| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 kD >|e<}\
ded a=%w0
样品外观、形貌检测。 ''?.6r
-XPGl
{S~2m2up0L
性能参数 $qP9EZ]JC
x|F6^d
a)总放大倍数为50x-1000x； rfXM*h
! r.X. C
b)目标Z空间：0-25mm； S]K^wj[
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c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； |jEKUTv,G
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d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 n"@3d.21
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应用范围 0 m";=:(w
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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