首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
FRED,VirtualLab
->
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2021-07-06 14:06
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
摘要
[j0[c9.p[
>4X2uNbZS
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
8D )nM|
$CE dJ+0z
9i5?J ]o^
+-<G(^
1. 案例
_U^[h !
\ZLi Y
$v@$C4
(kLaXayn
在VirtualLab Fusion中构建系统
$os]$5(
*lSu=dk+
1. 系统构建模块
(+|+ELfqW
V8M()7uJ
0P5VbDv$r7
WVa%<
2. 组件连接器
l/G+Xj4M
S/`#6
^w^e~0 S
h:8P9WhWF
几何光学仿真
:VT%d{Vp_
G JRl{Y
以光线追迹
:8)Jnh\5
?wB_fDb}
1. 结果:光线追迹
u8zL[]>
.|O T#"LP
d{7ZO#E
PeIx41. +s
快速物理光学仿真
64?HqO 6(
>.Gmu
以场追迹
[K3 te
7 XxZF43
1. NA=1.4时的光栅成像
k77IXT_7u
C .S BJ
e(8hSVcl4
U T\4Xk<
2. NA=0.75时的光栅成像
WA(x]""
KHAc!4lA
1cK'B<5">]
+|LM"
3. NA=0.5时的光栅成像
6'^E ],:b
DPT6]pl"y
UOZ+&DL,L
]:gW+6w"C
文件信息
vS8&,wJ!
* 1;4&/93o
hBX*02p
`> %QCc\
>Q /;0>V
QQ:2987619807
Ur])*#
查看本帖完整版本: [--
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2025
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计