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探针台 2020-02-10 14:49

双束FIB---Scios 2 DualBeam

8 _|"+Ze  
使用 Sidewinder HT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM 和原子探针样品 mExJ--}  
Thermo Scientific NICol™ 电子镜筒可进行超高分辨率成像, 满足最广泛类型样品(包括磁性和不导电材料)的最佳成像需求 j38>5DM6L  
各类集成化镜筒内及极靴下探测器,采集优质、锐利、无荷电图像,提供最完整的样品信息 f ( ug3(j  
可选AS&V4软件,精确定位感兴趣区域,获取优质、多模态 内部和三维信息 Pw/$ }Q9X  
高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav-Cam™相机实现精确样品导航 g]m}@b6(h  
专用的DCFI、漂移抑制技术和Thermo Scientific SmartScan™等模式实现无伪影成像和图形加工 S)W(@R+@4  
灵活的 DualBeam 配置,优化解决方案满足特定应用需求 =e|  
z]n&,q,5g  
通用型高性能双束系统 g#r,u5<*?  
^k4 n  
Scios 2 DualBeam 提供最佳的样品制备、内部及三维表征性能,可满足最广泛类型样品的应用需求。 ;`rz]7,*  
Z.3*sp0 yv  
Thermo Scientifc™ Scios™ 2 DualBeam™ 系统是一款超高分辨率分析系统,可为最广泛类型的样品(包括磁性和不导电材料) 提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam 系统创新性的功能设计,优化了其样品处理能力、分析精度和易用性,  是满足科学家和工程师在学术、政府和工业研究环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。该系统于2013年推出市场,MTBF>1500hr,深受广大半导体用户爱戴。 <c]?  
=`MMB|{6  
高质量 TEM 制样 i$dF0.}Q  
科学家和工程师不断面临新的挑战,需要对具有更小特征的日益复杂的样品进行高度局部化表征。Scios 2 DualBeam 系统的最新技术创新,结合最易于使用、最全面的 Thermo Scientific ^/"2s}+  
AutoTEM™4软件(可选)和专业的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。 为了获得高质量的结果, 需要使用低能离子进行精抛,以最大限度地减少样品的表面损伤。Thermo Scientific Sidewinder™HT聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下提供高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。 e|Mw9DIW  
~RIa),GVX  
高质量内部和三维信息 ],w+4;+  
内部或三维表征有助于更好地理解样品的结构和性质, Scios 2 0w ;#4X:m  
DualBeam 系统配备 Thermo Scientific Auto Slice&View™4 {z*`* O@  
% QI6`@Y"  
  (AS&V4)软件,可以高质量、全自动地采集多种三维信息,其中,三维 BSE 图像提供最佳材料衬度,三维 EDS 提供成分信息, 而三维 EBSD 提供显微结构和晶体学信息。结合Thermo Scientific Avizo™软件,Scios 2 DualBeam 系统可为纳米尺度的高分辨、先进三维表征和分析提供独特的工作流程解决方案。 "Tc[1{eI  
L; 'C5#GN  
超高分辨成像并获取最全面的样品信息 A}z1~Z+  
创新的NICol电子镜筒为Scios 2 DualBeam 系统的高分辨率成像和检测功能奠定了基础。无论是在STEM模式下以30 keV来获取结构信息,还是在较低的能量下从样品表面获取无荷电信息,  系统可在最广泛的工作条件下提供出色的纳米级细节。系统独特的镜头内Thermo Scientific Trinity™检测技术可同时采集角度和能量选择性SE和BSE图像。无论是将样品竖直或倾斜放置进行观察,亦或者是观察样品截面,都可快速获取最详细的纳米级信  息。可选配的透镜下探测器和电子束减速模式可确保快速、轻松  地同时采集所有信号,以显示材料表面或截面中的最小特征。依托独特的NICol镜筒设计和全自动合轴功能,用户可获得快速、准确且可重复的结果。 eN-lz_..7  
$[g8j`or!  
帮助所有用户提高生产力 02mu%|"  
Scios 2 DualBeam系统可帮助所有经验水平用户更快、更轻松 =(W l'iG   
地获得高质量、可重复的结果。系统提供用户向导,使新手用户可以轻松、快速地提高工作效率。此外,诸如“撤消”和“重做”之类的功能鼓励用户开展更多类型的实验。 *}Nh7 >d(  
真实环境条件的样品原位实验 {14sI*b16  
Scios 2 DualBeam系统专为材料科学中最具挑战性的材料微观 ( Y)a`[B  
表征需求而设计,配备了全集成化、极快速MEMS 热台μHeater, pb}4{]sI  
可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。110毫米样品  台可倾斜至90˚,优中心工作距离更大,确保了系统极佳的灵活性。系统可选配低真空模式,可轻松兼容各种样品类型和数据采 集。同时,系统结合了扩展的沉积和蚀刻功能、优化的样品灵活 性和控制能力,成为最通用的高性能FIB / SEM 系统,所有这些都由赛默飞的专业应用和服务支持。 ;%Rp=&J  
<hzuPi@  
电子光学 :?z E@Ct  
NICol 非浸没式超高分辨率场发射扫描镜筒,配有: THHA~;00YN  
· 高稳定性肖特基场发射电子枪,用于提供稳定的高分辨率 分析电流 T(iL#2^  
· 60 度双物镜透镜,支持倾斜较大的样品 ;ksxz  
· 自动加热式光阑,可确保清洁和无接触式更换光阑孔 X2to](\% X  
· 连续电子束电流控制和优化的光阑角度 <7yn:  
· 电子枪安装和维护简单 自动烘烤,自动启动,无需机械合轴 *kKdL  
· 两级扫描偏转 Zm#qW2a]P  
· 双物镜透镜,结合电磁透镜和静电透镜 .Af H>)E  
· 快速电子束闸* F>co#  
· 用户向导和镜筒预设 }I ^e:,{  
· 电子源寿命至少24个月 XaR(~2  
电子束分辨率 {p M3f  
最佳工作距离下 5 @61=Au  
· 30keV 下 STEM  0.7nm KSy.  
· 1keV 下 1.4nm 15keV 下 1.2nm iYl$25k/1  
· 1keV下 电子束减速模式 0.99nm* 4Vrx9 sA1  
_~_6qTv-d  
电子束参数 2Wq/_:  
· 电子束流范围(数显,连续可调):1pA  400nA b%M|R%)]  
· 加速及着陆电压:20V-30KV(连续可调) q<!Kt I4  
· 放大倍数范围:40x-1200x &{(8EvuDd  
· 最大水平视场宽度:7mm工作距离下为3.0mm,60mm工作 距离下为7.0mm,样品台到束交叉点85mm V'XvwO@  
· 导航蒙太奇功能可额外增大视场宽度 d&5GkD.P  
离子光学 "RMvWuNt  
卓越的大束流Sidewinder离子镜筒 \|q.M0  
· 加速电压范围:500 V - 30 kV 0fU^  
· 离子束流范围:0.6pA  65nA(数值显示) /7-qb^V  
· 15 孔光阑 TM1J1GU  
· 标配不导电样品漂移抑制模式 SWM6+i p  
· 离子源寿命至少1,300小时 e \ rb  
· 离子束分辨率:30 kV下 3.0 nm(采用选边统计平均值法) ?ne!LDlE|  
探测器 et0yS%7+?@  
· Trinity 探测系统(透镜内和镜筒内) N~@VZbS(6  
- T1 分割式透镜内低位探测器 7z4u?>pne*  
- T2 透镜内高位探测器 {;j@-=pV  
- T3可伸缩镜筒内探测器* +)7Yqh#$  
- 可同步检测多达四种信号 >5}jM5$  
· ETD Everhart-Thornley 二次电子探测器 'c|Y*2@  
· ICE探测器 - 高性能离子转换和电子探测器,用于采集二次电子和二次离子* 0&|,HK  
· DBS  可伸缩式低电压、高衬度、分割式固态背散射电子探测器* {glRX R  
· STEM 3+ 可伸缩分割式探测器(BF、DF、HAADF) * =| M[JPr  
· 样品室红外 CCD 相机,用于样品台高度观察 ^7&0P m  
· Nav-Cam™: 样品室内彩色光学相机,用于样品导航* aok,qn'j  
· 电子束流测量* uSi/|  
样品台和样品 _Q3Ad>,U  
灵活五轴电动样品台: 1F_ 1bAh$  
· XY范围:110mm J>Uzd, /  
· Z范围:65mm .4-I^W"1  
· 旋转:360 °(连续) ua!g}m~  
· 倾斜范围:-15°到 +90° hV4\#K[  
· XY重复精度:3μm a,U@ !}K  
· 最大样品高度:与优中心点间隔85mm "3Z<V8xB  
· 最大样品质量(0°倾斜):2kg(包括样品托) HJ,sZ4*]]  
· 最大样品尺寸:可沿X、Y轴完全旋转时直径为110mm(若样  品超出此限值,则样品台行程和旋转会受限)  >o"3:/3  
· 同心旋转和倾斜 ^>fjURR  
真空系统 N}2xt)JZz  
· 完全无油的真空系统 VT&R1)c  
· 样品仓真空(高真空):< 5.9 x 10 -6 mbar(24小时抽气后) d^<a)>5h  
· 抽气时间:208秒 c(<,qWH  
· 可选空压机和冷却循环水系统,分别用于冷却SEM镜筒及其它部件 :,^pLAt  
(iZE}qf7 g  
样品仓 }uE8o"q  
· 电子束和离子束夹角:52°,集成等离子清洗功能 32*FISH^  
· 端口:21个 [ZP8l'?  
· 内径宽度:379mm `kP (2b  
样品托  _,2P4  
· 标准多功能样品托,以独特方式直接安装到样品台上,可容纳18个标准样品托架(φ12mm)、3个预倾斜样品托、 HLy}ta\  
2个垂直和2个预倾斜侧排托架*(38°和90°),样品安装 无需工具 2W=( {e)$  
· 每个可选的侧排托架可容纳6个S/TEM铜网 6!}tmdzR  
· 各种晶片和定制化样品托可按要求提供* "jUr[X2J  
系统控制 6T_Mk0Sf+  
· 64位GUI(s 7)、键盘、光学鼠标 ]d@@E_s]  
· 可同时激活多达4个视图,分别显示不同束图像和/或信号, 真彩信号混合 6QOdd 6_d  
· 本地语言支持:请与当地Thermo Fisher销售代表联系确认可用语言包 3e g<)  
· 24英寸宽屏显示器 1920 x 1200(第二台显示器可选配) D~xU r )E  
· Joystick 操纵杆* ]<;m;/ H  
· 多功能控制板* %q@eCN  
· 远程控制和成像* 43;@m}|7$  
图像处理器 Pb|'f(  
· 驻留时间范围:25纳秒 25 毫秒/像素 !m#cneV  
· 最高 6144 × 4096 像素 AE)<ee%\\  
· 文件类型:TIFF (8 位、16 位、24 位)、BMP或JPEG 标配 PIuk]&L^  
· SmartSCAN™ (256 帧平均或积分、线积分和平均法、跨行扫描) Odr@9MJ  
· DCFI (漂移补偿帧积分) !(hP{k ^g  
支持软件 !t["pr\ ?  
· “Beam per view”图形用户界面,可同步激活多达4个视图 w\'Zcw,d  
· Thermo Scientific SPI™ (同步FIB加工和SEM成像)、iSPI™ (间歇式SEM成像和FIB加工)、 iRTM™(集成化实施监测)和 FIB 浸入模式,用于高级、实时SEM和FIB 过程监测和端点测量 VT\o=3 _  
· 支持的图形:矩形、直线、圆形、清洁截面、常规截面、 多边形、位图、流文件、排除区、阵列 xi=qap=S^9  
· 直接导入BMP文件或流文件进行三维刻蚀和沉积 C'hI{4@P  
· 材料文件支持“最短循环时间”、束调谐和独立重叠 pX]*&[X?  
· 图像配准支持导入图像进行样品导航 jG0{>P#+  
· 光学图像上的样品导航 nzTzc5 w  
· 撤销(Undo)/重做(Redo)功能 OjCT*qyU<  
· DualBeam系统基本操作及应用用户指南 b\ %=mN  
· 智能扫描功能Smart Scan =>hq0F4[;  
· 漂移补偿帧积分功能DCFI D4m2*%M  
· 蒙太奇导航功能 ,$habq=;  
· 具备束流测量装置 MO :##C  
· 实时观察离子束加工的监控功能 SPIYB/C  
0:**uion  
Thermoscitific原装配件* (9BjZ&ej  
· GIS气体注入: 最多四台设备,每种气体配备独立的气体注入器,防止不同气体交叉污染,以提高蚀刻或沉积效果 (其他配件可能会限制可用的GIS数量) ,可选气体化学选项超过10种: ^)b*"o  
- 铂沉积 p1HU2APFP  
- 钨沉积 ? kew[oZ  
- 碳沉积 :rb<mg[  
- 绝缘体沉积II -uiZp !  
- 金沉积 uKqN  
- 增强刻蚀(碘、专利) )}?'1ciHI  
- 绝缘体增强刻蚀(XeF2) M%:ACLYP  
- Delineation EtchTM(专利) 9oP8| <+  
- 二氧化硅增强刻蚀 *&B*/HAN  
- 空坩埚,用于经批准的用户提供的材料 w?.0r6j  
- 更多束化学选项可按要求提供 !>/U6h,_  
· Thermo Scientific EasyLiftTM 系统用于精确原位样品操纵 qyc:;3?wm  
· 用于制备好透射电镜样品后提出,与主机集成一体化控制 W;,.OoDc>  
· 漂移:49 nm/min 9c806>]U^  
· 步长精度:49nm mqk~Pno|<  
· FIB荷电中和器 V5K!u8T  
· μHeater:高真空兼容,超快加热台,温度高达1200 ℃ .F.4fk  
· 分析:EDS、EBSD、WDS、CL K/G|MT)  
· Thermo Scientific QuickLoaderTM :快速真空进样器 'r4 j;Jn  
· DualBeam 系统冷冻解决方案: `6!l!8 v  
- 独有的CryoMAT 用于材料科学冷冻应用 -) $$4<L  
- 第三方供应商提供的解决方案 >E?626*  
· 隔音罩 !O)Ruwy  
· Thermo Scientific CyroCleanerTM 系 统 SMgf(N3]  
· 集成等离子清洗 p[&'*"o!/  
#:z.Br`  
软件选项 GfY!~J  
· AutoTEM 4 软件:用于最快速、最简单的高度自动化 m$A|Sx&sG$  
STEM 样品制备 E$f.&<>T  
· AS&V4 软件:自动化连续刻蚀和观察,采集连续切片图 c3!d4mC:  
像、EDS或EBSD 图像进行三维重建 ,a< !d  
· Avizo 三维重建及分析软件 S8<O$^L^  
· Thermo Scientific MAPS™ 软件:用于大区域的自动图像 -U"(CGb5  
采集、拼接和关联 ]m(Uv8/6  
· Thermo Scientific NanoBuilder™ 软件:先进的基于 ;04doub  
CAD(GDSII)的专有解决方案,用于复杂结构FIB 和束沉积优化的纳米原型制备 j$zw(EkN  
· iFast软件:适用于DualBeam系统的高级自动化套件 s9qr;}U.`  
· 基于Web的数据库软件 ;hmy7M1%  
· 高级图像分析软件 Eti;(>"@  
保修和培训 =4/lJm``  
· 1年保修 qbHb24I  
· 可选维修保养合同 &iL"=\#  
· 可选操作/应用培训合同 Oh~J yrZy  
文档和支持 'wLQ9o%=p|  
· 在线用户向导 4'?kyTO~  
· 操作手册 a7nbGqsx  
· RAPID™ 支持文件(远程诊断支持)
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