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探针台 2020-02-12 16:38

我国百强IC设计公司

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我国百强IC设计公司 P+Z\3re  
北京地区 &g0g]G21*I  
大唐微电子技术有限公司 `*yAiv>  
北京北大众志微系统科技有限责任公司 #hJQbv=B"  
北京中星微电子有限公司 ,w2WS\`%  
中国华大集成电路设计中心   })[($$f/  
北京中电华大电子设计有限责任公司   %>y;zqZIU  
北京清华同方微电子有限公司   NfwYDY  
北京神州龙芯集成电路设计有限公司 |s=`w8p  
威盛电子(中国)有限公司 vv.PF~:  
北京九方中实电子科技有限责任公司 }Hy ~i  
北京NEC集成电路设计公司 RUGv8"j  
北京华虹集成电路设计有限责任公司  ~Ltr.ci  
北京北方华虹微系统有限公司 mxJXL":|  
北京海尔集成电路设计有限公司 hNbIpi=  
北京六(+)合万通微电子技术有限公司 %idk@~HCg  
北京中庆微数字设备开发有限公司 4o5i ."l  
北京讯风光通信技术开发有限责任公司 J`oTes,  
北京兆日科技有限责任公司 %0XvJF)s  
北京北大青鸟集成电路有限公司 Zw$ OKU  
北京宏思电子技术有限公司 (}gcY  
北京航天伟盈微电子有限公司 M"U OgS  
北京火马微电子技术有限公司 ;6m;M63z  
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北京思旺电子技术有限公司 8_xLl2  
北京协同伟业信息技术有限公司 #3MKH8k&~  
北京利亚德电子科技有限公司 qn"K9k  
北京芯网拓科技有限公司 }c|UX ZW  
清华大学微电子学研究所 %8FN0  
北京奥贝克电子信息技术有限公司 zn)yFnB!TH  
北京东世科技有限公司 9.&mz}q  
北京青鸟元芯微系统科技有限责任公司 &q>zR6jne  
北京中科飞鸿科技有限公司 >I<PO.c!  
北京凝思科技有限公司 $}tjS3klr  
北京天宏绎集成电路科技发展有限公司 @-"R$HOT  
北京东科微电子有限公司 G!Zyl^  
北京福星晓程电子科技股份有限公司 u) *Kws  
国家专用集成电路设计工程技术研究中心   uLVBM]Qj  
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北京清华紫光微电子系统有限公司 1 Z[f {T)  
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北京国芯安集成电路设计有限公司 8;n_TMb  
北京凯赛德航天系统集成设计有限公司 pbn\9C/  
北京伊泰克电子有限公司 U<bYFuS"  
矽统科技有限公司北京代表处 ~V+l_ :  
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Ansoft公司 ]vo_gKZ  
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中关村-Cadence软件学院 3f&|h^\nD  
中国科学院EDA中心 44-r\>  
中国科学院微电子研究所 u \g ,.C0  
世源科技工程有限公司(中国电子工程设计院) va,~w(G  
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Cadence公司 Q`6i=mB;  
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Synopsys公司 FFzH!=7T?  
方舟科技(北京)有限公司 3-x%wD.  
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美国家半导体 1"]P`SY$r  
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深圳地区 ][:rLs  
深圳市中兴集成电路设计有限责任公司 GdA.g w  
深圳市国微电子股份有限公司 p^X^1X7  
深圳市国微技术有限公司 j _ ;fWBD:  
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深圳市贝顿科技有限公司 HuI`#.MpWE  
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上海华虹集成电路有限责任公司 {aOkV::  
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复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 W>-B [5O&[  
宏羚科技(上海)有限公司 WFv!Pbq,  
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上海众华电子有限公司 @!%n$>p/V  
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勇瑞科技(上海)有限公司 L36Yx7gT<  
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江浙地区 \OwpD,'  
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江苏意源科技有限公司 b$JBL_U5Ch  
无锡市爱芯科微电子有限公司 963aW*r  
无锡市华方微电子有限公司 DDd/DAkCX  
无锡华润矽科微电子有限公司 MZ4c{@Tg  
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西安中芯微电子技术有限公司 4`v!Z#e/aX  
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西安万思微电子有限公司   t'qL[r%?  
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成都登巅科技有限公司 &p(0K4:  
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成都威斯达芯片有限责任公司 TV59(bG.2  
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信息产业电子第十一设计研究院有限公司   Vzlh+R>c  
成都华微电子系统有限公司 .giz=* q+  
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芯片失效分析实验室介绍,能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作,开展从底层芯片到实际产品,从物理到逻辑全面的检测工作,提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务,同时可开展模拟重现智能产品失效的现象,找出失效原因的失效分析检测服务,主要包括点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测,缺陷切割观察系统(FIB系统)等检测试验。实现对智能产品质量的评估及分析,为智能装备产品的芯片、嵌入式软件以及应用提供质量保证。 b{M7w  
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国家应用软件产品质量监督检验中心 5r,r%{@K  
北京软件产品质量检测检验中心 W m&  
智能产品检测部 |Bo .4lX  
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座机010-82825511-728 yx{3J  
手机13488683602 {jKI^aC<[  
微信a360843328 j+4H}XyE  
[email=邮箱zhaojh@kw.beijing.gov.cn]邮箱zhaojh@kw.beijing.gov.cn[/email] El2e~l9  
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