?@V R%z 摘要 ,N/@=As9$ E' 5*w6 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 *2X6;~ 8$Q`wRt(%
?M2(80 iP/v"g"g 建模任务 BEZ~<E&0H !\]^c
,RP-)j"Wff R^Rc!G} 元件倾斜引起的干涉条纹 +qxPUfN !+xQ
a|ft l&uk tobE3Od4 元件移动引起的干涉条纹 gW,[X( Y~ ~Dg?e
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k(Yz2 uL'f8Pqg VirtualLab Fusion工作流程 |5@Ra@0 AZ:7_4jz −基本源模型[教程视频] DF%d/a{]
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] LS@TTiN
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