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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 Wf~^,]9N  
sW>%mnx  
任务/系统说明 ]ch=@IV  
U:7h>Z0W  
&;PxDlY5  
 o}N@Q-i gq  
亮点 K?.~}82c  
LuS@Kf8N+  
t{k:H4  
 6H#: rM  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换；  Z-@nXt  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； u8f\)m  
 *>m[ZJd%=  
具体要求：光源 z "@^'{.l  
WjV Bz   
[LVXXjkFI  
/T _M't@j  
具体要求：用于准直的消色差透镜 j>k ;Z j  
TmgC {_  
e!u]l  
o"z()w~  
T?3Q<[SmI  
`YOYC  
;c 7I "?@z  
"Q:Gd6?h;  
具体要求：分束器 <\229  
!Dd'*ee-;  
w2B)$u  
 lm`*x=x  
具体要求：参考光路反射镜 := V?;  
C[FHqo9M?H  
[@i:qB>B  
,TBOEu."4  
1]xmOx[mb  
 ^ :VH?I=  
具体要求：测试光路反射镜 I~7iIUD  
GcO2oq  
>a"J);p  
 `Vvi]>,cg`  
具体要求：探测器 LnR>!0:c  
& SXw=;B  
 y|LHnNQ  
'sEnh<  
结果：3D光线追迹 c>bns/f  
jKUEs75]  
poz_=,c  
7Ae`>5B#  
结果：场追迹 |/,S NE  
3lF"nv  
Tm" H9  
  ~,lt^@a  
结果：移动样品的场追迹结果 Q<sqlh!h  
V%-hP~nyBx  
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通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 eRUdPPq_d  
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文件&技术信息 p]aEC+q  
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QQ：2987619807 ;L-=z]IR,  
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