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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 P9jSLM  
l4& l)4Rx  
任务/系统描述 >H,E3Z  
}>b@=5O  
 Qs<L$"L1  
TRE D_6  
亮点 Z4sS;k]}  
-'^:+FU  
 nPjK=o`KR  
3sl6$NKo  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 [|\#cVWs  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 x+[ATZ([  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Dnd  
PE?ICou  
说明：光源 &<- S-e  
-U|Z9sia  
+DE;aGQ.z?  
$dsLU5]1o  
说明：透镜系统 AN)r(86L  
r,:acK  
^Iqu^n?2.  
 #9{2aRCJ  
说明：样品结构 4hkyq>c}  
.S]*A b  
hd`jf97*  
~m[Gp;pL  
说明：探测器 .Y^pDR12  
 %Nx,ZD@  
l9 &L$,=  
_\{/#J;lN  
结果：3D光线追迹 28 zZ3|Z3  
~JP3C5q  
 8T Tj<T!N  
qI<c47d;q  
结果：场追迹矩形光栅 a;\a>N4  
.0MY$0s  
#8y"1I=i&  
 C 1)+^{7ef  
结果：场追迹锯齿形光栅 E H|L1g  
?6h~P:n.  
0IBQE  
文件&技术信息 &}\{qFD;  
+x<OyjY5?]  
 ~(:0&w%e  
s|X_:3\x  
 PzustC|  
QQ：2987619807 r~ 2q`l'>  
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