| infotek |
2021-04-16 09:45 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要 e.Y*=P}D
a%h'utF{[
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 4_A9o9&_Rh
Q<e`0cu|p
建模任务 WecJ^{g>r{
x>$! R\Cj
(ex^=fv
元件倾斜引起的干涉条纹 <;?&<qMo,P
c= -2c&=&
 N$j I&SI?}
I8 <s4q
l5jW`cl1
文件信息 T21 SuM
,0~/ Cn
kP6P/F|RcZ
QQ：2987619807
|
|
