| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 &v3D" J
zfP[1
样品外观、形貌检测。 ,NaV
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4 [5lX C
M 5T=Fj86
性能参数 Imh2~rw;
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a)总放大倍数为50x-1000x； 9LqMQv"xW
{h vQ< 7b
b)目标Z空间：0-25mm； q#Y g0w~
(s V]UGrZ
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； %67G]?EXB
c]%;^)
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 rnMG0
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应用范围 'uP'P#
.KiPNTh'
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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