| 飞跃小河 |
2020-04-26 17:38 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 <:/Lap#D^ ]9qY(m 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 Zgy~Y0Di E6JfSH#
@+Yql !xk`oW 建模任务 FnxPM`Zx J=7.-R|t iZY4+
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