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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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infotek
2020-10-28 09:36
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量
51|ky-
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任务/系统说明
kKX' Y+
zHJCXTM
+jLy>=u
j q+(2
亮点
'}.Yf_
s0SzO,Vi
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
K`4lL5oH
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
?.~1%l !
Ln+l'&_nb
具体要求:光源
1h,iWHC
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<:S qMf
具体要求:用于准直的消色差透镜
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?cV,lak
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vm [lMx
L:i&OCU2k
具体要求:分束器
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T+Oqd\05.+
,-UF5U
具体要求:参考光路反射镜
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[&lK.?V)
vX+oZj
具体要求:测试光路反射镜
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&[E\2 E
具体要求:探测器
A7p4M?09
N`8K1{>BH
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结果:3D光线追迹
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结果:场追迹
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J/1kJ@5
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结果:移动样品的场追迹结果
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通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
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文件&技术信息
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QQ:2987619807
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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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