VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 2%C5P0;QX KGmc*Jwy
[attachment=93602] I{e^,oc 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Ja=70ZI^6 kah3Uhr~ 建模任务 XqS*;Zj0 MI'l4<>u
[attachment=93603] }"B? 8T@_~ 元件倾斜引起的干涉条纹 2$zq ( ivz?-X4]
[attachment=93604] }_(^/pnk 元件移位引起的干涉条纹 >ydb? <` j[;>O
[attachment=93605] [2 w<F[ 文件信息 -s%-*K+,W = #2qX>?
[attachment=93606] 3hf;4Mb 更多阅览 ro^6:w3O^ - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration *R\/#Y| - Fizeau Interferometer for Optical Testing C1B3VG `}8@[iB'
(来源:讯技光电)
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