| 探针台 |
2019-07-31 16:36 |
样品制样失效分析
主要用途 e F)vx{s
GjF'03Z4
样品外观、形貌检测。 &d/ v/Y
`72 uf<YQ
A'(v] w
性能参数 'Y`.0T[&
>(>Fx\z}
a)总放大倍数为50x-1000x； NKae~ 1b
B1\@ n$
b)目标Z空间：0-25mm； nU]4)t_o\
Sg$14B
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； ZLK@x.=
GWP;; x%
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 WPbWG$Li
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P\#z[TuHKC
D#lx& J.s
应用范围 B/ @9.a.c
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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