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infotek 2021-07-06 14:06

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 kkj_k:Eah  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 Xxm7s S  
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1. 案例 2D3mTpw  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 XhOg>  
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1. 系统构建模块 =Q!V6+}nY^  
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2. 组件连接器 AJP-7PPD  
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几何光学仿真 }</"~Kw!  
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以光线追迹 #Jfmt~ks '  
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1. 结果:光线追迹 U(<~("ocN  
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快速物理光学仿真 u>2opI~m  
R>,_C7]u  
以场追迹 5N|hsfkx  
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1. NA=1.4时的光栅成像 #5^S@}e  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 Z$K[e  
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3. NA=0.5时的光栅成像 _P=L| U#C  
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文件信息 FOuPj+}F  
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QQ:2987619807 v+d? #^  
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