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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 .<tquswg  
F:y[@Yn  
任务/系统说明 pwwH<0[  
jM-)BP6f4  
h~{aGo  
H$G0`LP0/a  
亮点 DvvT?K  
A)%A!  
 ?4H i-  
mUS_(0q  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） w =. Fj  
 严格分析光栅衍射效率 kJW N.  
 考虑入射光的方向分布 z1^gDjkZ  
\J+*  
说明：光源 =K{\p`?  
TuW%zF/  
`tjH<  
 /'31w9  
说明：光束分束器 6#IU*  
~"UV]Udn  
&WNf M+  
CR6R?R3b  
说明：检测透镜系统 )M__ t5L  
Us+pc^A  
v3v[[96p  
M33_ja+L  
说明：微型晶片 }$bF 5&  
_`64gS}^  
ooUk O  
JH:0 L  
说明：检测物镜 ]p_@@QTC  
 o x+ 3U  
Gs3LB/8?  
XJLQ {  
说明：探测器 $95h2oXt  
Qg6 W5Hc  
6oF7:lt  
K_K5'2dE  
结果：3D光线追迹（只有0级） u|4$+ QiD  
%/9 EORdeH  
?_I[,N?@41  
me OMq1  
结果：3D光线追迹（所有级） 4.IU!.Uo  
#> j.$2G>  
i\W/C  
-!c"k}N=  
结果：光线追迹 qIld;v8w"g  
msVO H%wH  
 26xXl|I  
h,Q3oy\s1  
结果：场追迹 JA)] _H P  
xhRngHU\z<  
 <vXGi  
Y5F]:gs@  
结果：线性偏振光的场追迹 _6wFba@>/n  
w: >5=mfk  
I_A@BnM{I  
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文档和技术信息 A'2w>8  
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QQ：2987619807 L:9F:/G  
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