H wz$zF+R 摘要 *nv^s /-(OJN5F^ 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 vN~joQ=d !Y/S 2J
=-qYp0sVP rX)_!mR 建模任务 kxmsrQ>av {s6hi#R>
JbN,K P0k.\ 8qz 元件倾斜引起的干涉条纹 3T[zieX 8N3rYx;d~
#vAqqAS`, M'T[L%AP 元件移动引起的干涉条纹 'aS: Azb ^S)t;t@x
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] \{qtdTd K?yMy,9%Yw
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Sae*VvT6 z+^9)wg9 文件信息 <X?xr f H;+98AIy`
X9C:AGbp +=*ND<$n/E 应用用例 Fw^^sB 进一步阅读 -基于激光的迈克尔逊干涉仪和干涉条纹观测 Rhw+~gd*F -用于光学测试的Fizeau干涉仪 3@1$y`SN qq:939912426 |