VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 R@)L@M)u; Tp0^dZ M+
[attachment=93602] SecZ5(+= 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 r6*~WM|Sq7 0au\X$)Q 建模任务 5U^ qc-4;m o
[attachment=93603] \f7Aj> 元件倾斜引起的干涉条纹 gM<*(=x' |
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[attachment=93604] KvrcO#-sL 元件移位引起的干涉条纹 .(8sa8{N s-He
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[attachment=93606] mzl %h[9iI 更多阅览 aT %A<'O! - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration l}$Pv?T,2 - Fizeau Interferometer for Optical Testing _lE0_X|d 7EKQE>xj
(来源:讯技光电)
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