VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 S*g`d;8gV UW/N MjK
[attachment=93602] H*rx{ F? 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 lBmm(<~Z Pcdf$a"` 建模任务 5U~OP y
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[attachment=93603] JpmB;aL#% 元件倾斜引起的干涉条纹 GmbIFOT~
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[attachment=93604] [f/.!@sj 元件移位引起的干涉条纹 JOHRmfqR d=y0yq{L
[attachment=93605] GRIa8> 文件信息 .LObOR5J7 @!<d0_dnC
[attachment=93606] +T2HE\ 更多阅览 sT`^ljp4 - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration ?'wsIH]m - Fizeau Interferometer for Optical Testing 4\6:\ 9 mPIykAj8
(来源:讯技光电)
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