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infotek 2021-07-06 14:06

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 Fp [49  
a1u4v/Qu9  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 |W@Ko%om  
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1. 案例 0Zo><=  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 :(tKc3z  
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1. 系统构建模块 Gm=&[?}  
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2. 组件连接器 8m `Y  
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几何光学仿真 z7)$m0',?  
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以光线追迹 ]n<B a7Y  
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1. 结果:光线追迹 .*>C[^  
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快速物理光学仿真 .pm%qEh  
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以场追迹 Us2> 5 :\  
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1. NA=1.4时的光栅成像 v$(Z}Hg  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 GkU$Z @  
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3. NA=0.5时的光栅成像 tI#65ox#  
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文件信息 f(!cz,y^\*  
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