VirtualLab：马赫-曾德尔干涉仪
摘要 ,:2Z6~z{
rT\~VJ>+i
[attachment=93602] % !eRR
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 /:ZwGyT;
wE"lk
建模任务 o")"^@Zh i
{]dG 9
[attachment=93603] g
rCQ#3K*?
元件倾斜引起的干涉条纹 rIb~@cR)
2vU -9p {
[attachment=93604] h(R7y@mp\0
元件移位引起的干涉条纹 w]nt_xj
}a#T\6rY
[attachment=93605] :,M+njcFc
文件信息 |?ZU8I^vW
%?, 7!|Ls
[attachment=93606] TspX7<6r
更多阅览 @3 $ I
- Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration /KNR;n'
- Fizeau Interferometer for Optical Testing 7VG*Wu
_iCrQJ0"T
（来源：讯技光电）
|