| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 v
C,53g
EJC{!06L'/
样品外观、形貌检测。 lO^Ly27
uWm,mGd9
2"0q9 Jg
性能参数 f};lH[B 3y
2 I:x)
a)总放大倍数为50x-1000x； Pn?Uj j v
R"@J*\;$T
b)目标Z空间：0-25mm； Tfasry9'8
%LI[+#QE
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； 4#<r}j12z
i/Zv@GF
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 GxH]
GM]" $
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应用范围 }5_[t9LX
pF0sXvWGG
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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