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infotek 2020-10-29 09:36

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量＞显微 7dihVvL $  
(Lh#`L?x  
任务/系统视图 ]IJRnVp%  
ctQbp~-  
wLuv6\E  
NV4g~+n  
亮点 S)He$B$pp  
(_* wt]"'  
3`9{T>  
 '+<(;2Z vL  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 Ju@Q6J5  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 R)!`JKeO/  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 ,1Qd\8N9  
%u?HF4S'  
说明：光源 Fb2%!0i  
~;-9X|  
O`FqD{@V  
mN0=i(H<  
NGjdG=,  
>KG E-Yzj  
说明：透镜系统 $ &5w\P  
4yMW^:@  
>=ot8%.!,B  
说明：样品结构 5IVksg  
t$^l<ppQ  
Q/_[--0&#  
" oy\_1|  
说明：探测器 ~#M d"3  
@-.? B  
'(@YK4_M  
x_@i(oQ:_  
 .uZ7 -l  
}{7e7tW6  
结果：3D光线追迹 jigs6#  
OVoO6F ]  
k D~uGA  
#;9H@:N  
"5DJu ~  
_|c&@M  
结果：光线追迹 1uG=`k8'k  
q/@dR{-  
Qb^q+C)o]  
s(@h 2:j  
结果：光线追迹衍射级数 v<rF'D2  
2V#6q,2  
:jNYP{Br  
O@U?IF$  
结果：场追迹采样平面 V: p)m&y6  
<3 @}Lj  
~P1_BD(  
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结果：场追迹焦平面 J2Et-Cz1  
/MMtTB H  
HR{s&ho  
P9#)~Zm}]  
结果：减小光栅周期 MB$a82bY  
 f>iuHR*EXB  
随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 =DgC C|p  
3l:QeZ  
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NXoK@Y  
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   o\4t4}z~'f  
   N_'+B+U?  
l)}t,!M6  
文档和技术信息 W}gVIfe  
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QQ：2987619807 t{(Mf2GR1  
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