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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 mQ' ]0DS  
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任务/系统描述 HHtp.; L/  
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} vcr71u  
亮点 ~x>IN1Vci  
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 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 TvM{ QGN  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ;|9VPv/  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 lWnV{/q\X  
& }k=V4L  
说明：光源 Zj`eR\7~  
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说明：透镜系统 zIRa%%.i<  
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{"4t`dM  
 mb\vHu*53  
说明：样品结构 I|iI ,l/9  
{ SK8Mdn  
G++kU o<  
r@s, cCK9?  
说明：探测器 MZ0uc2L=  
X ,T^(p  
uiHlaMf  
Z AZQFr'*  
结果：3D光线追迹 Nnv&~ D>  
S7N54X2JwL  
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]T zN*6o  
结果：场追迹矩形光栅 %y8w9aGt  
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结果：场追迹锯齿形光栅 ;O5NZa!.73  
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文件&技术信息 VFG)|Z  
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QQ：2987619807 E 8,53$  
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