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infotek 2021-07-06 14:06

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 jLY$P<u?%P  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ;#8xRLW  
c+O:n:L  
O%aHQL%Sz  
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1. 案例 *+00  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 T[g(S0dz  
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1. 系统构建模块 !CY*SGO  
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eOfVBF<C2  
2. 组件连接器 v`Ja Bn  
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EY c)v6[  
几何光学仿真 7 <K=G2_:  
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以光线追迹 hM=X# ;  
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1. 结果:光线追迹 uu>R)iTQ%S  
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3;!!`R>e  
快速物理光学仿真 5)0'$Xxqa0  
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以场追迹 s"2+H}u   
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1. NA=1.4时的光栅成像 0xaK"\Q   
C0>L<*C  
Bo'v!bI7  
~0}d=d5g  
2.  NA=0.75时的光栅成像 ZqjLZ9?q  
   S/l6c P  
?V(+Cc  
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3. NA=0.5时的光栅成像 HXPq+  
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文件信息 OsRizcgdA  
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QQ:2987619807 6* 0vUy*"  
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