| infotek |
2020-08-06 10:49 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要 27F~(!n
r\`+R"
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 QK `i%TXJ
o*g|m.SjL
建模任务 o4b~4 h{%
!ZRs;UZ>o
6\jf|: h
元件倾斜引起的干涉条纹 =*vMA#e
(Y% Q|u
 9#d+RT
qU6nJi+-I
9Z5D\yv?H
文件信息 dq1:s 1
k
n[Y
SJt <+kg
QQ：2987619807
|
|
