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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量>显微 xnuv4Z}]t  
*5_ 8\7d  
任务/系统描述 = EChH@3  
g6/N\[b%  
o- QG& ]  
s.I1L?s1w?  
亮点 LVFsd6:h  
dIfs 8%kl  
ctUF/[_w;  
w H_n$w  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 KgTGxCH  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 eo*u(@  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 xAd>",=~  
P2Qyz}!wo  
说明:光源 !k= 0X\5L  
h;ol"  
kGuk -P  
:CkR4J!m3  
说明:透镜系统 a[74%L?  
#C,f/PXfaB  
"X{aS}  
NzeI/f3K5  
说明:样品结构 ,F`KQ )\"  
T:g4D z*2\  
|N=@E,33  
A?;8%00  
说明:探测器 *n*N|6 +  
kF+}.x%  
qv0 DrL,3  
oLqbR?  
结果:3D光线追迹 oF@x]bmU  
|1QbO`f/F  
Y7:Y{7E7  
^`jZKh8)h  
结果:场追迹矩形光栅 l@tyg7CwY  
]Ic?:lKN  
+F7<5YW&(  
%7(kP}y*  
结果:场追迹锯齿形光栅 `Ge+(1x  
8G5) o`  
t;LX48 TQ  
文件&技术信息 7Js>!KR  
7dlKdKH  
8R)D! 7[l  
/J[H5uA  
RhV:Z3f`6  
QQ:2987619807 gP %|:"  
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