VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 KdU&q+C^ dXewS_7
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B 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 #Oq~ZV|<l pjrzoMF 建模任务 Lzy Ix!S 3v@Y"I3;
[attachment=93603] y -=YX qj 元件倾斜引起的干涉条纹 ?*: mR|= ,!'L~{
[attachment=93604] Ub9p&=]h 元件移位引起的干涉条纹 cO^}A(Ma( HA W57N
[attachment=93605] 1KWGQJ%%s 文件信息 kjOPsz*0 zv[pfD7a
[attachment=93606] "+GKU) 更多阅览 3,4m|Z2) - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration ( V^C7ix: - Fizeau Interferometer for Optical Testing _|qs-USA OZed+t=
(来源:讯技光电)
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