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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 &>d:ewM\  
@)aXNQY  
任务/系统说明 X !&"&n  
E&RoaY0  
sq8tv]  
 5O;/ lX!u  
亮点 ;cS~d(%  
wZ (uq?3S`  
iqU.a/~y  
 #Z2>TN  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； "k>{b:R|  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； R7\{w(`K  
 ,g<>`={kK+  
具体要求：光源 j8D$/  
B}TInI%H  
4fU5RB7%  
^)eessZ  
具体要求：用于准直的消色差透镜 2uI`$A:  
<.y^  
 N#2nH1C  
rRA_'t;uK  
he#Tr'j  
[nhLhl4S  
_If@#WnoyA  
|Ls&~'ik  
具体要求：分束器 34O+#0<y~  
YA8yMh*4D?  
duiKFNYN  
 x.yb4i=Jq  
具体要求：参考光路反射镜 c_DB^M!h  
j:vD9sdQ  
TF ([yZO'  
01SFOPuR%(  
< 8W:ij.`  
 &55uT;7] a  
具体要求：测试光路反射镜 \-`oFe"  
1{uDHB  
fxf GJNR  
 , K"2tb  
具体要求：探测器 5SPl#*W  
/[)P^L`  
_o=`-iy9  
B#/~U`t*  
结果：3D光线追迹 Se]t;7j  
CB7R{~ $  
,r)d#8  
EXM/>PG  
结果：场追迹 IEKX'+t'  
6T'43h. :  
-B++V  
 I]S(tx!  
结果：移动样品的场追迹结果 ]H@uuPT!  
]8j5Ou6#y  
',-X#u  
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 =P+wp{?AN|  
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文件&技术信息 kO\&mL& qD  
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U";Rp&\3;  
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QQ：2987619807 kJ:5msKwC  
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