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2020-08-06 10:49 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要 q\6ZmKGnT {VrjDj+Xy 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 %
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R 建模任务 !;^TW$ G QZ51}i 0?nm`9v6 元件倾斜引起的干涉条纹 %phv <AW KFMEY\ 6\h
/_*L8b 元件移位引起的干涉条纹 ?rgk )Dq/fW x,SzZ)l-9 文件信息 L>EC^2\ %@Ty,d:;=
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QQ:2987619807
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