VirtualLab：马赫-曾德尔干涉仪
摘要 MinbE13?U
V]r hr
[attachment=93602] +c-6#7hh
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ^Y$QR]
{?w "hjy
建模任务 -<8B,
3}08RU7[!
[attachment=93603] AnR lH
元件倾斜引起的干涉条纹 - oU@D
Po1hq2-U8
[attachment=93604] ):/,w!1
元件移位引起的干涉条纹 1Wv{xML"
_~juv&
[attachment=93605] b2G2 c L-(
文件信息 Ud$Q 0m&
Cy`26[E$S
[attachment=93606] :*#rRQ>t
更多阅览 +e U`H[iu
- Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration +yGY 785b
- Fizeau Interferometer for Optical Testing R |-6o)$
3Hs$]nQ_X
（来源：讯技光电）
|