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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 EyK!'9~a  
x^lc T  
任务/系统说明 L^qCE-[  
 Xu-~j!  
u62H+'k}F  
d+DO}=]  
亮点 ]L3U2H`7  
u!X~!h-6~  
 ct\msG }b:  
%{ BV+&  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） 0moAmfc  
 严格分析光栅衍射效率 L2@:?WW[  
 考虑入射光的方向分布 b%l H=u  
lw3H 8[  
说明：光源 W3~u J(  
/Xi21W/  
\PS]c9@,rc  
(1x8DVXNN  
说明：光束分束器 dOv\]  
b@J"b(  
WWSycH ?[  
;MeY@* "{  
说明：检测透镜系统 q:kGJ xfaW  
XW aa`q  
yr'-;-u  
GyL9}  
说明：微型晶片 T^!Q(`*  
g@ J F  
6n/=n%US  
?5't1219  
说明：检测物镜 v 8F{qT50  
wdj?T`4  
MgP|'H3\  
ajkV"~w',|  
说明：探测器 z~f;}`0  
l`~$cK!  
rXmrT%7k  
lZ5-lf4  
结果：3D光线追迹（只有0级） E 1`g8Hk'  
EwcFxLa!F  
47Vt8oyh%  
uxdB}H,  
结果：3D光线追迹（所有级） )J]NBE:8  
-N/n|{+F  
t,TlW^-  
!!A(A^s  
结果：光线追迹 ;~ Xjk  
O:+y/c  
 %;]/Z%!  
.z$UNB(!M  
结果：场追迹 ?!F<xi:  
Y&M{7  
 \3(s&K\Y6\  
8WLh7[  
结果：线性偏振光的场追迹 k^JgCC+  
.@r{Tq,%q8  
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文档和技术信息 L#D)[v"  
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QQ：2987619807 -'oxenu  
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