| 探针台 |
2019-07-31 16:36 |
样品制样失效分析
主要用途 vT V'D&x2
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样品外观、形貌检测。 Xm./XC
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性能参数 bT<if@h-
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a)总放大倍数为50x-1000x； _5(l p} s
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b)目标Z空间：0-25mm； x2 *l5t
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c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； A*jU&3#
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d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 #Hl0>"k
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应用范围 F.2<G.9
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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