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2021-04-16 09:45 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要
+uZ,}J fyaiRn9/ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 E{'{fo!#)
~$cz`A 建模任务 w/&)mm{ I6@98w}" Xfo3fW)s 元件倾斜引起的干涉条纹 R9bsl.e YW9r'{(D(I
$=3&qg"! 元件移位引起的干涉条纹 Va"H.] ~QzUQYG* t+y$i@R: 文件信息 HmlE Cx $v5)d J
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QQ:2987619807
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