角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 Isovwd 系统简介 " OGdE_E *`KrVu 6s ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 Q
@2(aR WL\^F#: 特征及技术参数 fW~*6ln lEfBe)7+ - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, (G8 - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) 7Qh_8M - 入射光与探测器可共面或异面。 r] t )x* - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 8Inx/>eOI - 可对样品进行扫描。 3cu9[~K - 动态范围: 13个数量级。 m.V,I}J.q - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 \$;~74} - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 {Bvm'lq` - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 +{6`F1MO - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 Zu=kT}aGg - 方便操作的测量及分析软件。 feCqbWq: - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 uu>lDvR* |mj#
0 应用 ,U%=rfB~ e}Q>\t45 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 =hcPTU-QU - 产品质量检测。 -SJSTO[/J - 光学性能分析。 pruWO'b` - 粗糙度分析。 l7Lj[d<n 仪器咨询QQ:939912426 IIaxgfhZ
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