| daluo |
2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 IfB/O.;Kz 第一篇 光学多层膜设计 OHhs y|W 第1章 光学薄膜特性的理论计算 x<
S\D& 1.1 单色平面电磁波 ,ey0:.!; 1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 "&Mou 1.3 光学薄膜特性的理论计算 -ek1$y9) 1.4 光学多层膜内的电场强度分布 ob]dZ 习题 ?@3&dk~ni 第2章 光学薄膜的设计理论 o\60n 2.1 矢量作图法 R+F,H` 2.2 有效界面法 ]v GgJ< 2.3 对称膜系的等效层 :A#+=O0\z 2.4 导纳图解技术 Qg> 0G%cXU 习题
QP V@'.2m 第3章 光学薄膜系统的设计 3&9zGy{V+ 3.1 减反射膜 3G.r- 3.2 分束镜 f@x_#ov 3.3 高反射膜 HT&p{7kFm 3.4 干涉截止滤光片 '%ebcL 3.5 带通滤光片 UM`nq;> 3.6 特殊膜系 ctK65h{Eo 习题 KK$ a;/ 参考文献 5A,=vE 第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 `I{ tZ$iD 第4章 薄膜制备技术 (Xj.iP 4.1 真空淀积工艺 Oj-r;Tt_G} 4.2 光学薄膜材料 }1F6?do3& 4.3 薄膜厚度监控艺术 -nGwuEngP 4.4 膜层厚度的均匀性 /ISLVp%H 习题 w49{-Pp[ 参考文献 qPUA!-' 第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 kXMP=j8 5.1 薄膜的形成过程 lZvS0JS 5.2 薄膜的微观结构 3t*# !^$ 5.3 薄膜的成分 sxk*$jO[] 5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 ;le0QA
Pf 5.5 薄膜微观结构和改善 ,m:6qdN 习题 egWx9xX 参考文献 tJz^DXqAc 第三篇 光学薄膜检测技术 Bi
XTC$Oi 第6章 薄膜透射率和反射率测量 b@!:=_Mr 6.1 光谱分析测试系统的基本原理 t*s!0'Y 6.2 薄膜反射率的测试 k{1b20 6.3 薄膜反射率的测量 ?lyltAxs' 6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 ^ `je 6.5 总结 . wmkj 习题 S
QSA%B$< 参考文献 )gjGG8Ee 第7章 薄膜的吸收和散射测量 s{B_N/^ 7.1 激光量热计基本原理 QheDF7'z 7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 ,0h3x$l) 7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 #?Wo <]i 7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 OiF ]_" 7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 E^82==R 7.6 薄膜导波传播衰减系数法 CZ2iJy 7.7 总结 3@'lIV
?,q 习题 7~D`b1|| 参考文献 :cb[M5c 第8章 薄膜光学常数的测量 v?}pi 8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 Y!aLf[x] 8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 SKW;MVC 8.3 薄膜波导法 `T`c@A 8.4 光学薄膜厚度的测试 w0X$rl1 8.5 总结 gLV^Z6eE 习题 YMK>+y[+4 参考文献 38"cbHE3 第9章 薄膜非光学特性的检测技术 ,.h$&QFj; 9.1 薄膜的力学特性检测技术 h)P]gT0f/ 9.2 薄膜器件的环境试验 C-r."L 9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 @| P3 9.4 总结 $M-NR||k 习题 RpjSTV8Tkm 参考文献 m qpd 附录 Ir^ BC!<2> 附录A 复数与复数运算 }d@LSaM A.1 复数的概念 }Py<qXH A.2 复数的三角函数及指数表示方法 UFos
E|r: A.3 复数在物理中的运用 \k4M{h6 附录B 矩陈及矩陈运算 s
8Jj6V B.1 矩陈的定义 O4n8MM|` B.2 矩陈运算 _m" ^lo 附录C 光的电磁理论基础 \ x:_*`fU C.1 振动与波 NPP3(3C C.2 电磁波 nwhm[AaNs C.3 麦克斯韦方程 Y5Ft96o))x C.4 平面电磁波 u^!&{ q C.5 平面电磁波性质 +B](5 z4 C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 [O [FCn 附录D 光的干涉 rpx0|{m D.1 波的叠加原理 G;Us-IRZ D.2 杨氏干涉 = >P_mPP= D.3 平板的表面干涉 A<a2TXcIE3 D.4 光的空间相干性和时间相干性 B{^`8Htrn 附录E 光的偏振 X4XFu E.1 自然光和偏振光 #%;<FFu\ E.2 偏振光与Jones矩陈 gW/QFZjY E.3 偏振光的获得 bU:V%B?=] E.4 偏振光的检验
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