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对高数值孔径显微镜下不同样品研究
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infotek
2020-10-28 09:33
对高数值孔径显微镜下不同样品研究
光学测量>显微
xnuv4Z}]t
*5_8\7d
任务/系统描述
= EChH@3
g6/N\[b%
o- QG& ]
s.I1L?s1w?
亮点
LVFsd6:h
dIfs8%kl
ctUF/[_w;
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显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析
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对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析
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在光线追迹以及物理光学建模间简单切换
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说明:光源
!k= 0X\5L
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说明:透镜系统
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#C,f/PXfaB
"X{aS}
NzeI/f3K5
说明:样品结构
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T:g4D z*2\
|N=@E,33
A?;8%00
说明:探测器
*n*N|6+
kF+ }.x%
qv0 DrL,3
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结果:3D光线追迹
oF@x]bmU
|1QbO`f/F
Y7:Y{7E7
^`jZKh8)h
结果:场追迹矩形光栅
l@tyg7CwY
]Ic?:lKN
+F7<5YW&(
%7(kP}y*
结果:场追迹锯齿形光栅
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文件&技术信息
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RhV:Z3f`6
QQ:2987619807
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