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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 Z 7 @'I0;A
第一篇 光学多层膜设计 Xy(QK2|
第1章 光学薄膜特性的理论计算 OH@"]Nc~
1.1 单色平面电磁波 !l*A3qA
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 |!(8c>]Bo
1.3 光学薄膜特性的理论计算 $^Xxn.B9
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 =>' 8<"M5z
习题 s:_hsmc"
第2章 光学薄膜的设计理论 VV Q~;{L
2.1 矢量作图法 PzP NvV/o
2.2 有效界面法 br=e+]C Y)
2.3 对称膜系的等效层 i6paNHi*
2.4 导纳图解技术 dSwf ea_
习题 k*A(7qQA`4
第3章 光学薄膜系统的设计 o'lG9ePM|
3.1 减反射膜 Z0&^(Fb
3.2 分束镜 zh) &6'S\
3.3 高反射膜 ~ n<|f
3.4 干涉截止滤光片 }4>u_)nt
3.5 带通滤光片 C Ro'r/G
3.6 特殊膜系 OD'~t,S t
习题 n@`3O'S
参考文献 U)kyq
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 d_
=K (}eR
第4章 薄膜制备技术 7Q/H+)
4.1 真空淀积工艺 # m|el@)
4.2 光学薄膜材料 oI -Fr0!
4.3 薄膜厚度监控艺术 Mh`^-*c?
4.4 膜层厚度的均匀性 ai;!Q%B#Q
习题 @ fMlbJq
参考文献 0c>>:w20D
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 Lx- %y'P
5.1 薄膜的形成过程 6Y [&1c8
5.2 薄膜的微观结构 q5g_5^csM{
5.3 薄膜的成分 q<\r}1Dm
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 sA6Hk B.
5.5 薄膜微观结构和改善 _A]jiPq
习题 :vi %7
参考文献 F-@y H
第三篇 光学薄膜检测技术 X)SUFhP\
第6章 薄膜透射率和反射率测量 @16y%]Q-E#
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 V.3#O^ S
6.2 薄膜反射率的测试 3R/6/+S-
6.3 薄膜反射率的测量 ]}SV%*{ %
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 7eq.UyUxs
6.5 总结 yHM2 9fEZk
习题 (NUXK
参考文献 7h9oY<W
第7章 薄膜的吸收和散射测量 NH/jkt&F[
7.1 激光量热计基本原理 T\wOGaCW
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 _x5-!gK
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 R@WW@ Of
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 ruqE]Hx 9(
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 lJa-O
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 blz #M #
7.7 总结 e77s?WxbK
习题 |\B\IPs{%'
参考文献 yzpa \[^
第8章 薄膜光学常数的测量 Rt%Dps%
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 %|@?)[;
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 y%--/;
8.3 薄膜波导法 y~_x
8.4 光学薄膜厚度的测试 ~=wBF
8.5 总结 fo}@B &=4
习题 IAd ^$9
参考文献 yMNOjs'c {
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 M-Nn \h$,
9.1 薄膜的力学特性检测技术 k'$7RjCu
9.2 薄膜器件的环境试验 m$Tt y[0
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 a[^dK-
9.4 总结 >y+j!)\
习题 M]\"]H?
参考文献 d{!zJ+n
附录 IKp(KlA
附录A 复数与复数运算 " 6$+B/5
A.1 复数的概念 TuMZHB7h;
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 kH=~2rwm
A.3 复数在物理中的运用 K6<1&
附录B 矩陈及矩陈运算 tORDtMM9+
B.1 矩陈的定义 }xrrHp
B.2 矩陈运算 0A ~f
^
附录C 光的电磁理论基础 `).;W
C.1 振动与波 7Ph+Vs+h
C.2 电磁波 zJ0'KHF}o
C.3 麦克斯韦方程 Q6Zh%\+h(
C.4 平面电磁波 '\m\$
{
C.5 平面电磁波性质 Us9$,(3
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 _ )^n[_E
附录D 光的干涉 (aCl*vV1
D.1 波的叠加原理 9]8M {L
D.2 杨氏干涉 Iq":
U
D.3 平板的表面干涉 S67T:ARS
D.4 光的空间相干性和时间相干性
qf] OSd
附录E 光的偏振 #iGz&S3iN$
E.1 自然光和偏振光 ldoN!J
E.2 偏振光与Jones矩陈 CtDS lJ
E.3 偏振光的获得 1/q iE{NW
E.4 偏振光的检验
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