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2019-05-30 14:49 |
VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 u5F}( +4r +NR n0
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[attachment=93602] N"1QX6 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Y 1y E 3I*uV!notJ 建模任务 &O*ENpF g_M^E-3
[attachment=93603] FWY[=S 元件倾斜引起的干涉条纹 8W,*eke? Noz&noq
[attachment=93604] 9|3o< 元件移位引起的干涉条纹 _lT0Hu ERC<Dd0
[attachment=93605] s.rT] 文件信息 .eY`Ri<3t n_P(k-^U*
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" - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration c[:Wf<%| - Fizeau Interferometer for Optical Testing 5#!ogKQ(i RJPcn)@l
(来源:讯技光电)
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