| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
探针测试
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 | 6^ K
:Ia &,;Gc
t3g! 5
性能参数 8mLU ~P
|
{=7i}xY]T
放大倍数50X，100X，200X，500X ta., 4R&K
zL8A?G)= M
8个探针座 } _;!E@
695ppiKU
带屏蔽箱 ~GYtU9s5
ye2Oh7
Asu"# sd
Ib2pV2`h(
应用范围 (C@@e'e
* =@pdQkR
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。
|
|