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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 [X:mmM0gd  
Xr~6_N{J  
任务/系统说明 eW)(u$C|qL  
1E!0N`E  
!]Z> T5$  
 T{u!4Yu  
亮点 *zX*k 7LnV  
^GdU$%aa  
le`&VdE^  
 rAD5n, M]  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； Nd/iMV6V;  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； #5O'XH5_  
 k{n*[)m  
具体要求：光源 |E-0P=h  
/E(H`;DG  
~,yHE3B\G  
_)Uw-vhQiT  
具体要求：用于准直的消色差透镜 zmy94Y5PE  
fXMVl\ <  
E!'H,#"P  
>L/Rf8j&  
L1*P<Cb  
,-A8;DW]^J  
WMBntB   
ZC3b9:tk  
具体要求：分束器 35Nwx<  
eN{[T PPCq  
DR/qe0D  
 ?_[xpK()  
具体要求：参考光路反射镜 IjN3 jU  
_lb ^  
8^=g$;g  
bJe*J\){  
H V<|eL #  
 B{!)GZ(}  
具体要求：测试光路反射镜 A|tee@H*0  
` =dD6r  
6cSMKbgZJ  
 Z$0r+phQk=  
具体要求：探测器 z h0m3|9O  
I#@iA!  
> ZkcL7t9  
XETY)<g  
结果：3D光线追迹 -h*Yd)  
XEV-D9n  
C.s{ &  
c&)H   
结果：场追迹 />q=qkdq0  
]4\^>  
:gY$/1SYD  
 *wP8)yv7  
结果：移动样品的场追迹结果 dra'1E  
GmtMA|  
!`\W8JT+  
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 HKq 2X4J$  
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文件&技术信息 ~j 3B'  
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5. :To2  
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QQ：2987619807 tu77Sb  
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