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探针台 2019-08-07 10:54

失效分析、可靠性与材料理化技术

失效分析、可靠性与材料理化技术服务: SZ7; } r8  
原子发射光谱 ICP-OES $H]NC-\+>  
气相色谱质谱 GC/MS .j=mT[N,I  
X荧光能谱 PAxR?2m{  
XRF U3UA  
原子吸收 AAS r6:e 423  
紫外分光 UV uY/C iTWr  
离子色谱 IC -w5sXnS  
等离子质谱 ICP-MS In+2~Jw/2!  
显微傅利叶红外 '* /$66|  
FTIR >l=^3B,j  
双晶X衍射分析仪 DCXRD >J)4e~9EJ2  
以及其它各类分析检测仪器... OjqT5<U  
温度冲击 Thermal Shock RZ ?SiwE  
高温高湿 !- 5z 1b)  
TH ;cp||uO  
老化试验 Burn-in x~{W(;`!  
紫外辐射 UV Oven .3cD.']%  
太阳氙灯 Solar/Xenon !(Q@1 c&z  
盐雾试验 Salt Mist sBqOcy  
振动试验 peOoZdJd  
Vibration P97i<pB Y_  
跌落 Shock -dfs8[i  
回流敏感度 sOS^  
MSL { 9\/aXPS  
耐磨试验、弯折试验... }n'W0 Sa  
声学扫描 SAM &!M6{O=~  
X-射线透射 X-Ray E&U_@ bc-  
俄歇电子成份分析 AES NmF8BmIj  
光辐射电子显微镜 mQ:YHtHE.F  
EMMI BlcsDB =ka  
有限元模拟与分析 FEA 8LXK3D}?3  
透射电镜 TEM I9`ZK2S  
聚焦离子束 FIB !67xN?b  
原子力显微镜 AFM imhE=6{  
热力学分析 h]&~yuI>  
TMA/DMA t}OzF cyqN  
集成电路分析仪... h|lH`m^  
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS :C,}DyZy  
金相切片制样 Cross section W`TSR?4~t?  
染色分析 Dye and UQ@szE  
pry e#F3KLSL`  
开封制样 Decapsulation kVG+Wr7l0F  
激光开封仪 Laser Decap '- #QK'p  
光学显微镜 Optical t'.:"H8BI  
Microscope [UB*39D7  
拉力剪切力 Pull/Shear tester R4$(NNC+/  
可焊性试验机 Solderbility tester M 8(w+h{  
静电/过电分析仪 Py/~Q-8p  
ESD/EOS Ae1b`%To  
tester ~lqNWL^l  
绝缘/开路电阻... z92Xc  
认证、检测与工艺分析范围: 8|5+\1!#/)  
芯片级:Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 <JvYCWX`  
器件级:集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等;封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等; v!3Oq.ot  
部件级:PCB与PCBA,柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等; 8+32hg@^F  
系统级:信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源,网卡,摄像头,移动硬盘,数码相机,显示器,扫描仪,投影仪,机顶盒,光电收发器,MP3/MP4,HUB,照明 `G:hC5B  
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机,来电显示器,汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等;化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等; -mLu!32I<  
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