| 探针台 |
2019-07-31 16:36 |
样品制样失效分析
主要用途 >IY,be6>P %&<W(|U1< 样品外观、形貌检测。 \ e,?rH g$3>~D 4;*f1_;f~ 性能参数 xo
WT*f (F8AL6 a)总放大倍数为50x-1000x; *IZf^-=Q (X}@^]lpa b)目标Z空间:0-25mm; Y {c5 J&6:d c)具有明场、高级暗场(ADF)、偏光(其中检偏器可旋转360°)、微分干涉观察功能和预留功能位置,功能转换方便,增减功能操作简捷; wFL3&* 8Rxc&`_X d)具备记录光口,可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 )#`H."Z Hr
}k5' Z@J.1SaB SLoo:) 应用范围 g:gB`8w? V8"Wpl9Cz 主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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