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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 2G67NC?+  
\K{0L  
任务/系统说明 hz;G$cuEE  
Vod\a 5c  
hOu3 bA  
nQX:T;WL@  
亮点 * 8yAG]z  
F3v !AvA|  
B:;pvW]  
?wiC Q6*$  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 0[NZ>7wqMZ  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; 'RQ+g}|Ba!  
1#V_Z^OL  
具体要求:光源 DnMwUykF>0  
W#4 7h7M  
H1pO!>M  
[fya)}  
具体要求:用于准直的消色差透镜 6y%qVx#!  
Bw)/DM]  
E:sf{B'&  
nX6u(U  
@w#-aGJO  
n/;WxnnQ  
t9kzw*U9  
$<dH?%!7  
具体要求:分束器 (Ft+uuG  
fn jPSts0  
IXMop7~  
jH5 k  
具体要求:参考光路反射镜 ?K$(817  
#l\=}#\1Wb  
RVnjNy;O`  
1y4|{7bb  
)0.kv2o.  
ajbA\/\G;  
具体要求:测试光路反射镜 $B 2J T9  
i^X]j  
MnsJEvn/  
~RW+ GTe  
具体要求:探测器 >a!/QMh  
Z, zWuE3  
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.LPV#&   
结果:3D光线追迹 %~O,zs.2p  
Maha$n*  
oA7tE u   
[`#CXq'  
结果:场追迹 lK?uXr7^  
dc+>m,3$  
;V:i!u u  
(R[[Z,>w.  
结果:移动样品的场追迹结果 |PvPAPy)uu  
g+8OekzB5  
-P(efYk  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 SXSgld2uS  
G)AqbY  
文件&技术信息 zq 3\}9  
JK7G/]j+Ez  
9@SC}AF.  
!{+,B5 Hc  
5N#aXG^9  
QQ:2987619807 fbyd"(V 8r  
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