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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 +H7lkbW  
T@ [*V[  
任务/系统描述 Xy>+r[$D:  
,c%>M^d  
 8p?Fql}F [  
Zljj  
亮点 %b H1We  
MMpGI^x!-X  
 F|3 =Cl  
"Yo.]P U  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 f ,?P1D\  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ib4shaN`  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 lJfn3  
/GK1}h  
说明：光源 b|cUKsL5  
f\ wP}c'  
7n-;++a5]  
J~6-}z   
说明：透镜系统 c({V[eGY  
Hq{i-z+  
Wb_'X |"u  
 Qz+hS\yx  
说明：样品结构 F9sVMV  
|G+6R-_  
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@w)Vt $+b]  
说明：探测器 j0p'_|)(  
J!$q"0G'WT  
;E8.,#/a  
X  8V^  
结果：3D光线追迹 N{}XHA  
`g2DN#q[0  
 ~ >af"<  
uY,(3x  
结果：场追迹矩形光栅 IpX>G]"-C  
$nB4Ie!WcR  
H1]An'qz,  
 8._ A[{.f  
结果：场追迹锯齿形光栅 n5Ad@Bg  
)Q_^f'4  
Q3t9J"=1g  
文件&技术信息 ;+%(@C51GE  
p#VA-RSUQ|  
 2qY`*Y.2  
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 TG\3T%gH/s  
QQ：2987619807 CS;bm `8a  
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