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infotek 2020-08-06 10:49

马赫-曾德尔干涉仪

摘要 ]4_)WUS.c  
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干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ?+{qmqN  
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建模任务 g3'yqIjQL  
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元件倾斜引起的干涉条纹 2ZMVYa2%(  
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元件移位引起的干涉条纹 XXW.Uios  
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文件信息 ?trqe/  
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QQ:2987619807
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