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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 9Ir~X|}\iL  
)SL@ >Cij  
任务/系统说明 ?PE1aB+{:  
ONN{4&7@<  
Wytvs*\`  
jaO#><f  
亮点 9[p }.9/  
wAYzR$i  
 ?Y0$X>nm  
H"FflmUO  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） '5xuT _  
 严格分析光栅衍射效率 ccN&h  
 考虑入射光的方向分布 =!S@tuY  
oa&US_  
说明：光源 ;h-G3>Il  
/[|}rqX(  
R!/,E  
&Qq/Xi,bZ  
说明：光束分束器 Ife,h s  
Nx4DC  
X[~f:E[1J  
1!;"bHpk  
说明：检测透镜系统 ZaRr2Z:!  
7:VEM;[d  
HV*:<2P%D  
F`;TU"pDf  
说明：微型晶片 K^,&ub.L)  
&Qtp"#{  
\}u7T[R=`  
uD ?I>7  
说明：检测物镜 (iCZz{l@~  
E2qB:  
kol,Qs  
kKxL04  
说明：探测器 VRd:2uDS  
0i`v:Lq%  
3Y1TQ;i,wQ  
 u]1-h6  
结果：3D光线追迹（只有0级） 1&8j3"  
 EbBv}9g  
x;ERRK  
pu2wEQ  
结果：3D光线追迹（所有级） [.#p  
(5Z8zNH`3  
mJGO)u&  
XDP6T"h  
结果：光线追迹 qXP1Q3  
B7Ki @)  
 w L/p.@  
,`%k'ecN  
结果：场追迹 Y'<uZl^aX  
_ bXVg3oDt  
 ONr?.MJ6j  
(6ohrM>Q  
结果：线性偏振光的场追迹 !~lVv&YO  
F1?CqN M  
12:h49AP  
 AQnJxIL:  
文档和技术信息 R (tiIo  
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 f"Z qA'KB#  
QQ：2987619807 QoW ( tM  
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