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infotek 2021-07-06 14:06

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 V&KH{j/P  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 K1z"..(2J  
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1. 案例 ~;m~)D  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 2ok>z$Y  
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1. 系统构建模块 4)9X) Qx  
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2. 组件连接器 y9\s[}c_  
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几何光学仿真 P9`i6H'~  
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以光线追迹 >1s:F5u"  
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1. 结果:光线追迹 9'//_ A,  
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快速物理光学仿真 ;5y4v  
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以场追迹 tGmyTBgx  
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1. NA=1.4时的光栅成像 o/)\Q>IY  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 7\{<AM?*  
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3. NA=0.5时的光栅成像 9lTA/-  
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文件信息  5Y9 j/wA  
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QQ:2987619807  XyhO d$)  
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