VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 #$k6OlK-r" vk;]9o j*
[attachment=93602] p+6L qk< 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 4FLL*LCNX 'KL!)}B$h 建模任务 C.su<B? U&x)Q
[attachment=93603] fbv%&z 元件倾斜引起的干涉条纹 CjeAO 2 &\K p_ AR
[attachment=93604] * F[;D7sZ~ 元件移位引起的干涉条纹 L{)*evBL .zDm{_'
[attachment=93605] ;(0<5LQ 文件信息 J+IkTqw XNZW J
[attachment=93606] |, ws 3 更多阅览 Q--Hf$D]H - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration zNg8Oq& - Fizeau Interferometer for Optical Testing V'n4iM a[).'$S}'
(来源:讯技光电)
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