| 探针台 |
2019-08-07 10:54 |
失效分析、可靠性与材料理化技术
失效分析、可靠性与材料理化技术服务： zim]3%b*A;
原子发射光谱 ICP-OES UhQ [ |c
气相色谱质谱 GC/MS hn\<'|n
X荧光能谱 j3jf:7 /\
XRF 6<jh0=$
原子吸收 AAS (1p[K-J)r
紫外分光 UV $BKGPGmh
离子色谱 IC v1%rlP
等离子质谱 ICP-MS ieXhOA
显微傅利叶红外 Njsz=
FTIR <cm,U)j2
双晶X衍射分析仪 DCXRD ]o`qI#{R~R
以及其它各类分析检测仪器... HEH Tj,T
温度冲击 Thermal Shock m-9{@kgAM?
高温高湿 Z RN*.
TH !N:! x[5
老化试验 Burn-in '0)a|1,
紫外辐射 UV Oven {E`[ `Kf
太阳氙灯 Solar/Xenon ?n<b:oO
盐雾试验 Salt Mist vHSX 3\(
振动试验 7 wS )'zR;
Vibration TD:NL4dm
跌落 Shock -3`S;Dmn
回流敏感度 'lNy&
MSL `_Iy8rv:P
耐磨试验、弯折试验... 9[K".VeT]
声学扫描 SAM S^0Po% d
X-射线透射 X-Ray ;/?M &rX
俄歇电子成份分析 AES .v;$sst5y
光辐射电子显微镜 $/^DY&
EMMI d\& {Ev9v
有限元模拟与分析 FEA 4TcKs}z
透射电镜 TEM FG]xn(E
聚焦离子束 FIB J%`-K"NB
原子力显微镜 AFM ?oF+?l
热力学分析 ) * Mr{`
TMA/DMA ?u.&B P
集成电路分析仪... _Kdqa%L
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扫描电镜与能谱仪SEM/EDS NFq&a i
金相切片制样 Cross section _aa3;kT_
染色分析 Dye and MzZYzz
pry kSx^Uu *
开封制样 Decapsulation L -z37kG^
激光开封仪 Laser Decap 0G`_dMN
光学显微镜 Optical 2@K D
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Microscope `B6~KZ
拉力剪切力 Pull/Shear tester (
H CB\!g
可焊性试验机 Solderbility tester HE
GMwRJG
静电/过电分析仪 LV|ZZ.d h
ESD/EOS ^uB9EP*P
tester rMRM*`Q2
绝缘/开路电阻... )yvI {
认证、检测与工艺分析范围： cojtQ D 6
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 K=,nX7Z5
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； sXHrCU
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； Yd]y`J?#
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 #'5|$ug[
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； s b"z=4
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