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infotek 2020-10-16 10:08

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 bF5mCR:  
}i7Gv K<[:  
任务/系统说明  0(2r"Hi  
'$@bTW  
=}6yMR!4R<  
9U[ A   
亮点 A.@S>H'P  
TmZ% ;TN  
 qHT_,\l2  
dD Qx[  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） b '1n1L  
 严格分析光栅衍射效率 kf3 u',}R  
 考虑入射光的方向分布 WJp9io[GM  
1Y2]jz4  
说明：光源 8.S&J6  
K'6dlwn).  
E>t5/^c)*w  
1'O++j_%y  
说明：光束分束器 ]m _<lRye  
>l & N  
MlDWK_y_&  
z?NMQ8l|:6  
说明：检测透镜系统 Rt &Oz!TQ  
){u/v[O9"  
s<f<:BC  
9~ [Sio~  
说明：微型晶片 2$)xpET  
Z2HH&3HA  
k E^%w?C  
gLyXe,Jp  
说明：检测物镜 D%CKkQ<u2  
;7jszs.6%  
bi^[Eh  
f,Z* o  
说明：探测器 `QpkD8  
O] T'\6w  
Fj?gXc5{  
5cr d.1@^  
结果：3D光线追迹（只有0级） 2U;6sn*e  
_Hhf.DmUAH  
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! ^~ ^D<  
结果：3D光线追迹（所有级） U3R;'80 f  
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ULqFJ*nla  
结果：光线追迹 4=BIYC"Lu  
>(>,*zP<9  
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结果：场追迹 <'{*6f@n  
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结果：线性偏振光的场追迹 UDBMf2F]  
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文档和技术信息 25 NTtj:X  
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QQ：2987619807 ?@*hU2MTC  
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