探针台 |
2019-07-31 16:20 |
形貌观察SEM扫描电镜
主要用途 :L6,=# J"$Y`; 观察样品表面微观形貌,进行尺寸及深度进行测量,能谱元素分析。 GyVRe]<>B &gr)U3w 性能参数 xoYaL )LdS1% a)二次电子分辨率:1.0nm(加速电压15kV,WD=4mm) k-;A9!^h ] 'B4O1 b)放大倍数 100~800000(照片倍率); >!gW]{ -Wt(t2 400~2000000(实际显示倍率) s?,\aSsU@ x\R%hGt 应用范围 9i?Q=Vuc~< 6p}dl>T_y 1.提供表面及横截面微细结构观察及分析; rIhe}1 &$x1^ 2.对多层结构样品提供精准的膜厚量测及标示; kWKAtv5@w m35$4 3.借由低能量的电子束扫描做被动式影像对比(PVC)对于不良漏电或接触不良的组件损坏可以精准的定位,提供异常分析之判断; fJdTVs@ "Xz [|Xl 4.样品借由层次去除技术(Delayers),提供SEM做电路自动连拍拼接生成的图文件,可以与光学显微镜生成的图像做纵向连结,提供电路还原逆向工程之参考
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