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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 Oh; Jw  
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任务/系统说明 HEY4$Lf(I  
P&=lV}f  
1}g:|Q  
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亮点 1r9f[j~  
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HW[L [&/  
1FERmf? ?d  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 5Ec/(-F  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; l-O$m  
Vxdp|  
具体要求:光源 }iww:H-1  
#kcSQ'  
V3sL;  
;JTt2qQKo  
具体要求:用于准直的消色差透镜 Qc"'8kt  
^[q /Mw  
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w{,4rk;Hr  
8]"(!i_;)  
#&Is GyU  
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p*qPcuAA  
具体要求:分束器 46x.i;b7  
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具体要求:参考光路反射镜 !a-b6Aa  
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Gi?_ujZR  
S2^>6/[xM  
具体要求:测试光路反射镜 raUs%Y3  
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具体要求:探测器 gK1g]Tc@G  
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VLvS$0(}Z  
结果:3D光线追迹 _GA$6#]  
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m5c&&v6%"b  
M"Y0jQ(  
结果:场追迹 0Y+FRB ]u  
K`6z&*  
,T5u'";  
mOBACTY^  
结果:移动样品的场追迹结果 m,MSMw1p  
[~mGsXV  
[c&B|h=>  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 :nJgwp()@  
X_TiqV  
文件&技术信息 N$I03m  
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L'A)6^d@S  
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QQ:2987619807 S-F o  
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