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2021-04-16 09:45 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要 b4dviYI aOd#f:{y 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Dq~;h \=' )aGSZ1`/ 建模任务 _b%) Jn=;gtD-* Le?g,c 元件倾斜引起的干涉条纹 @kh<b<a4 Ws|`E`6O
[5~mP`He 元件移位引起的干涉条纹 6Ot~Q N8pL2y:R[P 8>[g/%W 文件信息 +={K -g7U "g5{NjimY
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