| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
探针测试
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 rfMzHY}%
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性能参数 B[O1^jdO
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放大倍数50X，100X，200X，500X ;HeUD5Nt6F
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8个探针座 'e> 0*hF[
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带屏蔽箱 $/Q*@4t
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应用范围 +
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微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。
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