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探针台 2020-02-10 14:49

双束FIB---Scios 2 DualBeam

=iF}41a  
使用 Sidewinder HT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM 和原子探针样品 DY<Br;  
Thermo Scientific NICol™ 电子镜筒可进行超高分辨率成像, 满足最广泛类型样品(包括磁性和不导电材料)的最佳成像需求 =23JE'^=  
各类集成化镜筒内及极靴下探测器,采集优质、锐利、无荷电图像,提供最完整的样品信息 T"ors]eI  
可选AS&V4软件,精确定位感兴趣区域,获取优质、多模态 内部和三维信息 s2s}5b3  
高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav-Cam™相机实现精确样品导航 l;_zXN   
专用的DCFI、漂移抑制技术和Thermo Scientific SmartScan™等模式实现无伪影成像和图形加工 H%2Y8}  
灵活的 DualBeam 配置,优化解决方案满足特定应用需求 iF:`rIC  
29#&q`J  
通用型高性能双束系统 (9R;a np  
g!%C_AI   
Scios 2 DualBeam 提供最佳的样品制备、内部及三维表征性能,可满足最广泛类型样品的应用需求。 57W4E{A  
H3< `  
Thermo Scientifc™ Scios™ 2 DualBeam™ 系统是一款超高分辨率分析系统,可为最广泛类型的样品(包括磁性和不导电材料) 提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam 系统创新性的功能设计,优化了其样品处理能力、分析精度和易用性,  是满足科学家和工程师在学术、政府和工业研究环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。该系统于2013年推出市场,MTBF>1500hr,深受广大半导体用户爱戴。 0NKo)HT  
(5AgI7I,  
高质量 TEM 制样 <~ E'% 60;  
科学家和工程师不断面临新的挑战,需要对具有更小特征的日益复杂的样品进行高度局部化表征。Scios 2 DualBeam 系统的最新技术创新,结合最易于使用、最全面的 Thermo Scientific &Xw{%Rg  
AutoTEM™4软件(可选)和专业的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。 为了获得高质量的结果, 需要使用低能离子进行精抛,以最大限度地减少样品的表面损伤。Thermo Scientific Sidewinder™HT聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下提供高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。 ,#;%ILF4%  
`72 uf<YQ  
高质量内部和三维信息 A'(v]w  
内部或三维表征有助于更好地理解样品的结构和性质, Scios 2 Ji %6/zV  
DualBeam 系统配备 Thermo Scientific Auto Slice&View™4 -UgD  
O%:EPdoU  
  (AS&V4)软件,可以高质量、全自动地采集多种三维信息,其中,三维 BSE 图像提供最佳材料衬度,三维 EDS 提供成分信息, 而三维 EBSD 提供显微结构和晶体学信息。结合Thermo Scientific Avizo™软件,Scios 2 DualBeam 系统可为纳米尺度的高分辨、先进三维表征和分析提供独特的工作流程解决方案。 I[b@U<\  
D4jf%7X!Lu  
超高分辨成像并获取最全面的样品信息 w s(9@  
创新的NICol电子镜筒为Scios 2 DualBeam 系统的高分辨率成像和检测功能奠定了基础。无论是在STEM模式下以30 keV来获取结构信息,还是在较低的能量下从样品表面获取无荷电信息,  系统可在最广泛的工作条件下提供出色的纳米级细节。系统独特的镜头内Thermo Scientific Trinity™检测技术可同时采集角度和能量选择性SE和BSE图像。无论是将样品竖直或倾斜放置进行观察,亦或者是观察样品截面,都可快速获取最详细的纳米级信  息。可选配的透镜下探测器和电子束减速模式可确保快速、轻松  地同时采集所有信号,以显示材料表面或截面中的最小特征。依托独特的NICol镜筒设计和全自动合轴功能,用户可获得快速、准确且可重复的结果。 ai/VbV'|  
|/LCwq%  
帮助所有用户提高生产力 6uWzv~!*D  
Scios 2 DualBeam系统可帮助所有经验水平用户更快、更轻松 w783e  
地获得高质量、可重复的结果。系统提供用户向导,使新手用户可以轻松、快速地提高工作效率。此外,诸如“撤消”和“重做”之类的功能鼓励用户开展更多类型的实验。 JUBihw4  
真实环境条件的样品原位实验 hN% h.;s  
Scios 2 DualBeam系统专为材料科学中最具挑战性的材料微观 doJ\7c5uU  
表征需求而设计,配备了全集成化、极快速MEMS 热台μHeater, Gp6|0:2,L~  
可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。110毫米样品  台可倾斜至90˚,优中心工作距离更大,确保了系统极佳的灵活性。系统可选配低真空模式,可轻松兼容各种样品类型和数据采 集。同时,系统结合了扩展的沉积和蚀刻功能、优化的样品灵活 性和控制能力,成为最通用的高性能FIB / SEM 系统,所有这些都由赛默飞的专业应用和服务支持。 b.Wf*I?  
LeY!A#j  
电子光学 9H ~{2Un  
NICol 非浸没式超高分辨率场发射扫描镜筒,配有: \gd.Bl  
· 高稳定性肖特基场发射电子枪,用于提供稳定的高分辨率 分析电流 8p3pw=p  
· 60 度双物镜透镜,支持倾斜较大的样品 3'(w6V  
· 自动加热式光阑,可确保清洁和无接触式更换光阑孔 9r@T"$V#c  
· 连续电子束电流控制和优化的光阑角度 X8U._/'N  
· 电子枪安装和维护简单 自动烘烤,自动启动,无需机械合轴 _VIVZ2mU=  
· 两级扫描偏转 JpuF6mQ  
· 双物镜透镜,结合电磁透镜和静电透镜 ,XmTKO c  
· 快速电子束闸* mRI W9V  
· 用户向导和镜筒预设 O/;$0`~hY  
· 电子源寿命至少24个月 MguH)r` uT  
电子束分辨率 Gx75EQ2  
最佳工作距离下 Y)% CxaO `  
· 30keV 下 STEM  0.7nm q#W7.8 Z@  
· 1keV 下 1.4nm 15keV 下 1.2nm _SS6@`X  
· 1keV下 电子束减速模式 0.99nm* Oh9jr"Gm=  
e<|'   
电子束参数 7.O1 ~-  
· 电子束流范围(数显,连续可调):1pA  400nA r{~K8!=oU]  
· 加速及着陆电压:20V-30KV(连续可调) 5x/q\p-{/  
· 放大倍数范围:40x-1200x ]sz3:p=5  
· 最大水平视场宽度:7mm工作距离下为3.0mm,60mm工作 距离下为7.0mm,样品台到束交叉点85mm @=jcdn!\M  
· 导航蒙太奇功能可额外增大视场宽度 ebF},Q(48  
离子光学 =d_@k[8<0  
卓越的大束流Sidewinder离子镜筒 BS}uv3  
· 加速电压范围:500 V - 30 kV a ^+b(&;k  
· 离子束流范围:0.6pA  65nA(数值显示) 5S:&^ A<  
· 15 孔光阑 0-dhGh?.  
· 标配不导电样品漂移抑制模式 l\l\T<wa,  
· 离子源寿命至少1,300小时 kTQ`$V(>&  
· 离子束分辨率:30 kV下 3.0 nm(采用选边统计平均值法) !" E&Tk}  
探测器 h 9V9.'  
· Trinity 探测系统(透镜内和镜筒内) ^0t81,`  
- T1 分割式透镜内低位探测器 1KxtHLLU  
- T2 透镜内高位探测器 h~$Q\WCm#  
- T3可伸缩镜筒内探测器* )F;[  
- 可同步检测多达四种信号 o5+N_5OE}E  
· ETD Everhart-Thornley 二次电子探测器 U4*5o~!=S  
· ICE探测器 - 高性能离子转换和电子探测器,用于采集二次电子和二次离子* ZgO7W]Z4  
· DBS  可伸缩式低电压、高衬度、分割式固态背散射电子探测器* '{EBK  
· STEM 3+ 可伸缩分割式探测器(BF、DF、HAADF) * ["N>Po  
· 样品室红外 CCD 相机,用于样品台高度观察 gM|X":j  
· Nav-Cam™: 样品室内彩色光学相机,用于样品导航* x9PEYhL?  
· 电子束流测量* AR\1w'  
样品台和样品 CORNN8=k  
灵活五轴电动样品台:  /A|cO   
· XY范围:110mm _:om(gL  
· Z范围:65mm 2S^xqvh  
· 旋转:360 °(连续) {]-nYHGL  
· 倾斜范围:-15°到 +90° Xmy(pV!PF  
· XY重复精度:3μm (mHFyEG  
· 最大样品高度:与优中心点间隔85mm B\bIMjXV  
· 最大样品质量(0°倾斜):2kg(包括样品托) D@H'8C\  
· 最大样品尺寸:可沿X、Y轴完全旋转时直径为110mm(若样  品超出此限值,则样品台行程和旋转会受限) DSix(bs9  
· 同心旋转和倾斜 ->vfQwBFd  
真空系统 'w.:I TJf  
· 完全无油的真空系统 w&;\}IS  
· 样品仓真空(高真空):< 5.9 x 10 -6 mbar(24小时抽气后) =Fea vyx  
· 抽气时间:208秒 Jg|3Wjq5  
· 可选空压机和冷却循环水系统,分别用于冷却SEM镜筒及其它部件 nZQZ!Vfj  
D00rO4~6D%  
样品仓 9a)D8  
· 电子束和离子束夹角:52°,集成等离子清洗功能 3 Yl[J;i  
· 端口:21个 NVFAmX.Z:  
· 内径宽度:379mm #v-)Ie\F?  
样品托 a(Z" }m  
· 标准多功能样品托,以独特方式直接安装到样品台上,可容纳18个标准样品托架(φ12mm)、3个预倾斜样品托、 4BuS? #_  
2个垂直和2个预倾斜侧排托架*(38°和90°),样品安装 无需工具 M:?eK [h  
· 每个可选的侧排托架可容纳6个S/TEM铜网 451C2 %y  
· 各种晶片和定制化样品托可按要求提供* fE)+9!  
系统控制 B7t#H?  
· 64位GUI(s 7)、键盘、光学鼠标 n*D)RiW  
· 可同时激活多达4个视图,分别显示不同束图像和/或信号, 真彩信号混合 T4Z("  
· 本地语言支持:请与当地Thermo Fisher销售代表联系确认可用语言包 Fg4eIE-/M  
· 24英寸宽屏显示器 1920 x 1200(第二台显示器可选配) ^f!d8 V  
· Joystick 操纵杆* #eE:hiu<v  
· 多功能控制板* 4$.UVW\  
· 远程控制和成像* A@'):V8_%C  
图像处理器 @tjC{?5Y  
· 驻留时间范围:25纳秒 25 毫秒/像素 @]*z!>1  
· 最高 6144 × 4096 像素 nC`#Hm.V%  
· 文件类型:TIFF (8 位、16 位、24 位)、BMP或JPEG 标配 *goi^ Xp  
· SmartSCAN™ (256 帧平均或积分、线积分和平均法、跨行扫描) iG!MIt*  
· DCFI (漂移补偿帧积分) sutj G`m  
支持软件 $Ry NM2YI  
· “Beam per view”图形用户界面,可同步激活多达4个视图 !l6B_[!@  
· Thermo Scientific SPI™ (同步FIB加工和SEM成像)、iSPI™ (间歇式SEM成像和FIB加工)、 iRTM™(集成化实施监测)和 FIB 浸入模式,用于高级、实时SEM和FIB 过程监测和端点测量 |#5JI #,vX  
· 支持的图形:矩形、直线、圆形、清洁截面、常规截面、 多边形、位图、流文件、排除区、阵列 oB9Fas!N  
· 直接导入BMP文件或流文件进行三维刻蚀和沉积 0; V{yh  
· 材料文件支持“最短循环时间”、束调谐和独立重叠 ~`tc|Zu  
· 图像配准支持导入图像进行样品导航 5 +(YcV("  
· 光学图像上的样品导航 nEOhN  
· 撤销(Undo)/重做(Redo)功能 oF V9t{~j  
· DualBeam系统基本操作及应用用户指南 `-ENKr]  
· 智能扫描功能Smart Scan R52q6y:<x  
· 漂移补偿帧积分功能DCFI Xg!Mc<wA[  
· 蒙太奇导航功能 tvRa.3  
· 具备束流测量装置 0]>p|m9K^<  
· 实时观察离子束加工的监控功能 ; p\rgam  
m/Yi;>I(  
Thermoscitific原装配件* L?KEe>;r  
· GIS气体注入: 最多四台设备,每种气体配备独立的气体注入器,防止不同气体交叉污染,以提高蚀刻或沉积效果 (其他配件可能会限制可用的GIS数量) ,可选气体化学选项超过10种: o}WbW }&  
- 铂沉积 "c\T  
- 钨沉积 l`$f@'k  
- 碳沉积 Hg(\EEe  
- 绝缘体沉积II MzK&Jh  
- 金沉积 +~FH'DsT  
- 增强刻蚀(碘、专利) wK#UFOp  
- 绝缘体增强刻蚀(XeF2) Mm.!$uR  
- Delineation EtchTM(专利) (:T~*7/"  
- 二氧化硅增强刻蚀 o ]Vx6  
- 空坩埚,用于经批准的用户提供的材料 Y,E:?  
- 更多束化学选项可按要求提供 )J#@L*  
· Thermo Scientific EasyLiftTM 系统用于精确原位样品操纵 fXL>L   
· 用于制备好透射电镜样品后提出,与主机集成一体化控制 bk4%lYJ"  
· 漂移:49 nm/min ,u]kZ]  
· 步长精度:49nm fngZ0k!  
· FIB荷电中和器 $a5K  
· μHeater:高真空兼容,超快加热台,温度高达1200 ℃ ~q|^z[7  
· 分析:EDS、EBSD、WDS、CL 8CEy#%7]}  
· Thermo Scientific QuickLoaderTM :快速真空进样器 +oQ@E<)H  
· DualBeam 系统冷冻解决方案: 3'&]v6|  
- 独有的CryoMAT 用于材料科学冷冻应用 }P}l4k1W  
- 第三方供应商提供的解决方案 X#eVw|  
· 隔音罩 yY_]YeeR  
· Thermo Scientific CyroCleanerTM 系 统 c1n? @L  
· 集成等离子清洗 kt;X|`V{5z  
m5d;lrk@&/  
软件选项 I/^Lr_\  
· AutoTEM 4 软件:用于最快速、最简单的高度自动化 SxT:k,ji  
STEM 样品制备 pbm4C0W}  
· AS&V4 软件:自动化连续刻蚀和观察,采集连续切片图 T,?^J-h^  
像、EDS或EBSD 图像进行三维重建 AH#e>kU^  
· Avizo 三维重建及分析软件 ,hOJe=u46  
· Thermo Scientific MAPS™ 软件:用于大区域的自动图像 ]Uxx_1$,  
采集、拼接和关联 54 }s:[O  
· Thermo Scientific NanoBuilder™ 软件:先进的基于 2EE#60  
CAD(GDSII)的专有解决方案,用于复杂结构FIB 和束沉积优化的纳米原型制备 .2Rh_ful  
· iFast软件:适用于DualBeam系统的高级自动化套件 ]i$CE|~  
· 基于Web的数据库软件 !4z"a@$  
· 高级图像分析软件 kc "U)>  
保修和培训 ?=4J  
· 1年保修 *2@ q=R-1  
· 可选维修保养合同 BwBv 'p+n  
· 可选操作/应用培训合同 H9jj**W ;$  
文档和支持 bt j\v[D  
· 在线用户向导 }:hdAZ+z  
· 操作手册 +JQN=nTA  
· RAPID™ 支持文件(远程诊断支持)
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