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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 nQ%HtXt;  
IgT`on3Y  
任务/系统描述 {|;a?] ?  
ab0 Sx  
 *6uccx7{  
: Mf"   
亮点 6Rd4waj_,U  
G)3I+uxn  
 +2tQ FV;  
"L~(%Nx3  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析  ao(T81  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 tF2"IP.  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 hbjAxioA  
c/{FDN  
说明：光源 |"H 2'L$  
Zed Fhm  
OWd'z1Yl  
8;PkuJR_]  
说明：透镜系统 B.z$0=b  
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0p.bmQSH  
 c :R?da  
说明：样品结构 Jh[0xb  
?J[3_!"t  
xO$P C,  
>r.]a`  
说明：探测器 FLZ9pb[T  
\& JZ >h  
 8*ZsR)!  
^?z%f_ri  
结果：3D光线追迹 VYyija:  
O*yxOb*  
 x2"iZzQlD  
5dBftTv?  
结果：场追迹矩形光栅 9I/b$$?D  
^l &lwSRVt  
%p Wn9  
 .nV2 n@SR  
结果：场追迹锯齿形光栅 V0ze7tSG[f  
=TB_|`5;j  
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文件&技术信息 m 2H4V+M+  
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QQ：2987619807 nhI+xqfn  
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