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infotek 2020-10-16 10:08

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 ^2k jO/  
GB$`b'x@S  
任务/系统说明 8B G Z  
s;vt2>;q+e  
QD@O!}; T  
jSp&\Wjb  
亮点 5SY%B#;5G  
Q5ASN"_  
 dL0Q8d\^T  
 FSMM  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） `H! (hMMV  
 严格分析光栅衍射效率 vqeH<$WHvy  
 考虑入射光的方向分布 !,`'VQw$  
A$@;Q5/2  
说明：光源 bN_e~z  
Jx+6Kq(  
3'uXU<W!  
MZt#T+b  
说明：光束分束器 !/p|~K  
V;: k-  
}+!"mJx@  
%tVU Rj  
说明：检测透镜系统 AY52j  
<MS>7Fd2  
,!{8@*!=s  
sOLh'x f.  
说明：微型晶片 7z;2J;u`n  
Wr[LC&  
E>_Rsw *  
b\"F6TF:  
说明：检测物镜 RW&o3_Ua  
+^BTh rB  
x"z\d,O%W  
J,W $\V]p  
说明：探测器 {"'M2w:|D1  
gCg hWg{S  
D/E5&6  
%NkiYiA  
结果：3D光线追迹（只有0级） N*A*\B%{x'  
?6_]^:s  
=aVvv+T  
w%\ nXJ  
结果：3D光线追迹（所有级） Qf_N,Bq{a  
@K]`!=vUk  
5,;\zSz  
kqeEm {I  
结果：光线追迹 e`0C0GaP  
}5fd:Bm;  
 iFUiw&  
o+|>D&CW%  
结果：场追迹 [k 7HLn)  
w,IJ44f ^%  
 ;> 7~@ K  
ft/k-64  
结果：线性偏振光的场追迹 N_g=,E=U%  
qXtC7uNj$  
W"%n5)  
 3rRIrrYO  
文档和技术信息 p.:|Z-W$  
N #v[YO`.  
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 +j: &_  
QQ：2987619807 :0@0muo  
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