| 探针台 |
2019-07-31 16:36 |
样品制样失效分析
主要用途 F3[,6%4v
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样品外观、形貌检测。 CEW1T_1U<\
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性能参数 ?4^ 0xGyE
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a)总放大倍数为50x-1000x； 0j;q^>
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b)目标Z空间：0-25mm； %=!] 1
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c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； .,20_<j%=
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d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 1ktxG1"1
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应用范围 zz
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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