角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 vbDSNm#Yv 系统简介 C
Rd1zDB ,}("es\b ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 N^G:m~> ;oKN 8vI#7 特征及技术参数 ?f\;z<e| *@XJ7G[ - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, !L+4YA - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) I$#B#w?!$r - 入射光与探测器可共面或异面。 b
V)mO@N~w - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 hU:M]O0uw - 可对样品进行扫描。 3Ishe" - 动态范围: 13个数量级。 *K{-J* - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 jkPye{j - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 .=j]PckJO - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 BD)5br]. - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 6vx0F?>_ - 方便操作的测量及分析软件。 G lz0`z - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 Pl@3=s!~>~ d!V;\w 应用 'Xl_,;W] aR
iD}P*V 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 M@G <I]\ - 产品质量检测。
h:[8$] - 光学性能分析。 ;3nR_6\ - 粗糙度分析。 qdlz#-B 仪器咨询QQ:939912426 MOiTzL*
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