| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
探针测试
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 /vwGSuk._
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性能参数 )TVyRY Z1
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放大倍数50X，100X，200X，500X A!W(>
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8个探针座 r6*0H/*
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带屏蔽箱 &*T57tE
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应用范围 fW <qp
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微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。
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