| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
推拉力测试
测试金铝线焊球黏合力、绑线拉断强度;芯片/Die黏合力;BGA焊锡球黏合力。 Vz^:|qON 8b/yT4f -T>`PJpJuL 性能参数 |v+b?@ LYKepk a)拉力测试测试范围可在0-100G;0-1KG;0-10KG进行选择; =
~yh[@R) S=Zjdbd b)推球测试测试范围可在250G 或 5KG进行选择; UkUdpZ.[il k"6^gup(U c)芯片推力测试范围可在测试到0-100公斤; 0-200KG进行选择; C>H UG .d2s4q\ d)镊子撕力测试头量程为100G 和5KG进行选择; @ 9uwcM1F P*}Oi7Z e)BGA拔球到0-100G;0-5KG进行选择; :V
[vE h )}R0'QGd p`It=16trT 应用范围 G100L}d"N k$zDofdfp 适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力;及COB封装、光电,LED,SMT组装 ,原件与基板黏合测试
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