探针台 |
2020-02-10 14:49 |
双束FIB---Scios 2 DualBeam
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_|"+Ze 使用 Sidewinder HT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM 和原子探针样品 mExJ--} Thermo Scientific NICol™ 电子镜筒可进行超高分辨率成像, 满足最广泛类型样品(包括磁性和不导电材料)的最佳成像需求 j38>5DM6L 各类集成化镜筒内及极靴下探测器,采集优质、锐利、无荷电图像,提供最完整的样品信息 f (ug3(j 可选AS&V4软件,精确定位感兴趣区域,获取优质、多模态 内部和三维信息 Pw/$
}Q9X 高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav-Cam™相机实现精确样品导航 g]m}@b6(h 专用的DCFI、漂移抑制技术和Thermo Scientific SmartScan™等模式实现无伪影成像和图形加工
S)W(@R+@4 灵活的 DualBeam 配置,优化解决方案满足特定应用需求 =e| z]n&,q,5g 通用型高性能双束系统 g#r,u5<*? ^k4 n Scios 2 DualBeam 提供最佳的样品制备、内部及三维表征性能,可满足最广泛类型样品的应用需求。 ;`rz ]7,* Z.3*sp0
yv Thermo Scientifc™ Scios™ 2 DualBeam™ 系统是一款超高分辨率分析系统,可为最广泛类型的样品(包括磁性和不导电材料) 提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam 系统创新性的功能设计,优化了其样品处理能力、分析精度和易用性, 是满足科学家和工程师在学术、政府和工业研究环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。该系统于2013年推出市场,MTBF>1500hr,深受广大半导体用户爱戴。 <c]? =`MMB|{6 高质量 TEM 制样 i$dF0.}Q 科学家和工程师不断面临新的挑战,需要对具有更小特征的日益复杂的样品进行高度局部化表征。Scios 2 DualBeam 系统的最新技术创新,结合最易于使用、最全面的 Thermo Scientific ^/"2s}+ AutoTEM™4软件(可选)和专业的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。 为了获得高质量的结果, 需要使用低能离子进行精抛,以最大限度地减少样品的表面损伤。Thermo Scientific Sidewinder™HT聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下提供高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。 e|Mw9DIW ~RIa),GVX 高质量内部和三维信息 ],w+4;+ 内部或三维表征有助于更好地理解样品的结构和性质, Scios 2 0w ;#4X:m DualBeam 系统配备 Thermo Scientific Auto Slice&View™4 {z*`*
O@ % QI6`@Y" (AS&V4)软件,可以高质量、全自动地采集多种三维信息,其中,三维 BSE 图像提供最佳材料衬度,三维 EDS 提供成分信息, 而三维 EBSD 提供显微结构和晶体学信息。结合Thermo Scientific Avizo™软件,Scios 2 DualBeam 系统可为纳米尺度的高分辨、先进三维表征和分析提供独特的工作流程解决方案。 "Tc[1{eI L;'C5#GN 超高分辨成像并获取最全面的样品信息 A}z1~Z+ 创新的NICol电子镜筒为Scios 2 DualBeam 系统的高分辨率成像和检测功能奠定了基础。无论是在STEM模式下以30 keV来获取结构信息,还是在较低的能量下从样品表面获取无荷电信息, 系统可在最广泛的工作条件下提供出色的纳米级细节。系统独特的镜头内Thermo Scientific Trinity™检测技术可同时采集角度和能量选择性SE和BSE图像。无论是将样品竖直或倾斜放置进行观察,亦或者是观察样品截面,都可快速获取最详细的纳米级信 息。可选配的透镜下探测器和电子束减速模式可确保快速、轻松 地同时采集所有信号,以显示材料表面或截面中的最小特征。依托独特的NICol镜筒设计和全自动合轴功能,用户可获得快速、准确且可重复的结果。 eN-lz_..7 $[g8j`or! 帮助所有用户提高生产力 02mu%|" Scios 2 DualBeam系统可帮助所有经验水平用户更快、更轻松 =(Wl'iG 地获得高质量、可重复的结果。系统提供用户向导,使新手用户可以轻松、快速地提高工作效率。此外,诸如“撤消”和“重做”之类的功能鼓励用户开展更多类型的实验。 *}Nh7>d( 真实环境条件的样品原位实验 {14sI*b16 Scios 2 DualBeam系统专为材料科学中最具挑战性的材料微观 ( Y)a`[B 表征需求而设计,配备了全集成化、极快速MEMS 热台μHeater, pb}4{]sI 可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。110毫米样品 台可倾斜至90˚,优中心工作距离更大,确保了系统极佳的灵活性。系统可选配低真空模式,可轻松兼容各种样品类型和数据采 集。同时,系统结合了扩展的沉积和蚀刻功能、优化的样品灵活 性和控制能力,成为最通用的高性能FIB / SEM 系统,所有这些都由赛默飞的专业应用和服务支持。 ;%Rp=&J <hzuPi@ 电子光学 : ?z E@Ct NICol 非浸没式超高分辨率场发射扫描镜筒,配有: THHA~;00YN · 高稳定性肖特基场发射电子枪,用于提供稳定的高分辨率 分析电流 T(iL#2^ · 60 度双物镜透镜,支持倾斜较大的样品 ;ksxz · 自动加热式光阑,可确保清洁和无接触式更换光阑孔 X2to](\%X · 连续电子束电流控制和优化的光阑角度 <7yn : · 电子枪安装和维护简单 自动烘烤,自动启动,无需机械合轴 *kKdL · 两级扫描偏转 Zm#qW2a]P · 双物镜透镜,结合电磁透镜和静电透镜 .Af H>)E · 快速电子束闸* F >co# · 用户向导和镜筒预设 }I
^e:,{ · 电子源寿命至少24个月 XaR(~2 电子束分辨率 {pM3f 最佳工作距离下 5 @61=Au · 30keV 下 STEM 0.7nm KSy. · 1keV 下 1.4nm 15keV 下 1.2nm iYl$25k/1 · 1keV下 电子束减速模式 0.99nm* 4Vrx9 sA1 _~_6qTv-d 电子束参数 2W q/_: · 电子束流范围(数显,连续可调):1pA 400nA b%M|R%)] · 加速及着陆电压:20V-30KV(连续可调) q<!KtI4 · 放大倍数范围:40x-1200x &{(8EvuDd · 最大水平视场宽度:7mm工作距离下为3.0mm,60mm工作 距离下为7.0mm,样品台到束交叉点85mm V'XvwO@ · 导航蒙太奇功能可额外增大视场宽度 d&5GkD.P 离子光学 "RM vWuNt 卓越的大束流Sidewinder离子镜筒 \|q.M0 · 加速电压范围:500 V - 30 kV 0fU^ · 离子束流范围:0.6pA 65nA(数值显示) /7-qb^V · 15 孔光阑 TM1J1GU · 标配不导电样品漂移抑制模式 SWM6+i
p · 离子源寿命至少1,300小时 e \ rb · 离子束分辨率:30 kV下 3.0 nm(采用选边统计平均值法) ?ne!LDlE| 探测器 et0yS%7+?@ · Trinity 探测系统(透镜内和镜筒内) N~@VZbS(6 - T1 分割式透镜内低位探测器 7z4u?>pne* - T2 透镜内高位探测器 {;j@-=pV - T3可伸缩镜筒内探测器* +)7Yqh#$ - 可同步检测多达四种信号 >5}jM5$ · ETD Everhart-Thornley 二次电子探测器 'c|Y*2@ · ICE探测器 - 高性能离子转换和电子探测器,用于采集二次电子和二次离子* 0&|,HK · DBS 可伸缩式低电压、高衬度、分割式固态背散射电子探测器* {glRXR · STEM 3+ 可伸缩分割式探测器(BF、DF、HAADF) * =| M[JPr · 样品室红外 CCD 相机,用于样品台高度观察 ^7&0Pm · Nav-Cam™: 样品室内彩色光学相机,用于样品导航* aok,qn'j · 电子束流测量* uSi/| 样品台和样品 _Q3Ad>,U 灵活五轴电动样品台: 1F_ 1bAh$ · XY范围:110mm J>Uzd,
/ · Z范围:65mm
.4-I^W"1 · 旋转:360 °(连续)
ua!g}m~ · 倾斜范围:-15°到 +90° hV4\#K[ · XY重复精度:3μm a,U@ !}K · 最大样品高度:与优中心点间隔85mm "3Z<V8xB · 最大样品质量(0°倾斜):2kg(包括样品托) HJ,sZ4*]] · 最大样品尺寸:可沿X、Y轴完全旋转时直径为110mm(若样 品超出此限值,则样品台行程和旋转会受限) >o"3:/3 · 同心旋转和倾斜 ^>f jURR 真空系统 N}2xt)JZz · 完全无油的真空系统 VT&R1)c · 样品仓真空(高真空):< 5.9 x 10 -6 mbar(24小时抽气后) d^<a)>5h · 抽气时间:208秒 c(<,qWH · 可选空压机和冷却循环水系统,分别用于冷却SEM镜筒及其它部件 :,^pL At (iZE}qf7g 样品仓 }uE8o"q
· 电子束和离子束夹角:52°,集成等离子清洗功能 32*FI SH^ · 端口:21个 [ZP8[Zl'? · 内径宽度:379mm `kP
(2b 样品托 _,2P4 · 标准多功能样品托,以独特方式直接安装到样品台上,可容纳18个标准样品托架(φ12mm)、3个预倾斜样品托、 HLy}ta\ 2个垂直和2个预倾斜侧排托架*(38°和90°),样品安装 无需工具 2W=(
{e)$ · 每个可选的侧排托架可容纳6个S/TEM铜网 6!}tmdzR · 各种晶片和定制化样品托可按要求提供* "jUr[X2J 系统控制 6T_Mk0Sf+ · 64位GUI(s 7)、键盘、光学鼠标 ]d@@E_s] · 可同时激活多达4个视图,分别显示不同束图像和/或信号, 真彩信号混合 6QOdd6_d · 本地语言支持:请与当地Thermo Fisher销售代表联系确认可用语言包 3e g<) · 24英寸宽屏显示器 1920 x 1200(第二台显示器可选配) D~xUr)E · Joystick 操纵杆* ]<;m;/H · 多功能控制板* %q@eCN · 远程控制和成像* 43;@m}|7$ 图像处理器 Pb|'f( · 驻留时间范围:25纳秒 25 毫秒/像素 !m#cneV · 最高 6144 × 4096 像素 AE)<ee%\\ · 文件类型:TIFF (8 位、16 位、24 位)、BMP或JPEG 标配 PIuk]&L^ · SmartSCAN™ (256 帧平均或积分、线积分和平均法、跨行扫描) Odr@9MJ · DCFI (漂移补偿帧积分) !(hP{k ^g 支持软件 !t["pr\
? · “Beam per view”图形用户界面,可同步激活多达4个视图 w\'Zcw,d · Thermo Scientific SPI™ (同步FIB加工和SEM成像)、iSPI™ (间歇式SEM成像和FIB加工)、 iRTM™(集成化实施监测)和 FIB 浸入模式,用于高级、实时SEM和FIB 过程监测和端点测量 VT\o=3_ · 支持的图形:矩形、直线、圆形、清洁截面、常规截面、 多边形、位图、流文件、排除区、阵列 xi=qap=S^9 · 直接导入BMP文件或流文件进行三维刻蚀和沉积 C'hI{4@P · 材料文件支持“最短循环时间”、束调谐和独立重叠 pX]*&[X? · 图像配准支持导入图像进行样品导航 jG0{>P#+ · 光学图像上的样品导航 nzTzc5
w · 撤销(Undo)/重做(Redo)功能 OjCT*qyU< · DualBeam系统基本操作及应用用户指南 b\%=mN · 智能扫描功能Smart Scan =>hq0F4[; · 漂移补偿帧积分功能DCFI D4m2*%M · 蒙太奇导航功能 ,$habq=; · 具备束流测量装置 MO:##C · 实时观察离子束加工的监控功能 SPIYB/C 0:**uion Thermoscitific原装配件* (9BjZ&ej · GIS气体注入: 最多四台设备,每种气体配备独立的气体注入器,防止不同气体交叉污染,以提高蚀刻或沉积效果 (其他配件可能会限制可用的GIS数量) ,可选气体化学选项超过10种: ^)b*"o - 铂沉积 p1HU2APFP - 钨沉积 ?kew[oZ - 碳沉积 :rb<mg[ - 绝缘体沉积II -uiZp ! - 金沉积 uKqN - 增强刻蚀(碘、专利) )}?'1ciHI - 绝缘体增强刻蚀(XeF2) M%:ACLYP - Delineation EtchTM(专利) 9o P8| <+ - 二氧化硅增强刻蚀 *&B*/HAN - 空坩埚,用于经批准的用户提供的材料 w?.0r6j - 更多束化学选项可按要求提供 !>/U6h,_ · Thermo Scientific EasyLiftTM 系统用于精确原位样品操纵 qyc:;3?wm · 用于制备好透射电镜样品后提出,与主机集成一体化控制 W;,.OoDc> · 漂移:49 nm/min 9c806>]U^ · 步长精度:49nm mqk~Pno|< · FIB荷电中和器 V5K!u8T · μHeater:高真空兼容,超快加热台,温度高达1200 ℃ .F.4fk · 分析:EDS、EBSD、WDS、CL K/G|MT)
· Thermo Scientific QuickLoaderTM :快速真空进样器 'r4 j;Jn · DualBeam 系统冷冻解决方案: `6!l!8
v - 独有的CryoMAT 用于材料科学冷冻应用 -)
$$4<L - 第三方供应商提供的解决方案 >E?626* · 隔音罩 !O)Ruwy · Thermo Scientific CyroCleanerTM 系 统 SMgf(N3] · 集成等离子清洗 p[&'*"o!/ #:z.Br` 软件选项 GfY!~J · AutoTEM 4 软件:用于最快速、最简单的高度自动化 m$A|Sx&sG$ STEM 样品制备 E$f.&<>T · AS&V4 软件:自动化连续刻蚀和观察,采集连续切片图 c3!d4mC: 像、EDS或EBSD 图像进行三维重建 ,a< !d · Avizo 三维重建及分析软件 S8<O$^L^ · Thermo Scientific MAPS™ 软件:用于大区域的自动图像 -U"(CGb5 采集、拼接和关联 ]m(Uv8/6 · Thermo Scientific NanoBuilder™ 软件:先进的基于 ;04doub CAD(GDSII)的专有解决方案,用于复杂结构FIB 和束沉积优化的纳米原型制备 j$zw(EkN · iFast软件:适用于DualBeam系统的高级自动化套件 s9qr;}U.` · 基于Web的数据库软件 ;hmy7M1% · 高级图像分析软件
Eti;(>"@ 保修和培训 =4/lJm`` · 1年保修 qbHb24I · 可选维修保养合同 &iL"=\# · 可选操作/应用培训合同 Oh~JyrZy 文档和支持 'wLQ9o%=p| · 在线用户向导 4'?kyTO~ · 操作手册 a7nbGqsx · RAPID™ 支持文件(远程诊断支持)
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