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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 IS8ppu&E  
LiN{^g^fx  
任务/系统说明 e`C'5`d]  
"lUw{3  
AQ-PY  
rZzto;NDS  
亮点 ~j8x"  
.Mm8\].  
Uh&MoIBs#  
B)Gm"bLCOZ  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; w#-rl@JQ4  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; M%6{A+(  
ZT|E1[Q  
具体要求:光源 1UmV &  
1?mQ fW@G  
h05 ~ g  
am@\$Sa4  
具体要求:用于准直的消色差透镜 s V{[~U,|  
RdvJA:;q  
L$Ss]Ar=  
JLs7[W)O  
Bz ]64/  
O </<  
Ag}>gbz~G  
2MJ0[9  
具体要求:分束器 zvD$N-#`p  
jaNkWTm :  
LN_6>u  
xe%+Yb]  
具体要求:参考光路反射镜 9jJ&QACn  
R$cg\DD  
y 37n~~%  
k>2 xm  
2uU~$7~N  
Mi S$Y  
具体要求:测试光路反射镜 8[xb+_  
*mq+w&  
t;ggc{  
6%O"   
具体要求:探测器 pdmeB  
54tpR6%3p  
Xgop1  
"r.pU(uxt  
结果:3D光线追迹 ,AACE7%l  
0*,r  
{:'e H  
/Nb&e  
结果:场追迹 Wh 8fC(BE  
]< TgBo|  
= V%s^  
lvk(q\-f  
结果:移动样品的场追迹结果  [T !#s  
(hdP(U77  
[o\O^d  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 @[.%A;E4  
3Pkzzyk_|D  
文件&技术信息 E^Q|v45d  
+KXg&A/^  
S}ZM;M  
 t\u0\l>  
ADlPdkmym  
QQ:2987619807 O_(/uLH  
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