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2019-08-07 10:54 |
失效分析、可靠性与材料理化技术
失效分析、可靠性与材料理化技术服务： E+ |K3EJ
原子发射光谱 ICP-OES V'gJtF
气相色谱质谱 GC/MS o:&8H>(hn]
X荧光能谱 8f1M6GK?
XRF 3d]~e
原子吸收 AAS d&AO 4^
紫外分光 UV T`MM<+^G
离子色谱 IC '7}2}KD
等离子质谱 ICP-MS 2
6DX 4
显微傅利叶红外 JS/ ChoU
FTIR 4x}U+1B
双晶X衍射分析仪 DCXRD d#XgO5eyO
以及其它各类分析检测仪器... Uf|uFGb
温度冲击 Thermal Shock ]R>NmjAI
高温高湿 h-|IZ}F7
TH .j g@UAK
老化试验 Burn-in 'sXrtl7{^
紫外辐射 UV Oven R?;mu^B
太阳氙灯 Solar/Xenon b`$qKO
盐雾试验 Salt Mist 5|~nX8>
振动试验
EADN
Vibration xJAQ'ANr
跌落 Shock kYWna Y ^F
回流敏感度 |5%T)
MSL 4F9!3[}qF
耐磨试验、弯折试验... G3`9'-2q@c
声学扫描 SAM pdR\Ne0P*
X-射线透射 X-Ray m ?4hEwQxf
俄歇电子成份分析 AES `)5WA{z
光辐射电子显微镜 _WvVF*Q"k
EMMI BgD3P.;[
有限元模拟与分析 FEA \b%c_e
透射电镜 TEM mj ?Gc
聚焦离子束 FIB SD :D8"8
原子力显微镜 AFM d/jP2uu A
热力学分析 -b{<V rZ
TMA/DMA -)^vO*b 0
集成电路分析仪... ]M l
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS {Q37a=;,
金相切片制样 Cross section 7M4J{}9
染色分析 Dye and UimofFmI%
pry GS=E6
开封制样 Decapsulation fz`)CWo:
激光开封仪 Laser Decap ~-6_-Y|
光学显微镜 Optical akt7rnt?i
Microscope 8C8S)
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拉力剪切力 Pull/Shear tester $pAJ$0=sw
可焊性试验机 Solderbility tester Ex
z B{ "
静电/过电分析仪 ~
z3J4s
ESD/EOS jc )7FE
tester &z1U0uk
绝缘/开路电阻... d4BzFGsW
认证、检测与工艺分析范围： lH`TF_
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 RqGX(Iuv
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； ha$1vi}b
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； jk&xzJH.
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 "FA. T7G
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； c QuL9Xo
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