VirtualLab：马赫-曾德尔干涉仪
摘要 FS)#
v
UsA fZg8
[attachment=93602] $;(@0UDE
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 I*N v|HST
}oiNgs/N
建模任务 K 2Ro0
s5G`?/
[attachment=93603] y5*zyd
元件倾斜引起的干涉条纹 n(V{ [
V= &M\58
[attachment=93604] /Q)I5sL@E
元件移位引起的干涉条纹 %MGt3)
B R
[attachment=93605] C6F7,v62
文件信息 &N= vs
_UZ PQ[
[attachment=93606] a {x3FQ
更多阅览 OXp N8D h5
- Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration vw:GNpg'R6
- Fizeau Interferometer for Optical Testing (x\VGo
\}4*}Lr
（来源：讯技光电）
|