| 探针台 |
2020-02-10 14:49 |
双束FIB---Scios 2 DualBeam
v~\ 45eEA 使用 Sidewinder HT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM 和原子探针样品 |pqpF?h5| Thermo Scientific NICol™ 电子镜筒可进行超高分辨率成像, 满足最广泛类型样品(包括磁性和不导电材料)的最佳成像需求 IdxTo Mr 各类集成化镜筒内及极靴下探测器,采集优质、锐利、无荷电图像,提供最完整的样品信息 .F2nF8 可选AS&V4软件,精确定位感兴趣区域,获取优质、多模态 内部和三维信息 kA4ei 高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav-Cam™相机实现精确样品导航 6iG<"{/U5 专用的DCFI、漂移抑制技术和Thermo Scientific SmartScan™等模式实现无伪影成像和图形加工
x]oQl^F 灵活的 DualBeam 配置,优化解决方案满足特定应用需求 {*<C!Qg aA`q!s.%A 通用型高性能双束系统 Lf#G?]@ j6vZ{Fx;w Scios 2 DualBeam 提供最佳的样品制备、内部及三维表征性能,可满足最广泛类型样品的应用需求。 X{}#hyYk" kZ9<j+. Thermo Scientifc™ Scios™ 2 DualBeam™ 系统是一款超高分辨率分析系统,可为最广泛类型的样品(包括磁性和不导电材料) 提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam 系统创新性的功能设计,优化了其样品处理能力、分析精度和易用性, 是满足科学家和工程师在学术、政府和工业研究环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。该系统于2013年推出市场,MTBF>1500hr,深受广大半导体用户爱戴。 %j">&U.[ +c a296^ 高质量 TEM 制样 I_G>W3 科学家和工程师不断面临新的挑战,需要对具有更小特征的日益复杂的样品进行高度局部化表征。Scios 2 DualBeam 系统的最新技术创新,结合最易于使用、最全面的 Thermo Scientific NE3wui1 V AutoTEM™4软件(可选)和专业的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。 为了获得高质量的结果, 需要使用低能离子进行精抛,以最大限度地减少样品的表面损伤。Thermo Scientific Sidewinder™HT聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下提供高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。 x\.i`ukx ]$*{< 高质量内部和三维信息 _}@n_E 内部或三维表征有助于更好地理解样品的结构和性质, Scios 2 hPz
df*(8 DualBeam 系统配备 Thermo Scientific Auto Slice&View™4 =h::VB}Lv 2^6TrZA7M6 (AS&V4)软件,可以高质量、全自动地采集多种三维信息,其中,三维 BSE 图像提供最佳材料衬度,三维 EDS 提供成分信息, 而三维 EBSD 提供显微结构和晶体学信息。结合Thermo Scientific Avizo™软件,Scios 2 DualBeam 系统可为纳米尺度的高分辨、先进三维表征和分析提供独特的工作流程解决方案。 "t:.mA<v _[i=TqVmf 超高分辨成像并获取最全面的样品信息 i*R:WTw# 创新的NICol电子镜筒为Scios 2 DualBeam 系统的高分辨率成像和检测功能奠定了基础。无论是在STEM模式下以30 keV来获取结构信息,还是在较低的能量下从样品表面获取无荷电信息, 系统可在最广泛的工作条件下提供出色的纳米级细节。系统独特的镜头内Thermo Scientific Trinity™检测技术可同时采集角度和能量选择性SE和BSE图像。无论是将样品竖直或倾斜放置进行观察,亦或者是观察样品截面,都可快速获取最详细的纳米级信 息。可选配的透镜下探测器和电子束减速模式可确保快速、轻松 地同时采集所有信号,以显示材料表面或截面中的最小特征。依托独特的NICol镜筒设计和全自动合轴功能,用户可获得快速、准确且可重复的结果。 _c8.muQ< .)>/!|i 帮助所有用户提高生产力 9K46>_TyH Scios 2 DualBeam系统可帮助所有经验水平用户更快、更轻松 C;q}3c*L 地获得高质量、可重复的结果。系统提供用户向导,使新手用户可以轻松、快速地提高工作效率。此外,诸如“撤消”和“重做”之类的功能鼓励用户开展更多类型的实验。 npcBpGL{ 真实环境条件的样品原位实验 .k`*$1?73x Scios 2 DualBeam系统专为材料科学中最具挑战性的材料微观 Kxc$wN< 表征需求而设计,配备了全集成化、极快速MEMS 热台μHeater, BhW]Oq& 可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。110毫米样品 台可倾斜至90˚,优中心工作距离更大,确保了系统极佳的灵活性。系统可选配低真空模式,可轻松兼容各种样品类型和数据采 集。同时,系统结合了扩展的沉积和蚀刻功能、优化的样品灵活 性和控制能力,成为最通用的高性能FIB / SEM 系统,所有这些都由赛默飞的专业应用和服务支持。 s~Wu0%])Q sNfb %r 电子光学 R}w wC[{ NICol 非浸没式超高分辨率场发射扫描镜筒,配有: v*~%x · 高稳定性肖特基场发射电子枪,用于提供稳定的高分辨率 分析电流 E#$_uZ4 · 60 度双物镜透镜,支持倾斜较大的样品 ~hz@9E]O · 自动加热式光阑,可确保清洁和无接触式更换光阑孔 /;nO<X:XV · 连续电子束电流控制和优化的光阑角度 A
Ok7G?Y · 电子枪安装和维护简单 自动烘烤,自动启动,无需机械合轴 h2|vB+W- · 两级扫描偏转 (
ssH=a · 双物镜透镜,结合电磁透镜和静电透镜 @@/'b' · 快速电子束闸* _jrA?pY · 用户向导和镜筒预设 <]Pix) · 电子源寿命至少24个月 "aWX:WL&}s 电子束分辨率 [wio/wc 最佳工作距离下 +z(,A · 30keV 下 STEM 0.7nm .l( r8qY# · 1keV 下 1.4nm 15keV 下 1.2nm !|<f%UO · 1keV下 电子束减速模式 0.99nm* Wqs.oh :qCm71* 电子束参数 H"FflmUO · 电子束流范围(数显,连续可调):1pA 400nA '5xuT _ · 加速及着陆电压:20V-30KV(连续可调) ccN &h · 放大倍数范围:40x-1200x =!S@tuY · 最大水平视场宽度:7mm工作距离下为3.0mm,60mm工作 距离下为7.0mm,样品台到束交叉点85mm oa&US_ · 导航蒙太奇功能可额外增大视场宽度 ;h-G3>Il 离子光学 U.pr} hq 卓越的大束流Sidewinder离子镜筒 &Qq/Xi,bZ · 加速电压范围:500 V - 30 kV SEQO2`]e: · 离子束流范围:0.6pA 65nA(数值显示) [Yx-l;78 · 15 孔光阑 W-C0YU1 · 标配不导电样品漂移抑制模式
krr-ZiK · 离子源寿命至少1,300小时 R5NRCI · 离子束分辨率:30 kV下 3.0 nm(采用选边统计平均值法) |,a%z-l 探测器 S0.- >"L · Trinity 探测系统(透镜内和镜筒内) EAC(^+15K - T1 分割式透镜内低位探测器 GwMUIevO_ - T2 透镜内高位探测器 o^_W $4Fc - T3可伸缩镜筒内探测器* nXM9Px! - 可同步检测多达四种信号 g`)/ x\ · ETD Everhart-Thornley 二次电子探测器 KtfkE\KP · ICE探测器 - 高性能离子转换和电子探测器,用于采集二次电子和二次离子* c;b[u:>~- · DBS 可伸缩式低电压、高衬度、分割式固态背散射电子探测器* vbWJhjK0h · STEM 3+ 可伸缩分割式探测器(BF、DF、HAADF) * 'TK$ndy;7} · 样品室红外 CCD 相机,用于样品台高度观察 %|`:5s-T% · Nav-Cam™: 样品室内彩色光学相机,用于样品导航* KMpDlit · 电子束流测量* &v3D" J 样品台和样品 c<+g|@A# 灵活五轴电动样品台: }P&1s,S8J# · XY范围:110mm GFQG(7G9 · Z范围:65mm de=5=>P7 · 旋转:360 °(连续) K4?t' dd] · 倾斜范围:-15°到 +90° uGP[l`f|FQ · XY重复精度:3μm K'iS#i7 · 最大样品高度:与优中心点间隔85mm \]f5 · 最大样品质量(0°倾斜):2kg(包括样品托) Ersr\ZB · 最大样品尺寸:可沿X、Y轴完全旋转时直径为110mm(若样 品超出此限值,则样品台行程和旋转会受限) 8"?Vcw& · 同心旋转和倾斜 YoV^xl6g 真空系统 ?b*/ddIs · 完全无油的真空系统 c]%;^) · 样品仓真空(高真空):< 5.9 x 10 -6 mbar(24小时抽气后) oN&rq6eN · 抽气时间:208秒 fXF=F,!t · 可选空压机和冷却循环水系统,分别用于冷却SEM镜筒及其它部件 r6oX6.c %2@ Tj}xa 样品仓 ?;:9
W · 电子束和离子束夹角:52°,集成等离子清洗功能 mc0sdb,c$ · 端口:21个 (1kn): · 内径宽度:379mm 4hsPbUx9 样品托 .\ ;l-U · 标准多功能样品托,以独特方式直接安装到样品台上,可容纳18个标准样品托架(φ12mm)、3个预倾斜样品托、 f H#F"^A 2个垂直和2个预倾斜侧排托架*(38°和90°),样品安装 无需工具 OQytgXED · 每个可选的侧排托架可容纳6个S/TEM铜网 c]s(u+i · 各种晶片和定制化样品托可按要求提供* t5ny"k! 系统控制 +X* F<6mZ · 64位GUI(s 7)、键盘、光学鼠标 vCy.CN$ · 可同时激活多达4个视图,分别显示不同束图像和/或信号, 真彩信号混合 $n=W2WJ6f · 本地语言支持:请与当地Thermo Fisher销售代表联系确认可用语言包 ]/aRc=Gn · 24英寸宽屏显示器 1920 x 1200(第二台显示器可选配) VL_)]LR*) · Joystick 操纵杆* aJK-O"0/ · 多功能控制板* WX%h4)z* · 远程控制和成像* ;H7EB` 图像处理器 i63`B+L{ · 驻留时间范围:25纳秒 25 毫秒/像素 ]Wy^VcqX · 最高 6144 × 4096 像素 K:>NGGY8r · 文件类型:TIFF (8 位、16 位、24 位)、BMP或JPEG 标配 _qC+'RE3 · SmartSCAN™ (256 帧平均或积分、线积分和平均法、跨行扫描) W; 3
R; · DCFI (漂移补偿帧积分) p/ziFpU 支持软件 6T^N!3p_ · “Beam per view”图形用户界面,可同步激活多达4个视图 pTa'.m · Thermo Scientific SPI™ (同步FIB加工和SEM成像)、iSPI™ (间歇式SEM成像和FIB加工)、 iRTM™(集成化实施监测)和 FIB 浸入模式,用于高级、实时SEM和FIB 过程监测和端点测量 {Ior.(D>Y · 支持的图形:矩形、直线、圆形、清洁截面、常规截面、 多边形、位图、流文件、排除区、阵列 zVp[YOS&c · 直接导入BMP文件或流文件进行三维刻蚀和沉积 ~I8v5 H · 材料文件支持“最短循环时间”、束调谐和独立重叠 [5]R?bQ0q{ · 图像配准支持导入图像进行样品导航 &%|xc{i · 光学图像上的样品导航 w$DG=! · 撤销(Undo)/重做(Redo)功能 cOzg/~\1 · DualBeam系统基本操作及应用用户指南 L"""\5Bn( · 智能扫描功能Smart Scan Ux_EpC
· 漂移补偿帧积分功能DCFI X)FL[RO%q · 蒙太奇导航功能 HO266M · 具备束流测量装置 U-Af7qO · 实时观察离子束加工的监控功能 w"fCI13 3q'K5}
_ Thermoscitific原装配件* $x;tSJ)m~ · GIS气体注入: 最多四台设备,每种气体配备独立的气体注入器,防止不同气体交叉污染,以提高蚀刻或沉积效果 (其他配件可能会限制可用的GIS数量) ,可选气体化学选项超过10种: 2^zg0!z - 铂沉积 EHH|4;P6 - 钨沉积 #rhVzN-?)W - 碳沉积 2.StG(Y! - 绝缘体沉积II #D!$~h&i - 金沉积 QDIsC - 增强刻蚀(碘、专利) #[no~&E - 绝缘体增强刻蚀(XeF2) O"@?U - Delineation EtchTM(专利) Ix( 6 - 二氧化硅增强刻蚀 f2uZK!:m - 空坩埚,用于经批准的用户提供的材料 i0ILb/LS - 更多束化学选项可按要求提供 PfVEv * · Thermo Scientific EasyLiftTM 系统用于精确原位样品操纵 w0#%AK · 用于制备好透射电镜样品后提出,与主机集成一体化控制 ot-(4Y · 漂移:49 nm/min |C~Sr#6)7 · 步长精度:49nm /DLr( · FIB荷电中和器 |!$ Q<-]f · μHeater:高真空兼容,超快加热台,温度高达1200 ℃ a^@+%?X · 分析:EDS、EBSD、WDS、CL ceqFQ · Thermo Scientific QuickLoaderTM :快速真空进样器 cge-'/8w% · DualBeam 系统冷冻解决方案: =ft9T&ciD - 独有的CryoMAT 用于材料科学冷冻应用 ;
qO@A1Hq - 第三方供应商提供的解决方案 $`E4m8fX · 隔音罩 Z$Z`@&U= · Thermo Scientific CyroCleanerTM 系 统 {;U} :Dx · 集成等离子清洗 !?yxh/>lM 5fU!'ajaN7 软件选项 Jm?l59bv
v · AutoTEM 4 软件:用于最快速、最简单的高度自动化 eT;AAGql STEM 样品制备 cB{%u
' · AS&V4 软件:自动化连续刻蚀和观察,采集连续切片图 wUbmzP. 像、EDS或EBSD 图像进行三维重建 D 5=C^`$2 · Avizo 三维重建及分析软件 %(fL? · Thermo Scientific MAPS™ 软件:用于大区域的自动图像 rU],J!LF 采集、拼接和关联 1Pu
, :Jt · Thermo Scientific NanoBuilder™ 软件:先进的基于 55LgBD CAD(GDSII)的专有解决方案,用于复杂结构FIB 和束沉积优化的纳米原型制备 AzZi{Q ? · iFast软件:适用于DualBeam系统的高级自动化套件 ;9K[~ · 基于Web的数据库软件 mG
X\wta · 高级图像分析软件 C=8H)Ef,l 保修和培训 `hzd|GmX · 1年保修 H1Q''$}Z. · 可选维修保养合同 o\d |CE;> · 可选操作/应用培训合同 c qv.dC 文档和支持 ldP3n:7FS · 在线用户向导 t/ A:k · 操作手册 AmZuo_ · RAPID™ 支持文件(远程诊断支持)
|
|