角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 &ns !\! 系统简介 0}UJP *$Df)iI6 ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 ec4jiE :_q 特征及技术参数 v^h
\E+@ ?N,'1I - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, _Z|s!~wdz - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) JxP=[>I - 入射光与探测器可共面或异面。 K`nI$l7hg - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 ?5#Ng,8iT - 可对样品进行扫描。 iTt"Ik' - 动态范围: 13个数量级。 >a;^=5E - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 -T4{PM - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 {P_~_5o_ - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 AFWcTz6 #d - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 y#AwuC K - 方便操作的测量及分析软件。 NW`.RGLI< - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 :4"SJ \vB-0w 应用 IPU'M*|Q 7 N?x29 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 .(,4a<I?%N - 产品质量检测。 Hut
au^l - 光学性能分析。 .[hQ#3)W - 粗糙度分析。 ~EIY(^|py mAFqA 原文链接:http://www.infotek.com.cn/html/41/20170207776.html
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