首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
FRED,VirtualLab
->
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2020-10-28 09:36
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量
/dP8F
G cLp"
任务/系统说明
.f!eRV.&
)9W#5V$
#5"<.z
J?=Ob?+ _
亮点
mWFZg.#?
!A<XqzV]
Q24:G
D8Waf
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
"=RoI
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
UDi3dH=
Gw\HL
具体要求:光源
LB ^^e"
d4eC Bqx
%a6]gsiv2<
?b' '
具体要求:用于准直的消色差透镜
e~~k}2~
s&_O2(l
*9:6t6x
q^+NhAMz
WBIB'2:m
*B~:L"N
bOGDz|H``
XGl13@=O
具体要求:分束器
pnw4QQ9
<cOE6;d#
nv[Sb%/
/!uBk3x:
具体要求:参考光路反射镜
*A9{H>Vq
3#ZKuGg=
KX}dn:;(3
k{w^MOHNg
Zdg{{|mm
vl(v1[pU
具体要求:测试光路反射镜
9i[2z:4HJ
#i=^WN<V
>!p K94
BRLU&@G`1
具体要求:探测器
!3v"7l{LF
OQ*. ho
j/IZm)\
zLK ~i>aW
结果:3D光线追迹
m9 5$V&
hLD;U J?S
$^aXVy5p
\$|UFx
结果:场追迹
kGeME
*B}R4Y|g
s;f u
X}FF4jE]D(
结果:移动样品的场追迹结果
* rANf&y
S^n4aBm\+
fy4JW,c
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
zO]dQ$r\Z
C:EoUu
文件&技术信息
hs uJ;4}$q
GV[BpH
8~+Msn:
*4VP5]!
xEWa<P#.u
QQ:2987619807
LMzYsXG*[
查看本帖完整版本: [--
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2026
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计