探针台 |
2019-09-17 14:13 |
焊点空洞现象检测与量测
E\=23[0 X射线检测(2D X-ray) e^Lt{/ 原理: A/U, | X光射线 (以下简称X-Ray) 是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出,其具有非常短的波长但高电磁辐射线。而对于样品无法以外观方式检测之位置,利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生之对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题之区域。 9iQc\@eGd 主要应用: f{u3RCfX~2 IC封装中的缺点检验如﹕层剥离、爆裂、空洞以及打线的完整性检验。 CXiSin 印刷电路板制程中可能产生的缺点,如﹕对齐不良或桥接以及开路。 #Q_
d SMT焊点空洞现象检测与量测。 U6R~aRJ; 各式连接线路中可能产生的开路,短路或不正常连接的缺点检验。 XnI)s^ 锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验。 >Sh"/3%q 密度较高的塑料材质破裂或金属材质空洞检验。 3eS
*U`_ 芯片尺寸量测,打线线弧量测,组件吃锡面积比例量测 n g?kl|VG x-ray检测速度快,效率高,成本低,不损害样品。是检测首选。
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