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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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infotek
2020-10-28 09:36
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量
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任务/系统说明
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A}cGag+sp
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亮点
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
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•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
G,J~Ed
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具体要求:光源
Oor&1
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o>' 1ct
;Pi-H,1b
具体要求:用于准直的消色差透镜
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C*I~14
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Ydr/ T/1
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'l}T_7g
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具体要求:分束器
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具体要求:参考光路反射镜
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DPD%8a)?
具体要求:测试光路反射镜
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具体要求:探测器
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结果:3D光线追迹
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结果:场追迹
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结果:移动样品的场追迹结果
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通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
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文件&技术信息
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QQ:2987619807
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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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