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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 W(ryL_#;  
|n;);T(  
任务/系统说明 G+2fmVB*X  
 _fn7-&6  
Sw>>]UjU  
V+lS\E.  
亮点 9wf"5c  
K>~YO~~  
 +Z_VF30pa  
R%2.N!8v  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） Ici4y*`M  
 严格分析光栅衍射效率 K^"l.V#J  
 考虑入射光的方向分布 p]y.N)a  
D{7^y>8_Y-  
说明：光源 l*wGKg"x3  
{ )b  
7y30TU  
Ex]Ku  
说明：光束分束器 |"Zf0G  
0'A"]6  
jbZTlG  
)AcevEHB  
说明：检测透镜系统 E%8uQ2p(  
/ s Apj  
`mD!z.`U  
&CXk=Wj  
说明：微型晶片 oVp/EQ  
XGe;v~L  
^A\(M%*F  
AH'3 5Kf)  
说明：检测物镜 TT3GGHR  
cotySio$  
->IZZ5G<  
wmR~e  
说明：探测器 *m>[\)  
/G]/zlUE  
* Z)j"i  
&F7_0iA P(  
结果：3D光线追迹（只有0级） H*N{4zBB  
~9k E.  
An?#B4:  
47{5{/B-  
结果：3D光线追迹（所有级） &'Nzw2  
rqBoUS4  
(w"(RM~  
*+6iXMwe  
结果：光线追迹 O+< +yQl  
z"QtP[_m  
 sL\ {.ad5  
tZg)VJQys  
结果：场追迹 RZnmia  
)OQ<H.X  
 s]A8C^;c  
LN$T.r+  
结果：线性偏振光的场追迹 xbcmvJrG  
Tu}EAr  
/f oI.S  
 R@Gll60  
文档和技术信息 8a8D0}'  
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QQ：2987619807 >@?mP$;=  
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