| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
探针测试
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 yD8Qy+6 L
4!
F$nmG)
XIl#0-E0X
性能参数 54RexB o
[=u@6Y
放大倍数50X，100X，200X，500X 47A[-&y*X
=CCddLO
8个探针座 r|/9'{!
u9]M3>
带屏蔽箱 6{ fo.M?
(IA: 4E}
V| {~9^
:r{W)(mm
应用范围 3Gw*K -.
`q1-yH0~4
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。
|
|