VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 *,p16"Q; 2s8(r8 AI
[attachment=93602] nuX W/7M 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 gb@ |\n :Qklbd[9qF 建模任务 aoS]Qp e3 {L%rQE
[attachment=93603] Z|a\rNv 元件倾斜引起的干涉条纹 &<%U7?{~ 1Qgd^o:d
[attachment=93604] 1~ZKpvu 元件移位引起的干涉条纹 9TILrK od~`q4p1(-
[attachment=93605] &-6D'@ 文件信息 N0G-/ QprzlxB
[attachment=93606] 9wC:8@`6E 更多阅览 L8j#lu - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration Zx}.mt#}8 - Fizeau Interferometer for Optical Testing yy-\$<j Rd.[8#7VE
(来源:讯技光电)
|