| 探针台 |
2019-07-18 14:07 |
国软检测失效分析电子版免费索取
RAg|V:/M
a O"nD_7
纸质版的现在发完了，若近期加印会快递给大家，2019年7月8号前的索取的单位和个人已经全部快递出，收到请反馈，2019年7月8号后登记的加印后发给大家，现在电子版的免费开放，登记好单位 姓名 电话即可领取。若有变动随时通知大家。 9z| >ro Ne
i">z8?qF
4P O%qO
新做一批失效分析的小册子，32开20页，需要的可以给快递地址免费索取，运费自理 e~t}z_>F
A/$KA'jX
附近的可以自取，或者为大家送过去。 |7S4;
=& Tu`m
包含常用的失效分析项目FIB；SEM；EDX；2D/3D X-ray；研磨；探针台扎针；RIE；OM；EMMI；decap；激光打标；IV；切割制样；高温/低温储存/试验等等。希望可以能为各单位的芯片失效分析提供参考。需要的单位或个人附近的可以自取，或登记好集中为大家派送，外地的写清快递地址给客服人员，快递运费自理（顺丰到付，快递信息包含：省、市、区、单位、姓名、电话）。内容基本就是介绍哪些项目，图片是实拍图，因为不收任何费用，若对手册不满意也没款可退，要求完美的请不要索取。 aiR|.opIb
(:fE _H2z
客服微信 o/ x5
国家应用软件产品质量监督检验中心 }GoOE=rhY
北京软件产品质量检测检验中心 a! 0?L0_W&
智能产品检测部 9aF..
赵工 Eis%)oE
010-82825511-728 VHgF#6'
13488683602 r_g\_y7ua
zhaojh@bsw.net.cn JR a*;_
北京市海淀区东北旺西路8号中关村软件园3A楼
|
|