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infotek 2021-04-16 10:38

光栅起偏器的参数优化

案例315.01:光栅起偏器的参数优化 n.l p ena  
<R{\pz2w  
这个案例说明了对于一个用于VIS光起偏的亚波长光栅的参数优化过程。 g6W.Gl"5\w  
ur#"f'|-  
关键词:参数优化,光栅,起偏器,亚波长 Q)a*bPz  
#8/Z)-G  
所需工具箱:高级光栅工具箱 5o~Z>  
n6o}$]H  
相关案例:100.01,101.01 ^U_jeAuk8[  
# |UrHK;  
相关教程和技术说明:Tutorial 101.01, TN.021 r9vC&pWZ  
0\Oeo8<7)~  
建模任务: .Yu,&HR  
8'cDK[L  
平面波入射周期为200nm的镀铬线性矩形光栅,基底为融石英,产生TE模的起偏。 kD; BwU[  
\O/=g6w|t}  
xEiW]Eo  
优化目标: x@k9]6/zs  
A`r&"i OKA  
—TE模偏振光的透过率最大化 jY?%LY@5I  
Y0hL_46>  
—TM模偏振光的透过率最小化 #-V Kk  
ng 6G<hi  
优化函数: vOP[ND=T  
etDB|(,z  
—最小化TE的透过率 q{_buTARq  
3> fuH'=  
—最小化偏振度(要求>50:1) 7I.[1V`  
/n_HUY  
L]tyL)  
   uuC/F_='B  
—使用力优先级使TE透过率的均匀误差最小化 W@0(Y9jdg  
O>>8%=5Q  
!9N%=6\  
$i`YtV  
优化的自由变量为: G37_ `C  
WMC6 dD_6e  
—缝宽:10—190mm ~|!lC}!IKL  
-FPl",f=r  
—光栅深度:20—200nm `150$*K&B  
~gAx  
优化算法: a[JgR/E@x  
G dooy~cn  
—使用Parameter run 进行一个全波长的全局搜索使得TE透过率的最大值最小同时使得偏振对比度的最大值最低。全局搜索不是强制的,但是它帮助确定在几个最大值和最小值之间确定优化参数的起始点。 7)]G"m{  
—参数优化使用下山简法(局部优化)和模拟退火法(全局优化)。参数优化使得找到在偏振对比度和TE透过率之间的一种平衡。 GS^4t mc  
 ~.Gk:M  
光路流程图和偏振分析器: P"#^i<ut@T  
>pYgF =J  
偏振光栅的光路流程图存储在文件“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_01”中。 b13>>'BMB  
KG?]MVXA  
对于给定的波长范围,偏振分析器被用来计算相关偏振方向的最大和最小值。并可以计算 和 的反射或透射的最大和最小值。像偏振对比度这样高级的优化函数也可以被计算出来。 u/zfx ;K  
&vn9l#\(  
Parameter Run 的全局搜索: .KD07  
Yk5kC 0B  
Parameter Run文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_02”中。 XU54skN  
R's xa*VB  
Parameter Run 设置 S,v`rmI  
])JJ`Z8Bk  
缝宽:10—19nm 步长10nm; p[$I{F*a  
8BN'fWl&E  
规划深度:20——200nm 步长10nm; AX)zSrXn  
WZr~Pb9  
使用扫描模块进行所有参数的整合研究。 iOyYf!yg  
*SW,pHYnLb  
在自由参数模块中选择深度和缝宽。 1Li@O[%X<  
(o|E@d  
使用扫描模块进行参数联合调查。 (AS%P?  
优化函数依据迭代次数进行显示: `l}-S |a  
oMVwId f  
左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 WAEKvM4*i0  
Uwp +w  
TE透过率和偏振对比度对于不同参数设置已经达到了最大化。 q}!4b'z^  
F~Li.qF  
参数构成: `#]\Wnp~y  
Vh<`MS0X  
缝宽50nm,规划深度200nm;最小TE透过率72.7%;最小偏振对比度62;TE透过率均匀误差7%; C/ bttd  
S;NXOsSu  
  
9NT;^K^ I  
局部参数优化: jBC9Vt;B  
%L/=heBBd  
使用局部参数优化的参数优化文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_03”中。 @FTi*$Ix  
gU?)  
起始值为:缝宽:50nm,规划深度200nm; piP8ObGjy  
~JXHBX  
参数和优化函数被严格定义,以便在TE透过率,偏振对比度和TE透过率均匀误差之间找到平衡。 J-}NFWR;t  
I%p#E#[G  
o;[oy#aWl_  
-: ,h8JyMP  
参数定义: cC4T3]4l'  
CytpL`&^]  
规划深度为20-200nm,权重1e20 B4}XK =)  
9<#D0hh$  
缝宽10—190nm权重1e20 lK4+8VZ  
3\{Sf /#  
优化函数定义: &Yg/ 08*  
nR7\ o(!  
——TE效率最小值被最大化(全波段) $c}0L0  
asg>TO W  
——偏振对比度大于50(全波段) pd#/;LT  
$<v_Vm?6d  
——均匀误差最小化,但对于通用优化函数只具有较低影响。 &f*dFUM]I  
0U>Q<I}  
R%%`wmG)"  
选择下山简法进行局部优化。 qC )VT3  
k 3 l  
左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 mw[4<vfB0a  
HhvG#Sam!  
   GcnY= %L?  
优化好的光路流程图存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_04”中。 7mM;Q  
vrzX%'  
优化过的参数为: _ ^{Ep/ME=  
[Ni4[\  
缝宽:46nm;规划深度200nm;最小化偏振对比度50;TE透过率的均匀误差7% +&OqJAu  
GcR`{ 3hO  
结论: 4*x!B![]y  
\#aVu^`eX  
偏振分析器允许评估偏振光栅的波长和角独立性。 tWn m{mF  
W[Bu&?h$  
Parameter Run允许对参数空间进行全局搜索找到局部参数优化的合适起始点。 PoJ$%_a}  
F-^HN%  
最后使用下山简法进行偏振光栅的局部参数优化。 _sVs6AJ  
QQ:2284816954 备注:光学
H |UL5<:]D  
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