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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 [;YBX] t  
=c^=Yvc7U  
任务/系统说明 Kg-X]yu*0  
}h h^U^ia  
%ab)Gs  
5?0gC&WfN  
亮点 9$@ g;?}Ps  
UDtbfc7bk  
 -8 =u{n  
h!CX`pBM  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） i9k]Q(o  
 严格分析光栅衍射效率 ]pTw]SK  
 考虑入射光的方向分布 U*"cf>dB(  
g~:(EO(w  
说明：光源 fYM6wYJ  
7qK0!fk5  
M 8j(1&(:  
<`UG#6z8  
说明：光束分束器 ;Jn0e:x`E  
^|i\d \  
@"Fp;Je\bN  
Ss! 3{VW  
说明：检测透镜系统 m&0BbyE.z  
A-C)w/7  
q}v04Yy,o  
x$ J.SbW  
说明：微型晶片 L(2P|{C  
b_gN?F7_  
;Pqyu ?  
bNpIC/#0K  
说明：检测物镜 39aCwhh7v  
Q>a7Ps@~  
n!eqzr{  
xZ=FH>Y6'  
说明：探测器 %i -X@.P  
Hu(flc+z"  
>{qK ]xj  
lH@E%  
结果：3D光线追迹（只有0级） ;(0(8G  
)cqDvH  
ngY+Ym  
$:BK{,\  
结果：3D光线追迹（所有级） :e<`U~8m  
h$7Fe +#I#  
^A "lkV7  
eMl]td rI  
结果：光线追迹 Z~phOv  
P`3s\8[Q  
 KjwY'aYwr:  
S|q!? /jqj  
结果：场追迹 i B!hEbz  
2~&hstd%  
 _95}ifSVm  
<[y$D=n  
结果：线性偏振光的场追迹 x !:9c<  
{~p7*j^0  
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文档和技术信息 |j~EV~A J  
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QQ：2987619807 G V:$;  
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