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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 R `ob;>[Q
第一篇 光学多层膜设计 VJCj=jX
第1章 光学薄膜特性的理论计算 ma) +
G!
1.1 单色平面电磁波 _ ogN
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 oz|+{b}%
1.3 光学薄膜特性的理论计算 9q&~!>lt
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 Gb"kl.j
习题 9ku|w#%I
第2章 光学薄膜的设计理论 Sy mlirL
2.1 矢量作图法 V tU2&
2.2 有效界面法 9j-;-`$S
2.3 对称膜系的等效层 T 0b/txS
2.4 导纳图解技术 P9S)7&+DL
习题 GlJOb|WOX
第3章 光学薄膜系统的设计 ":=h1AJY
3.1 减反射膜 mT|r:Yr:
3.2 分束镜
y0) mBCX
3.3 高反射膜 [ {vX*q
3B
3.4 干涉截止滤光片 .;,,{ ;
3.5 带通滤光片 v9f%IE4fX
3.6 特殊膜系 qzZ;{>_f
习题 t)O]0)
s
参考文献 ku>Bxau4>
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 W! =ur,F+
第4章 薄膜制备技术 v=&xiw z}
4.1 真空淀积工艺 i`}9VaUG
4.2 光学薄膜材料 /%{ CJ0Y
4.3 薄膜厚度监控艺术 h *Mi/\
4.4 膜层厚度的均匀性 (58r9WhS
习题 ICG:4n(,
参考文献 ]'>jw# |h
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 ds{)p<LpT
5.1 薄膜的形成过程 :r:x|[3.
5.2 薄膜的微观结构 &a\G,Ma
5.3 薄膜的成分 ;uZ eYY?
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 KO[T&#y'
5.5 薄膜微观结构和改善 D& ],.N
习题 QMDkkNK
参考文献 8`I,KkWg
第三篇 光学薄膜检测技术 =4!m] *y
第6章 薄膜透射率和反射率测量 ^0(D2:E
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 Qdc)S>g p
6.2 薄膜反射率的测试 9 "M-nH*<
6.3 薄膜反射率的测量 2q9 $5
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 NKVLd_f k
6.5 总结 (&_~eYZU
习题 [8acan+
2l
参考文献 uFvR(LDb&g
第7章 薄膜的吸收和散射测量 (~" #=fs.L
7.1 激光量热计基本原理 a'>n'Y~E
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 (8N E'd8
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 YCdtf7P=q
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 j:^gmZ;J
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 ScT{Tb]9bt
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 &$~ir I
7.7 总结 ^7*zi_Q
习题 6mxzE3?G
参考文献 (H]NL
第8章 薄膜光学常数的测量 .`&k `
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 [l~G7u.d
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 _0iV6Bj
8.3 薄膜波导法 _ZK* p+u%
8.4 光学薄膜厚度的测试 n 6 c+Okj
8.5 总结 wkJ@#jD*[
习题 .[?2_e#9 %
参考文献 |#(y?! A ^
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 G//hZwf0
9.1 薄膜的力学特性检测技术 N{a=CaYi+
9.2 薄膜器件的环境试验 +7y#c20
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 fzN?X=
9.4 总结 ?MSV3uODb
习题 @$ ~;vS
参考文献 0R-W 9qP
附录 rWN%j)#+
附录A 复数与复数运算 h5v=h> c
A.1 复数的概念 "_+8z_
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 *3fhVl=8^*
A.3 复数在物理中的运用
-AB0uMot
附录B 矩陈及矩陈运算 tU.~7f#+A
B.1 矩陈的定义 z)u\(W*\iA
B.2 矩陈运算 xd+aO=)Td
附录C 光的电磁理论基础 *(Z\ "o!
C.1 振动与波 rX?%{M,xFw
C.2 电磁波 c+##!_[9
C.3 麦克斯韦方程 VMu?mqEa
C.4 平面电磁波 }Am5b@g"$Y
C.5 平面电磁波性质 |Rm_8n%m
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 {s:"mkR
附录D 光的干涉 o"p['m*g
D.1 波的叠加原理 4Q,|7@
D.2 杨氏干涉 1 q|iw
D.3 平板的表面干涉 J(9{P/
D.4 光的空间相干性和时间相干性 /1xBZf rN
附录E 光的偏振 E!=Iz5
E.1 自然光和偏振光 $ qR@ ;=
E.2 偏振光与Jones矩陈 Q $Sp'
E.3 偏振光的获得 G 4\|bwh
E.4 偏振光的检验
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