探针台 |
2020-02-10 14:49 |
双束FIB---Scios 2 DualBeam
W}e[.iX; 使用 Sidewinder HT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM 和原子探针样品 ^%*{:0' Thermo Scientific NICol™ 电子镜筒可进行超高分辨率成像, 满足最广泛类型样品(包括磁性和不导电材料)的最佳成像需求 RH'F<!p 各类集成化镜筒内及极靴下探测器,采集优质、锐利、无荷电图像,提供最完整的样品信息 y1"^S 可选AS&V4软件,精确定位感兴趣区域,获取优质、多模态 内部和三维信息 VGDEP!)-8 高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav-Cam™相机实现精确样品导航 fN*4(yw 专用的DCFI、漂移抑制技术和Thermo Scientific SmartScan™等模式实现无伪影成像和图形加工 f$@". 灵活的 DualBeam 配置,优化解决方案满足特定应用需求 u,SX`6% +zdq+<9X 通用型高性能双束系统 p2NB~t7Z @%@^5 Scios 2 DualBeam 提供最佳的样品制备、内部及三维表征性能,可满足最广泛类型样品的应用需求。 >'1Q"$; v!'@NW_ Thermo Scientifc™ Scios™ 2 DualBeam™ 系统是一款超高分辨率分析系统,可为最广泛类型的样品(包括磁性和不导电材料) 提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam 系统创新性的功能设计,优化了其样品处理能力、分析精度和易用性, 是满足科学家和工程师在学术、政府和工业研究环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。该系统于2013年推出市场,MTBF>1500hr,深受广大半导体用户爱戴。 L pi_uK I{g2q B$6 高质量 TEM 制样 sImxa`kb 科学家和工程师不断面临新的挑战,需要对具有更小特征的日益复杂的样品进行高度局部化表征。Scios 2 DualBeam 系统的最新技术创新,结合最易于使用、最全面的 Thermo Scientific h9n<ped`A; AutoTEM™4软件(可选)和专业的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。 为了获得高质量的结果, 需要使用低能离子进行精抛,以最大限度地减少样品的表面损伤。Thermo Scientific Sidewinder™HT聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下提供高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。 \=G
Xe.}4d )J6b:W 高质量内部和三维信息 x#gmliF 内部或三维表征有助于更好地理解样品的结构和性质, Scios 2 D>x'3WYR DualBeam 系统配备 Thermo Scientific Auto Slice&View™4 h}%M o(SJuZC/U (AS&V4)软件,可以高质量、全自动地采集多种三维信息,其中,三维 BSE 图像提供最佳材料衬度,三维 EDS 提供成分信息, 而三维 EBSD 提供显微结构和晶体学信息。结合Thermo Scientific Avizo™软件,Scios 2 DualBeam 系统可为纳米尺度的高分辨、先进三维表征和分析提供独特的工作流程解决方案。 ,l?76g gMK3o8B/ 超高分辨成像并获取最全面的样品信息 z?_}+ 创新的NICol电子镜筒为Scios 2 DualBeam 系统的高分辨率成像和检测功能奠定了基础。无论是在STEM模式下以30 keV来获取结构信息,还是在较低的能量下从样品表面获取无荷电信息, 系统可在最广泛的工作条件下提供出色的纳米级细节。系统独特的镜头内Thermo Scientific Trinity™检测技术可同时采集角度和能量选择性SE和BSE图像。无论是将样品竖直或倾斜放置进行观察,亦或者是观察样品截面,都可快速获取最详细的纳米级信 息。可选配的透镜下探测器和电子束减速模式可确保快速、轻松 地同时采集所有信号,以显示材料表面或截面中的最小特征。依托独特的NICol镜筒设计和全自动合轴功能,用户可获得快速、准确且可重复的结果。 n_Hnk4 4a \+o] 帮助所有用户提高生产力 TtjSLkF Scios 2 DualBeam系统可帮助所有经验水平用户更快、更轻松 D i1G 地获得高质量、可重复的结果。系统提供用户向导,使新手用户可以轻松、快速地提高工作效率。此外,诸如“撤消”和“重做”之类的功能鼓励用户开展更多类型的实验。 ];}|h|q/{} 真实环境条件的样品原位实验 leYmVFE Scios 2 DualBeam系统专为材料科学中最具挑战性的材料微观 =$zr
t 表征需求而设计,配备了全集成化、极快速MEMS 热台μHeater, ?
A#z~;X@ 可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。110毫米样品 台可倾斜至90˚,优中心工作距离更大,确保了系统极佳的灵活性。系统可选配低真空模式,可轻松兼容各种样品类型和数据采 集。同时,系统结合了扩展的沉积和蚀刻功能、优化的样品灵活 性和控制能力,成为最通用的高性能FIB / SEM 系统,所有这些都由赛默飞的专业应用和服务支持。 oJu4vGy0 BHE =Zo 电子光学 rHdP4: n NICol 非浸没式超高分辨率场发射扫描镜筒,配有: i\z0{;f|GX · 高稳定性肖特基场发射电子枪,用于提供稳定的高分辨率 分析电流 +bd{W]={ · 60 度双物镜透镜,支持倾斜较大的样品 d\Z4?@T<5 · 自动加热式光阑,可确保清洁和无接触式更换光阑孔 3@ukkO) · 连续电子束电流控制和优化的光阑角度
;Wh[q*A · 电子枪安装和维护简单 自动烘烤,自动启动,无需机械合轴 }N9a!,{P=b · 两级扫描偏转 S_ -mmzC( · 双物镜透镜,结合电磁透镜和静电透镜 L#@$Mtc · 快速电子束闸* E|uXi)!.x · 用户向导和镜筒预设 u]-El}*[ · 电子源寿命至少24个月 KIY_EE$? 电子束分辨率 $I0a2Z=dP 最佳工作距离下 Cv7RCjMw · 30keV 下 STEM 0.7nm k+G4<qw · 1keV 下 1.4nm 15keV 下 1.2nm k#+^=F^)I · 1keV下 电子束减速模式 0.99nm* 5h^qtK VzM@DM]= ~ 电子束参数 v=WDs#" · 电子束流范围(数显,连续可调):1pA 400nA iw;Alav"x · 加速及着陆电压:20V-30KV(连续可调) acZ|H · 放大倍数范围:40x-1200x n?fC_dy
· 最大水平视场宽度:7mm工作距离下为3.0mm,60mm工作 距离下为7.0mm,样品台到束交叉点85mm &'2l_b · 导航蒙太奇功能可额外增大视场宽度 ,ZW.P` 离子光学 ^O:RS
g9 卓越的大束流Sidewinder离子镜筒 {cHTg04 · 加速电压范围:500 V - 30 kV 54_m{&hb · 离子束流范围:0.6pA 65nA(数值显示) 2-2LmxLG · 15 孔光阑 *<5lx[:4/x · 标配不导电样品漂移抑制模式 H$iMP.AK · 离子源寿命至少1,300小时 J@{Bv% · 离子束分辨率:30 kV下 3.0 nm(采用选边统计平均值法) kZEy 探测器 HY#("=9< h · Trinity 探测系统(透镜内和镜筒内) dM.Ow!j - T1 分割式透镜内低位探测器 '~=xP - T2 透镜内高位探测器 m,_oX1h - T3可伸缩镜筒内探测器* .kDCcnm
- 可同步检测多达四种信号 ArKrsI#H- · ETD Everhart-Thornley 二次电子探测器 g+{MvSj$ · ICE探测器 - 高性能离子转换和电子探测器,用于采集二次电子和二次离子* p)]^>-L · DBS 可伸缩式低电压、高衬度、分割式固态背散射电子探测器* k)_#u;qmG · STEM 3+ 可伸缩分割式探测器(BF、DF、HAADF) * $k=rd#3 · 样品室红外 CCD 相机,用于样品台高度观察 &G,v*5N8$K · Nav-Cam™: 样品室内彩色光学相机,用于样品导航* -0){C|,6 · 电子束流测量* uty]-k 样品台和样品 ht!:e>z&4 灵活五轴电动样品台: Ok"wec+, · XY范围:110mm Gwk@X/q · Z范围:65mm t)b>f~ · 旋转:360 °(连续) EE{%hGb · 倾斜范围:-15°到 +90° M/ \~ · XY重复精度:3μm cv&hT.1 · 最大样品高度:与优中心点间隔85mm du TSU9 · 最大样品质量(0°倾斜):2kg(包括样品托) ,
>6X_XJQ · 最大样品尺寸:可沿X、Y轴完全旋转时直径为110mm(若样 品超出此限值,则样品台行程和旋转会受限) RT9|E80 · 同心旋转和倾斜 wIPDeC4 真空系统 xk<0QYv
· 完全无油的真空系统 'a9.JS[pj · 样品仓真空(高真空):< 5.9 x 10 -6 mbar(24小时抽气后) &$
9bC't6 · 抽气时间:208秒 4K,&Q/Vdd7 · 可选空压机和冷却循环水系统,分别用于冷却SEM镜筒及其它部件 A]slssE+ g:V6B/M& 样品仓 C_;6-Q%V · 电子束和离子束夹角:52°,集成等离子清洗功能 ;!Mg,jlQ · 端口:21个 Z.:A26 · 内径宽度:379mm -UE-v 样品托 EkPSG&6RZ · 标准多功能样品托,以独特方式直接安装到样品台上,可容纳18个标准样品托架(φ12mm)、3个预倾斜样品托、 ;">hCM7 2个垂直和2个预倾斜侧排托架*(38°和90°),样品安装 无需工具 IEj`:]d · 每个可选的侧排托架可容纳6个S/TEM铜网 B!lw>rUMQ · 各种晶片和定制化样品托可按要求提供* |9@;Muq; 系统控制 x6]?}Q>>D · 64位GUI(s 7)、键盘、光学鼠标 Z%{2/mQ · 可同时激活多达4个视图,分别显示不同束图像和/或信号, 真彩信号混合 =!2 · 本地语言支持:请与当地Thermo Fisher销售代表联系确认可用语言包 |hAGgo/03 · 24英寸宽屏显示器 1920 x 1200(第二台显示器可选配) e;v2`2z2 · Joystick 操纵杆* &'j77tqOk · 多功能控制板* <aS1bQgaU · 远程控制和成像* A#{*A 图像处理器 v?t+%|dzA · 驻留时间范围:25纳秒 25 毫秒/像素 dzap]RpB · 最高 6144 × 4096 像素 5^i ^? · 文件类型:TIFF (8 位、16 位、24 位)、BMP或JPEG 标配 bEJZh%j! · SmartSCAN™ (256 帧平均或积分、线积分和平均法、跨行扫描) R2{X? 2|$ · DCFI (漂移补偿帧积分) 37DvI& 支持软件 /vU31_eZt · “Beam per view”图形用户界面,可同步激活多达4个视图 gfHlY Q] · Thermo Scientific SPI™ (同步FIB加工和SEM成像)、iSPI™ (间歇式SEM成像和FIB加工)、 iRTM™(集成化实施监测)和 FIB 浸入模式,用于高级、实时SEM和FIB 过程监测和端点测量 :>u{BG;=79 · 支持的图形:矩形、直线、圆形、清洁截面、常规截面、 多边形、位图、流文件、排除区、阵列 5VS<I\o} · 直接导入BMP文件或流文件进行三维刻蚀和沉积 >U].k8a) · 材料文件支持“最短循环时间”、束调谐和独立重叠 Nsy.!,!c · 图像配准支持导入图像进行样品导航 "O{sdVS · 光学图像上的样品导航 G"(!5+DLy · 撤销(Undo)/重做(Redo)功能 q}lSnWY[[ · DualBeam系统基本操作及应用用户指南
[DviN · 智能扫描功能Smart Scan mD:!"h/ · 漂移补偿帧积分功能DCFI xMu6PM<l · 蒙太奇导航功能
b(F`$N@7C · 具备束流测量装置 4i \n1RW · 实时观察离子束加工的监控功能 ?M);wBe( ?uLqB@!2 Thermoscitific原装配件* dcsd//E · GIS气体注入: 最多四台设备,每种气体配备独立的气体注入器,防止不同气体交叉污染,以提高蚀刻或沉积效果 (其他配件可能会限制可用的GIS数量) ,可选气体化学选项超过10种: z'o+3zq^ - 铂沉积 7UiU3SUcg - 钨沉积 ;F-kE4w - 碳沉积 .)Q'j94Q - 绝缘体沉积II 7>TG
]& - 金沉积 |gNOv;l - 增强刻蚀(碘、专利) ~EymD * - 绝缘体增强刻蚀(XeF2) G}g+2` - Delineation EtchTM(专利) gvX7+F=}B - 二氧化硅增强刻蚀 2P*O^-zRp - 空坩埚,用于经批准的用户提供的材料 $0
)K [K - 更多束化学选项可按要求提供 bk2vce& · Thermo Scientific EasyLiftTM 系统用于精确原位样品操纵 !{+(oDN · 用于制备好透射电镜样品后提出,与主机集成一体化控制 sj1x> · 漂移:49 nm/min wS*UXF&f · 步长精度:49nm ]`x~v4JU · FIB荷电中和器 @W8RAS~ · μHeater:高真空兼容,超快加热台,温度高达1200 ℃ kE1u-EA · 分析:EDS、EBSD、WDS、CL KR63W:Z\' · Thermo Scientific QuickLoaderTM :快速真空进样器 W NCd k$ · DualBeam 系统冷冻解决方案: >dO^pDSs - 独有的CryoMAT 用于材料科学冷冻应用 6K6ihR!d - 第三方供应商提供的解决方案 `%VrT` · 隔音罩 MC3{LVNK · Thermo Scientific CyroCleanerTM 系 统 :D EZ$gi · 集成等离子清洗 JL1Whf 0<!BzG 软件选项 UCFef,VW · AutoTEM 4 软件:用于最快速、最简单的高度自动化 b=sc2)3? STEM 样品制备 z\a#"2(G. · AS&V4 软件:自动化连续刻蚀和观察,采集连续切片图 5,A/6b 像、EDS或EBSD 图像进行三维重建 Z+4J4Ka^!( · Avizo 三维重建及分析软件 F C"dQ · Thermo Scientific MAPS™ 软件:用于大区域的自动图像 z;LntQZp- 采集、拼接和关联 !.!Ervi!N · Thermo Scientific NanoBuilder™ 软件:先进的基于 @jfd.? RK! CAD(GDSII)的专有解决方案,用于复杂结构FIB 和束沉积优化的纳米原型制备 DLVf7/=3~ · iFast软件:适用于DualBeam系统的高级自动化套件 3>Yec6Hs · 基于Web的数据库软件 )%0#XC^/X5 · 高级图像分析软件 \;~>AL* 保修和培训 %*,'&S · 1年保修 2Tp.S3 · 可选维修保养合同 0@>3fR · 可选操作/应用培训合同 IP-mo!Y. 文档和支持 aX~7NslR · 在线用户向导 B<W{kEY · 操作手册 hTF]-&
hZ · RAPID™ 支持文件(远程诊断支持)
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