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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 @oYq.baHX  
1Sz5&jz  
任务/系统说明 2T?t[;-  
~`tc|Zu  
5 +(YcV("  
zZ-e2)1v  
亮点 &;9<a^td  
{br4B7b  
R52q6y:<x  
"@` mPe/  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; drtQEc>qT  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ?\\ ]u  
Vzbl* Zmx  
具体要求:光源 4B]8Mp~\aL  
7SAu">lIl  
aKCCFHq t!  
w #(XiH*  
具体要求:用于准直的消色差透镜 &B3\;|\  
3L>V-RPiM  
S2jo@bp!  
{!oO>t  
d:sUh  
Vg[U4,  
_,F wt  
8n~@Rj5  
具体要求:分束器 zi*D8!_C  
VdK-2O(.-  
0TA/ExJ-LT  
5-u=ZB%p  
具体要求:参考光路反射镜 sFS_CyN!7  
j-{WPJa4\  
0HxF#SlKM  
 XyhO d$)  
I[t)V*L9  
8a?V h^  
具体要求:测试光路反射镜 G2L7_?/m  
hDp'=}85@  
kf5921(P  
k, v.U8  
具体要求:探测器 OgfQGGc  
4dfe5\  
iv;;GW{2  
kt;X|`V{5z  
结果:3D光线追迹 m5d;lrk@&/  
SKG_P)TnO  
8%nTDSp&t  
/Zv}u  
结果:场追迹 mbS &>  
kV<VhBql!  
o~GhV4vq  
7?hC t  
结果:移动样品的场追迹结果 PVtQ&m$y  
.-Ao%A W  
= )(;  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 \-sD RW  
oN _% oc  
文件&技术信息 {n1o)MZ]R  
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T@Q.m.iV4  
r2&{R!Fj`  
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QQ:2987619807 VJ1 `&  
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