| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 g 2 LM_1\
BOb">6C
样品外观、形貌检测。 dh`K`b4I
ENl)Ts`y
8rnwXP BN
性能参数 W7R< %?
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a)总放大倍数为50x-1000x； 67JA=,EE
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b)目标Z空间：0-25mm； k2omJ$?v
VuhGx :Xl
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； =\&;Fi]
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d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 =1FRFZI!j
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应用范围 EA@ .,7F
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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