角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 Y 4sf 2w 系统简介 U
N 1HBW; iov55jT~l@ ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 %=xR$<D K, ae-#wgb 特征及技术参数 4&~ft qPK3"fzH - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, :vz_f$= - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) AF g* - 入射光与探测器可共面或异面。
RLOB - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 UQgOtqL3 - 可对样品进行扫描。 qba<$ - 动态范围: 13个数量级。 3@kiUbq7Eu - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 o>mZ$ - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 ;aExEgTq - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 X2hV)8Sk - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 9->E$W - 方便操作的测量及分析软件。 `VCU`Y - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 WHk/Rg%< h7c8K)ntnf 应用 % <
D Fy3&Emu 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 Y0:y72mK - 产品质量检测。 4h\MSTF* - 光学性能分析。 uh*b[`e - 粗糙度分析。 8 !]$ljg d?C8rkV' 原文链接:http://www.infotek.com.cn/html/41/20170207776.html
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