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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 c, }V C-
第一篇 光学多层膜设计 =sk#`,,:
第1章 光学薄膜特性的理论计算 n'!x"O7
1.1 单色平面电磁波 Nf}i /
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 8qoA5fW>
1.3 光学薄膜特性的理论计算 0+A MN-
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 _!9I
f
习题 dEam|
第2章 光学薄膜的设计理论 FhQb9\g
2.1 矢量作图法 t"YN:y8-
2.2 有效界面法 g-cg3Vso
2.3 对称膜系的等效层 [<nd+3E
2.4 导纳图解技术 'a"Uw"/ p[
习题 q XB E3
第3章 光学薄膜系统的设计 W?n/>DML
3.1 减反射膜 kA9 k^uR/
3.2 分束镜 $dug"[
3.3 高反射膜 *T:jR
3.4 干涉截止滤光片 =]1g *~%
3.5 带通滤光片 JY3!jtv
3.6 特殊膜系 7t+H94KG7
习题 j_S3<wEJ
参考文献 3A\Z ]L
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 @ @=,bO
第4章 薄膜制备技术 <]*Jhnx/
4.1 真空淀积工艺 Is9.A_0h
4.2 光学薄膜材料 olK*uD'`
4.3 薄膜厚度监控艺术 !(y(6u#
4.4 膜层厚度的均匀性 f yxc4-D
习题 }sp?@C,Z
参考文献 9 7pnq1b
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 juxAyds
5.1 薄膜的形成过程 >2NsBS(
5.2 薄膜的微观结构 5[~ C!t;
5.3 薄膜的成分 Sp]ov:]%f
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 S`vw<u4t
5.5 薄膜微观结构和改善 $SfY<j,R
习题 kH=qJ3Z
参考文献 ] (`:<>c
第三篇 光学薄膜检测技术 1[\I9dv2
第6章 薄膜透射率和反射率测量 WN o+ %
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 LN9.Q'@r?
6.2 薄膜反射率的测试 "@rHGxK
6.3 薄膜反射率的测量 (U:6vk3Q
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 MPLeqk$;
6.5 总结 2~h Q
习题 1 /SB[[ g
参考文献 "WH
&BhQYD
第7章 薄膜的吸收和散射测量 CS0q#?
7.1 激光量热计基本原理 V=c?V/pl
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 l ! ZzJ&
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 |V^f}5g d
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 p$<){ ,R
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 &+G bklUB~
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 FV%|*JW[;N
7.7 总结 @Y#TWt#
习题 J$-1odL0Z
参考文献 m*v@L4t( 1
第8章 薄膜光学常数的测量 rK4
pYo
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 i(xL-&{
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 ?yA
2N;
8.3 薄膜波导法 5"D\n B%
8.4 光学薄膜厚度的测试 DXK\3vf Ot
8.5 总结 $B OpjDV8
习题 Htep3Ol3
参考文献 x_= 3 !)
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 ='(;!3ZH
9.1 薄膜的力学特性检测技术 Hq,znRz~`
9.2 薄膜器件的环境试验 u3HaWf3
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 $[ b1_Db
9.4 总结 OGW0lnQ/
习题 zF&_9VNk=c
参考文献 KC54=Rf
附录 zhU^~4F
附录A 复数与复数运算 ppO!v?
A.1 复数的概念 >,f5 5
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 E%$[*jZ
A.3 复数在物理中的运用 <O{G&
附录B 矩陈及矩陈运算 cN)noGkp
B.1 矩陈的定义 ^L'<%_# .
B.2 矩陈运算 ]K<7A!+@@p
附录C 光的电磁理论基础 ##U/ Wa3
C.1 振动与波 A$TF a:O|
C.2 电磁波 mQ\oR|
C.3 麦克斯韦方程 @! jpJ}
C.4 平面电磁波 "p&4Sn3T2?
C.5 平面电磁波性质 +sXnC\
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 Y7`Dx'x
附录D 光的干涉 H#QPcp@
D.1 波的叠加原理 [LS s|f
D.2 杨氏干涉 ; $UB@)7%
D.3 平板的表面干涉 {tnhP^C3>
D.4 光的空间相干性和时间相干性 Qq\hD@Z|
附录E 光的偏振 EtDzmpJR>
E.1 自然光和偏振光 W}k)5<C4v
E.2 偏振光与Jones矩陈 6Q`7>l.|?
E.3 偏振光的获得 Vje LPbk)
E.4 偏振光的检验
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