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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 ? RrC~7~  
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任务/系统描述  3L 1lq .  
hEdo,gF*  
 fzGZ:L  
Nlf&]^4(0  
亮点 0C9QAJa  
D{&+7C:8.  
 N7j]yvE  
2uI`$A:  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 0{{p.n8a~  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 8KtF<`A)  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ?kT~)k  
x~3>1Wr#M  
说明：光源 S7\|/h:4  
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1*x5/b  
说明：透镜系统 d~Z:$&r  
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 Is,*qrl :  
说明：样品结构 34O+#0<y~  
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说明：探测器 c,[qjr#\>  
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结果：3D光线追迹 >Y*iy  
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 JzS^9) &  
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结果：场追迹矩形光栅 RIVN>G[;L  
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结果：场追迹锯齿形光栅 "b+3 &i|  
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文件&技术信息 1<Ztk;$A  
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QQ：2987619807 e\bF_ N2VA  
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