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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 ;#np~gL  
xkv2#"*v  
任务/系统说明 k+xj 2)d7  
1}#(4tw)  
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 Lod$&k@@  
亮点 EleK*l  
D]+0X8@kH7  
%B^nQbNDM  
 F$ kLft[:  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； xrbDqA.b  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； (mq 7{ ;7y  
 m5HP56a  
具体要求：光源  3nfw:.  
K&(}5`H0=  
pWo`iM& F  
jr@u  
具体要求：用于准直的消色差透镜 .r9-^01mG  
)^+v*=Dc-i  
pg3B^  
9*!C|gC9Ia  
/yHM =&Vg]  
ygm4Aj>  
vkmTd4g  
%G9: M;|'  
具体要求：分束器 q2VQS1R`8  
Hu$]V*rAG  
D:Zpls.  
 Xrnxpp!#^D  
具体要求：参考光路反射镜 @;>TmLs  
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.Z=D|&!  
f o])=KM  
 1gp3A  
具体要求：测试光路反射镜 7p"" 5hw  
]JQk,<l5E  
bK `'zi  
 p#}38`  
具体要求：探测器 Y$3H$F.+  
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RYMOLX84  
x1)G!i  
结果：3D光线追迹 [V`j@dV  
^n5[pF}Gw  
sMAc+9G9k  
>j1\]uo  
结果：场追迹 8ID fYJ  
\nV|Y=5  
z^ +CD-  
 >V:g'[b  
结果：移动样品的场追迹结果 2-821Sf#h  
<a *X&P  
)f4D2c&VE  
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 X#mm Z;P  
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文件&技术信息 8:,E=swe  
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QQ：2987619807 )5P*O5kQ -  
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