首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> FRED,VirtualLab -> 检查微型晶片的光学系统 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2020-10-16 10:08

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 ug!s7fo^  
hOu3 bA  
任务/系统说明 nQX:T;WL@  
LqoB 10Kc\  
6 Z6'}BDP  
6S'yZQ |b  
亮点 nJG U-Z  
( iBl   
 MSQEO4ge  
\:# L)   
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） szZr4y<8|1  
 严格分析光栅衍射效率 H1pO!>M  
 考虑入射光的方向分布 QuF:p  
Xtq_y'I  
说明：光源 Bw)/DM]  
E:sf{B'&  
nX6u(U  
q1$N>;&  
说明：光束分束器 ]_mb7X>  
$k@O`xD,q  
$Uq|w[LA  
(Ft+uuG  
说明：检测透镜系统 fn jPSts0  
IXMop7~  
jH5 k  
?K$(817  
说明：微型晶片 #l\=}#\1Wb  
U2tV4_ e  
1y4|{7bb  
)0.kv2o.  
说明：检测物镜 U8s2|G;K  
7{e  4c  
[i21FX  
{nBhdM:i  
说明：探测器 ~RW+ GTe  
>a!/QMh  
Z, zWuE3  
. oF &Ff/[  
结果：3D光线追迹（只有0级） e8>})  
-]N x,{  
guq{#?}  
tVYF{3BhA  
结果：3D光线追迹（所有级） e&|'I"  
lK?uXr7^  
e/KDw  
2RVN\?s:  
结果：光线追迹 {g'(~ qv  
WrnrFz  
 !P2ro~0/  
9%o 32eo,3  
结果：场追迹 Q,,e+exbb5  
G)AqbY  
 zq 3\}9  
JK7G/]j+Ez  
结果：线性偏振光的场追迹 9@SC}AF.  
!{+,B5 Hc  
?(@ 7r_j  
 G*?8MTP8![  
文档和技术信息 mxvp3t \  
8 `v-<J  
 E+j/ Cu  
^rB8? kt  
 _>o:R$ %}  
QQ：2987619807 z 4e7PW|  
查看本帖完整版本: [-- 检查微型晶片的光学系统 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计