角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 :\L{S 系统简介 AU} e^1h q$e2x=? ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 /J`8Gk59 iU{bPyz, 特征及技术参数 2Ch!LS:+ ge:UliHJ - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, }UZ$<81= - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) q.FgX - 入射光与探测器可共面或异面。
2]C`S,) - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 aM5zYj`pW - 可对样品进行扫描。 |_8::kir: - 动态范围: 13个数量级。 S{{D G - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 +Sv`23G@ - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 qlD+[`=b - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 XWZ
*{/u - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 } WY7!Y - 方便操作的测量及分析软件。 Lgpj<H[ - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 Bu">)AnN Kf2*|ZHj 应用 u&?J+ zz 7m\ 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 .cN\x@3-j - 产品质量检测。 ZN-J!e"` - 光学性能分析。 ViQxOUE - 粗糙度分析。 zI8Q "b 仪器咨询QQ:939912426 HT)b3Ws~M8
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