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2019-11-25 17:04 |
VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性
摘要 A}(xH`A 49FP&NgK 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 PMQTcQ^ '(K4@[3t [attachment=96956] B>u`%Ry& 1d<?K7%^ 建模任务 9SC1A -nF <$A,|m [attachment=96957] uQdeKp4( 概述 W6?=9].gc P2'c{],3V •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 e N`+ r •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 7FwtBO {aE[h[=r [attachment=96958] EW$drY@ A!Tl 光线追迹仿真 a`Bp^(f} 9Qyc!s` •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 (j>`+F5f •单击go! B7Ket8<J •获得了3D光线追迹结果。 w5Fk#zJv \O*ZW7?TJ [attachment=96959] bB@=J~l4 k4#j
l<R 光线追迹仿真 tGOJ4 = s}JifY` •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Gza=
0 •单击go! yBK$2to~ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
qiOtbH= QFTiE1mGH [attachment=96960] :h,}yBJ1L U<Oc&S{]* 场追迹仿真 2IJniS=[> zd$'8/Cq •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 #>yOp * •单击go!
:%sG'_d J5a8U&A [attachment=96961] `n,RC2yo +At[[ 场追迹仿真(相机探测器) 2Ys=/mh /
0$!. •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 {]Mwuqn •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 {"jtR<{) (6c/)MH [attachment=96962] q?frt3o R1JD{ 场追迹仿真(电磁场探测器) Ft;x@!h% •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 t<Sa;[+ i:Y5aZc/Ds [attachment=96963] %nJo:/ UR'v;V&Cb\ 场追迹仿真(电磁场探测器) fFEB#l!oUb [Zdrm:=]L •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 @oY+b!L m
+A4aQ9 [attachment=96964] i^WY/ OhL (x%
4* 文件信息 1.%|Er 4 m p_7$#{l [attachment=96965] S9DXd]6q_ 62;xK-U 更多阅读 Ot.v%D`e 5 m|JA}&A -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer it{Jd\/hR -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination @|h9jx| f0@*>
(来源:讯技光电)
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