VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 d`QN^)F0# 5dx$HE&b)
[attachment=93602] E(*0jAvO[z 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Gw}%{=D9
-WY<zJ 建模任务 $.Qkb@} ]N~2 .h
[attachment=93603] 8v:T.o;< 元件倾斜引起的干涉条纹 J4k=A7^N W,K;6TZhh
[attachment=93604] |)IlMG 元件移位引起的干涉条纹 %:M^4~dc ty8q11[8
[attachment=93605] ]Z>}6! 文件信息 TJ2=m9Z w^\52
[attachment=93606]
|tKsgj 更多阅览 ]3D0R; - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration :N:yLd} & - Fizeau Interferometer for Optical Testing `xKp%9 BOX{]EOj
(来源:讯技光电)
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