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infotek 2021-03-15 11:06

马赫泽德干涉仪

摘要 I: j!A  
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干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 h 2Kx  
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建模任务 &efwfnG<  
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由于组件倾斜引起的干涉条纹 A_:YpQ07@  
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由于偏移倾斜引起的干涉条纹 N:_U2[V^d  
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文件信息 .b3c n  
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更多阅读 t9Sog~:'  
- Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration G"xa"hGF  
- Fizeau Interferometer for Optical Testing
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