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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 K8;SE !  
_SAM8!q4,  
任务/系统说明 w`)5(~b  
U]=yCEb8p  
I)Xf4F S@  
/ \w4k  
亮点 +[!S[KE  
vW1^  
 rPaJ<>Kz  
&Q883A J  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） -3{Q`@F  
 严格分析光栅衍射效率 .B:ZyTI  
 考虑入射光的方向分布 d:(Ex^^  
&zdS9e-fF  
说明：光源 f+cb83}n]  
S4x9k{Xn  
9\_AB.Z:  
4>*=q*<V5E  
说明：光束分束器 ez ,.-@O  
gjDNl/r/  
S hI1f  
o5o myMN  
说明：检测透镜系统 xsZG(Tz  
.xJ54Vz  
Z<nNk.G  
4=L>  
说明：微型晶片 NfV|c~?d  
J3eud}w  
L 4j#0I]lq  
5n3yc7NPP  
说明：检测物镜 ys9:";X;}  
r3'J{-kl  
sgfqIe1  
|[?Otv  
说明：探测器 5Z>a}s_i  
n n7LL+h  
):$KM{X  
Ei!Z]jeK  
结果：3D光线追迹（只有0级） DBAyc#&#  
[bhKL5l  
|a{; <a  
?Y4 +3`\x  
结果：3D光线追迹（所有级） FRQ.ix2  
)U %`7(bN  
<_Yd N)x  
<?.eU<+O`S  
结果：光线追迹 /~NX<Ye&  
#X-C~*|>j  
 hxoajexU  
_E C7r>V&  
结果：场追迹 pJHdY)Cz  
$JY \q2  
 6>]_H(z7  
wH~A> 4*(  
结果：线性偏振光的场追迹 Nc\DXc-N  
cY5&1Shb~  
L`nW&; w'  
 NXOXN]=c<  
文档和技术信息 syX?O'xJ  
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QQ：2987619807 ~J].~^[  
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