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2019-12-09 16:31 |
VirtualLab:全场光学相干扫描干涉仪
摘要 p;0 PxL= KnJx{8@z 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 _42Z={pZZq r!kLV )_ [attachment=97186] Nt~x&s (0OM"`j 建模任务 7(C x!Yb n?:2.S.8
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(来源:讯技光电)
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