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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 9CJUOB>]  
)|LX_kyW  
任务/系统描述 OdQ >h$ gZ  
E E?v~6"&  
 c Yx=8~-  
N-^\X3X  
亮点 g|<)J-`Q  
CkoPno  
 7tAWPSwf  
{%D "0*^  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 w%S<N  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 .u7d  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ?3SlvKI}H`  
qIjC-#a=m  
说明：光源 SUD]Wl7G`r  
Oi BK  
NJqALm!(  
u4VQx,,  
说明：透镜系统 |+6Z+-.Hg  
miS+MK"  
$pk3d+0B  
 $ O}gl Q  
说明：样品结构 QX%m4K/a  
&8"a7$  
I-/PzL<W P  
0IDHoNaT<  
说明：探测器 8YkP57Y%[Z  
lG# &Pv>-  
EVO5+  
6FEtq,;0w  
结果：3D光线追迹 7]e]Y>wZap  
$#R.+B  
 !c6 lP'U  
Va=0R   
结果：场追迹矩形光栅 [-6j4D  
P]Gsc  
zN5i}U=|r  
 !LIWoa[ F.  
结果：场追迹锯齿形光栅 :@: R4Ac  
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文件&技术信息 J=zZGd%  
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QQ：2987619807 >5^Z'!Z"  
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