马赫-泽德干涉仪

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时间:2020-07-13 15:34来源:讯技光电作者: 技术部点击:183次打印

?R#- gvX%   摘要 EO:i+e]=   3l-8TR   干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 6zaO$   :BNqr[=b   E}b" qOV        [(F.x6z)   建模任务 l]uF!']f      gcQ>:mi   Zb^0EbV   Kj ;Q;Ii   元件倾斜引起的干涉条纹 LW{7|g   nulVQOj|      =NQDxt}   !w(J]<   元件移动引起的干涉条纹 R]/3`X9!d>   eYOwdTrq   'W@X139zq   0h_9   走进VirtulLab Fusion "fU=W|lY   6`J*{%mP   -2{NI.-Xd   XBh0=E?qiS   VirtualLab Fusion工作流程 .Wc<(pfa                                      U_K"JOZ   设置入射高斯场 −基本源模型[教程视频] Rr{mD#+   设置组件的位置和方向 −LPD II：位置和方向[教程视频] 设置组件的非序列通道 − 非序列追迹的通道设置[用户案例] -B*= V   gp`$/ci   TMpV.iH   onI%Jl sq   VirtualLab Fusion技术 6c$ so   SDwTGQ/0   hs!a' E   RXxi7^ U   文件信息 >7V96jL$Y   c>6dlWTqX   M ~zA   V|gW%Z,j   应用用例 lmi,P-Q   进一步阅读 -基于激光的迈克尔逊干涉仪和干涉条纹观测  LP-~;   -用于光学测试的Fizeau干涉仪 7l/.fSW   qq：939912426