| 探针台 |
2019-07-31 16:45 |
透视检测x射线分析无损检测
主要用途 *~t$k56
t UAY]BJ*s
利用X光对样品内部的结构特征进行无损检测； P7BJ?x
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性能参数 v^lm8/ }NO
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a)几何放大倍数2000倍，整体放大倍数10000倍； Lct+cK KU
> {LJ#Dc6
b)2D检测尺寸：310mm ×310mm； QF.wtMGF &
?GMeA}j
c)3D检测尺寸：210mm ×100mm；样品厚度：100mm； tWX+\ |
CDTk
d)采用数字平板探测器，灰度等级不低于16bit，像素尺寸不少于127um，像素不小于1000 x 1000 Pixel； ]TTJr C:
BGh8 \2
应用范围 Ve lbq
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1.检测DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封装的半导体、电阻、电容等电子元器件以及小型PCB印刷电路板； l`5}i|4KTW
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2.检测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况； 1r-,V X7
I` n1M+=%
3.检测芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装缺陷，以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷。
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