角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 |GL#E"[&' 系统简介 9g"a`a?c p}R)qz-=5U ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 tAP~ PPDm*,T. 特征及技术参数 /4w&! $M- SWO$#X / - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, M^mS#<!y - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) wi:]o o# - 入射光与探测器可共面或异面。 3 _:yHwkD - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 ;*wZgl - 可对样品进行扫描。 O]m,zk - 动态范围: 13个数量级。 76}
N/C - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 z^{VqC*o+ - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 qW][Q%'lt - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 z]=A3!H/Y - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 e}(ws~. - 方便操作的测量及分析软件。 TaG'? - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 vov"60K )]n:y M 应用 'RTz*CSZ -HP [IJP 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 n_)d4d zl - 产品质量检测。 j?g{*M - 光学性能分析。 _yJd@ - 粗糙度分析。 Q6RBZucv opjrU$<]N 原文链接:http://www.infotek.com.cn/html/41/20170207776.html
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