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infotek 2020-10-16 10:08

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 O-UA2?N@j  
+3zQ"lLD^  
任务/系统说明 1DAU *^-  
Q) aZ0 Pt  
_)= e`9%  
&XcPHZy'  
亮点 ,ps?@lD  
r`Fs"n#^-4  
 o*7NyiJ@z  
'9.@r\g  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） hwe6@T.#  
 严格分析光栅衍射效率 ._]Pz 6  
 考虑入射光的方向分布 \Q}Y"oq  
'JdK0w#  
说明：光源 QbHX.:C  
ZaY|v-  
R8lja%+0$  
tF/Ni*\^rV  
说明：光束分束器 |H^v8^%>zm  
<aaT,J8%[  
v+g:0 C5 (  
"dt}k$Gr  
说明：检测透镜系统 =d"5k DK-m  
RaSuzy^`*]  
c9jS !uDMK  
19O    
说明：微型晶片 ! a\v)R  
I`IW^eZM  
4Lk<5Ho  
L|#0CRiN  
说明：检测物镜 *u|1Z%XO  
~V?z!3r-)  
5({_2meJ:  
OYWHiXE6]  
说明：探测器 85dC6wI4K  
v36Z*I6)5  
D[]0/+,  
vdUKIP =|_  
结果：3D光线追迹（只有0级） !+Y+P?  
G~&8/ s  
a"O;DYh  
&J9 + 5L8  
结果：3D光线追迹（所有级） "v0bdaQH3  
7y30TU  
Ex]Ku  
5Zhl@v,L%  
结果：光线追迹 ?ZC!E0]  
 <{ v %2  
 sb_/FE5e  
WB'1_a  
结果：场追迹 qo \9,<  
\@h$|nb  
 :F[s  
,S(Z\[x0  
结果：线性偏振光的场追迹 ` wj'  
7KUf,0D  
Pz D30VA  
 FY)]yz  
文档和技术信息 )+,h}XqlX  
wmR~e  
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 * Z)j"i  
QQ：2987619807 Hiwij,1  
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