首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 光电资讯及信息发布 -> 激光开封机在芯片开封中的应用 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

探针台 2020-02-19 14:46

激光开封机在芯片开封中的应用

激光开封机在芯片开封中的应用 EiaP1o  
半导体业的铜制成芯片越来越成为发展主流,这给失效分析中器件开封带来越来越高的挑战。传统的酸开封已经没有办法完成铜制成器件的开封,良率一般低于30%。此时仪准科技推出的激光开封机,给分析产业带来了新的技术。 B'mUDW8\D  
产片特点: W'=}2Y$]u  
1、对铜制成器件有很好的开封效果,良率高于90%。 6tjV^sjs  
2、对环境及人体污染伤害交小,符合环保理念。 WgG$ r  
3、开封效率是普通酸开封机台的3~5倍。 {LVA_7@  
4、电脑控制开封形状、位置、大小、时间等,操作便利。 @h_ bXo  
5、设备稳定,故障率远低于酸开封机台。 @nMVs6  
6、几乎没有耗材,running cost很低。 wW8[t8%43  
7、体积较小,容易摆放。 v,8Q9<=O  
rC]k'p2x  
Tool Description: >)u{%@Rcy{  
1.Software: Windows XP LE)$_i8gX  
2.Good Solution for the Depcasulation Processing I-1NZgv  
3.The Best Solution of Copper Bonding Material Opening. Q&+)Kp]A  
4.The Etch Rate Is Controllable and the Good Etch Uniformity. 4.uaWM)2  
5.Convenient Failure Analysis Tool for PCBA or BGA Substrate Sample Preparation. fYzP4  
o2hk!#5[4  
3Ijs V5a  
Applied Package Types: k.jBu  
QFP, QFN, SOT 2`%a[t@M.  
TO, DIP Ml;` *;  
BGA V1GkX =H},  
COB, Assembly types $TS97'$  
Short Processing Time in ASIC and Power Chip #, #:{&H  
MCM Sample Opening G<$8g-O;D  
Customized Area Opening Qca3{|r`  
Owgy<@C  
Ww\ WuaY  
<3/_'/C  
The Total Solution of Stacked Chip Opening. Pa+_{9  
The Copper Wire Bonding Decapsulation. )''V}Zn.X  
Adjusted Etch Rate to Control the Decapsulated Well. _ WPt zL  
\x\N?$`ANc  
$o;c:Kh$$  
The Package 2nd Bonding Inspection with Laser Decapsulation. 1 ?Zw  
L, #|W  
The PCB or BGA substrate Delayer Inspection. [}GK rI  
Failure Analysis for the Copper Crack or Electrical Probing. O9o]4;  
#d*gWwnx"  
L|:CQ  
The Sample Preparation for Molding Compound Removal and Cross-section. RLL%l  
The Specific Shape Opening Is Available. lKQevoy'  
芯片失效分析实验室介绍,能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作,开展从底层芯片到实际产品,从物理到逻辑全面的检测工作,提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务,同时可开展模拟重现智能产品失效的现象,找出失效原因的失效分析检测服务,主要包括点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测,缺陷切割观察系统(FIB系统)等检测试验。实现对智能产品质量的评估及分析,为智能装备产品的芯片、嵌入式软件以及应用提供质量保证。 >Yk|(!v  
r\FZ-gk}Q  
国家应用软件产品质量监督检验中心 _Y/*e<bU  
北京软件产品质量检测检验中心 ='=4tj=z  
智能产品检测部 l 9g  
赵工 HB$?}V  
座机010-82825511-728 l?rLadvc  
手机13488683602 @iXBy:@  
微信a360843328 oyY z3X  
[email=邮箱zhaojh@kw.beijing.gov.cn]邮箱zhaojh@kw.beijing.gov.cn[/email]
查看本帖完整版本: [-- 激光开封机在芯片开封中的应用 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计