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infotek 2020-10-29 09:36

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量>显微 ?gvu E1  
a+a6P5kJ  
任务/系统视图 U&a(WQV9&  
nvNF~)mu  
T*8K.yw2  
^~@3X[No  
亮点 6uUn  
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! R3P@,j  
#qD[dC$[t  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 W@'*G*f  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 ZBN,%P!P0  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 fH:S_7i  
v*<rNZI  
说明:光源 `s Pk:cNz~  
87eH~&<1  
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~82 {Y _{/  
3MKu!  
wrXn|aV  
说明:透镜系统 3#>%_@<  
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 M}@>h  
说明:样品结构 MEp{&#v|1  
EIyFGCw|U  
imAOYEH7}  
Ck"db30.  
说明:探测器 C+5X8  
^=1u2YdVw  
-!li,&,A1  
zpeCT3Q5O  
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de.f?y  
结果:3D光线追迹 t imY0fx #  
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u4m8^fj+ T  
I;eoy,  
结果:光线追迹 1\Pjz Lj  
o8hE.pf&  
P B5h5eX  
UX<-jY#'V  
结果:光线追迹衍射级数 *p#@W-:9E  
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$ Y^0l  
结果:场追迹采样平面 [C<K~  
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)|k#cT{=M  
结果:场追迹焦平面 u U>L (  
T JZ~Rpq  
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8e,F{>N  
结果:减小光栅周期 Y Q.Xl_  
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随着光栅周期的减小,光栅结构不能被分辨。 37Q8Yf_  
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文档和技术信息 Z~8%bfpe  
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QQ:2987619807 @U1|?~M%s  
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