| 探针台 |
2019-08-07 10:54 |
失效分析、可靠性与材料理化技术
失效分析、可靠性与材料理化技术服务： 4;d9bd)A
原子发射光谱 ICP-OES ^k?Ig.m
气相色谱质谱 GC/MS Ow]c,F}^
X荧光能谱 F D6>[W
XRF <)(S To
原子吸收 AAS )zVD!eG_9
紫外分光 UV "eal Yveu
离子色谱 IC e[8p /hId
等离子质谱 ICP-MS L$FLQyDR
显微傅利叶红外 .Su9fj y%
FTIR } Pc6_#
双晶X衍射分析仪 DCXRD ';!02=-@
以及其它各类分析检测仪器... l2!4}zI2
温度冲击 Thermal Shock 1)M>vdrP
高温高湿 eESJk 14
TH Fu (I<o+T-
老化试验 Burn-in p68)
0
紫外辐射 UV Oven scUWI"
太阳氙灯 Solar/Xenon KdOy3O_5N
盐雾试验 Salt Mist 8f |
振动试验 u]ZCYJ>
Vibration l$Y7CIH
跌落 Shock '%R Yo#
回流敏感度 N LC}XL
MSL ?H3xE=<X
耐磨试验、弯折试验... o ^ },L?
声学扫描 SAM A_@#V)D2
X-射线透射 X-Ray RxkcQL/Le
俄歇电子成份分析 AES MqI!i>
光辐射电子显微镜 -U=bC
EMMI @Tzh3,F2
有限元模拟与分析 FEA E 7axINca
透射电镜 TEM gKS0!U
聚焦离子束 FIB J%_
:A"
原子力显微镜 AFM */RtN`dh
热力学分析 fN>o465I6
TMA/DMA pFD L5
集成电路分析仪... qgU$0enSs
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS VHB5
金相切片制样 Cross section /W/ =OPe
染色分析 Dye and 8fJ- XFK$:
pry 6P!M+PO
开封制样 Decapsulation q=E< y
激光开封仪 Laser Decap /'p(X~X:l
光学显微镜 Optical Y9 , KOs
Microscope #Gs] u
拉力剪切力 Pull/Shear tester 5>JrTO 5
可焊性试验机 Solderbility tester BxO8oKe
静电/过电分析仪 >e"Cp bZ'
ESD/EOS icHc!m?
tester +X0?bVT
绝缘/开路电阻... zrG&p Z
认证、检测与工艺分析范围： {cKKTDN
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 TgVvp0F;
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； Fmk,
"qs
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； *9((b;Ju
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 $v+Q~\'
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； ED @9,W0
|
|