| 探针台 |
2020-04-13 11:53 |
聚焦离子束显微镜FIB/SEM/EDX技术指标
聚焦离子束显微镜FIB/SEM/EDX FEI Scios 2 DualBeam技术指标 $
/}: P
一、技术指标 04I6 -}6
1、电子束电流范围：1 pA - 400 nA； L@)b%Q@a
2、电子束电压：200eV-30 keV，具有减速模式 &&]"Y!r -
3、电子束分辨率：0.7 nm (30 keV)、1.4 nm(1 keV) 8O"x;3I9
4、大束流Sidewinder离子镜筒； ~a|^?7@p
5、离子束加速电压500V-30kV（分辨率：3.0 nm）； 9\AEyaJFZ
6、离子束束流1.5pA-65nA，15孔光阑。 @ChN_gd3!
A8_\2'b
二、配置情况 Nm H}"ndv+
1、GIS气体注入：Pt沉积 ZcUh[5 :|
2、ETD SE、T1（筒内低位）、T（高位）探头 =XZF.ur
3、Nav-camTM：样品室内光学导航相机
7yMi eU F
4、AutoTEM4、Autoslice、Map for3D自动拼图、NanoBuilder纳米加工软件。 ]&3s6{R
W HlD %u
三、适用样品 K[ iY {
半导体、金属、陶瓷材料微纳加工及观察分析，成分分析 g\
8#:@at
*6 I =oE
四、检测内容 Ma`
1、IC芯片电路修改 yRgDhA
2、Cross-Section 截面分析 E[SV*1)
3、Probing Pad +Z 9 3`
4、FIB微纳加工 0C7thl{Dms
5、材料鉴定 W _PM!>8`
6、EDX成分分析 W+ #}~2&Dv
UPfFT^=y
五、设备简介 qP7&Lt U
FEI Scios 2 DualBeam系统在Scios系统的基础上进行了升级，更加适用于金属、复合材料和涂层，特点是适用磁性样品、借助漂移抑制对不导电的样品可以进行操作、Trinity检测套件可同步检测材料、形态和边缘对比对度，大大提高效率、软件可以实现三维数据立方体分析金属中夹杂物大小和分布、独有的工作流模式，可以设定程序，降低操作员的难度。在超大样品仓中集成了大尺寸的五轴电动样品台，XY轴具有110mm移动范围，Z方向具有85mm升降空间。
|
|