探针台 |
2019-07-31 16:10 |
探针测试
通过微探针连接到芯片并引出所需信号,用于电学特性测试 0%GWc}o 62q-7nV H+Wd#7l, 性能参数 0ni5 :tYy l%O-c}X 放大倍数50X,100X,200X,500X ueOvBFgZ _e
W* 8个探针座 ? "gy`oCv hG U &C] 带屏蔽箱 U7N<!6 4C$,X!kzF w>eOERZa 0#ph1a< 应用范围 POf \l l d@^$ 微小连接点信号引出,用于失效分析失效确认,FIB电路修改后电学特性确认等。
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