VirtualLab：马赫-曾德尔干涉仪
摘要 _h@7>+vl~
3$l'>v+5{
[attachment=93602] bMkn(_H)\
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ;n7k_K#0z!
e
d4T_O;
建模任务 f:"es: Fb
L V33vy
[attachment=93603] %Dsa
~{
元件倾斜引起的干涉条纹 Iy|]U&`
faD(, H
[attachment=93604] `x6 i5mp
元件移位引起的干涉条纹 #1u4Hi(x5
&ks>.l\
[attachment=93605] ^"6xE nA]
文件信息 kfm8F8sxl
>4~{ CXZ
[attachment=93606] ] =>vv;L
更多阅览 dldM h T$
- Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration UTi n0k
- Fizeau Interferometer for Optical Testing ,a ^_
~(C
pgU54 Ef
（来源：讯技光电）
|