VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 dr&G> ]ke9ipj]:
[attachment=93602] &v;fK$=2C 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 <Rn-B).3bs +UX~'t_'v 建模任务 u0=&_Q(= :8/ 6dx@Y(
[attachment=93603] Q=DMfJ" 元件倾斜引起的干涉条纹 RR+kjK? z3L=K9)
[attachment=93604] wY%t# [T3 元件移位引起的干涉条纹 6[R6P:v&'G 2NjgLXP
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3 文件信息 }s'=w]m C<T6l'S{?
[attachment=93606] iQ2}*:Jc$ 更多阅览 p&<n_b - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration 9a]o?>`E - Fizeau Interferometer for Optical Testing SKNHLE} DQ/rx`BG
(来源:讯技光电)
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