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探针台 2019-08-07 10:54

失效分析、可靠性与材料理化技术

失效分析、可靠性与材料理化技术服务: Pg7Yp2)Oli  
原子发射光谱 ICP-OES X)3!_  
气相色谱质谱 GC/MS Ozf@6\/t  
X荧光能谱 Kx JqbLUC  
XRF r" ,GC]  
原子吸收 AAS S ByW[JE  
紫外分光 UV y"wShAR  
离子色谱 IC FzC'G57Kl  
等离子质谱 ICP-MS DM>eVS3}  
显微傅利叶红外 g eCM<]  
FTIR l1Fc>:o{  
双晶X衍射分析仪 DCXRD .#pU=v#/[  
以及其它各类分析检测仪器... k|d+#u[Mj@  
温度冲击 Thermal Shock u> 7=AlWF-  
高温高湿 =odFmF  
TH }RqK84K  
老化试验 Burn-in $iz|\m  
紫外辐射 UV Oven (dSL7nel;L  
太阳氙灯 Solar/Xenon *~i ])4  
盐雾试验 Salt Mist '2^Q1{ :\  
振动试验 #Mw8^FST  
Vibration 8}UI bF  
跌落 Shock wj0\$NQ=x  
回流敏感度 q5:N2Jmo?z  
MSL ?FcAXA/J{  
耐磨试验、弯折试验... S{m% H{A!  
声学扫描 SAM E< fVZ,  
X-射线透射 X-Ray um0N)&iY  
俄歇电子成份分析 AES 4{`{WI{  
光辐射电子显微镜 ekCC5P!  
EMMI MFk5K  
有限元模拟与分析 FEA @;RXLq/8  
透射电镜 TEM gB'6`'  
聚焦离子束 FIB [ibu/ W$  
原子力显微镜 AFM D,FkB"ZZE  
热力学分析 n.(FQx.F  
TMA/DMA 'b{]:Y  
集成电路分析仪... <UQbt N-B\  
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS tZG:Pr1U@  
金相切片制样 Cross section @sC`!Rmy'-  
染色分析 Dye and n7-6- #  
pry E~oOKQ5W  
开封制样 Decapsulation BF{Y"8u$  
激光开封仪 Laser Decap ~R92cH>L  
光学显微镜 Optical RrQJ/ts7}  
Microscope !Q0w\j h  
拉力剪切力 Pull/Shear tester 6,{$J  
可焊性试验机 Solderbility tester k+pr \d~  
静电/过电分析仪 ^.NU|NQi'  
ESD/EOS (JFWna0@  
tester ?<'}r7D   
绝缘/开路电阻... "1 M[5\Ax  
认证、检测与工艺分析范围: ;;N9>M?b  
芯片级:Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 ^ (zYzd  
器件级:集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等;封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等; ^$hH1H+V  
部件级:PCB与PCBA,柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等; |8tilOqI  
系统级:信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源,网卡,摄像头,移动硬盘,数码相机,显示器,扫描仪,投影仪,机顶盒,光电收发器,MP3/MP4,HUB,照明 _zi|  
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机,来电显示器,汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等;化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等; wDe& 1(T^  
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