飞跃小河 |
2020-04-26 17:38 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 i`/+,< kpbm4t 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 e}@)z3Q<l IC{eE
;n=. {[, :{'k@J"|a 建模任务 E|YdcS h=kQ$`j6 3ZTE<zRQ 仿真干涉条纹 ]J9cVp ,y9iKkg -16K7yk 走进VirtualLab Fusion =.|J!x "M|P+A
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