| 探针台 |
2019-08-07 10:54 |
失效分析、可靠性与材料理化技术
失效分析、可靠性与材料理化技术服务： $=iw<B r
原子发射光谱 ICP-OES F+"_]
气相色谱质谱 GC/MS >
vdmN]
X荧光能谱 }R`Rqg-W
XRF NV7k@7_{B
原子吸收 AAS W1 k]P.
紫外分光 UV 0:f]&Ng
离子色谱 IC \ ?pyax8
等离子质谱 ICP-MS D|)a7 _
显微傅利叶红外 3pg =9 *{
FTIR ]?pQu '- (
双晶X衍射分析仪 DCXRD ]} dQ~lOE
以及其它各类分析检测仪器... XeX"IhgS>E
温度冲击 Thermal Shock DmpT<SI+ !
高温高湿 }x ?F53I)
TH #F`A (n
老化试验 Burn-in fqhL"Ah
紫外辐射 UV Oven >!6|yk`GJ
太阳氙灯 Solar/Xenon %Yj%0
盐雾试验 Salt Mist s bj/d~$N
振动试验 ;I&VpAPx
Vibration /TyGZ@S>m
跌落 Shock tLBtE!J$[
回流敏感度 $c 9-Q+pZ
MSL 8 q@Z
耐磨试验、弯折试验... %8,$ILN
声学扫描 SAM 5BJ E
X-射线透射 X-Ray PVsKI<
俄歇电子成份分析 AES Cm ZayV
光辐射电子显微镜 &)Xc'RQ.C
EMMI =eDIvNps
有限元模拟与分析 FEA CZ<T@k
透射电镜 TEM z Fo11;*D
聚焦离子束 FIB v d{QFJ
原子力显微镜 AFM <.Ws; HN}
热力学分析 ?@
F2Kv
TMA/DMA Y3Fj3NwS
集成电路分析仪... hW ~.F
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS 'v"=
金相切片制样 Cross section X` zWw_i
染色分析 Dye and <7M-?g:vj
pry <eoi e6@3
开封制样 Decapsulation W6&vyOc
激光开封仪 Laser Decap $VuXr=f}
光学显微镜 Optical j,.\QwpU
Microscope 3 r&
拉力剪切力 Pull/Shear tester }d<R
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可焊性试验机 Solderbility tester ,~1"50 Hp@
静电/过电分析仪 <h/%jM>9/
ESD/EOS >2'"} np*
tester z aqX};b
绝缘/开路电阻... 0B}4$STOo[
认证、检测与工艺分析范围： QO2cTk
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芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 [={mCGU
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； Z!)~?<gcq:
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； rm iOeS`:
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 WMSJU/-P
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； l4OrlS/ 5
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