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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 1d 1 ~`B  
|" ag'h  
任务/系统描述 Dnp><%  
hEq-)-^G  
 J3XrlSc  
X#k:J  
亮点 cBtQ2,<6  
*t300`x  
 `t#9 yN  
{u[_^  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 X$*]$Ge>  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 UuCRQNH  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 :E.T2na  
Nj{;  
说明：光源 FGzn|I  
8?LHYdJ  
:[&QoEZW  
Ip |=NQL>  
说明：透镜系统 %.WW-S3  
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[nf 5<  
 5><T#0W?  
说明：样品结构 bT MgE Y  
*)L~1;7j>  
mLfY^&2Pr  
Mq='|0,  
说明：探测器 U%n>(!d  
_+OCI%=:  
gh `]OxA  
7/K L<T9@  
结果：3D光线追迹 89j*uT  
&Qmb?{S0  
 XXA.wPD-  
4BZ7R,m#.  
结果：场追迹矩形光栅 *).!  
%c@PTpAM  
8@/MrEOW#  
 " u)e,gu  
结果：场追迹锯齿形光栅 B'I_i$g4w  
3oV2Ek<d  
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文件&技术信息 Sd/7#  
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QQ：2987619807 g> m)XY  
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