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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 t-E'foYfr`  
K7_)!=DcX  
任务/系统描述 T>?sPq  
;j/ur\37  
 IndNR:"g  
CZ&TUE|:DA  
亮点 wkd591d*  
cAktSoF  
 N!Y'W)i16  
wh~~g qi9  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ; 9'*w=V  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 r_2  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Y<0f1N  
jN*A"m  
说明：光源 Tzk8y 7$[  
n*O/ X  
WO}JIExy  
8D+OF 6CM  
说明：透镜系统 gE$dz#t.  
B8TI 5mZ4  
Pq_Il9  
 |Ec$%  
说明：样品结构 CMF1<A4]  
A: @=?(lI3  
@Sv  ?Ar  
@9c^{x\4  
说明：探测器 dmF<J>[  
U}qW9X;o  
H-rf?R2  
n1cAI|ZE  
结果：3D光线追迹 MA1,;pv6  
|"@E"Za^  
 N[42al  
{fGi:b\[ 8  
结果：场追迹矩形光栅 h1Q7(8=Eg  
".@SQgyb0  
-l,ib=ne  
 tHu8|JrH+  
结果：场追迹锯齿形光栅 /Fv1Z=:r  
%3C,jg  
1-qQp.Wj  
文件&技术信息 4XKg3l1  
`9wz:s QtP  
 E|5gKp-wJ  
Gu%`__   
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QQ：2987619807 TvQAy/Y0  
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