| 探针台 |
2020-02-10 14:49 |
双束FIB---Scios 2 DualBeam
a;},y|'E 使用 Sidewinder HT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM 和原子探针样品 v.eN Wp Thermo Scientific NICol™ 电子镜筒可进行超高分辨率成像, 满足最广泛类型样品(包括磁性和不导电材料)的最佳成像需求 *Ru@F: 各类集成化镜筒内及极靴下探测器,采集优质、锐利、无荷电图像,提供最完整的样品信息 ;=.i+ 可选AS&V4软件,精确定位感兴趣区域,获取优质、多模态 内部和三维信息 rgth2y] 高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav-Cam™相机实现精确样品导航 #9HQW:On 专用的DCFI、漂移抑制技术和Thermo Scientific SmartScan™等模式实现无伪影成像和图形加工 h( lkC[a& 灵活的 DualBeam 配置,优化解决方案满足特定应用需求 Ww(($e! AGxtmBB; 通用型高性能双束系统 iF.eBL% zGm#erE Scios 2 DualBeam 提供最佳的样品制备、内部及三维表征性能,可满足最广泛类型样品的应用需求。 Rg4'9I%B M]\p9p(_ Thermo Scientifc™ Scios™ 2 DualBeam™ 系统是一款超高分辨率分析系统,可为最广泛类型的样品(包括磁性和不导电材料) 提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam 系统创新性的功能设计,优化了其样品处理能力、分析精度和易用性, 是满足科学家和工程师在学术、政府和工业研究环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。该系统于2013年推出市场,MTBF>1500hr,深受广大半导体用户爱戴。 ] qT\z<} V1aWVLltj 高质量 TEM 制样 m(~5X0 科学家和工程师不断面临新的挑战,需要对具有更小特征的日益复杂的样品进行高度局部化表征。Scios 2 DualBeam 系统的最新技术创新,结合最易于使用、最全面的 Thermo Scientific 'A#`,^]uLF AutoTEM™4软件(可选)和专业的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。 为了获得高质量的结果, 需要使用低能离子进行精抛,以最大限度地减少样品的表面损伤。Thermo Scientific Sidewinder™HT聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下提供高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。 [A@K)A$f ;4E.Yr* 高质量内部和三维信息 NF/@'QRT 内部或三维表征有助于更好地理解样品的结构和性质, Scios 2 qU ESN! DualBeam 系统配备 Thermo Scientific Auto Slice&View™4 `R}q&|o7< e|ChCvk (AS&V4)软件,可以高质量、全自动地采集多种三维信息,其中,三维 BSE 图像提供最佳材料衬度,三维 EDS 提供成分信息, 而三维 EBSD 提供显微结构和晶体学信息。结合Thermo Scientific Avizo™软件,Scios 2 DualBeam 系统可为纳米尺度的高分辨、先进三维表征和分析提供独特的工作流程解决方案。 QfLDyJv`e L;wfTZa 超高分辨成像并获取最全面的样品信息 {Q/XV= 创新的NICol电子镜筒为Scios 2 DualBeam 系统的高分辨率成像和检测功能奠定了基础。无论是在STEM模式下以30 keV来获取结构信息,还是在较低的能量下从样品表面获取无荷电信息, 系统可在最广泛的工作条件下提供出色的纳米级细节。系统独特的镜头内Thermo Scientific Trinity™检测技术可同时采集角度和能量选择性SE和BSE图像。无论是将样品竖直或倾斜放置进行观察,亦或者是观察样品截面,都可快速获取最详细的纳米级信 息。可选配的透镜下探测器和电子束减速模式可确保快速、轻松 地同时采集所有信号,以显示材料表面或截面中的最小特征。依托独特的NICol镜筒设计和全自动合轴功能,用户可获得快速、准确且可重复的结果。 1J(` kQ)c *-KgU'u? 帮助所有用户提高生产力 tS$^k)ZXip Scios 2 DualBeam系统可帮助所有经验水平用户更快、更轻松 [^iQE 地获得高质量、可重复的结果。系统提供用户向导,使新手用户可以轻松、快速地提高工作效率。此外,诸如“撤消”和“重做”之类的功能鼓励用户开展更多类型的实验。 1e Wl:S} 真实环境条件的样品原位实验 9XU"Ppv Scios 2 DualBeam系统专为材料科学中最具挑战性的材料微观 z(-j%? 表征需求而设计,配备了全集成化、极快速MEMS 热台μHeater, xG802?2i/; 可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。110毫米样品 台可倾斜至90˚,优中心工作距离更大,确保了系统极佳的灵活性。系统可选配低真空模式,可轻松兼容各种样品类型和数据采 集。同时,系统结合了扩展的沉积和蚀刻功能、优化的样品灵活 性和控制能力,成为最通用的高性能FIB / SEM 系统,所有这些都由赛默飞的专业应用和服务支持。 1M%'Xe7 SONv])); 电子光学 wHGiN9A+ NICol 非浸没式超高分辨率场发射扫描镜筒,配有: zF+NS]XK · 高稳定性肖特基场发射电子枪,用于提供稳定的高分辨率 分析电流 [K(|V · 60 度双物镜透镜,支持倾斜较大的样品 C26vH#C · 自动加热式光阑,可确保清洁和无接触式更换光阑孔 ]Q?`|a+i · 连续电子束电流控制和优化的光阑角度 %t*_Rtz\o · 电子枪安装和维护简单 自动烘烤,自动启动,无需机械合轴 &&(^;+
· 两级扫描偏转 ,4RmT\%T · 双物镜透镜,结合电磁透镜和静电透镜 (e:@7W)L · 快速电子束闸* x1g0_&F · 用户向导和镜筒预设 0?]Y^: · 电子源寿命至少24个月 [2]Ti_
>D 电子束分辨率 O'<5PwhG 最佳工作距离下 ZGstD2N$ · 30keV 下 STEM 0.7nm 5>E]C=maD · 1keV 下 1.4nm 15keV 下 1.2nm 5PaOa8=2f · 1keV下 电子束减速模式 0.99nm* RmR-uQU-c ~ULD{Ov'F 电子束参数 >";I3S-t · 电子束流范围(数显,连续可调):1pA 400nA P;A9t #\ · 加速及着陆电压:20V-30KV(连续可调) A Th<=1 · 放大倍数范围:40x-1200x *]L(,_:" · 最大水平视场宽度:7mm工作距离下为3.0mm,60mm工作 距离下为7.0mm,样品台到束交叉点85mm V^n?0^o · 导航蒙太奇功能可额外增大视场宽度 +pGkeZX 离子光学 7Ya4>*B 卓越的大束流Sidewinder离子镜筒 -?m"+mUP · 加速电压范围:500 V - 30 kV ("G
_{tVU · 离子束流范围:0.6pA 65nA(数值显示) /S}4J" · 15 孔光阑 .3yoDab · 标配不导电样品漂移抑制模式 /QA:`_</oh · 离子源寿命至少1,300小时 k<bA\5K · 离子束分辨率:30 kV下 3.0 nm(采用选边统计平均值法) 5Op|="W. 探测器 _$&C$q$ 1y · Trinity 探测系统(透镜内和镜筒内) j_3X
1w)k - T1 分割式透镜内低位探测器 A/WmVv6 - T2 透镜内高位探测器 :A~6Gk92A - T3可伸缩镜筒内探测器* scXY~l]I* - 可同步检测多达四种信号 @-L4<=$J · ETD Everhart-Thornley 二次电子探测器 z5V~m_RO · ICE探测器 - 高性能离子转换和电子探测器,用于采集二次电子和二次离子* s{"}!y=] · DBS 可伸缩式低电压、高衬度、分割式固态背散射电子探测器* +,"O#`sy< · STEM 3+ 可伸缩分割式探测器(BF、DF、HAADF) * !x%$xC^Iz · 样品室红外 CCD 相机,用于样品台高度观察 Q+Sx5JUR~ · Nav-Cam™: 样品室内彩色光学相机,用于样品导航* m$ubxI) · 电子束流测量* uBr^TM$k& 样品台和样品 RM5$O+" 灵活五轴电动样品台: J)*7JX · XY范围:110mm 4#dS.UfI · Z范围:65mm _m;H$N~I# · 旋转:360 °(连续) lk<}`#( g · 倾斜范围:-15°到 +90° u\&F`esQ2 · XY重复精度:3μm T5:p^;?g · 最大样品高度:与优中心点间隔85mm q6A"+w,N · 最大样品质量(0°倾斜):2kg(包括样品托) Rxl )[\A* · 最大样品尺寸:可沿X、Y轴完全旋转时直径为110mm(若样 品超出此限值,则样品台行程和旋转会受限) I%8>nMTJ · 同心旋转和倾斜 JB}jt)ol% 真空系统 JemB[ · 完全无油的真空系统 Vr|sRvz · 样品仓真空(高真空):< 5.9 x 10 -6 mbar(24小时抽气后) bhqV2y*' · 抽气时间:208秒 <Qx]"ZP% · 可选空压机和冷却循环水系统,分别用于冷却SEM镜筒及其它部件 3 P)N, =!?4$vW 样品仓 h;+bHrKji · 电子束和离子束夹角:52°,集成等离子清洗功能 "DpgX8lG_ · 端口:21个 <i!:{'% · 内径宽度:379mm $,s"c(pv[, 样品托 K6..N\7 · 标准多功能样品托,以独特方式直接安装到样品台上,可容纳18个标准样品托架(φ12mm)、3个预倾斜样品托、 B%L dH 2个垂直和2个预倾斜侧排托架*(38°和90°),样品安装 无需工具 54^2=bp · 每个可选的侧排托架可容纳6个S/TEM铜网 kuQ+MQHs · 各种晶片和定制化样品托可按要求提供* A;ti$jy 系统控制 EN\
uX! · 64位GUI(s 7)、键盘、光学鼠标 +|iJQF · 可同时激活多达4个视图,分别显示不同束图像和/或信号, 真彩信号混合 *#
7 1aZ · 本地语言支持:请与当地Thermo Fisher销售代表联系确认可用语言包 5nQxVwY · 24英寸宽屏显示器 1920 x 1200(第二台显示器可选配) &3_S+.JO · Joystick 操纵杆* xGBp+j1H · 多功能控制板* ywCF{rRd · 远程控制和成像* i*3*)l y 图像处理器 m})EYs1 · 驻留时间范围:25纳秒 25 毫秒/像素 Vs:x3)m5j · 最高 6144 × 4096 像素 UpoTXAD}k · 文件类型:TIFF (8 位、16 位、24 位)、BMP或JPEG 标配 "m'roU · SmartSCAN™ (256 帧平均或积分、线积分和平均法、跨行扫描) 8b!-2d:* · DCFI (漂移补偿帧积分) iN]#XIQ% 支持软件 {*lRI · “Beam per view”图形用户界面,可同步激活多达4个视图 *D_p FS^l · Thermo Scientific SPI™ (同步FIB加工和SEM成像)、iSPI™ (间歇式SEM成像和FIB加工)、 iRTM™(集成化实施监测)和 FIB 浸入模式,用于高级、实时SEM和FIB 过程监测和端点测量 )e|n7|} $ · 支持的图形:矩形、直线、圆形、清洁截面、常规截面、 多边形、位图、流文件、排除区、阵列 6M)4v{F · 直接导入BMP文件或流文件进行三维刻蚀和沉积 \c .^^8r · 材料文件支持“最短循环时间”、束调谐和独立重叠 9Z_!}eY2mc · 图像配准支持导入图像进行样品导航 =eB^(!M · 光学图像上的样品导航 {] Zet}2 · 撤销(Undo)/重做(Redo)功能 {CVn&|}J · DualBeam系统基本操作及应用用户指南 d8V)eZYXy~ · 智能扫描功能Smart Scan {
d*?O · 漂移补偿帧积分功能DCFI ~A-1x!YiU · 蒙太奇导航功能 `{
6K~( · 具备束流测量装置 Ug=)_~ · 实时观察离子束加工的监控功能 &i8UPp% 08pG)_L Thermoscitific原装配件* /^jV-Z` · GIS气体注入: 最多四台设备,每种气体配备独立的气体注入器,防止不同气体交叉污染,以提高蚀刻或沉积效果 (其他配件可能会限制可用的GIS数量) ,可选气体化学选项超过10种: o$[alh;c+W - 铂沉积 '4x uH3 - 钨沉积 ZR"BxE0_k - 碳沉积 ML= :&M!ao - 绝缘体沉积II HT@/0MF{J - 金沉积 0DIXd*oj & - 增强刻蚀(碘、专利) So^;5tG - 绝缘体增强刻蚀(XeF2) A@HCd&h - Delineation EtchTM(专利) @4EC z>Q - 二氧化硅增强刻蚀 /E|Ac&Qk - 空坩埚,用于经批准的用户提供的材料 <lxE^M - 更多束化学选项可按要求提供 ~,:
FZ1wh · Thermo Scientific EasyLiftTM 系统用于精确原位样品操纵 |mO4+:-~D+ · 用于制备好透射电镜样品后提出,与主机集成一体化控制 x8v2mnk · 漂移:49 nm/min >qT4'1S*g · 步长精度:49nm 9bVPMq7}i · FIB荷电中和器 Jd0I!L · μHeater:高真空兼容,超快加热台,温度高达1200 ℃ pZA0Go2!IN · 分析:EDS、EBSD、WDS、CL k#Bq8d · Thermo Scientific QuickLoaderTM :快速真空进样器 wFHbz9|@I · DualBeam 系统冷冻解决方案: ^<"^}Jh.M - 独有的CryoMAT 用于材料科学冷冻应用 <8_~60 - 第三方供应商提供的解决方案 1p%75VW · 隔音罩 ='"hB~[ · Thermo Scientific CyroCleanerTM 系 统 = "N?v- · 集成等离子清洗 F]4JemSjK kbHfdA 软件选项 .dvO Ut I[ · AutoTEM 4 软件:用于最快速、最简单的高度自动化 | @Mx?( STEM 样品制备 BIM!4MHLA · AS&V4 软件:自动化连续刻蚀和观察,采集连续切片图 wm<`0} 像、EDS或EBSD 图像进行三维重建 I\FBf&~ · Avizo 三维重建及分析软件 %x2_njDd · Thermo Scientific MAPS™ 软件:用于大区域的自动图像 },W<1*| 采集、拼接和关联 d2!A32m · Thermo Scientific NanoBuilder™ 软件:先进的基于 c'gV CAD(GDSII)的专有解决方案,用于复杂结构FIB 和束沉积优化的纳米原型制备 ET[vJnReC · iFast软件:适用于DualBeam系统的高级自动化套件 btV
Tt5 · 基于Web的数据库软件 /`b(} m · 高级图像分析软件 q]qKU`m!Q` 保修和培训 /l)|B · 1年保修 f#mcWL1} · 可选维修保养合同 U/|;u;H= · 可选操作/应用培训合同 Y>l92=G 文档和支持 )8rN · 在线用户向导 C72!::o · 操作手册 M~uX!bDH · RAPID™ 支持文件(远程诊断支持)
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