VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 =f!M=D w>uZ$/
[attachment=93602] F]YKYF'1I 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 cqx1NWlY lWvd"Vlt 建模任务 $4
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[attachment=93603] k5D'RD 元件倾斜引起的干涉条纹 ]'(7T# I?>T"nV +'
[attachment=93604] \BXVWE| 元件移位引起的干涉条纹 N_D+d4@ p'~5[JR:
[attachment=93605] 7-I>53@ 文件信息 I})t 8F`
[attachment=93606] .5;LL,S- 更多阅览 1i:g
/H - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration .E#Sm?gK - Fizeau Interferometer for Optical Testing `Xdxg\| |+-i'N9
(来源:讯技光电)
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