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大数值孔径显微镜极限分辨率的研究
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infotek
2020-10-29 09:36
大数值孔径显微镜极限分辨率的研究
光学测量>显微
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任务/系统视图
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亮点
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`CWI%V
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显微镜系统中光栅的全矢量分析
4,8=0[eRG
在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析
ionFPc].
光线追迹和物理光学建模之间的简单切换
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k3[%pS
说明:光源
G@YX8!wU
(v11;k dJB
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4z^ ?3@:K
7oPLO(0L
说明:透镜系统
#J1vN]g
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说明:样品结构
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:ET05MFs\#
说明:探测器
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y\=(;]S'
c-|~ABtEpX
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结果:3D光线追迹
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9ANC,+0p
^Z?X\t
{`2R<O
b)7uz>I
结果:光线追迹
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(8M^|z}q
z:RclDm
XS$5TNI
结果:光线追迹衍射级数
qTbY'V5A
l>l)m-;O
c$X0C&m
N|Cx";,|FZ
结果:场追迹采样平面
Kk5 vC{
W<J".2D
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X bF;
结果:场追迹焦平面
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结果:减小光栅周期
=5NM =K
{fkW0VB;
随着光栅周期的减小,光栅结构不能被分辨。
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文档和技术信息
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QQ:2987619807
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