马赫-泽德干涉仪

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时间:2020-07-13 15:34来源:讯技光电作者: 技术部点击:183次打印

y)f.ON36I   摘要 q:{#kv8   ^({)t   干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 fBO/0uW   Nk~}aj   vr!J3H f        ^df wWP   建模任务 PN}+LOD<t      8(3(kZxS   ;!yK~OBxt   337.' |ZE   元件倾斜引起的干涉条纹 N'^>pSc4W|   ycGY5t@K@      f^%3zWp|-   zVhyAf   元件移动引起的干涉条纹 8K8u|]i   ,"qCz[aDN1   I?KN7(9u?   %lKw+D   走进VirtulLab Fusion ~G@NWF?7   pP\Cwo #,   OY*y<>   ;i{B,!#   VirtualLab Fusion工作流程 H7O~So*N5                                      <,.$U\W   设置入射高斯场 −基本源模型[教程视频] T+8Yd(:hX   设置组件的位置和方向 −LPD II：位置和方向[教程视频] 设置组件的非序列通道 − 非序列追迹的通道设置[用户案例] 37bMe@W   mq:k|w^6   tZxx#v`   5C w( 4.   VirtualLab Fusion技术 MVatV[G   QE<Z@/V*a   z%&FLdXgW+   ~$!,-r   文件信息 [V}vd@*k   T/$gnn   xBHf~:!   l;F"m+B!$   应用用例 W 4{ T<   进一步阅读 -基于激光的迈克尔逊干涉仪和干涉条纹观测 ZlV   -用于光学测试的Fizeau干涉仪 vrn4yHoZ   qq：939912426