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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 sIELkF?.  
$_)f|\s  
任务/系统描述 _q8s 7H  
:0srFg?X  
 r3*wH1n  
Ye )(9  
亮点 r#{lpF,3Ib  
/CZOO)n  
 o-x_[I|@  
X;}_[ =-  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 SQt$-<>4\  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 r2xlcSn%  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 )3u[btm  
{fX4  
说明：光源 T;FzKfT|  
|d:URuG~:I  
7&sCEYEb  
se)I2T{J  
说明：透镜系统 |\}f)Xp-  
cBm3|@7  
+ckj]yA;  
 -''vxt?7H&  
说明：样品结构 )p!dql K  
7l:H~"9r  
7IIM8/BI  
t@4vEKw?.X  
说明：探测器 WcUeWGC>  
Ezml LFp.  
x3WY26e  
*Pq`~W_M7  
结果：3D光线追迹 5-&P4  
' u0{h  
 / Sp+MB9  
-eNi;u  
结果：场追迹矩形光栅 9ge$)q@3  
j}ruXg  
Wh4lz~D\@  
 _ !Ph1  
结果：场追迹锯齿形光栅 (m,O!935f  
:x;D- kZ  
9r)5d&,6  
文件&技术信息 &GbCJ  
-,+JE0[  
 F,EHZ,<V  
C3memimN  
 9PR&/Q F5  
QQ：2987619807 RhDa`kV%t  
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