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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 GJ%It .  
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任务/系统说明 Zdh4CNEeFP  
Se"\PxBR  
/nb(F h|{T  
A6lf-8ncx  
亮点 v&H&+:<  
p]!,Bo ZL  
WHbvb3'  
70 HEu@-  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ?e3q0Lg3 |  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; Mu Z\<;W$  
^%go\ C ;  
具体要求:光源 p*Q"<@n  
.a=M@; p  
1(q!.lPc  
e{=7,DRH<  
具体要求:用于准直的消色差透镜 4LBjqv,P  
(d#?\  
9!2KpuWji  
OMKEn!Wq  
.4_ ~ku  
gjo\g P@  
5U1@wfKE3>  
G9E?   
具体要求:分束器 Q=e?G300#L  
WpTC,~-  
iY;)R|6  
yaR|d3ef?4  
具体要求:参考光路反射镜 IFG`  
aEZl ICpU7  
6K`frt  
wfo}TGhC  
kZz;l(?0  
E8%O+x}  
具体要求:测试光路反射镜 K\?vTgc(  
!m_'<=)B4~  
tp5]n`3rD  
IH>+P]+3"3  
具体要求:探测器 xFg=Tyq:  
9oc[}k-M  
diTzolY7  
.YS[Md{  
结果:3D光线追迹 j1/J9F'  
OmU.9PDg-  
r\Man'h$  
m{b(^K9}  
结果:场追迹 .Z/"L@  
/eIwv 31  
.@B \&U7  
y99G3t  
结果:移动样品的场追迹结果 I*ho@`U  
UK _2i(I"e  
VJ;'$SYx  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 |nm,5gPNC  
_ZR2?y-M  
文件&技术信息 4{fi=BA   
&=02.E@  
anl?4q3;9  
w5~<jw%>  
o<C~67o_  
QQ:2987619807 + FLzK(  
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