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infotek 2020-10-16 10:08

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 9V`/zq?  
gN$.2+:  
任务/系统说明 N[d*_KN.!  
HGfV2FtTz  
q]YPDdR#  
N~ _GJw@  
亮点 Pe8W Br;`  
5s_7 P"&H  
 m619bzFlB  
@B %m,Mx  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） ]N_(M   
 严格分析光栅衍射效率 vt<r_&+ pJ  
 考虑入射光的方向分布 Re-~C[zwT  
PN[ `p1F  
说明：光源 I>o+INb:  
]#P9.c_}  
;E>5<[aa  
no`c[XY  
说明：光束分束器 /"+YE&>\  
f9u^/QVS&  
$D +6=m[  
_ fha9`  
说明：检测透镜系统 l-xKfp`  
0ohpJh61Q  
H|k!5W^  
h!ZEZ|{  
说明：微型晶片 Ks . m5R  
$, 4;_4t  
E</Um M+ R  
} NW^?37  
说明：检测物镜 \.y|=Ql_u  
2%U)y;$m2  
0gO<]]M?  
xZW6Hk _  
说明：探测器 5A/8G}'XZ  
[~9rp]<  
RB.&,1  
2.CjjI  
结果：3D光线追迹（只有0级） x4fl=  
SO%x=W  
90L,.  
QEK,mc3  
结果：3D光线追迹（所有级） H7n5k,  
A]" $O&l  
La9v97H:  
ln%xp)t  
结果：光线追迹 a)=WDRk  
Cv862k P  
 sG`||Kb;n  
Ab`mID:  
结果：场追迹 DqyJ]}|  
'b#RfF,7H}  
 x4|>HY<p?  
$~vy,^  
结果：线性偏振光的场追迹 Ug02G  
c=]qUhnH  
`RDl k  
 y>wrm:b-O  
文档和技术信息 Bf!i(gM  
!c-Ie~GIT  
 q(<#7 spz  
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 Q<W9<&VZe  
QQ：2987619807 @Aa$k:_  
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