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infotek 2020-10-16 10:08

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 LyCV_6;D  
?j^?@%f0  
任务/系统说明 \nWzn4f  
egIS rmL+X  
Qh1Kl_a?Lv  
V)@nRJg  
亮点 +Fkx")  
|)>GeE  
 +Fy- ~Mq  
ZRVF{D??"%  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） Qbe{/  
 严格分析光栅衍射效率 Y GcY2p<  
 考虑入射光的方向分布 P[J qJi/H  
H'0J1\ h  
说明：光源 X\^3,k."  
e[py J.  
F4aJr%!\6S  
&55uT;7] a  
说明：光束分束器 ZP G8q  
?M1 QJ  
Y9(i}uTi  
(WU~e!}  
说明：检测透镜系统 ">4[+'  
J4R  
A_4\$NZ^  
KG./<"c  
说明：微型晶片 tIp\MXkTQ&  
\FaB!7*~  
g275{2G9  
daokiU+l2  
说明：检测物镜 V'| g  
@+Anv~B.  
b ffml  
8aM% 9OU  
说明：探测器 I^C ]6D{  
\2VZkVO9  
rq|czQ  
]V[  
结果：3D光线追迹（只有0级） 3 T#3<gqM[  
?[|4QzR  
 3kzGL  
5'}!v  
结果：3D光线追迹（所有级） OKNs ( H  
looPO:bo^  
*~aI>7H  
}v|[h[cZ  
结果：光线追迹 '&L   
j2&OYg  
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ovRCF(Og,  
结果：场追迹 ?9.?w-Q'  
s_e#y{ {C2  
 '2B0D|r"a  
KgkB)1s@n  
结果：线性偏振光的场追迹 ,Y/>*,J  
ri.|EmH2:D  
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文档和技术信息 gZuR4Ti  
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QQ：2987619807 sg~/RSJ3  
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