| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
探针测试
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 E$"` |Df
BbIg]E/G
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性能参数 F:~k4uTW\b
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放大倍数50X，100X，200X，500X q<XleC
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8个探针座 %\f<N1~*
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带屏蔽箱 T`$!/BlZ
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应用范围 mu fXM (
Oh=E!
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。
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