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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 a:*N0  
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任务/系统描述 38&K"  
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 F/J s K&&  
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亮点 7@ONCG  
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RU/WI<O  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 @>VX]Qe^X  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 &jEw(P&_  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 j8Q_s/n  
p/0dtnXa(  
说明：光源 O=}  
Zt41fPQ  
GBZu<t/  
@P0rNO %y  
说明：透镜系统 1Bs  t|  
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 V&j]*)  
说明：样品结构 a'HHUii=  
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Q& d;UVp  
说明：探测器 g'km*EV  
SefF Ci%4  
~)pZ5%C  
9`qw,X&AK_  
结果：3D光线追迹 g}6M+QNj  
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 6E ^m*la%  
Z! /_H($  
结果：场追迹矩形光栅 Q>X1 :Zn3  
Q+a&a]*KL^  
' "%hX&]5  
 D)4#AI  
结果：场追迹锯齿形光栅 &)q>Z!C-l  
V?T&>s  
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文件&技术信息 r;(^]Soz  
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QQ：2987619807 wE9z@\z]  
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