| 探针台 |
2019-08-06 13:55 |
BGA焊点分析检测
由于IC芯片的特征尺寸要求越来越小,且复杂程度不断增加,使得企业开始寻求新的高密度封装技术,BGA封装技术应运而生。尽管BGA器件的性能和组装优于常规元器件,但BGA封装技术的发展仍受限于BGA焊点的质量和可靠性。 Q-k{Lqa- 针对不同产品不同的焊点缺陷问题,需要选择适宜的检测方法。今天我们就来介绍一下BGA焊点缺陷或失效的几个常用的检测方法,帮助大家深入了解到不同检测方法的不同优势及典型案例,更好的进行选择。 8%nb1CA Y9F!HM-` 非破坏性检测方法 k4FxdX 一、目视检测焊点质量 3Sv<Viuo 目视检测在整个电子产品生产过程中都可进行,通过高倍放大镜对焊点进行观察,从外观上初步检测焊点是否存在明显缺陷。 '5\7>2fI 目的:能简便、快速、直接的对焊点进行观察,可以观察焊点外部有没有连焊、周围表面的情况等。 ( 6|S42 但目视检测的局限性很大,只能在没有检测设备的情况下,用作初步判断,无法判断焊点内部是否存在其他缺陷或焊点表面是否有空洞等。 (,#Rj$W 二、X-ray检测焊点质量 '8R5?9" X-ray检测是一种无损的物理透视方法,即为在不破坏芯片情况下,利用X射线透视元器件,检测元器件的内部封装情况,如气泡、裂纹、绑定线异常等。 &`[y] E' {f3&s4xj= 2DX-ray t."hAvRL 对于样品无法以目视方式检测的位置,利用纪录X-ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物的内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。 n7>CK?25 目的:通过X射线扫描能快速、有效的观察,能判别空焊,虚焊等BGA焊接缺陷,BGA、线路板等内部位移的分析,架桥、短路方面的缺点等。 B`3RyM"J @ 0wU8PZ Nj 但2DX-ray存在一定的局限性,只能观察二维平面图像,原理是将三维立体的实物样品显示在二维的显示屏上成像,对于结构复杂的产品,不同深度方向上的信息都重叠在一起,极易混淆。例如,在同一位置的不同面均存在元器件的情况下,焊锡形成的阴影会重叠起来,影响检测结果的准确性,因此,对于结构复杂的产品常用作初步、快速判定。 +YVnA?r? ^AS*X2y 3DX-ray(CT扫描) Z[[o u?c 3DX-ray很好的解决了2D X-ray的局限性问题,能够呈现三维立体图像,且具有高密度分辨率和高空间分辨率,还能实现模拟断层扫描图像等。对于BGA焊点的缺陷问题能完美的解决。 g!;k$`@{E' 目的:可以清晰、准确的观察BGA焊点的焊接质量和结构缺陷,还能显示出缺陷在焊接内部的形状、位置和大小。 2iYf)MC TO7%TW{L [HGGXgN 在上述的非破坏性检测方法对焊点缺陷进行检测的过程中,目视检测和2DX-ray均存在局限性,而3DX-ray(CT扫描)是目前最先进的无损检测技术能完美解决焊点缺陷问题,但测试费用较昂贵,如产品可以被破坏,则可以使用接下来要讲的破坏性检测方法来进行测试。 @AYO )Y8 &(UVS0=Dp, 破坏性检测方法 L8("1_ 三、红墨水试验检测焊点质量 ~GZ!;An 红墨水试验适用于验证印刷电路板上BGA及IC的焊接情况。通过观察、分析PCB及IC组件的焊点染(色)情况,从而对焊接开裂情况进行判定。 yNMnByg3? 红墨水试验的原理是利用液体的渗透性。将焊点置于红色染剂中,让染料渗入焊点裂纹,干燥后将焊点强行分离,通过观察开裂处界面颜色状态来判断焊点是否断裂。简单来说,分为五步:切割 → 渗透 → 烘干 → 分离 → 观察 。 0vbiq 目的:一般来说红墨水测试比较能够看到一整颗BGA底下的所有锡球的焊锡现象。是一种常用的电子组装焊接质量的分析手段,可以考察电子零件的焊接工艺是否存在虚焊,假焊,裂缝等瑕疵。 /^v?Q9=Y m`l3@Z 四、切片分析焊点质量 E~Eh'>Y(B 切片分析是进行PCB/PCBA失效分析的重要技术,切片分析较之红墨水试验更为费时,切片分析的流程:取样→清洗→真空镶嵌→研磨→抛光→微蚀(如有必要)→分析。切片质量的好坏将直接影响失效部位确认的准确性,因此对检测人员的能力要求很高。 WDc2Qt JfS:K' 切片分析 VDq4n;p1 目的:既能用于检查PCBA焊点内部空洞,界面结合状况,润湿质量评价等,还能对电路板品质的好坏进行检验。 {-;lcO D 69AgPAv<k SEM&EDS联用 E#?*6/ 在切片分析的基础上,想要进一步了解焊点缺陷产生的原因,可以采用SEM&EDS对焊点的失效原因进行分析。 W& | |