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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 '#4mDz~
第一篇 光学多层膜设计 ,I2re G
第1章 光学薄膜特性的理论计算 Y%CL@G60
1.1 单色平面电磁波 od5w9E.
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 Y 8`))MeD
1.3 光学薄膜特性的理论计算 X^
^?}>t[
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 S)'q:`tZo
习题 $p6Xa;j$ 9
第2章 光学薄膜的设计理论 o wpJ7S1~
2.1 矢量作图法 L 1Cn
2.2 有效界面法 L$TKO,T
2.3 对称膜系的等效层 mk`cyN>m
2.4 导纳图解技术 SG|i/K|7
习题 ^d5. /M8Bd
第3章 光学薄膜系统的设计 [q >i
3.1 减反射膜 [-Dgo1}Qr
3.2 分束镜 d T,m {[+
3.3 高反射膜 -{:Lx E
3.4 干涉截止滤光片 j=jrzG+`
3.5 带通滤光片 B> " r -O
3.6 特殊膜系 .{]c &Ef+f
习题 7Yw\%}UL
参考文献 J|2H qd
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 ?9r,Y; ,H
第4章 薄膜制备技术 }rMpp[
4.1 真空淀积工艺 u.L8tR:(
4.2 光学薄膜材料 pXT$Y8M
4.3 薄膜厚度监控艺术 sO4 }kxZ
4.4 膜层厚度的均匀性 !,JT9 1
习题 -Ib+ /'
参考文献 p4t!T=o/
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 L^al1T
5.1 薄膜的形成过程 v! RB(T3
5.2 薄膜的微观结构 .McoW7|Y
5.3 薄膜的成分 }zS&H-8K
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 dG~B3xg;5i
5.5 薄膜微观结构和改善 |e-+xX|;
习题 K9N0kBJ0<
参考文献 MoR-8vnJ
第三篇 光学薄膜检测技术 ~lalc ^
第6章 薄膜透射率和反射率测量 ) Q
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 HxqV[|}0u
6.2 薄膜反射率的测试 K"6+X|yxE
6.3 薄膜反射率的测量 v/ 00L R
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 :-W CW);N
6.5 总结 ZNC?Ntw
习题 /
-qt}
参考文献 59NWyi4i
第7章 薄膜的吸收和散射测量 l0_E9qh-i
7.1 激光量热计基本原理 NF)\">Ye
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 'S D|ObBY
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 Y./}zCT
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 ]-Y]Q%A4
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 4 C9"Q,o%&
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 E29gnYxu8
7.7 总结 79B`w
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习题 ~Ow23 N
参考文献 qH$rvD!]
第8章 薄膜光学常数的测量 )%@WoBRj
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 b%jG?HSu
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 =qR7-Q8B
8.3 薄膜波导法 'W2 $wN+P
8.4 光学薄膜厚度的测试 C\ >Mt
8.5 总结 ihY ^~
习题 f5qHBQ
参考文献 + ET
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 DoB3_=yJ+
9.1 薄膜的力学特性检测技术 QDT{Xg* I
9.2 薄膜器件的环境试验 \C2P{q/m
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 Vh9s.=*P@
9.4 总结 +P)[|y +e
习题 `k%#0E*H
参考文献 J8?6G&0H
附录 +X(^ Q@
附录A 复数与复数运算 $`dNl#G,
A.1 复数的概念 4N=Ie}_`
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 OQ&D?2r
A.3 复数在物理中的运用 Fl3r!a!P,
附录B 矩陈及矩陈运算 gsm^{jB
B.1 矩陈的定义 %oKqK >S)
B.2 矩陈运算 >A( C9_\
附录C 光的电磁理论基础 a`X&;jH0ef
C.1 振动与波 V42*4hskL
C.2 电磁波 7^TXlW n^G
C.3 麦克斯韦方程 2bxMIr
C.4 平面电磁波 $M< 4Bqr
C.5 平面电磁波性质 QuRg(K%:
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 "LIii1]k
附录D 光的干涉 :#htOsP
D.1 波的叠加原理 s /q5o@b{
D.2 杨氏干涉 =&/a\z!
D.3 平板的表面干涉 4S EC4yO
D.4 光的空间相干性和时间相干性 EA E\Xv
附录E 光的偏振 Zt0%E <C{
E.1 自然光和偏振光 !;!~5 "0~"
E.2 偏振光与Jones矩陈 Cj9O [
E.3 偏振光的获得 %
j{pz
E.4 偏振光的检验
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