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探针台 2019-09-17 14:13

焊点空洞现象检测与量测

L[`R8n1C  
X射线检测(2D X-ray) f+Pg1Q0zI  
原理: MA~|y_V  
X光射线 (以下简称X-Ray) 是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出,其具有非常短的波长但高电磁辐射线。而对于样品无法以外观方式检测之位置,利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生之对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题之区域。 3WQRN_  
主要应用: xgZV0!%  
IC封装中的缺点检验如﹕层剥离、爆裂、空洞以及打线的完整性检验。 er&uC4Y]a  
印刷电路板制程中可能产生的缺点,如﹕对齐不良或桥接以及开路。 ]#vvlM>/  
SMT焊点空洞现象检测与量测。 ]>]#zu$=c  
各式连接线路中可能产生的开路,短路或不正常连接的缺点检验。 MAm1w'ol"  
锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验。 6i*ArGA   
密度较高的塑料材质破裂或金属材质空洞检验。 Co{MIuL  
芯片尺寸量测,打线线弧量测,组件吃锡面积比例量测 r[C3u[  
x-ray检测速度快,效率高,成本低,不损害样品。是检测首选。
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