nh8Q b/:: v0
nj M ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 eK6hS_E > A Khf 特征及技术参数 o9|nJ; 3)F|*F3R - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, KK1gNC4R - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) -MW_|MG - 入射光与探测器可共面或异面。 HFKfkAl - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 _K`wG}YIE - 可对样品进行扫描。 9E
zj" - 动态范围: 13个数量级。 4H,`]B8(D - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 *EOdEFsR/ - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 Lrta/SU* - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 `Bo*{}E - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 OP~HdocB - 方便操作的测量及分析软件。 bt"W(m&f - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 SFB~
->db r;/4F/6" 应用 "w^!/ {E
p0TVj` 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 NgADKrDU - 产品质量检测。 V[{6e - 光学性能分析。 f* !j[U/r_ - 粗糙度分析。 j K!Au VbJiZw(aR I, -hf=- QQ:2987619807 ||T2~Q*:y
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