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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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infotek
2020-10-28 09:36
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量
IS8ppu&E
LiN{^g^fx
任务/系统说明
e`C'5`d]
"lUw{3
AQ-PY
rZzto;NDS
亮点
~j8x"
.Mm8\].
Uh&MoIBs#
B)Gm"bLCOZ
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
w#-rl@JQ4
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
M%6{A+(
ZT|E1[Q
具体要求:光源
1UmV&
1?mQ fW@G
h05 ~ g
am@\$Sa4
具体要求:用于准直的消色差透镜
sV{[~U,|
RdvJA:;q
L$Ss]Ar=
JLs7[W)O
Bz]64/
O </<
Ag}>gbz~G
2MJ0[9
具体要求:分束器
zvD$N-#`p
jaNkWTm:
LN_6>u
xe%+Yb]
具体要求:参考光路反射镜
9jJ&QACn
R$cg\DD
y37n~~%
k>2 xm
2uU~$7~N
MiS$Y
具体要求:测试光路反射镜
8[xb+_
*mq+w &
t;ggc{
6%O"
具体要求:探测器
pdmeB
54tpR6%3p
Xgop1
"r.pU(uxt
结果:3D光线追迹
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0* ,r
{:'eH
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结果:场追迹
Wh 8fC(BE
]<TgBo|
=V%s^
lvk(q\-f
结果:移动样品的场追迹结果
[T !#s
(hdP(U77
[o\O^d
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
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文件&技术信息
E^Q|v45d
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ADlPdkmym
QQ:2987619807
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