| 探针台 |
2019-08-07 10:54 |
失效分析、可靠性与材料理化技术
失效分析、可靠性与材料理化技术服务： <j< V{Wc
原子发射光谱 ICP-OES \8} !aTC
气相色谱质谱 GC/MS |ler\"Eu
X荧光能谱 ~w,c6 Z
XRF p3q
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原子吸收 AAS ToXgl4:kd
紫外分光 UV A7c* qBt
离子色谱 IC ! !we4tWq
等离子质谱 ICP-MS v|K'M,E
显微傅利叶红外 V0 O6\) /.
FTIR %%c1@2G<
双晶X衍射分析仪 DCXRD kHhxR;ymA7
以及其它各类分析检测仪器... GLpl
温度冲击 Thermal Shock 5nA
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高温高湿 v&]k8 Hc-
TH G p.XTz#=
老化试验 Burn-in 0g{`Q d
紫外辐射 UV Oven Mcfqo0T-
太阳氙灯 Solar/Xenon N0POyd/rL
盐雾试验 Salt Mist p\).zuEf.
振动试验 +WTO_J7
Vibration TilCP"(6D
跌落 Shock gT&s &0_7
回流敏感度 t"Tv(W?_
MSL %={[ e`,
耐磨试验、弯折试验... J4l \
声学扫描 SAM "WfVZBWG$
X-射线透射 X-Ray U1 y8Y/
俄歇电子成份分析 AES ^lP;JT?
光辐射电子显微镜 gb vMS*KQz
EMMI ENhKuX
有限元模拟与分析 FEA u$%;03hJ
透射电镜 TEM ]K!NLvz
聚焦离子束 FIB \ y}!yrQ
原子力显微镜 AFM \nbGdka
热力学分析 dZ6P)R
TMA/DMA :+? w>
集成电路分析仪... l RM7s(^l
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS |J^}BXW'^)
金相切片制样 Cross section D~T;z pS
染色分析 Dye and q?0&&"T}
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开封制样 Decapsulation ;Im%L=q9GL
激光开封仪 Laser Decap 5f jL
光学显微镜 Optical |]UR& *
Microscope <oKoz0!
拉力剪切力 Pull/Shear tester ~bnyk%S
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可焊性试验机 Solderbility tester Gzw9E.Hk
静电/过电分析仪 G4jyi&]
ESD/EOS {?YBJnG}x
tester *P;
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绝缘/开路电阻... G 5!J9@Yi
认证、检测与工艺分析范围： 'Z}3XVZEN
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 J-U5_>S
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； !l|fzS8g
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； {W11+L{8
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 A8T75?lL(
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； '?O_(%3F0
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