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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 Q`#Y_N-h+  
4u;db_gX  
任务/系统说明 {}ks[%,_\  
*c}MI e'&  
AhOvI {  
 >mzK96  
亮点 Z_&6 <1,H  
vJg|}]h>L  
D4?qw$"  
 nKn,i$sO/.  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； !Kv.v7'N/k  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； ,@2d <d]  
 }5#<`8  
具体要求：光源 uQ4WM  
r0=Aru5n  
D0(QZrVa  
so h3 d  
具体要求：用于准直的消色差透镜 .Y.\D\>~  
lxTW1kr  
|sWH!:]49  
Lx&2)  
{Z<4  
&E.ckWf  
U#v??Sl  
LO8V*H(  
具体要求：分束器 oy90|.]G  
=8`,,=P^  
jdxwS  
 XYD}OddO  
具体要求：参考光路反射镜 F-%wOn /  
HpI[Af}l  
y~_wr}.CS  
pQc5'*FKd  
xcO Si>  
 7VkT(xnm  
具体要求：测试光路反射镜 F)4Y;;#  
pv%UsbY  
:AYp{"{  
 +o)o4l%3  
具体要求：探测器 \gferWm  
X-Y:)UT  
FJl#NOp&  
R.Xh&@f`  
结果：3D光线追迹 Sw~jyUEr  
9J% ~?k  
[@MV[$W5  
] dB6--  
结果：场追迹 Gz;.?=&iF  
-7)%J+5  
0?525^   
 Y9fktg.  
结果：移动样品的场追迹结果 nff&~lwhZ  
.]`LR@qf  
t-gg,ttnA  
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 g+h)s!$sB  
 x_lCagRGC4  
文件&技术信息 zk8 s?$  
/I|.^ Id|  
 V,?i]q;5  
h?[3{Z^  
 hmJ{'D1"  
QQ：2987619807 xj~ /C5@  
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