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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 JgA{1@h  
t 7o4 aBl"  
任务/系统说明 d4*SfzB  
W]bgWKd  
G]N3OIw&8  
z;F HZb9t,  
亮点 gPb.%^p  
@d^Z^H*Y v  
 {u2Zl7]z^  
(CY D]n  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） 5bAdF'~  
 严格分析光栅衍射效率 r-TrA$k  
 考虑入射光的方向分布 x^EW'-a  
G"OP`OMDc  
说明：光源 +ima$a0Zyt  
3T0~k--  
^D6TeH  
|R _rfJh  
说明：光束分束器 K@{0]6  
)G Alj;9A$  
J?yasjjgP  
{it}\[3  
说明：检测透镜系统 1[8^JVC>6  
d}':7Np  
cv-rEHT  
2xflRks  
说明：微型晶片 B^r?N-Z A  
Q?1J<(oq9  
Fa[^D~$l*  
h7^&:  
说明：检测物镜 v/9ZTd  
Mms|jF oQ  
Wc2&3p9 c  
?]$<Ufr  
说明：探测器 pu]U_Ll@  
B=L!WGl<!  
d"06 gp  
wT\BA'VQ  
结果：3D光线追迹（只有0级） J8p;1-C"  
n:OXv}pv  
WA~[) S0  
ye9GBAj /  
结果：3D光线追迹（所有级） }P0bNY5?%  
_<#92v !F  
vj%"x/TP  
_ia&|#n  
结果：光线追迹 uX3yq<lK"  
@jm+TW  
 M,@M5o2u  
gv>DOez/  
结果：场追迹 q,L>PN+W  
T` h%=u|D  
 ?Y3i-jY  
c-(RjQ~M5  
结果：线性偏振光的场追迹 U&1O  
x\8g ICf  
(m:Q'4Ep  
 6E-eD\?I&  
文档和技术信息 _>\33V-?b  
7HH@7vpJ^  
 @I?,!3`jS  
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 s_/@`kd{  
QQ：2987619807 xOKJOl  
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