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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 tQ,,krw~  
uTWij4)a  
任务/系统说明 U@ ;W^Mt  
xJ-(]cO'  
u~uR:E%'C  
 ZWtlOP#]  
亮点 uG5RE  
O^Y}fo'  
O#}d!}SIp  
 "7> o"FQ  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； A#b`{C~l  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； X0QY:?  
 D.!ay>o0#  
具体要求：光源 Z+gG.|"k  
%^`b)   
"e3T;M+  
^| b]E  
具体要求：用于准直的消色差透镜 #5Q?Q~E@  
>5O#_?  
&Zzd6[G+  
(Xak;Xum1  
[Iwb7a0p  
T>~D(4r|pS  
;0Vyim)S]  
x|7vN E=Q  
具体要求：分束器 6~oo.6bA  
y ~PW_,  
bu2@~  
 )=k8W9i8b  
具体要求：参考光路反射镜 kVqRl%/3Tb  
}L!%^siG_  
l[,RA?i {  
j O-H 1@;  
a?d)l nk  
 +zl2| '  
具体要求：测试光路反射镜 '\,|B x8Q  
]-rhc.Gk@1  
Dc1tND$X3g  
 &8!~H<S  
具体要求：探测器 Ar;uq7c,G  
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 9Kpzj43  
1"hd5a  
结果：3D光线追迹 }k{h^!fV  
RaT_5PH~g  
,/bSa/x`  
zXEu3h  
结果：场追迹 ( !THd  
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n[E#K`gg'  
 7CGxM  
结果：移动样品的场追迹结果 ,A{'lu  
G\;a_]Q  
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通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 C.#\ Pz0  
 Miw*L;u@W  
文件&技术信息 .{=|N8*py8  
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QQ：2987619807 f Yt y7  
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