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infotek 2020-10-29 09:36

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量>显微 f|^dD`  
F'g Vzf  
任务/系统视图 I1[g&9,  
^~{$wVGa  
V .os  
j1_ @qns{  
亮点 lb'GXd %  
kb[P\cRa  
wi9DhVvc 0  
uOa26kE4  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 >zDF2Y[  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 (D@A74q\'  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 }2K$^u R  
SyAvKd`g  
说明:光源 :2njp%  
qwIa?!8 o  
t){"Tf c:  
V9ssH87#  
SIbDj[s  
f;}EhG'  
说明:透镜系统 d Le-nF  
S1D@vnZ3O\  
P&Pj>!T5  
说明:样品结构 rr#K"SP  
P2nft2/eu?  
:>p8zG  
mhW-J6u*  
说明:探测器 ##Z_QB(;  
5,)Q w  
^F:k3,_[  
,gL9?Wz  
F :6SPY y  
iCHt1VV]  
结果:3D光线追迹 ',GS#~  
N}\[Gr  
9;?UvOI;  
[F5h   
e" ]2=5g  
a>mm+L 8y  
结果:光线追迹 S(\9T1DVe  
CgzD$`~  
}du XC[6  
'ejvH;V3i  
结果:光线追迹衍射级数 YC_1Ks  
ho>k$s?  
@iEA:?9uX  
z<.?x%4O  
结果:场追迹采样平面 ;Ag 3c+  
e@{i  
F@R1:M9*  
<cA/<3k)  
结果:场追迹焦平面 E*?<KZe"  
5=e@d:Sz  
[!%![E  
S$2b>#@UJ  
结果:减小光栅周期 F4Y @ B  
(%O@r!{  
随着光栅周期的减小,光栅结构不能被分辨。 JsO *1{6g  
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文档和技术信息 "TH6o: x  
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