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summer20200907 2021-02-23 09:45

光学薄膜分析与设计软件Essential Macleod

Essential Macleod是一套完整的光学薄膜分析与设计的软件包,它能在任一32位、64位微软窗口环境操作系统下运行(除了Windows RT), 并且具有真正的多文档操作界面;它能满足光学镀膜设计中的各种要求;既可以从头开始设计,也可以优化已有的设计;可以模拟设计生产中的误差,也可以导出薄膜的光学常数,是当今市场上最完善的薄膜设计及分析软件。 rS|nO_9f  
@~ 6,8nQ  
模块:Core模块+5个附加模块 3*8m!gq7s  
K=K]R01/o  
Core模块 A>9I E(C_  
^55q~DP}>  
Macleod核心模块是软件的最低配置,包含设计编辑器,数据、目标编辑器,输入/输出,材料管理,性能计算,优化和综合,和其它软件或硬件的数据交换,导纳轨迹,电场,辅助设计等,是整个软件包的基本构架。 8wH1x .  
xI>HY9i )  
Core模块功能 u2o196,Ut  
y8.3tp  
效能计算 .ri?p:a}w  
]broU%#"  
Essential Macleod 提供了整组完整的效能计算。除了一般反射和透射计算外,也包括沉积密度、吸收,椭圆参数,超快参数 (群组延迟、群组延迟色散、三阶色散)和多光色散,也可以进行色彩计算。公差的计算是分辨设计对微小厚度变化的灵敏度。 '.gLqm}%  
MkK6.qV\z  
颜色计算 Y@l>4q")  
8-5g6qAS  
颜色计算包括色度坐标、显色指数、色纯度、主导波长、相对色温。图形包括色度坐标图、色调、用户自定义图。包括CIE 1931 和 1964 配色函数在内的许多标准光源选择是预先定义好的,而用户可以定制你所需要的参数的其它参数。可以根据导入的透射及反射数据计算作为波长函数的颜色参数,也可以作为目标进行优化。 2Q;g|*]  
wn Q% 'Eo  
设计和分析工具 K3;~|U-l  
GeFu_7u!|  
包括导纳图,电场分布,等效折射率,吸收分布,应力,光的散射、特性包络、消偏振边带滤波器设计和诱导透过率。 hd>_K*oH  
%|(Cb!ySX  
提取工具 fG" 4\A  
XjFaP {  
n & k 提取工具提供了由量测测试薄膜的反射、透射频谱数据以决定薄膜或基底n 与k 的方法。 Nm{J=`  
bMGU9~CeJ  
反演工程 2J&J  
Yu+;vjbK-  
主要采用Simplex 局部优化方法,根据已镀膜的设计结构和光谱测试数据(至少一种),来确定其真实膜系结构及其与设计的差别。 cv7.=*Kb;  
/P[@o  
公差 u OB`A-K  
(nnIRN<}$  
Essential Macleod 的公差能力允许你探查设计相对于制造误差的灵敏度,可以比较不同的设计以挑选出最优者。 dTVh{~/  
GhC%32F  
细化与合成 4<btWbk5u*  
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Essential Macleod提供了6个优化和2个合成工具,膜层可以锁定或关联(膜层关联是更先进的分组形式可以把不连续的膜层关联在一起优化),堆积密度包含在细化工具下的简单下降法里面(可对折射率优化)。优化过程可以加入如选择的膜层的总厚度等不同的限制条件。Optimac和needle Synthesis方法可以优化多层膜,可加入多种材料合成优化。Context允许使用替代材料优化。 lPA:ho/`:  
zbZN-j#  
图表 0?w4  
i*6 1i0  
Essential Macleod包括标准图片、动态图(参数的变化效应可立即看到)、三维图。 H=@S+4_bK  
T]lVwj  
导入与导出 ]L;X Aj?  
# XeEpdE  
剪贴板支持与其它应用程序的导入与导出数据,还可以导出数据到光学系统软件中如FRED、VirtualLab、Zemax、Code V。 3e?a$~9  
83pXj=k<  
Runsheet模块 w)<h$ <tU  
]]6  
这个工具可设计镀膜制程,包含机器配置编辑器以及跑单生成器。 '/GZ/$a_l  
nV_[40KP_  
机器配置编辑器 *n*po.Xr  
+kM*BCPYE  
机器配置中贮存了特定镀膜机的详细设置,监控系统,入射角,材料,监控芯片,加工因子(包含随光源损耗变化的动态加工因子)。 YPmgR]=6  
W@WKdaJ  
Runsheet >U6 2vX"  
+"3K)9H  
使用者可使用跑单生成器对既定的机器配置,进行镀膜设计的监控规划。该工具除了可同时具备光学与晶体监控功能外,还具备诸如动态加工因子和系统带宽等高级特性。 -!-1X7v|Fp  
u;/<uV3  
•对反射、背向反射和透射监控计算光学信号 +8 }p-<a  
•当膜层沉积时,动态加工因子(Dynamic Tooling Factors)可以不同 9t"/@CH{  
•使用偏移和放大控制可以使信号数据缩小或放大到用户自定义范围 >mp" =Y  
•对每一膜层,监控波长、带宽、监控光谱、晶控或光控都可以用户自定义 `y*o -St3  
•在镀膜的任何阶段,监控芯片可以更换 JU!vVA_  
•多种配套的格式输出 mApl}I  
•提供图片和表格的监测数据可以输出到用户自定义报告格式 ^2eH0O!  
.ZVo0  
Simulator模块 de q L  
^cI 0 d,3=  
对于公差问题, Simulator 通过蒙特卡罗(Monte Carlo)法在实际模型控制过程的扩展来进行解决。通过一个由 Runsheet 创建的控制计划, Simulator 可模拟薄膜淀积控制,引入随机和系统效应,例如信号噪声,加工因子的变动,封装密度误差等等,以及显示这些参数对于镀膜制程的最终模拟结果的效应。 9D H}6fO  
*:,y`!F=y  
Monitorlink模块 2@?\"kR"!  
(T8dh|  
Monitorlink提供将Runsheet连结到一个淀积控制器的额外软件。一个独立的程序与控制器直接连接,而且一个 Runsheet 的扩展也赋予其产出和编辑淀积程序的功能。 T`K4nU#  
VStack 模块 ='vkd=`Si  
; 2Za]%'  
VStack 是一种计算与优化的工具﹐它也能计算这些系统中斜射光的效应。当光束斜入射时,初始为p- 偏振态的光线最终会以p - 偏振态从系统出射。同理,原本是s - 偏振态光也会以p - 偏振态出射,我们称此为偏振泄漏 (polarization leakage) 现象。VStack 能计算泄漏的大小而且提供泄漏元件的 Delta 值。 A>Xt 5vk+  
i1-wzI  
Function模块 l^4!  
-n]E\"  
函数扩展功能无macleod计算中的限制,Function有两个主要工具:第一是简单的宏语言可在软件表格中运行,另一个是强大的Basic脚本语言。 Y5\=5r/  
$|H7fn(r  
宏语言可以保存和调用。Operation可以使阵列数据作为变量并可进行所有必要的插值。Operations可以创建黑体辐射光源,对于柯西材料模型可提取n和K数据,很容易的计算如平均或峰值特性等庞大计算量。其简单宏指令中的操作 ( 具有内建的编辑器和语法检查器 ) 能允许一再重复相同的计算。 f4lC*nCN  
b:YyzOqEu  
T)#eaz$4W  
"V:E BR  
脚本是比Operations功能强大但更复杂的的脚本编辑。脚本可以调用Macleod作为物的实体,并运行它的命令可以插入到工具栏中,存在两个强大的编辑器,一个是可以使用BASIC脚本编辑器,另一个允许是允许用户与程序包内置的对话框交互的脚本编辑器。 $ v~I n  
'/ GZ,~q  
&?#!%Ds  
脚本也兼容OLE 的外部程序如Microsoft Word软件。软件提供了许多预先编辑好的脚本,如创建新的光源,如对不同的模型创建纳米复合材料,如OLED特性计算,膜层表面3维数据收集,非均匀表面效应的计算。 Nh+ZSV4WJ:  
p WLFJH}N  
JTfG^Nv>K  
DWDM Assistant模块 50Y^##]&  
3`> nQ4zC  
在多腔滤波器设计中,特别是针对密集波分复用,用DWDM 助手可以避免单调的重复过程。DWDA Assistant 可自主设计一组多腔滤波片,以满足用户的不同规格,设计结果可以根据一些诸如总厚度、预计淀积时间、扰动特性等等规范排序。 # NR 9\  
kz?m `~1  
1`l10fqU  
通过扰动优化算法,增加只是由1/4 波长厚度的膜层组成的结构,减少通带中的脉动,使DWDM助手中使用的对称周期技术功能增强。一般来说,对给定要求的滤波器,有许多的设计都满足要求,但DWDM 助手可以按评价标准对设计结果进行排列。 MP%pEUomev  
2[TssJQ  
jLgx(bMn  
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试用索取QQ:939912426
f4213705 2021-04-08 09:12
  好东西哦..发个软件啦
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