角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 [%1 87dz:D 系统简介 0&W*U{0F\ ;
*@lH%u ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 1c2zFBl.& pAm
L 特征及技术参数 1pDL()t v=Y)
A ? - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, Xh[02iL- - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) mT3'kUZ}] - 入射光与探测器可共面或异面。 "lT>V)NB' - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 >X$I:M<L - 可对样品进行扫描。 xV}ybRKV - 动态范围: 13个数量级。 =_@Q+N*]|( - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 #% 1|$V*: - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 ,iy;L_N - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 $yi[wwf4 - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 m|%L[h1 - 方便操作的测量及分析软件。 #6'+e35^ 8 - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 w%NT
0J p?#%G`dm 应用 g3h:oQCS N+V_[qr# 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 sZ7RiH+I - 产品质量检测。 4Up3x+bg - 光学性能分析。 Wb7z&vj - 粗糙度分析。 [? 1m6u; 仪器咨询QQ:939912426 Nm;V9*5
|