| 探针台 |
2019-07-31 16:45 |
透视检测x射线分析无损检测
主要用途 YEoQIR
sQrP,:=r#
利用X光对样品内部的结构特征进行无损检测； f&glY`s#
WJ$D]7
性能参数 SwV{t}I
zhH-lMNj-
a)几何放大倍数2000倍，整体放大倍数10000倍； !Q!= =*1H
&g R+D
b)2D检测尺寸：310mm ×310mm； YaJ[39 V
<rc? EV
c)3D检测尺寸：210mm ×100mm；样品厚度：100mm； 5" < 7
53d8AJ_@X
d)采用数字平板探测器，灰度等级不低于16bit，像素尺寸不少于127um，像素不小于1000 x 1000 Pixel； rvZXK<@#+
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应用范围 (J8 (_MF
ec/1 Z8}p
1.检测DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封装的半导体、电阻、电容等电子元器件以及小型PCB印刷电路板； !6: kJL}U
:R +}[|FV
2.检测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况； sf4NKe2*
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3.检测芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装缺陷，以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷。
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