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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 /dP8F  
G cLp"  
任务/系统说明 .f!eRV.&  
)9W# 5V$  
#5"<.z  
J?=Ob?+ _  
亮点 mWFZg.#?  
!A<XqzV]  
Q24:G  
D8Waf  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; "=RoI  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; UDi3dH=  
Gw\HL  
具体要求:光源 LB ^^e"  
d4eCBqx  
%a6]gsiv2<  
?b''  
具体要求:用于准直的消色差透镜 e~~k}2~  
s&_O2(l  
*9:6t6x  
q^+NhAMz  
WBIB'2:m  
*B~:L"N  
bOGDz|H``  
XGl13@=O  
具体要求:分束器 pnw4QQ9  
<cOE6;d#  
nv[Sb%/  
/!uBk3x:  
具体要求:参考光路反射镜 *A9{H>Vq  
3#ZKuGg=  
KX}dn:;(3  
k{w^MOHNg  
Zdg{{|mm  
vl(v1[pU  
具体要求:测试光路反射镜 9i[2z:4HJ  
# i=^WN<V  
>!p K94  
BRLU&@G`1  
具体要求:探测器 !3v"7l{LF  
OQ*. ho  
j/ IZm)\  
zLK ~i>aW  
结果:3D光线追迹 m95$V&  
hLD;U J?S  
$^aXVy5p  
\$|UFx  
结果:场追迹 k GeME   
*B}R4Y|g  
s;f u  
X}FF4jE]D(  
结果:移动样品的场追迹结果 * rANf&y  
S^n4aBm\+  
fy4JW,c  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 zO]dQ$r\Z  
C:EoUu  
文件&技术信息 hs uJ;4}$q  
GV[BpH  
8~+Msn:  
*4VP5]!  
xEWa<P#.u  
QQ:2987619807 LMzYsXG*[  
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