VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 ey)u7-O )_v\{N
[attachment=93602] fT3*>^Uv 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 P=^#%7J/l +oy&OKCa 建模任务 <{/;1Dru lB!vF ~A&
[attachment=93603] ~"0@u 元件倾斜引起的干涉条纹 FxfL+}?Q 9U)t@b
[attachment=93604] _E6}XNS 元件移位引起的干涉条纹 _;:rkC fj 3u*hTT
[attachment=93605] *sw-eyn( 文件信息 x48'1&m =#(0)p$EC
[attachment=93606] uyNJN 更多阅览 3eTrtCe$ - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration =dM.7$6) R - Fizeau Interferometer for Optical Testing poD\C;o" jJVT_8J
(来源:讯技光电)
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