VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 FU>KiBV# $gD8[NAIx=
[attachment=93602] /S1/ ZI 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 N2duhI6 .kPNWNrw 建模任务 %9Z0\
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[attachment=93603] y)CvlI 元件倾斜引起的干涉条纹 ~T-uk A>2 _I)
[attachment=93604] Gsb^gd 元件移位引起的干涉条纹 UOl*wvy ~!8j,Bqs+z
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[attachment=93606] y1Z>{SDiq 更多阅览 {+E]c:{ - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration Ef28 - Fizeau Interferometer for Optical Testing g,]m8%GHE PoPR34]^J
(来源:讯技光电)
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