| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 /U+0T>(HS
g= Rl4F]
样品外观、形貌检测。 L S
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OjFB_
N
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性能参数 ^|gD;OED7O
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a)总放大倍数为50x-1000x； :;HJ3V;
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b)目标Z空间：0-25mm； R0HzNk
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c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； [2ez"4e
XOsuRI ?
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 5LMAy"
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应用范围 n|q $=jE
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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