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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 %A$5mi^  
4x)etH^o  
任务/系统描述 B@ xjwBUk  
28! ke  
 [pRRBMho  
)z^NJ'v4(  
亮点 j%`% DQ  
kdP*{  
 [KMNMg  
?]AF? 0/  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 euyd(y$'k  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析  ;H4s[#K  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 f|'0FI  
chE}TK  
说明：光源 H,3WdSL`K  
,6 IKkyD  
\:m1{+l  
11((b  
说明：透镜系统 ogvB{R  
F+SqJSa  
A`:a T{j  
 67g"8R#.V  
说明：样品结构 KSAE!+  
UasU/Q <   
FTQNS8  
S?[@/35)  
说明：探测器 ^?8/9 o  
3OB=D{$V  
aJ"m`5]=%  
KK}ox%j  
结果：3D光线追迹 2 oo/KndU  
c[>xM3=e^q  
 {ldt/dl~  
DS1{~_>nFu  
结果：场追迹矩形光栅 vB%os Qm  
7|PB6h3  
i*((@:  
 =z!^O T6eb  
结果：场追迹锯齿形光栅 !$hi:3{U ,  
)~0TGy|  
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文件&技术信息 X`fb\}~R(  
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 U,K=(I7OBX  
QQ：2987619807 FuM:~jv  
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