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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 J"[3~&em  
LCQkgRs}~{  
任务/系统描述 !=[uT+v  
qmmv7==  
 ma}}Sn)Q  
9y"TDo  
亮点 K="I<bK  
$ u2Cd4  
 DY><qk  
-[.PH M6+?  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 sT<{SmBF  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 =|y|P80w  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 - 8syjKTg  
3kLOoL?  
说明：光源 Riql,g/  
X}apxSd"  
.]Ybp2`"U  
,L-C(j  
说明：透镜系统 ez0\bym  
",Wf uz  
U5 rxt^  
 WzG07 2w  
说明：样品结构 }%{=].)L  
II#  
P $h;SK  
ChIoR:y>  
说明：探测器 C MqM;1  
i$#,XFFp~  
Kcn\g.  
0=m&^Jpp  
结果：3D光线追迹 |' @[N,  
oWcACs3fB  
 zjoo{IH}  
2nx8iA  
结果：场追迹矩形光栅 9`&77+|;e  
&^ceOV0+  
s1@@o#r  
 2$ VTu+  
结果：场追迹锯齿形光栅 >PH< N  
|Y4q+sDW  
*'^:S#=  
文件&技术信息 j@g!R!7)  
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 E<a.LW@  
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 Et0&E  
QQ：2987619807 j}RM.C\7  
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