激光注入检测

对芯片进行开封处理后，在芯片正确执行密码运算过程中，通过显微镜定位被攻击芯片表面某一特定区域，通过示波器等观察设备定位密码算法运行的某一特定时刻，注入合适能量大小的激光脉冲，使芯片的运行产生非预期错误，并分析采集到的错误是否会造成芯片中敏感信息的泄露。

服务内容：1.光注入攻击
2.差分错误分析

查看本帖完整版本: [-- 激光注入检测 --] [-- top --]