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infotek 2020-10-19 10:21

利用衍射透镜校正色差

成像系统 4yxQq7 m,  
U05;qKgkDF  
任务/系统说明 D5,]E`jwu  
Ca|egQv  
VHxBs  
亮点
/W/e%.  
=]%JTGdp(  
w}ji]V}  
r[S(VPo[()  
•将衍射透镜纳入光学系统; +/ZIs|B4,z  
•考虑了具有特定效率的不同衍射级次; k7^hc th  
•对不完全照明孔径的二维PSF进行计算; (QDKw}O2b  
•对离轴二维PSF进行计算; PMfW;%I.  
{y9G "  
suY47DCX)  
具体要求:光源 IrMH AM5K  
h[W`P%xZ  
hzo> :U  
x4WCAqi/2  
具体要求:透镜系统 B*T n@t W  
;7'O=%  
q&25,zWD  
Xs~'M/> O  
具体要求:衍射透镜 /65YHXg,  
<tD,Uu{P  
WC#6(H5t$  
XQo\27Fo  
具体要求:探测器 \ %Mcvb.?  
o{PG& }K  
i#'K7XM2  
L7$f01*  
结果:同轴3D光线追迹 I L*B@E8  
#`VAw ) eV  
danPy2  
?()*"+N(ck  
结果:同轴光线追迹 ,"EaZ/Bl/  
y98FEG#S}  
.C'\U[A{  
X q?>a+B  
结果:同轴场追迹 CD&a_-'z$K  
Xdn&%5rI  
8 0tA5AP  
U#z"t&o=L  
结果:离轴10° 3D光线追迹 $|~ <6A{y  
c,a8#Og  
;/Hr ZhOE  
4fi4F1f  
结果:离轴10° 光线追迹 s<!A< +Sh  
|{#St-!-7  
dla_uXtM6  
9<gW~ s>  
结果:离轴10° 场追迹 Qc7*p]E&  
hIV9.{J  
%3`*)cp@  
ctP+ECH  
结果:离轴20° 3D光线追迹 'gY?=,dF>  
!]F`qS>  
:Qa*-)rs  
=Zj 7dn;EN  
结果:离轴20° 光线追迹 *y4DK6OFe  
BZ?w}%-MO  
JLd%rM\m  
|Yli~Qx  
结果:离轴20° 场追迹 I'5[8  
Ae2N"%Ej  
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文件&技术信息 sVh)Ofn  
(dg,w*t'  
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QQ:2987619807 n/v.U,f&l@  
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