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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 nXxnyom,
第一篇 光学多层膜设计 [~Z#yEiW^
第1章 光学薄膜特性的理论计算 [FW B
1.1 单色平面电磁波 ZQ[ s:
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 Ww{-(Ktx
1.3 光学薄膜特性的理论计算 rj5)b:c}
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 [Kbna>`
习题 Me; Nn$'%
第2章 光学薄膜的设计理论 ;:Kc{B.s
2.1 矢量作图法 \ }Pr!tk!
2.2 有效界面法 ,l\D@<F
2.3 对称膜系的等效层 z_z '3d.r7
2.4 导纳图解技术 Z \ -
习题 qEjsAL
第3章 光学薄膜系统的设计 Pp|pH|(n ,
3.1 减反射膜 [|HQfTp$
3.2 分束镜 ):Ekf2
3.3 高反射膜 &0-Pl.M
3.4 干涉截止滤光片 e9B$"_ &2
3.5 带通滤光片 :!,.c $M
3.6 特殊膜系 <5sfII
习题 x1:1 Jj:
参考文献 A?c?( ~9O
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 Z,b^f
Vw
第4章 薄膜制备技术 q?&J S
4.1 真空淀积工艺
q0\$wI
4.2 光学薄膜材料 Gv\fF;,R
4.3 薄膜厚度监控艺术 "QY~V{u 5
4.4 膜层厚度的均匀性 .>( qZ EF
习题 I,l zyxRP
参考文献 wtGb 3D"am
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 sF#t{x/sW
5.1 薄膜的形成过程 @(rLn
5.2 薄膜的微观结构 P`M1sON~
5.3 薄膜的成分 tLx8} @X"
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 'zTa]y]a
5.5 薄膜微观结构和改善 6[>Z y)P
习题 E __A1j*gd
参考文献 ^EKf_w-v
第三篇 光学薄膜检测技术 S'v UxOAo
第6章 薄膜透射率和反射率测量 3-2?mV>5
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 !myF_cv}'
6.2 薄膜反射率的测试 c1_?Z
6.3 薄膜反射率的测量 N;e*eMFE
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 * (<3 oIRS
6.5 总结 VnMiZAHR
习题 N" oJ3-~
参考文献 k+cHx799
第7章 薄膜的吸收和散射测量 YA^g [,
7.1 激光量热计基本原理 woK?td|/
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 i'vjvc~
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 \[x4
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 cY*lsBo
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 & |o V\L
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 $d7{ q3K&1
7.7 总结 93#wU })
习题 k$ } 6Qd
参考文献 \t@|-`
第8章 薄膜光学常数的测量 b ~ FmX
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 /d-7n|#E
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 ,cFp5tV$
8.3 薄膜波导法 u@zBE?
g
8.4 光学薄膜厚度的测试 ]qc2jut"
8.5 总结 ZCV N+::Y
习题 c b~ m==G
参考文献 ;rH@>VrR
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 bwh.ekf8
9.1 薄膜的力学特性检测技术 tMy@'nj
9.2 薄膜器件的环境试验 sWn U*Q
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 3bPvL/\Lb
9.4 总结 /c 1FFkq|K
习题 v4 Q8RE?
参考文献 DavG=kvd
附录 e: :H 1V
附录A 复数与复数运算 g @lAk%V4
A.1 复数的概念 ];go?.*C
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 "2bCq]I0
A.3 复数在物理中的运用 +P <Lo I
附录B 矩陈及矩陈运算 AHR[i%3W
B.1 矩陈的定义 re/l5v,|3
B.2 矩陈运算 ]Z\.Vx
附录C 光的电磁理论基础 zKk2>.
C.1 振动与波 5<ycF_
C.2 电磁波 A3N<;OOk
C.3 麦克斯韦方程 /P0%4aWu=
C.4 平面电磁波 DFt1{qS8@u
C.5 平面电磁波性质 Dl%NVi+n
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 gI^*O@Q4{b
附录D 光的干涉 HIi 5kv]}|
D.1 波的叠加原理 7>J8\=
D.2 杨氏干涉 6 l>$N?a
D.3 平板的表面干涉 $9\!CPZ2
D.4 光的空间相干性和时间相干性 Ij }RlYQz
附录E 光的偏振 X @)5F 9
E.1 自然光和偏振光 BS;_l"?
E.2 偏振光与Jones矩陈 2@aVoqrq#
E.3 偏振光的获得 :_Y@,CpIEg
E.4 偏振光的检验
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