| 探针台 |
2019-07-25 13:28 |
扫描电子显微镜能谱分析仪功能介绍
SEM/EDX(形貌观测、成分分析)扫描电镜（SEM）可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像，EDX是借助于分析试样发出的元素特征X (DTXc2)c
射线波长和强度实现的，根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。 i9=*ls^Cx
>J['so2Bf
服务内容：1.材料表面形貌分析，微区形貌观察 ~}@cSv'(1
2.材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 Pq<]`9/w^w
3.薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析 jT $
4.纳米尺寸量测及标示 0)HZ5^J
5.微区成分定性及定量分析 Ra-%,cS
|
|