| 探针台 |
2020-02-10 14:49 |
双束FIB---Scios 2 DualBeam
ff9D{ $V5 使用 Sidewinder HT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM 和原子探针样品 <$'OSN`! Thermo Scientific NICol™ 电子镜筒可进行超高分辨率成像, 满足最广泛类型样品(包括磁性和不导电材料)的最佳成像需求 IGd]! 各类集成化镜筒内及极靴下探测器,采集优质、锐利、无荷电图像,提供最完整的样品信息 @dCoh-Q3 可选AS&V4软件,精确定位感兴趣区域,获取优质、多模态 内部和三维信息 'Nv*ePz 高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav-Cam™相机实现精确样品导航 cvvba 60 专用的DCFI、漂移抑制技术和Thermo Scientific SmartScan™等模式实现无伪影成像和图形加工 bR!*z 灵活的 DualBeam 配置,优化解决方案满足特定应用需求 ca1A9fvo X4U$#uI{ 通用型高性能双束系统 u%vq<|~- jn9KQe\3 Scios 2 DualBeam 提供最佳的样品制备、内部及三维表征性能,可满足最广泛类型样品的应用需求。 {1V~`1(w a$SGFA}V Thermo Scientifc™ Scios™ 2 DualBeam™ 系统是一款超高分辨率分析系统,可为最广泛类型的样品(包括磁性和不导电材料) 提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam 系统创新性的功能设计,优化了其样品处理能力、分析精度和易用性, 是满足科学家和工程师在学术、政府和工业研究环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。该系统于2013年推出市场,MTBF>1500hr,深受广大半导体用户爱戴。 _"B5S?
+," /z\QO 高质量 TEM 制样
.* xaI+: 科学家和工程师不断面临新的挑战,需要对具有更小特征的日益复杂的样品进行高度局部化表征。Scios 2 DualBeam 系统的最新技术创新,结合最易于使用、最全面的 Thermo Scientific Ul@yXtj AutoTEM™4软件(可选)和专业的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。 为了获得高质量的结果, 需要使用低能离子进行精抛,以最大限度地减少样品的表面损伤。Thermo Scientific Sidewinder™HT聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下提供高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。 -%lA=pS{Fq ;X
]+r$_ 高质量内部和三维信息 $5`P~Q'U 内部或三维表征有助于更好地理解样品的结构和性质, Scios 2 ;|f|d?Q\ DualBeam 系统配备 Thermo Scientific Auto Slice&View™4 hYMo5 ? X
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% (AS&V4)软件,可以高质量、全自动地采集多种三维信息,其中,三维 BSE 图像提供最佳材料衬度,三维 EDS 提供成分信息, 而三维 EBSD 提供显微结构和晶体学信息。结合Thermo Scientific Avizo™软件,Scios 2 DualBeam 系统可为纳米尺度的高分辨、先进三维表征和分析提供独特的工作流程解决方案。 O!(M:. B#_<? 超高分辨成像并获取最全面的样品信息 E}d@0C: 创新的NICol电子镜筒为Scios 2 DualBeam 系统的高分辨率成像和检测功能奠定了基础。无论是在STEM模式下以30 keV来获取结构信息,还是在较低的能量下从样品表面获取无荷电信息, 系统可在最广泛的工作条件下提供出色的纳米级细节。系统独特的镜头内Thermo Scientific Trinity™检测技术可同时采集角度和能量选择性SE和BSE图像。无论是将样品竖直或倾斜放置进行观察,亦或者是观察样品截面,都可快速获取最详细的纳米级信 息。可选配的透镜下探测器和电子束减速模式可确保快速、轻松 地同时采集所有信号,以显示材料表面或截面中的最小特征。依托独特的NICol镜筒设计和全自动合轴功能,用户可获得快速、准确且可重复的结果。 emo@&6* +KV`+zic+ 帮助所有用户提高生产力 3%G>TB Scios 2 DualBeam系统可帮助所有经验水平用户更快、更轻松 _>8ZL)NQQ 地获得高质量、可重复的结果。系统提供用户向导,使新手用户可以轻松、快速地提高工作效率。此外,诸如“撤消”和“重做”之类的功能鼓励用户开展更多类型的实验。 ^b]h4z$ 真实环境条件的样品原位实验 c-L1 Bkw Scios 2 DualBeam系统专为材料科学中最具挑战性的材料微观 )Fh+6 表征需求而设计,配备了全集成化、极快速MEMS 热台μHeater, /[iqga= 可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。110毫米样品 台可倾斜至90˚,优中心工作距离更大,确保了系统极佳的灵活性。系统可选配低真空模式,可轻松兼容各种样品类型和数据采 集。同时,系统结合了扩展的沉积和蚀刻功能、优化的样品灵活 性和控制能力,成为最通用的高性能FIB / SEM 系统,所有这些都由赛默飞的专业应用和服务支持。 YzqUOMAt"V fWKI~/eUY| 电子光学 Ccld;c&+ NICol 非浸没式超高分辨率场发射扫描镜筒,配有: T\VKNEBo · 高稳定性肖特基场发射电子枪,用于提供稳定的高分辨率 分析电流 0Z{f!MOh · 60 度双物镜透镜,支持倾斜较大的样品 p^~AbU'6~ · 自动加热式光阑,可确保清洁和无接触式更换光阑孔 +,&8U&~` · 连续电子束电流控制和优化的光阑角度 gwj+~vSfi · 电子枪安装和维护简单 自动烘烤,自动启动,无需机械合轴 YQWGv,47\ · 两级扫描偏转 v&p|9C@ · 双物镜透镜,结合电磁透镜和静电透镜 /*)zQ?N · 快速电子束闸* K]{Y >w · 用户向导和镜筒预设 '`#sOH · 电子源寿命至少24个月 :d v{'O 电子束分辨率 ]3xb Q1 最佳工作距离下 A{Jp>15AVg · 30keV 下 STEM 0.7nm )aov]Ns · 1keV 下 1.4nm 15keV 下 1.2nm Nr?Z[6O| · 1keV下 电子束减速模式 0.99nm* | N%?7PZ(
Em?Z 电子束参数 h\#\hx · 电子束流范围(数显,连续可调):1pA 400nA >YwvM=b"V · 加速及着陆电压:20V-30KV(连续可调) }&+b\RE · 放大倍数范围:40x-1200x :C*7DS · 最大水平视场宽度:7mm工作距离下为3.0mm,60mm工作 距离下为7.0mm,样品台到束交叉点85mm &eL02:[ · 导航蒙太奇功能可额外增大视场宽度 1 PL2[_2: 离子光学 nKI]f`P7 卓越的大束流Sidewinder离子镜筒 =]k0*\PS · 加速电压范围:500 V - 30 kV R_IUuz$e · 离子束流范围:0.6pA 65nA(数值显示) f3Zm_zxj · 15 孔光阑 Id6H~; · 标配不导电样品漂移抑制模式 YIjY? · 离子源寿命至少1,300小时 AI{Tw>hZ · 离子束分辨率:30 kV下 3.0 nm(采用选边统计平均值法) V\$'3(* 探测器 k1l\Rywp · Trinity 探测系统(透镜内和镜筒内) eD4D<\* - T1 分割式透镜内低位探测器 }
+
]A?'& - T2 透镜内高位探测器 0!<qfT
a - T3可伸缩镜筒内探测器* u^HC1r|% - 可同步检测多达四种信号 #NU@7Q[4 · ETD Everhart-Thornley 二次电子探测器 *$K_Tii · ICE探测器 - 高性能离子转换和电子探测器,用于采集二次电子和二次离子* wKxw|Fpn · DBS 可伸缩式低电压、高衬度、分割式固态背散射电子探测器* 2a=3->D& · STEM 3+ 可伸缩分割式探测器(BF、DF、HAADF) * 00jW s@K · 样品室红外 CCD 相机,用于样品台高度观察 BvQMq5& · Nav-Cam™: 样品室内彩色光学相机,用于样品导航* e"7<&%
Oq · 电子束流测量* "DN0|%`M/ 样品台和样品 :G3PdQb^ 灵活五轴电动样品台: +rAmy · XY范围:110mm eh\_;2P · Z范围:65mm +,7nsWV · 旋转:360 °(连续) HQtR;[1 · 倾斜范围:-15°到 +90° 5`Q* · XY重复精度:3μm WP*xu-(: · 最大样品高度:与优中心点间隔85mm %rE:5) · 最大样品质量(0°倾斜):2kg(包括样品托) \9
,a"g · 最大样品尺寸:可沿X、Y轴完全旋转时直径为110mm(若样 品超出此限值,则样品台行程和旋转会受限) *Ubsa9'fS · 同心旋转和倾斜 W|X=R?*ZK 真空系统 S2y_5XJ<D · 完全无油的真空系统 B* 0TM+
· 样品仓真空(高真空):< 5.9 x 10 -6 mbar(24小时抽气后) 0d>|2QV · 抽气时间:208秒 b+=@;0p*6B · 可选空压机和冷却循环水系统,分别用于冷却SEM镜筒及其它部件 @477|LO QZwUv<* 样品仓 (,nQ7,2EX · 电子束和离子束夹角:52°,集成等离子清洗功能 Dq07Z^#' · 端口:21个 qQ&=Z`p! · 内径宽度:379mm `$PdI4~J 样品托
}?eO.l{ · 标准多功能样品托,以独特方式直接安装到样品台上,可容纳18个标准样品托架(φ12mm)、3个预倾斜样品托、 M Ewa^ 2个垂直和2个预倾斜侧排托架*(38°和90°),样品安装 无需工具 nXU`^<nA · 每个可选的侧排托架可容纳6个S/TEM铜网 -!@]z2uU · 各种晶片和定制化样品托可按要求提供* 6!39t 系统控制 k|hy_? * · 64位GUI(s 7)、键盘、光学鼠标 "A(D}~i · 可同时激活多达4个视图,分别显示不同束图像和/或信号, 真彩信号混合 ~ 3!yd0[k · 本地语言支持:请与当地Thermo Fisher销售代表联系确认可用语言包 h(~@
nd{ · 24英寸宽屏显示器 1920 x 1200(第二台显示器可选配) 1tZ7%0R\g] · Joystick 操纵杆* 'c7'iDM · 多功能控制板* NqlU? · 远程控制和成像* 8}M-b6RV 图像处理器 !n`9V^` · 驻留时间范围:25纳秒 25 毫秒/像素 "?*B2*|}` · 最高 6144 × 4096 像素 h5)4Z^n · 文件类型:TIFF (8 位、16 位、24 位)、BMP或JPEG 标配 AU$<W"%R · SmartSCAN™ (256 帧平均或积分、线积分和平均法、跨行扫描) eoj(zY3 · DCFI (漂移补偿帧积分) q1^bH6*fl 支持软件 tZXq<k9 · “Beam per view”图形用户界面,可同步激活多达4个视图 wiFA3_\G · Thermo Scientific SPI™ (同步FIB加工和SEM成像)、iSPI™ (间歇式SEM成像和FIB加工)、 iRTM™(集成化实施监测)和 FIB 浸入模式,用于高级、实时SEM和FIB 过程监测和端点测量 +X%pUe · 支持的图形:矩形、直线、圆形、清洁截面、常规截面、 多边形、位图、流文件、排除区、阵列 K' ?`'7 · 直接导入BMP文件或流文件进行三维刻蚀和沉积 uVth&4dh9 · 材料文件支持“最短循环时间”、束调谐和独立重叠 "F[e~S#V* · 图像配准支持导入图像进行样品导航 @
^q}.u` · 光学图像上的样品导航 c)j60y · 撤销(Undo)/重做(Redo)功能 m$.7) 24 · DualBeam系统基本操作及应用用户指南 >rhqhmh;W" · 智能扫描功能Smart Scan /$\N_`bM · 漂移补偿帧积分功能DCFI <@S'vcO · 蒙太奇导航功能 <B
Vx% · 具备束流测量装置 >6KwZr BB · 实时观察离子束加工的监控功能 u?4d<%5R! ]\1H=g%Ou Thermoscitific原装配件* x' v-]C(@ · GIS气体注入: 最多四台设备,每种气体配备独立的气体注入器,防止不同气体交叉污染,以提高蚀刻或沉积效果 (其他配件可能会限制可用的GIS数量) ,可选气体化学选项超过10种: ,Mr_F^| - 铂沉积 {1"kZL - 钨沉积 |jI|},I - 碳沉积 wzj:PS - 绝缘体沉积II F05]6NVv - 金沉积 'WNq/z"X - 增强刻蚀(碘、专利) no$X0ia - 绝缘体增强刻蚀(XeF2) m0i,Zw{eM - Delineation EtchTM(专利) C14"lB. - 二氧化硅增强刻蚀 v t_lM - 空坩埚,用于经批准的用户提供的材料 TV Zf@U - 更多束化学选项可按要求提供 "]bOpk T · Thermo Scientific EasyLiftTM 系统用于精确原位样品操纵 w5+(A_ · 用于制备好透射电镜样品后提出,与主机集成一体化控制 !lL~#l:F · 漂移:49 nm/min m;J'y2h =$ · 步长精度:49nm e>UU/Ks · FIB荷电中和器 &s{d r · μHeater:高真空兼容,超快加热台,温度高达1200 ℃ vX?C9Fr 2 · 分析:EDS、EBSD、WDS、CL |fB/ hs \ · Thermo Scientific QuickLoaderTM :快速真空进样器 P\y ZcL · DualBeam 系统冷冻解决方案: @rv)J[7Y& - 独有的CryoMAT 用于材料科学冷冻应用 cte
Wl/v - 第三方供应商提供的解决方案 58t_j54 · 隔音罩 ro+8d · Thermo Scientific CyroCleanerTM 系 统 SN 4JX · 集成等离子清洗 |&MOus#v {wl7&25 软件选项 kpRk.Q* · AutoTEM 4 软件:用于最快速、最简单的高度自动化 y5j ;Daq STEM 样品制备 q8)wAl · AS&V4 软件:自动化连续刻蚀和观察,采集连续切片图 n0FzDQt26 像、EDS或EBSD 图像进行三维重建 :(K JLa] · Avizo 三维重建及分析软件 QuBA'4ht · Thermo Scientific MAPS™ 软件:用于大区域的自动图像 6st^-L 采集、拼接和关联 `k7X| · Thermo Scientific NanoBuilder™ 软件:先进的基于 OD~yIV CAD(GDSII)的专有解决方案,用于复杂结构FIB 和束沉积优化的纳米原型制备 CHVAs9mrNB · iFast软件:适用于DualBeam系统的高级自动化套件 I%jlM0ZUI" · 基于Web的数据库软件 H~?7:K · 高级图像分析软件 iX6*OEl/Q 保修和培训 WQ9VcCY · 1年保修 6H!l>@a7v · 可选维修保养合同 XaaR>HljJ · 可选操作/应用培训合同 wn.UjxX. 文档和支持 VHLt,?G · 在线用户向导 y:Ag mr,S · 操作手册 .dn#TtQv · RAPID™ 支持文件(远程诊断支持)
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