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探针台 2020-03-09 15:14

我国百强芯片设计公司

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我国百强芯片设计公司 TVAa/_y2`  
北京地区 nRs:^Q~o  
大唐微电子技术有限公司 {pC$jd>T  
北京北大众志微系统科技有限责任公司 @]dv   
北京中星微电子有限公司 ZNJ<@K-  
中国华大集成电路设计中心   3|bbJ6*.<  
北京中电华大电子设计有限责任公司   @x_0AkZU  
北京清华同方微电子有限公司   -!IeP]n#P  
北京神州龙芯集成电路设计有限公司 Dw<bLSaW&  
威盛电子(中国)有限公司 z[0tM&pv  
北京九方中实电子科技有限责任公司 )a<MW66  
北京NEC集成电路设计公司 mnFmShu  
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北京讯风光通信技术开发有限责任公司 PCnu?e3F  
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北京协同伟业信息技术有限公司 */4hFD {  
北京利亚德电子科技有限公司 f( <O~D  
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清华大学微电子学研究所 /q) H0b  
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北京东世科技有限公司 aI 1tG  
北京青鸟元芯微系统科技有限责任公司 b(t8TR#-  
北京中科飞鸿科技有限公司 Q+s2S>U{v  
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北京东科微电子有限公司 rA}mp]  
北京福星晓程电子科技股份有限公司 /z:1nq  
国家专用集成电路设计工程技术研究中心   ]d.e(yCuE  
北京国际工程咨询公司 B_>r|^Vh  
北京中科联创科技有限公司 I8k+Rk*  
北京清华紫光微电子系统有限公司 6VLo4bq 5  
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中关村-Cadence软件学院 JF=T_SH^U  
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[attachment=98812]芯片失效分析实验室介绍,能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作,开展从底层芯片到实际产品,从物理到逻辑全面的检测工作,提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务,同时可开展模拟重现智能产品失效的现象,找出失效原因的失效分析检测服务,主要包括点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测,缺陷切割观察系统(FIB系统)等检测试验。实现对智能产品质量的评估及分析,为智能装备产品的芯片、嵌入式软件以及应用提供质量保证。  TLVfu4  
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