| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 ;x-H$OZX
zw: C*sY
样品外观、形貌检测。 b#g
{`E
JYd7@Msfc
DAnb.0
性能参数 |.C
)E:,V~< 8
a)总放大倍数为50x-1000x； ZB[(Tv1
5$oewjLO
b)目标Z空间：0-25mm； qijcS2E6S
g6g$nY@Jm
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； 20VVOnD Y
m*!f%}T
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 ?{: D,{+
,k~j6Z
h4anr7g{
p08kZ
应用范围 Wu!t C
g(<T u^F
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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