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infotek 2020-09-23 11:19

光学断层扫描干涉法

摘要 -]k vM  
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扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。 R-J^%4U`7  
G#nZ%qQ:I  
 CWw#0  
TNkvdE-S  
建模任务 g}n-H4LI  
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结果 25{-GaB  
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文件信息 kmT5g gy  
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QQ：2987619807  x>$e*  
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