| 探针台 |
2020-05-12 10:28 |
扫描电子显微镜SEM应用
扫描电子显微镜SEM应用范围： T' O5> e
1、材料表面形貌分析，微区形貌观察 jU')8m[
2、各种材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 6GVj13Nr
3、各种薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析 gM=oH
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WK7=z3mu
扫描电子显微镜样品制备比透射电镜样品制备简单，不需要包埋和切片。 WBTdQG
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样品要求： 4^H(p
样品必须是固体；满足无毒，无放射性，无污染，无磁，无水，成分稳定要求。 gb
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制备原则： GCx1lm
表面受到污染的试样，要在不破坏试样表面结构的前提下进行适当清洗，然后烘干； [s?H3yQ.
新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或表面的结构状态； 'Y23U7 n0B
要侵蚀的试样表面或断口应清洗干净并烘干； :ie7HF
磁性样品预先去磁； I#( D.\P
试样大小要适合仪器专用样品座尺寸。 `jY*0{
常用方法： u@d`$]/>F
块状样品 $Yfm>4
块状导电材料：无需制样，用导电胶把试样粘结在样品座上，直接观察。 y- S]\tu
块状非导电（或导电性能差）材料：先使用镀膜法处理样品，以避免电荷累积，影响图像质量。 _Y@'<S.
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