马赫-泽德干涉仪

摘要

干涉测量法是光学计量学的重要技术。它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。

建模任务

元件倾斜引起的干涉条纹

元件移动引起的干涉条纹 CxJkT2
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VirtualLab Fusion工作流程

−基本源模型[教程视频]

− 非序列追迹的通道设置[用户案例]

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文件信息

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