| infotek |
2021-06-21 10:11 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 4(,.<# $l)RMP} 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 "#Z e3Uy\ uNy-r`vg
y
a$yRsd` w5q6c%VZ 建模任务 =9,mt
K~ t_ CMsp P[aE3Felk 仿真干涉条纹 H.?`90IQ Hd4 ~v0eS
c2V_|oL 走进VirtualLab Fusion 53/$8= 7VfXE/
>#dLT~[\a }vZfp5Y VirtualLab Fusion中的工作流程 lLVD`) zk }SEt- •设置输入场 7/&t | |