首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> FRED,VirtualLab -> 检查微型晶片的光学系统 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 c(hC'Cp  
h's[) t  
任务/系统说明 15{^waR6  
Kc]cJ`P4.  
;0WAfu}#H  
|E K6txRb  
亮点 '~ b  
x}a?B  
 ]rGd!"q  
i-0 :Fs  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） TgV-U  
 严格分析光栅衍射效率 ~W>{Dd(J_  
 考虑入射光的方向分布 Eo$l-Hl5=  
e[x,@P`  
说明：光源 MMa`}wSs  
7vgRNzZoq  
5L6.7}B  
XzV>q~I3|E  
说明：光束分束器 MDa[bQ NM  
4Ty?>'*|  
rIPg,4y*S!  
h(q4 B~  
说明：检测透镜系统 >%6j-:S  
W\<OCD%X  
wa[J\lW  
1Mq"f 7X8  
说明：微型晶片 KUX6n(u  
3 a(SmM:  
B_Wig2xH0  
G{.=27  
说明：检测物镜 f4<~_ZGr  
LL:N/1ysG  
2FL_!;p;2E  
:6C R~p  
说明：探测器 t`&mszd~T  
ce4rhtkV  
uF%N`e^S  
aU +uPP  
结果：3D光线追迹（只有0级） hTAc}'^$  
7g8\q@',  
hDJ+Rk@  
hQ%X0X,  
结果：3D光线追迹（所有级） sk5=$My  
0*^f EoV  
LCRWC`%&  
G|?V}pZ  
结果：光线追迹 !bK;/)  
; mV>k_AG  
 p^{yA"MQ  
t re`iCH~  
结果：场追迹 [PrJf"Z "  
kVWrZ>McK  
 31g1zdT!  
6EWCJ%_  
结果：线性偏振光的场追迹 KPK`C0mg@k  
mV7_O//  
U GOe(JB  
 $ ga,$G  
文档和技术信息 w0>5#j q#r  
I`{=[.c  
  M+=q"#&  
'+|uv7|+v  
 ^s8JW"H  
QQ：2987619807 ]~m=b` o  
查看本帖完整版本: [-- 检查微型晶片的光学系统 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计