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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 BU`X_Z1)  
YT\`R  
任务/系统描述 kiTC)S=])  
I/E9:  
 + G@N  
VkQ@c;C  
亮点 c6h?b[]  
'&IGdB I  
 2t= = <x  
 X\^nV  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 9`in r.:  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 Pv -4psdw  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 .-gJS-.c  
57\ 0MQO  
说明：光源 -3Kh >b)  
Bf{u:TCK  
%M6 OLq!K  
lC<;Q*Y  
说明：透镜系统 fzsy<Vl",  
N J3;[qJ  
Qqm?%7A1  
 RGW@@  
说明：样品结构 fdl.3~.C  
L\Se ,  
I}C2;[aB  
3>O|i2U  
说明：探测器 'l*X?ccKy  
f{BF%;  
3j7FG%\  
(W1 $+X  
结果：3D光线追迹 wh$bDT Cj  
c 1YDln  
 fO<40!%9cQ  
J1w;m/oV  
结果：场追迹矩形光栅 #GzALF97  
F8pA)!AH  
yw1 &I^7  
 U1\7Hcs$  
结果：场追迹锯齿形光栅 +kSu{Tc  
lM-9J?j  
R1];P*>%gZ  
文件&技术信息 =p5DT  
BgQEd@cN  
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QQ：2987619807 0jTReY-W  
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