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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 *# ;  
#bCzWg  
任务/系统说明 7da~+(yhr  
0*50uK=5  
`(VVb@:o  
U~_G *0  
亮点 Gn>~CoFN  
9}#9i^%}  
.y2np  
BBHoD:l  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 'aJm4W&j  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; g7O , <  
d;E (^l  
具体要求:光源 ;;<[_gp,E  
P;[>TCs ]8  
@h)X3X  
TM0DR'.  
具体要求:用于准直的消色差透镜 Rkh ^|_<!  
p ^U#1c  
 H;Cv] -  
w_9[y  
u!9bhL`  
vlx\hJ<I  
jU_#-<'r  
mcLxX'c6<h  
具体要求:分束器 W kSv@Y,  
_[8sL^  
^|lG9z%Foy  
$S2kc$'F  
具体要求:参考光路反射镜 kd+tD!:F(  
QIu!o,B  
u%rB]a$/  
0;:AT|U/d  
g33Y]\  
P(Z\y^S  
具体要求:测试光路反射镜 '~OKt`SfIo  
Su/}OS\R  
15wwu} X  
VQHQvFRZ)  
具体要求:探测器 ?PDrj/: *  
m_,j)A%  
of>}fJ_p  
*[0)]|r  
结果:3D光线追迹  cvO;xR  
SCKpW#2dP{  
} f+hB  
q($fl7}Y  
结果:场追迹 Nj|~3 *KO  
5 @61=Au  
2~q(?wY  
hv 8j$2m  
结果:移动样品的场追迹结果 [nG[@)G~0M  
62{[)jt{  
MD=VR(P?eq  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 dxF/]>t  
atWB*kqI  
文件&技术信息 6jo+i[h  
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Oky9G C.a  
QQ:2987619807 :R9 DJh\  
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