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2020-08-06 10:49 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要 ]4_)WUS.c S }G3h a 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ?+{qmqN <5c^DA 建模任务 g3'yqIjQL w4uY/!~k y[f6J3/ 元件倾斜引起的干涉条纹 2ZMVYa2%( Uv:NY1(3!
5[+E?4,& 元件移位引起的干涉条纹 XXW.Uios OimqP d[e;Fj! 文件信息 ?trqe/ &K,rNH'R
yuZhak
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