角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 Ixw,$%-]y6 系统简介 ZKvh] qha<.Ro ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 YV
msWuF (tgaH,G 特征及技术参数 RB"rx\u7K 4Y!v$r - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, *E]\l+]J - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) cMv3` $ - 入射光与探测器可共面或异面。 KkY22_{ac - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 4!jHZ<2Z - 可对样品进行扫描。 d(!N$B\[5T - 动态范围: 13个数量级。 `g=~u{0 - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 F0\ry "(t - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 riL!]'akV - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 9E^piLA - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 ry0 =N^ - 方便操作的测量及分析软件。 5*AKl< Jl - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 AMdS+(J *v+ fkg 应用 H4,yuV <c#[.{A}s 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 'UxA8i(
- 产品质量检测。 K="+2]{I - 光学性能分析。 U ~m.I - 粗糙度分析。 6,PLzZ5 仪器咨询QQ:939912426 i1
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