| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 h] D=v B
!c *^:0
样品外观、形貌检测。 @lj
o?%x!m>
2'x_zM V
性能参数 {$s:N&5
ZRX>SyM
a)总放大倍数为50x-1000x； A2+t`[ w
'17=1\Ss6;
b)目标Z空间：0-25mm； |YlUt~H>
%`}Qkb/Lyh
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； "@f`O
F^a D!O ~
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 D'2O#Rj4q
g`R s;
8F@6^9C
v:vA=R2
应用范围 F`ihw[
Wn
lRO8}XSI
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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