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2020-08-06 10:49 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要 <u64)8' }s~c(sL?; 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 |6E_N5~ SI}s 建模任务 uZ+bo& 1R2IlUlzFr M-o'`e' 元件倾斜引起的干涉条纹 'R7 \ 9kL,69d2
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Y 元件移位引起的干涉条纹 IO%kXF.[ :X0L6y)u f"ezmZI 文件信息 kBo:)Vej4 cLtVj2Wb
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