| 飞跃小河 |
2020-04-26 17:38 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 etQCzYIhn #H&|*lr 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 dM.f]-g \{_q.;}
7uqzm w?PkO p 建模任务 J/`<!$<c RXMISt3+{y djl*H 仿真干涉条纹 I.(,hFx; 3GYw+%Z] .|KyNBn 走进VirtualLab Fusion 7DogM".}~Q (Bb5?fw
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] •设置输入场 e-/&$Qq −基本光源模型[教程视频] )th<,Lo3# •使用导入的数据自定义表面轮廓 _gR;=~S •定义元件的位置和方向 *->W^1eGM − LPD II:位置和方向[教程视频]QQ1824712522 W\$`w •正确设置通道以进行非序列追迹 8.1c?S −非序列追迹的通道设置[用例] caR<Kb:;* •使用参数运行检查影响/变化 H\" sgoJ −参数运行文档的使用[用例] aH(J,XY S/hQZHZHg,
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