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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 ~%tVb c  
)6"p@1\u  
任务/系统说明 D:K"J><@  
zGme}z;1@  
M-;Mw Lx  
X:f5t`;  
亮点 NG\'Ii:-J  
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 w?3ww7yf`  
~f[;(?39xZ  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） [[w-~hHH-  
 严格分析光栅衍射效率 ;j~%11  
 考虑入射光的方向分布 -1$z=,q'  
Xsn M}  
说明：光源 {{bwmNv"  
,6^Xn=o #  
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":sp0(`h  
说明：光束分束器 d/+s-g p  
y] 9/Xr/  
P1L+Vnfu  
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说明：检测透镜系统 .`u8(S+  
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O,+9r_Gh  
说明：微型晶片 qb=%W  
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M d Eds|D  
说明：检测物镜 W}7Uh b  
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B`nI] _  
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说明：探测器 5Uhxl^c  
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结果：3D光线追迹（只有0级） HdY#cVxy  
h1B_*L   
]m &Ss  
t\2-7Ohj6  
结果：3D光线追迹（所有级） l7<VHz0b  
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结果：光线追迹 mICx9oz]  
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W?N+7_%'  
结果：场追迹 *Br }U  
",5=LW&,  
 Hit )mwfYE  
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结果：线性偏振光的场追迹 t"~X6o|R  
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文档和技术信息 hp7ni1V  
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QQ：2987619807 gH"a MEC  
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