| xunjigd |
2019-11-25 17:04 |
VirtualLab：分析高数值孔径物镜的聚焦特性
摘要 iulM8"P
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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 u]P0:)tS.
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建模任务 e[}R1/! L
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概述 v/f&rK* >
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 %&9tn0B
•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 8"+Re
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光线追迹仿真 HPs$R [
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 6Gjr8
•单击go！ P- ma~g>I
•获得了3D光线追迹结果。 4RsV\Y{FN
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光线追迹仿真 Dm6WSp1|b
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 D!TL~3d
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•单击go！ eFvw9B+
•结果得到点图（二维光线追迹结果）。 .EGZv (rz&
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场追迹仿真 {U4BPKof
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
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•单击go！ S'vi +_
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场追迹仿真（相机探测器） v#:#w.]-Y
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 \(j SkrrD
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 f;#hcRSH
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场追迹仿真（电磁场探测器） k2N[B(&4J
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 71nXROB
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场追迹仿真（电磁场探测器） QNzI
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 %0@Jm)K^
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文件信息 Z1u{.^~ ^z
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