| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
探针测试
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 ;/W;M> ^
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~O~c^fLH(B
性能参数 q@ >s#
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放大倍数50X，100X，200X，500X zxtx~XO
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8个探针座 e g #.f`
VpJ/M(UD-
带屏蔽箱 &,xN$
NamBJ\2E1[
I=wP"(2
DD\:glo
应用范围 )eNR4nF
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微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。
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