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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 gm)Uyr$  
r~)fAb?  
任务/系统说明 :K^J bQ  
?Q-Tyf$3  
GKo&?Tj)  
?MRY*[$  
亮点 =${.*,o  
m4@NW*G{  
4{kH;~ z$  
WuU wd#e  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 5_'lu  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; {V6pC  
To>,8E+GAb  
具体要求:光源 `Fn"QL-  
;B=aK"\  
ffmtTJFC5  
KCTX2eNN&h  
具体要求:用于准直的消色差透镜 yV8J-YdsG  
m@Yc&M~  
6"Fn$ :l?  
Ldjz-  
/dYv@OU?  
VdK%m`;2  
X-HE9PT.  
OtqFI!ns  
具体要求:分束器 *7Q6b 4~"  
A0)^I:&  
$].htm  
^-Od*DTL  
具体要求:参考光路反射镜 uAPVR  
7l69SQo]?  
kCTf>sJe  
EhHxB fAQ  
U0_^6zd_  
3 39q%j$  
具体要求:测试光路反射镜 O6;"cUv  
!B3TLe h  
f(5(V %  
/g<Oh{o8  
具体要求:探测器 cFL~< [>_  
uatUo  
-)}s{[]d6m  
P'Rw/c o  
结果:3D光线追迹 sApix=Lr  
`} PYltW  
E]`7_dG+T  
?mg@zq8  
结果:场追迹 f4f2xe7\Q  
^AP8T8v  
{z FME41>g  
"@UQSf,  
结果:移动样品的场追迹结果 OT{"C"%5t  
!&VfOx:PN  
AYbO~_a\N  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 Py)ZHML  
sT\:**  
文件&技术信息 [r/zBF-.  
T`EV uRJ  
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7{|QkTgC  
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QQ:2987619807 !a@)6or  
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