| 探针台 |
2020-02-19 14:46 |
激光开封机在芯片开封中的应用
激光开封机在芯片开封中的应用: EiaP1o 半导体业的铜制成芯片越来越成为发展主流,这给失效分析中器件开封带来越来越高的挑战。传统的酸开封已经没有办法完成铜制成器件的开封,良率一般低于30%。此时仪准科技推出的激光开封机,给分析产业带来了新的技术。 B'mUDW8\D 产片特点: W'=}2Y$]u 1、对铜制成器件有很好的开封效果,良率高于90%。 6tjV^sjs 2、对环境及人体污染伤害交小,符合环保理念。 WgG$ r 3、开封效率是普通酸开封机台的3~5倍。 {LVA_7@ 4、电脑控制开封形状、位置、大小、时间等,操作便利。 @h_ bXo 5、设备稳定,故障率远低于酸开封机台。 @nMVs6 6、几乎没有耗材,running cost很低。 wW8[t8%43 7、体积较小,容易摆放。 v,8Q9<=O rC]k'p2x Tool Description: >)u{%@Rcy{ 1.Software: Windows XP LE)$_i8gX 2.Good Solution for the Depcasulation Processing I-1NZgv 3.The Best Solution of Copper Bonding Material Opening. Q&+)Kp]A 4.The Etch Rate Is Controllable and the Good Etch Uniformity. 4.uaWM)2 5.Convenient Failure Analysis Tool for PCBA or BGA Substrate Sample Preparation. fYzP4 o2hk!#5[4 3IjsV5a Applied Package Types: k.jBu QFP, QFN, SOT 2`%a[t@M. TO, DIP Ml;` *; BGA V1GkX=H}, COB, Assembly types $TS97'$ Short Processing Time in ASIC and Power Chip #,#:{&H MCM Sample Opening G<$8g-O;D Customized Area Opening Qca3{|r` Owgy<@C Ww\ WuaY <3/_'/C The Total Solution of Stacked Chip Opening. Pa+_{9 The Copper Wire Bonding Decapsulation. )''V}Zn.X Adjusted Etch Rate to Control the Decapsulated Well. _ WPt
zL \x\N?$`ANc $o;c:Kh$$ The Package 2nd Bonding Inspection with Laser Decapsulation. 1
?Zw L,
#|W The PCB or BGA substrate Delayer Inspection. [}GK rI Failure Analysis for the Copper Crack or Electrical Probing. O9o ]4; #d*gWwnx" L|:CQ The Sample Preparation for Molding Compound Removal and Cross-section. RLL%l The Specific Shape Opening Is Available. lKQevoy' 芯片失效分析实验室介绍,能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作,开展从底层芯片到实际产品,从物理到逻辑全面的检测工作,提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务,同时可开展模拟重现智能产品失效的现象,找出失效原因的失效分析检测服务,主要包括点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测,缺陷切割观察系统(FIB系统)等检测试验。实现对智能产品质量的评估及分析,为智能装备产品的芯片、嵌入式软件以及应用提供质量保证。 >Yk|(!v r\FZ-gk}Q 国家应用软件产品质量监督检验中心 _Y/*e<bU 北京软件产品质量检测检验中心 ='=4tj=z 智能产品检测部 l
9g 赵工 HB$?}V 座机010-82825511-728 l?rLadvc 手机13488683602 @iXBy:@ 微信a360843328 oyY
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