| infotek |
2020-08-06 10:49 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要 ]!"w?-h Si
~M{/cv
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 jIT|Kk&]
5rB>)p05[
建模任务 6h)_{|
L )
#eOHe4Vt
KFHZ3HZ :>
元件倾斜引起的干涉条纹
^ExuIe
7$Z_'GJ]1C
 *)-@'{]u B
||QK)$"
x0 J W
文件信息 1b3k|s4
1g{}O^ul
$M,<=.oT
QQ：2987619807
|
|
