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探针台 2020-03-09 15:14

我国百强芯片设计公司

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我国百强芯片设计公司 U^Hymgb%  
北京地区 <m9IZI Y<  
大唐微电子技术有限公司 Q:tW LVE#0  
北京北大众志微系统科技有限责任公司 o.sa ?*  
北京中星微电子有限公司 yzXwxi1#  
中国华大集成电路设计中心   II),m8G  
北京中电华大电子设计有限责任公司   !dmI}<@&k  
北京清华同方微电子有限公司   ) D(XDN  
北京神州龙芯集成电路设计有限公司 ^W'\8L  
威盛电子(中国)有限公司 UD"e:O_  
北京九方中实电子科技有限责任公司 m3.d!~U\  
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北京华虹集成电路设计有限责任公司  R1?g6. Mq  
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北京火马微电子技术有限公司 CJ KFNa  
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北京思旺电子技术有限公司 dZv-lMYBE  
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北京奥贝克电子信息技术有限公司 ]Kil/Y  
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北京青鸟元芯微系统科技有限责任公司 Ujb|| (W  
北京中科飞鸿科技有限公司 Ks9"U^bPs  
北京凝思科技有限公司 { 5h6nYu  
北京天宏绎集成电路科技发展有限公司 N'|zPFk g  
北京东科微电子有限公司 BL,YJM(y  
北京福星晓程电子科技股份有限公司 L,Uqt,  
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北京中科微电子技术有限公司 wGAN"K:e  
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深圳地区 .K;*uq:0  
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深圳市国微电子股份有限公司 +2MsyA?6_  
深圳市国微技术有限公司 D("['`{  
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[attachment=98812]芯片失效分析实验室介绍,能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作,开展从底层芯片到实际产品,从物理到逻辑全面的检测工作,提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务,同时可开展模拟重现智能产品失效的现象,找出失效原因的失效分析检测服务,主要包括点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测,缺陷切割观察系统(FIB系统)等检测试验。实现对智能产品质量的评估及分析,为智能装备产品的芯片、嵌入式软件以及应用提供质量保证。 n?!XNXb  
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