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2020-10-29 09:36 |
大数值孔径显微镜极限分辨率的研究
光学测量>显微 <_(/X,kBK 3Tq\BZ 任务/系统视图 DS|KkTy3 n&A'C\
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il3h, fqu}Le 亮点 /k"`7`! +/D>|loRC
Bvt@X `<[6YH_ 显微镜系统中光栅的全矢量分析 `mT$s,:h 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 -uh(?])H 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 yPw'] " BnRN;bu 说明:光源 !gnj]k&/c eiJ2NwR\w
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2DD:~Tbi kM`l 说明:透镜系统 m0{ !hF[^ Z!0]/ mCE8
5<L_|d)0" 说明:样品结构 P,=+W(s9} lnGq :-
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fI\9\x 说明:探测器 RllY-JBO {YUIMd!Y
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7m#[!%D }bU8G ' 结果:光线追迹 4x%(9_8{- 2FD=lR?6
4(l?uU$ u9=SpgB# 结果:光线追迹衍射级数 l<(Y_PE: {2`=qt2
9x+<Ik ;d$qc<2uA 结果:场追迹采样平面 :ug4g6;#H0 >MJ?g-
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