| 探针台 |
2019-07-31 16:36 |
样品制样失效分析
主要用途 j\k|5 ="w-
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样品外观、形貌检测。 k/o"E
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WyciIO1
性能参数
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a)总放大倍数为50x-1000x； k8IhQ{@
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b)目标Z空间：0-25mm； '0q.zz v|_
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c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； 9M P_#M7
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d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 !jlLF:v|1A
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应用范围 r+ v?~m!
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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