| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 TO8\4p*tE
FL*w( Br.
样品外观、形貌检测。 6 I>xd
D(2kb
KH CdO
性能参数 ~S~x@&yR
9fk\Ay1P
a)总放大倍数为50x-1000x； .,(uoK{
Ix l"'Q_z
b)目标Z空间：0-25mm； LP-KD
d%"@#bB
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； x#!{5;V&K
N
NXwT0t
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 D6 @4
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应用范围 W.7d{
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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