Auto Curve Tracer IV自动曲线追踪仪
自动曲线追踪仪(Auto Curve Tracer)提供DC半导体电子组件及导体组件特性测量、电性故障分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)及曲线绘图(IV-CURVE)。 8IY n9<L
Auto Curve Tracer IV自动曲线追踪仪应用范围： =l_B58wrx
1.测量封装后芯片的I/V曲线，可以通过好坏样品的曲线比对确认芯片的漏电情况，可以帮助确认 EMMI或Delayer等后续操作的方案，以便快速的找到异常位置----为FA电性分析第一步骤。 X|}yp|
2.快速筛选大量IC在电性功能上的好与坏（良品与不良品）。 d%:B,bck
3.Open/Short Test，使用I/V curve trace测量，适用于客退品的分析，可以简单快速确认芯片状 态----是短路还是开路。
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