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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 -](NMRqfN  
B%.vEk)*  
任务/系统描述 R [[ #r5q  
TI<?h(*R_  
 Z]QpH<Z  
t)i{=8 rq  
亮点 4GN  
>, 9R :X(  
 lB(E:{6OZ  
O 7Z?y*  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ^5GyW`a}  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 DO^ J=e  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 xpU7ZY  
pnpx`u;  
说明：光源 F YLBaN  
 EL$"/ptE  
w<P$)~6  
Fcz}Gs4  
说明：透镜系统 $!ATj`}kb  
. XVW2ISv  
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 Rt9S  
说明：样品结构 na4^>:r~  
j1141md 5  
Sc/\g  
"C/X#y   
说明：探测器 7;i [  
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T!yI+<  
e|e"lP  
结果：3D光线追迹 =>LQW;Sjz  
'| 6ZPv&N  
 d$gT,+|vu  
+@"Ls P  
结果：场追迹矩形光栅 ^aONuG9  
hRFm]q  
0zHMtC1 ,  
 5{Oq* |  
结果：场追迹锯齿形光栅 Ds<~JfVl  
$[xS>iuD  
)L0NX^jW;  
文件&技术信息 iU/v; T(  
)7jJ3G*  
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 k5@PZFV  
QQ：2987619807 .dO8I/lhV  
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