| 探针台 |
2020-05-12 10:28 |
扫描电子显微镜SEM应用
扫描电子显微镜SEM应用范围： M* W=v
1、材料表面形貌分析，微区形貌观察 ]{OEU]I@
2、各种材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 ]l F'o &v]
3、各种薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析 Gvt.m&_
[attachment=100509] xPh%?j?*v
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扫描电子显微镜样品制备比透射电镜样品制备简单，不需要包埋和切片。 Y#PbC
样品要求： V/+r"le
样品必须是固体；满足无毒，无放射性，无污染，无磁，无水，成分稳定要求。 (Jf i 3 m
制备原则： RR:m <9l
表面受到污染的试样，要在不破坏试样表面结构的前提下进行适当清洗，然后烘干； uNnwz%w
新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或表面的结构状态； L{~L6:6An
要侵蚀的试样表面或断口应清洗干净并烘干； xIF
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磁性样品预先去磁； ] Bs ?
试样大小要适合仪器专用样品座尺寸。 nJ4h9`[>V
常用方法： ;T6^cS{ Gj
块状样品 Be2 @9
块状导电材料：无需制样，用导电胶把试样粘结在样品座上，直接观察。 `QR2!W70o3
块状非导电（或导电性能差）材料：先使用镀膜法处理样品，以避免电荷累积，影响图像质量。 w2~(/RgO
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