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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 1Q;}z Hd  
 %R#L  
任务/系统说明 4!Z5og1kn  
@}_WE,r  
~0$NJrUy  
M}:=zcZ l  
亮点 (z7vl~D  
7*Qk`*Ii  
 N- e$^pST  
}<@j'Ok}.  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） <H3ezv1M  
 严格分析光栅衍射效率 dF0,Y?  
 考虑入射光的方向分布 %98' @$:0  
r?m+.fJB  
说明：光源 @J{m@ji{  
"xcX' F^  
'ckQg=zPR  
eAUcv`[#p  
说明：光束分束器 H|ozDA  
!Bz0^ 1,L  
Rtb :nJ8  
'[$)bPMHl  
说明：检测透镜系统 t$2_xX  
M)*\a/6?{  
^Jb H?  
Yw5'6NU  
说明：微型晶片 1}hIW":3Sr  
T +5X0 Nv  
Qjx?ri//  
YDC mI@  
说明：检测物镜 G 6VF>2  
(%iRaw7hp  
}'r[m5T  
]v[|B  
说明：探测器 x@mL $  
jF`BjxrG  
MT(o"ltQ  
NmK8<9`u  
结果：3D光线追迹（只有0级） gOgps:  
|+  N5z  
\ w3]5gJZ  
Ehz o05/!  
结果：3D光线追迹（所有级）  zYXV;  
*5bLe'^\|K  
\xg]oKbn  
'|;X0fD  
结果：光线追迹 R.7:3h  
7+./zN  
 /iG*)6*^k  
B?VhIP e  
结果：场追迹 dEBcfya  
XdH\OJ  
 NM)k/?fA  
3_JCU05H}  
结果：线性偏振光的场追迹 .ROznCe}  
B|o2K}%f  
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文档和技术信息 ;lYHQQd!,  
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QQ：2987619807 Bc3:}+l  
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