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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 GGnpjwXeH
第一篇 光学多层膜设计 ;\f gF @
第1章 光学薄膜特性的理论计算 Vx~,Uex0+
1.1 单色平面电磁波 (M*FIX
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 cWoPB
_
1.3 光学薄膜特性的理论计算 7;KwLT 9
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 0NS<?p~_S
习题 ?OkWe<:4
第2章 光学薄膜的设计理论 0q&<bV:D
2.1 矢量作图法 NR` C(^}
2.2 有效界面法 o4|M0
2.3 对称膜系的等效层 W[Ls|<Q
2.4 导纳图解技术 &YF^ j2
习题 XUz3*rfs
第3章 光学薄膜系统的设计 j'A_'g'^
3.1 减反射膜 z^'gx@YD*v
3.2 分束镜 9WyAb3d'
3.3 高反射膜 !\7!3$w'8,
3.4 干涉截止滤光片 |Y ?H A&
3.5 带通滤光片 BO ;6
u^[
3.6 特殊膜系 3j\1S1
习题 wK?vPS
参考文献 r>o63Q:
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 5`~PR
:dN
第4章 薄膜制备技术 HMSO=)@+
4.1 真空淀积工艺 L7dd(^
4.2 光学薄膜材料 vX/T3WV
4.3 薄膜厚度监控艺术
/;oX)]W
4.4 膜层厚度的均匀性 hDF@'G8F
习题 wOU_*uY@6'
参考文献 G3Z)Z) N
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 3kybLO G
5.1 薄膜的形成过程 E=nIRG|g
5.2 薄膜的微观结构 bbE!qk;hEP
5.3 薄膜的成分
!2ZF(@C /
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 { \81i8b]
5.5 薄膜微观结构和改善 Gefne[
习题 k$ blEa4
参考文献 F(>Np2oi6
第三篇 光学薄膜检测技术 ,U2*F Z["
第6章 薄膜透射率和反射率测量 A1O' |7X
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 x(1:s|Uyp{
6.2 薄膜反射率的测试 I>W=x'PkLn
6.3 薄膜反射率的测量 pH9VTM.*
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 LRL,m_gt
6.5 总结 hgPa6Kd
习题 pR=@S>!|
参考文献 ].-1v5
第7章 薄膜的吸收和散射测量 ZOh`(})h y
7.1 激光量热计基本原理 r>>%2Z-P
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 Mk"^?%PxT
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 `dq,>HdW
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 GS$ifv
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 g6j?,c|y
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 ,E S0NA
7.7 总结 -t!~%_WCv
习题 <:+ x+4ru
参考文献 < ^#,_o,!
第8章 薄膜光学常数的测量 ~vm%6CABM
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 ]cHgleHQ
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 =$' 6(aDH
8.3 薄膜波导法 aTH{'mN
8.4 光学薄膜厚度的测试 e"{{ TcNk
8.5 总结 p`olCp'
习题 P3x8UR=fS
参考文献 wr$("A(
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 ?:Uv[|S#>
9.1 薄膜的力学特性检测技术 6 ]K_m(F
9.2 薄膜器件的环境试验 'j#*6xD
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 em%4Ap
9.4 总结 XO.jl" xu
习题 W=N+VqK
参考文献 fDv2JdiU
附录 -*1d!
附录A 复数与复数运算 ^O?/yV?4c
A.1 复数的概念 ~~D{spMVO
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 P) Jgs
A.3 复数在物理中的运用
dm\F
附录B 矩陈及矩陈运算 /6)<}#
B.1 矩陈的定义 f\|w '
B.2 矩陈运算 o_izl \
附录C 光的电磁理论基础 Ri<u/ ]oR"
C.1 振动与波 I fK,b*%
C.2 电磁波 B6MB48#0gs
C.3 麦克斯韦方程 | mZxfI
C.4 平面电磁波 p_RsU`[
C.5 平面电磁波性质 94'&b=5+
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 [_BP)e
附录D 光的干涉 Cjn#00
D.1 波的叠加原理 %z=le7
D.2 杨氏干涉 Q *D;U[
D.3 平板的表面干涉 Kg{+T`
D.4 光的空间相干性和时间相干性 {&&z-^
附录E 光的偏振 4>wP7`/+y
E.1 自然光和偏振光 g9
.Q< JwO
E.2 偏振光与Jones矩陈 Xr,1&"B&t
E.3 偏振光的获得 8SMxw~9$
E.4 偏振光的检验
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