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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 51|ky-  
Vj*-E  
任务/系统说明 kKX' Y+  
zHJCXTM  
+ jLy>=u  
jq+(2  
亮点 '}.Yf_  
s0SzO,Vi  
')m!48  
t<H"J__&  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; K`4lL5oH  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ?.~1%l!  
Ln+l'&_nb  
具体要求:光源 1h,iWHC  
&LLU@|  
=xI;D,@S  
<:S qMf  
具体要求:用于准直的消色差透镜 oTw!#Re)  
?cV,lak  
'/d51  
FQZ*i\G>>  
f}:C~L!  
aacy5E  
vm [lMx  
L:i&OCU2k  
具体要求:分束器 8D*7{Q  
0m@+ &X>w  
T+Oqd\05.+  
,-UF5U  
具体要求:参考光路反射镜 u?^V4 +V  
\6b~$\~B  
aKI"<%PNn  
l<=;IMWd  
[&lK.?V)  
vX+oZj   
具体要求:测试光路反射镜 pBsb>wvej  
vrs  
"hIYf7r##  
&[E\2 E  
具体要求:探测器 A7p4M?09  
N`8K1{>BH  
-cgO]q+Oq  
Sn=6[RQ>P  
结果:3D光线追迹 ;_}pIO  
jPh<VVQ$@  
5y#,z`S  
(.J/Ql0Y  
结果:场追迹 O NabL.CV  
%cF`x_h[j  
J/1kJ@5  
IwyA4Ak Ru  
结果:移动样品的场追迹结果 g6M>S1oOO  
q;{(o2g  
DB vM.'b$  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ni;_Un~  
6N/(cUXJ  
文件&技术信息 )GB#"2  
v\x l?F  
-&/?&{Q0  
]kj^T?&n.  
AL]gK)R  
QQ:2987619807 ^y5A\nz&  
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