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探针台 2019-07-31 16:36

样品制样失效分析

主要用途 >IY,be6>P  
%&<W(|U1<  
样品外观、形貌检测。 \ e,?rH  
g$3> ~D  
4;*f1_;f~  
性能参数 xo WT*f  
(F8AL6  
a)总放大倍数为50x-1000x; *IZf^-=Q  
(X}@^]lpa  
b)目标Z空间:0-25mm; Y {c5  
J&6:d  
c)具有明场、高级暗场(ADF)、偏光(其中检偏器可旋转360°)、微分干涉观察功能和预留功能位置,功能转换方便,增减功能操作简捷; wFL3& *  
8R xc&`_X  
d)具备记录光口,可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 )#`H."Z  
Hr }k5'  
Z@J.1SaB  
SLoo:)  
应用范围 g:gB`8w?  
V8"Wpl9Cz  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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