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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 8f^URN<x  
1b3Lan_2  
任务/系统说明 q(.%f3(  
l$m^{6IYc  
&[*<>  
 m_rRe\  
亮点 GU&XK7L  
R~RY:[5?w  
Rz=]KeZu  
 tY# F8a&  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； mSQ!<1PM  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； MW*}+ PCY  
 <S$y=>.9  
具体要求：光源 [9(B;;R@  
NlcWnSv  
6\0GVM\  
njUM>E,'  
具体要求：用于准直的消色差透镜 w4L\@y 3  
D@ =.4z  
k}T~N.0  
:+Dn]:\  
) ]~HjA;  
>MQW{^  
*"zE,Bp"  
}_?7k0EZ@  
具体要求：分束器 RuRJjcnY  
t&r?O dc&m  
z%g<&Cq  
 @XIwp2A{+  
具体要求：参考光路反射镜 r1?LKoJOn  
K4R jGSaF  
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;F0A\5I  
fZ %ZV  
 IB;y8e,  
具体要求：测试光路反射镜 7L<oWAq  
k2+Z7#2n  
El+]}D"  
 \uPT-M*  
具体要求：探测器 *@BBlkcx  
6 w ]]KA  
qob!!A14p  
%##9.Xm6l  
结果：3D光线追迹 3=K-+dhk|t  
0>?mF]M  
Sv>aZ  
1Gqtd^*;  
结果：场追迹 QB@*/Le   
\Fe5<G'v  
?t%5/  
 1)Ag|4  
结果：移动样品的场追迹结果 LnyA5T  
,`Mlo  
2 rBF<z7  
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 j68Gz5;j  
 4Sl^cKb$7  
文件&技术信息 "yz@LV1  
dJ;;l7":~  
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4C[gW  
 0ib 6}L%  
QQ：2987619807 #,9|Hr%  
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