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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 -kP$S qR~
第一篇 光学多层膜设计 X:/7#fcG8
第1章 光学薄膜特性的理论计算 ~<Z7\yS)
1.1 单色平面电磁波 Z?<&@YQS
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 O@>Z YA%
1.3 光学薄膜特性的理论计算 to{7B7t>q
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 |})v,
o B
习题 N I:3hfs
第2章 光学薄膜的设计理论 JA$RY
2.1 矢量作图法 qoP /` Y6
2.2 有效界面法 5^97#;Q;J"
2.3 对称膜系的等效层 nh]HEG0CZJ
2.4 导纳图解技术 vd [?73:C
习题 l*z+<c6$_
第3章 光学薄膜系统的设计 8
KRo<
3.1 减反射膜 &u4;A[- R
3.2 分束镜 >r YkVl v
3.3 高反射膜 %,+&Kl
I
3.4 干涉截止滤光片 U;=1v:~d
3.5 带通滤光片 1=_Qj }!1
3.6 特殊膜系 Eq=j+ch7
习题 FOAXm4"
参考文献 %l3f .
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 /?1^&a
第4章 薄膜制备技术 S "/-)_{
4.1 真空淀积工艺 [NK&s:wMk
4.2 光学薄膜材料 d/[kky}
4.3 薄膜厚度监控艺术 i~LY
4.4 膜层厚度的均匀性 qi['~( (
习题 e!ql 8wbp
参考文献 d5"rCd[
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 P}"T 3u \N
5.1 薄膜的形成过程 *mz -g7
5.2 薄膜的微观结构 3*E]
:l_
5.3 薄膜的成分 3$9V4v@2
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 RBLOc$ 2
5.5 薄膜微观结构和改善 TSH'OW !b
习题 6 lL^/$]
参考文献 &Z(6i}f,Gp
第三篇 光学薄膜检测技术 i}O.,iH
第6章 薄膜透射率和反射率测量 *m kVk7 ]c
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 -6x h
6.2 薄膜反射率的测试 A: O"N
6.3 薄膜反射率的测量 B dP+>Ij
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 Y[s}?Xu]w#
6.5 总结 HLC I
习题 GHO6$iM)[
参考文献
D,()e^o
第7章 薄膜的吸收和散射测量 "TVmxE%(
7.1 激光量热计基本原理 8v)iOPmDC
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 : m<#\!?
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 + (Jh $b_
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 T@Z-;^aV
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 t)mc~M9w
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 Q)=2 %X
7.7 总结 \zeu vD
习题 iqFC~].)
参考文献 F<^f6z8
第8章 薄膜光学常数的测量 Fd<eh(g9P
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 <`u_O!h
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 RN$>!b/
8.3 薄膜波导法 qC B{dp/
8.4 光学薄膜厚度的测试
QQt4pDir>
8.5 总结 g" " Ep
习题 *-S?bv,T'
参考文献 CaVVlL
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 6Fc*&7Z+
9.1 薄膜的力学特性检测技术 A1*\ \[
9.2 薄膜器件的环境试验 r^ {Bw1+
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 h@TP =
9.4 总结 Yy;BJ _
习题 #|T2`uYotf
参考文献 P26"z))~d
附录 Pj_*,L`mZ
附录A 复数与复数运算 '.jYu7
A.1 复数的概念 @)wsHW%cjz
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 P&yB(M-z
A.3 复数在物理中的运用 G E? \Vm
附录B 矩陈及矩陈运算 #N;&^El
B.1 矩陈的定义 wB:<ICm
B.2 矩陈运算 Ko) f:=Qo
附录C 光的电磁理论基础 bn7g!2
C.1 振动与波 06?d#{?M1o
C.2 电磁波 hZw8*H^tP
C.3 麦克斯韦方程 < FY%QB)h
C.4 平面电磁波 K & %8w
C.5 平面电磁波性质 t*)!BZ
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 fe8hgTP|
附录D 光的干涉 C;%dZ
D.1 波的叠加原理 a }iP +#;
D.2 杨氏干涉 X3~` ~J
D.3 平板的表面干涉 y;(G%s1
D.4 光的空间相干性和时间相干性 u\"/EaQ{
附录E 光的偏振 QMy1!:Z&!
E.1 自然光和偏振光 cc8Q}
E.2 偏振光与Jones矩陈 ou{V/?rb
E.3 偏振光的获得 +N'&6z0Wf
E.4 偏振光的检验
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