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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 `BlI@6th  
t+9][Adf  
任务/系统说明 dqN5]Sb2B  
J0@X<Lt U  
On?p 9^9  
 sBcPq SMby  
亮点 ."9];)2rx  
nDHTV !]<  
V$ ps>  
 2 B  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； "1%5,  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； e J6$-r  
 )c)vTZy  
具体要求：光源 , GP?amh  
U H*r5o3  
]7RD"}  
PK`D8)=u  
具体要求：用于准直的消色差透镜 (jAg_$6  
{0WHn.,2Y  
*-8&[D0  
V6@o]*  
fTK3,s1=  
#T'{ n1AI  
~5}* d  
C$XU%5qi  
具体要求：分束器 sM `DL  
]SLP}Jwy  
QC}CRkp  
 R8a3 1&  
具体要求：参考光路反射镜 KV0]m^@x  
woK&q7Vn  
nH[yJGZYSA  
q1d}{DU  
^LoUi1j  
 /7Cc#P6  
具体要求：测试光路反射镜 SC)g^E#  
D$I5z.a  
JehrDC2N  
 Ng~FEl  
具体要求：探测器 jK& h~)  
e?8FN. q  
:&V h?  
BHU6t<G  
结果：3D光线追迹 %N>%!m  
#Y a4ps_  
CYY=R'1:G{  
_x(o*v[Pt  
结果：场追迹 K;?m';z0  
}HFN3cq;C  
,9zjFI  
 "Q@ronP(~  
结果：移动样品的场追迹结果 nxnv,AZG  
q_A!'sm@)  
nrub*BuA  
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 z[L8$7L  
 ,St#Vla  
文件&技术信息 @tNzQ8  
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 #S!)JM|4wk  
SB H(y)  
 P}n_IV*@  
QQ：2987619807 5\:^ y'g[  
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