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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 |}?H$d  
< 1%}8t"  
任务/系统描述 .07"I7  
_N {4Rs0  
 WG&! VK  
YkFAu8b>  
亮点 )@ofczl6  
{O:{F?  
 w4fQ~rcUIc  
?b:Pl{?  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ;F|#m,2Q-  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ?fN6_x2e3  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 &) 64:l&  
d>?C?F  
说明：光源 K {kd:pr  
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A=0{}B#  
"IB36/9  
说明：透镜系统 2F+"v?n=\  
'ieTt_1.G  
X}xf_3N "  
 5E]iv^q%  
说明：样品结构 h% KEg667  
x`c 7*q%  
DZ @B9<Zz{  
D>8p: ^3g  
说明：探测器 }L(ZLt8Q  
)Q62I\  
_9]vlxgtG(  
gD51N()s,  
结果：3D光线追迹 u]Q}jqiq"  
S6}_N/;6~  
 ZH|q#< {l  
o5j6(`#;  
结果：场追迹矩形光栅 0%Le*C'yk  
^r-d.1  
w\MWr+4  
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结果：场追迹锯齿形光栅 ]tXIe?>9  
}AA">FF'y4  
E}KGZSj  
文件&技术信息 z"T+J?V/  
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QQ：2987619807 "AZ|u#0P  
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