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infotek 2020-10-29 09:36

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量>显微 Uh9$e  
Uq[NO JC  
任务/系统视图 IRcZyry  
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1YS{; y[o  
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亮点 (IEtjv}D  
U`:$1*(`  
#|gt(p]C  
p'_* >%4~  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 BGUP-_&  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 Jj([O2Eq$  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 \a}%/_M\  
%+`$Lb?{  
说明:光源 lJ}lO,g  
0h#' 3z<  
}b~ZpUL!  
e&wW lB![  
N.3M~0M*  
CM~)\prks  
说明:透镜系统  DMf:u`<  
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 G#K=n  
说明:样品结构 :}j{NM#  
b~cN#w #  
O[q {y  
& XcY|y=W  
说明:探测器 r6j 3A  
$7lI Dt  
>D*L0snjV  
UX(#C,qgG  
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^TnBtIU-B  
结果:3D光线追迹 LUJKR6oT{>  
}cMb0`oA  
{3!v<CY'  
RV7l=G9tq  
M2mte#h  
W}nD#9tL  
结果:光线追迹 p]IF=~b  
C:zK{+  
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kcI3pmgj  
结果:光线追迹衍射级数 F}.<x5I-;h  
hcwKi  
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*N<~"D  
结果:场追迹采样平面 !{"{(h)+@  
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结果:场追迹焦平面 iIA&\'|;i  
^6oz3+  
i\2~yXw\  
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结果:减小光栅周期 8( 7DW |\  
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随着光栅周期的减小,光栅结构不能被分辨。 !z$.Jcr1  
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文档和技术信息 8dNwi&4  
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QQ:2987619807 M6[&od  
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