j6l1<3j 摘要 ?2"g*Bak *y4g\#o. 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 VZqCFE3 Ic&~iqQ
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,WE2.MWR fn<dr(Dx 元件倾斜引起的干涉条纹 ]|3hK/ 1`?o#w
X4o#kW OmBM)g 元件移动引起的干涉条纹 [x)T2sA RFbf2s\t
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Sd6O?&( @]Vcl"t VirtualLab Fusion工作流程 ]pm/5| #f(a,,Uu' −基本源模型[教程视频] 2(d
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] Qy9_tvq
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Cj#wY <Ch9"1f3, 文件信息 .J -k^+- T4W20dxL7
!Mw/j`* 6KGT?d 应用用例 $x }R2 进一步阅读 -基于激光的迈克尔逊干涉仪和干涉条纹观测 oJM;CN -用于光学测试的Fizeau干涉仪 W)1nc"WqY qq:939912426 |