| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 cxB{EH,2Um
J};=)xLX;
样品外观、形貌检测。 y7@q] ~%
J;#7dRW{
>J['so2Bf
性能参数 nf,u'}psdJ
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a)总放大倍数为50x-1000x； F&6Xo]?
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b)目标Z空间：0-25mm； EL gq#z
CS\T@)@t
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； J5j3#2l
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d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 Nz AMX+L
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Sft+G b6
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应用范围 7:P+ S%ZL
syB.Z-Cpd
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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