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infotek 2020-10-16 10:08

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 OIoAqt  
gVD!.  
任务/系统说明 \e=@h!p  
GV2}K <s  
PCU6E9~t2  
e@q[Dv'mu  
亮点 iA< EJ  
' Wi*[  
 3oIoQj+D  
wHY;Y-(ZT  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） k9bU<  
 严格分析光栅衍射效率 o2.! G  
 考虑入射光的方向分布 t=pG6U  
V}J W@  
说明：光源 I|PiZ1]2 Y  
'}OrFN  
y.~5n[W  
MJD4#G  
说明：光束分束器 C qxP@  
BHU[Rz7x  
']dTW#i  
XRz.R/  
说明：检测透镜系统 \ 0CGS  
Lr+2L_/v`  
:wF(([&4p!  
Fdzd!r1 v  
说明：微型晶片 l p? h~  
F{}z[0  
cg$~.ytPK  
7_{x '#7  
说明：检测物镜 p]>bN  
T"0a&.TLj  
R<wb8iir  
YGNX+6Lz  
说明：探测器 d-  ]%  
T @z$g  
m\VJ=  
w S;(u[W  
结果：3D光线追迹（只有0级） ]]]7"a  
~\Ynih  
C f+O7Y`^  
c#rbyx?5  
结果：3D光线追迹（所有级） z1"UF4x*  
NeWssSje  
~fgv7=(!  
Q;Oc# u  
结果：光线追迹 \t1vYIY]T  
P(Lwpa,S  
 3NJ-.c@(p  
omY?`(=  
结果：场追迹 ;DGWUK.U[H  
u}$U|Cw-;T  
 9 np<r82  
7'<4'BGzl]  
结果：线性偏振光的场追迹 Mr&]RTEE  
q2SkkY$_]y  
,= PDL  
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文档和技术信息  %k2zsM  
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N[mOJa:  
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QQ：2987619807 hgh1G7A&  
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