探针台 |
2019-06-03 09:16 |
X射线(X-ray)检测
X射线(X-ray)检测是在不损坏被检物品的前提下使用低能量X 光,快速检测出被检物。 |GVGny< 利用高电压撞击靶材产生X射线穿透来检测电子元器件、半导体封装产品内部结构构造品质、以及SMT各类型焊点焊接质量等[1] 。 YWn6wzu%Vc 型号:XD7500NT X&FuqB 5qeS|]^` [attachment=93687] >X\s[d&( kp<} 参考标准:《IPC-A-610E电子组装件的验收标准》、《GB/T 17359-1998电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则》 ;?HZ,"^I 3ZJagJ\O 测试项目: 2gC&R1H 4LKs'$:A= [attachment=93686] F~d7;x=g 1、集成电路的封装工艺检测:层剥离、开裂、空洞和打线工艺; )T$fk 2、印刷电路板制造工艺检测:焊线偏移,桥接,开路; {TxVRpiP{Z 3、表面贴装工艺焊接性检测:焊点空洞的检测和测量; 9B?t3: 4、连接线路检查:开路,短路,异常或不良连接的缺陷; IW] 841 5、锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验; y uK5 r 6、高密度的塑料材质破裂或金属材质检验; )2^/?jK 7、芯片尺寸量测,打线线弧量测,组件吃锡面积比例量测。
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