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2021-04-16 09:45 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要 rl2&^N *3/T;x. 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 !V2/A1? :>Rv!x` 建模任务 UFAL1c<V I/gjenUK Rp7ntI: 元件倾斜引起的干涉条纹 RPd}Wf 3"n\8#X{
jO*l3:!~ \ 元件移位引起的干涉条纹 W6 H,6v r$Co0!. OCZaQ33 文件信息 Sf5X3,Uw LI2&&Mw
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QQ:2987619807
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