角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 BY 1~\M 系统简介 5=
F-^ |Rl|Th ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 [s2%t"H-y 8m9G^s`[ 特征及技术参数 69L s"e N*z<VZ - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, {=(4 - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) PzF)Vg - 入射光与探测器可共面或异面。 11)~!in - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 q&wMp{ - 可对样品进行扫描。 ?e ~* ,6 - 动态范围: 13个数量级。 1ri#hm0x\ - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 }^ iE|YKz - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 "JGaw_o - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 |g9^]bT - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 dNyc|P`U - 方便操作的测量及分析软件。 P_Zo}.{ - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 ,iHt*SZ,* y}3V3uqK 应用 PK~okz4b _l Jj 6= 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 \jfW$TtZm - 产品质量检测。 44]ae~@a - 光学性能分析。 Tu"yoF - 粗糙度分析。 i0R=P[ 仪器咨询QQ:939912426 IEA[]eik>
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