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2019-08-07 10:54 |
失效分析、可靠性与材料理化技术
失效分析、可靠性与材料理化技术服务： 0W9,uC2:N
原子发射光谱 ICP-OES u%#bu^4"
气相色谱质谱 GC/MS Jk|c!,!
X荧光能谱 $ r9Sn
XRF ooByGQ90V:
原子吸收 AAS _5.^A&Y*
紫外分光 UV '> Y"s|
离子色谱 IC 4W~pAruwr
等离子质谱 ICP-MS AU$W=Z*
显微傅利叶红外 r<Ll>R
FTIR ge[f/"u
双晶X衍射分析仪 DCXRD "a; JQ:
以及其它各类分析检测仪器... "W|Sh#JF
温度冲击 Thermal Shock IC/'<%k
高温高湿 4)-LlYS_d<
TH YrjF1hJ
老化试验 Burn-in y:D|U!o2V
紫外辐射 UV Oven R|ViLt y
太阳氙灯 Solar/Xenon Ezm ~SY
盐雾试验 Salt Mist zhU)bb[A
振动试验 b -@V R
Vibration .3A66 O~zT
跌落 Shock )wo'i]#2:
回流敏感度 G#8HY VF
MSL "N"9PTX
耐磨试验、弯折试验... NHUx- IqOX
声学扫描 SAM ^/2n[orl5
X-射线透射 X-Ray !t{3IE
俄歇电子成份分析 AES M/ 0!B_(R
光辐射电子显微镜 'u{m37ZJ
EMMI v1QE|@
有限元模拟与分析 FEA o ';sHa'
透射电镜 TEM "44VvpQC
聚焦离子束 FIB ~a4htj
原子力显微镜 AFM x ,STt{I=
热力学分析 @/ wJW`` ;
TMA/DMA ?7'uo$
集成电路分析仪... { o=4(R C
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS Z+=W gEu1
金相切片制样 Cross section pN&5vu30
染色分析 Dye and B5 IS-d
pry (01M 0b#
开封制样 Decapsulation 9l@VxX68M
激光开封仪 Laser Decap ddmTMfH
光学显微镜 Optical -wy$ ?Ha
Microscope m\__F l
拉力剪切力 Pull/Shear tester .ZFs+8qU>
可焊性试验机 Solderbility tester !ui i|"
静电/过电分析仪 gXZ.je) NM
ESD/EOS [2gK^o&t
tester 8 =FP92X
绝缘/开路电阻... [bIdhG
认证、检测与工艺分析范围： :;t*:iG
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 29
L~SMf
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； G %
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； z[ B*sbS
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 {j+w|;dZF
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； o> W H;EBL
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