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infotek 2021-01-06 09:50

光栅起偏器的参数优化

案例315.01:光栅起偏器的参数优化 [ Sa C  
Y  .X-8  
这个案例说明了对于一个用于VIS光起偏的亚波长光栅的参数优化过程。 *fyEw\`a  
WN?`Od:y  
关键词:参数优化,光栅,起偏器,亚波长 D+nj[8y  
$zH 0$aOx  
所需工具箱:高级光栅工具箱 &_TjRj"  
mr\L q~*c  
相关案例:100.01,101.01 g0 U\AN  
G\+MT(&5  
相关教程和技术说明:Tutorial 101.01, TN.021 i]Of<eQ"  
E<[ bgL  
建模任务: tWy<9TF  
[WSIC *|;  
平面波入射周期为200nm的镀铬线性矩形光栅,基底为融石英,产生TE模的起偏。 ?v*7!2;  
m.X+sP-e  
}Bg<Fm  
优化目标: ^qy-el  
E^ti !4{<  
—TE模偏振光的透过率最大化 Dy'l]vN$  
V'4}9J  
—TM模偏振光的透过率最小化 _^A NJ7  
;'+cT.cmH  
优化函数: @_Oe`j^  
m eWq9:z  
—最小化TE的透过率 =1?yS3  
fXQRsL8 ]  
—最小化偏振度(要求>50:1) Tj~#Xc  
Lu5.$b  
s$G8`$+i1  
   M- A}(r +J  
—使用力优先级使TE透过率的均匀误差最小化 I=-;*3g6  
K?I&,t_*R  
Kt0Tuj@CY  
}# ^Pb M  
优化的自由变量为: i`s pM<iR.  
nA j2k  
—缝宽:10—190mm q{(&:~M  
HK.J/Zr  
—光栅深度:20—200nm 1W7BN~p14  
J4X35H=Z  
优化算法: }e@-[RJ!  
|`/uS;O  
—使用Parameter run 进行一个全波长的全局搜索使得TE透过率的最大值最小同时使得偏振对比度的最大值最低。全局搜索不是强制的,但是它帮助确定在几个最大值和最小值之间确定优化参数的起始点。 q,Q|Uvpk  
—参数优化使用下山简法(局部优化)和模拟退火法(全局优化)。参数优化使得找到在偏振对比度和TE透过率之间的一种平衡。 v%Xe)D   
oa7Hx<Y  
光路流程图和偏振分析器: 1r4/McB  
%j; cXN  
偏振光栅的光路流程图存储在文件“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_01”中。 SW, Po>Y  
TD9`S SpP  
对于给定的波长范围,偏振分析器被用来计算相关偏振方向的最大和最小值。并可以计算 和 的反射或透射的最大和最小值。像偏振对比度这样高级的优化函数也可以被计算出来。 m$g^On  
|0mI3r  
Parameter Run 的全局搜索: #{1fb%L{i  
#+\G- =-  
Parameter Run文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_02”中。 K@lV P!z  
SsZzYj.d  
Parameter Run 设置 gV;GC{pY  
&o.SmkJI  
缝宽:10—19nm 步长10nm; {xH@8T$DX  
:Aw VeX@  
规划深度:20——200nm 步长10nm; ARo5 Ss{  
YJ$ =`lIM  
使用扫描模块进行所有参数的整合研究。 j&5Xjl>4  
t T:yvU@a  
在自由参数模块中选择深度和缝宽。 Mr(3]EfgO  
@xE Q<g  
使用扫描模块进行参数联合调查。 !HYqM(|{.  
优化函数依据迭代次数进行显示: '~ 0&m]N  
?YO%]mTP  
左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 }XU- J An  
ks$G6WC  
TE透过率和偏振对比度对于不同参数设置已经达到了最大化。 5c8x: e@  
kF .b)  
参数构成: AtI,& S#{  
g~b'}^J  
缝宽50nm,规划深度200nm;最小TE透过率72.7%;最小偏振对比度62;TE透过率均匀误差7%; ;*p} ~#2  
  
7j8_O@_  
局部参数优化: #4>F%_  
><~hOK?v  
使用局部参数优化的参数优化文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_03”中。 5"U7I{\  
+fN0> @s  
起始值为:缝宽:50nm,规划深度200nm; u.6%n. g  
$P_Y8:  
参数和优化函数被严格定义,以便在TE透过率,偏振对比度和TE透过率均匀误差之间找到平衡。 WW=7QC i  
U^D7T|P$V  
/_\4( vvf  
g:yK/1@Hk}  
参数定义: z?xd\x  
Z/x~:u_  
规划深度为20-200nm,权重1e20 `u-Y 5mY  
c/RG1w  
缝宽10—190nm权重1e20 |a+8-@-Tj  
MZ'HMYed   
优化函数定义: 2X`M&)"X  
z~qQ@u|  
——TE效率最小值被最大化(全波段) RiklwR#~r/  
Er)b( Kk  
——偏振对比度大于50(全波段) \=)h6AG  
{$^|^n5j  
——均匀误差最小化,但对于通用优化函数只具有较低影响。 UpILr\3U  
& BkNkb0  
xlAaIo)T  
选择下山简法进行局部优化。 }O/Nn0,  
#~b9H05D  
左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 /_P`xm+=AC  
AO6;aT  
   a$ }^z  
优化好的光路流程图存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_04”中。 j*"s~8u4  
)8;'fE[p}  
优化过的参数为: "<n{/x(  
)'JSu=Ej  
缝宽:46nm;规划深度200nm;最小化偏振对比度50;TE透过率的均匀误差7% pyKMi /)bL  
4.8,&{w<m  
结论: Rjf |  
LPC7Bdjz  
偏振分析器允许评估偏振光栅的波长和角独立性。 n2E2V<#   
dZ*o H#B  
Parameter Run允许对参数空间进行全局搜索找到局部参数优化的合适起始点。 {q^KlSjm  
(\j<`"n  
最后使用下山简法进行偏振光栅的局部参数优化。 vd~O:=)4  
X^ovP'c2  
Xp' KQ1w)  
QQ:2987619807
L>B0%TP^  
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