| daluo |
2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 \$8p8MP<&D
第一篇 光学多层膜设计 (j)>npOd9
第1章 光学薄膜特性的理论计算 |ms Q
1.1 单色平面电磁波 6:bvq?5a5
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 !E/%H v1
1.3 光学薄膜特性的理论计算 ]\=M$:,RZ
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 W<H^V" ^
习题 V,3$>4x
第2章 光学薄膜的设计理论 sgeME^ v
2.1 矢量作图法 SI l<\
2.2 有效界面法 W-"FRTI4
2.3 对称膜系的等效层 bJ.6 8643
2.4 导纳图解技术 ")q O#b4
习题 !B*d ,_9 c
第3章 光学薄膜系统的设计 ZnB|vf L?
3.1 减反射膜
7w|4BRL
3.2 分束镜 1'J|yq
3.3 高反射膜 k@C]~1
3.4 干涉截止滤光片 #kEa&Se
3.5 带通滤光片 *j|BSd
P
3.6 特殊膜系 <+7-^o _
习题 ^p7Er !
参考文献 D)LqkfJ}z^
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 R$ 40cW3`
第4章 薄膜制备技术 [hXU$Y>"0
4.1 真空淀积工艺 DU[vLe |Z
4.2 光学薄膜材料 Y]1b3 9O
4.3 薄膜厚度监控艺术 A?Oa P
4.4 膜层厚度的均匀性 tB{O6=q
习题 R<-(
参考文献 9k!#5_ M
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 7b[ vZ Ni_
5.1 薄膜的形成过程 bQ2 '*T
5.2 薄膜的微观结构 V,Br|r$l(
5.3 薄膜的成分 ijWn,bj
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 jJCd2O]
5.5 薄膜微观结构和改善 DJhCe==$v
习题 ;GxKPy
参考文献 \XlT
第三篇 光学薄膜检测技术 [L@ vC>G
第6章 薄膜透射率和反射率测量 [2 cG 7A
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 8MPXrc,9-
6.2 薄膜反射率的测试 O>`DR0
6.3 薄膜反射率的测量 p2~MJ
LK4
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 vSy#[9}
6.5 总结 y"SVZ} ;|
习题 g"sW_y_O
参考文献 W.u}Q@
第7章 薄膜的吸收和散射测量 hK&/A+*
7.1 激光量热计基本原理 J Covk1
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 d^WEfH
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 mi Z&9m
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 >*%mJX/F
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 Am?
d HP
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 bR!*z
7.7 总结 EBN'u&zX
习题 f?1?$Sp/W
参考文献 RE(R5n28,
第8章 薄膜光学常数的测量 3Vl?;~ :5
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 SXA_P{j&a
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 2!b+}+:
8.3 薄膜波导法 s`G3SE
8.4 光学薄膜厚度的测试 Zg/ra1n
8.5 总结 Zi fAn
习题 WL< $(y:H
参考文献 D"m]`H
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 + AyrKs?h
9.1 薄膜的力学特性检测技术 -* u7MF q_
9.2 薄膜器件的环境试验 U1t 7XZ3e
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 r-s.i+\
9.4 总结 \ueo^p]_?
习题 T8 ,?\7)S9
参考文献 #B3P3\
附录 J]A!>|Ic
附录A 复数与复数运算 } Zue?! KQ
A.1 复数的概念 )8:Ltn%
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 .>0j<|~
A.3 复数在物理中的运用 R(sPU>`MX
附录B 矩陈及矩陈运算 ? -PRS.=%
B.1 矩陈的定义 #%x zy@`
B.2 矩陈运算 wtCz%!OYB
附录C 光的电磁理论基础 "RH pj3 si
C.1 振动与波 %EuJ~;x(Mg
C.2 电磁波 |<l
sv
C.3 麦克斯韦方程 lU0'5!3R,
C.4 平面电磁波 ]E\o<"#t/
C.5 平面电磁波性质 ~5[#c27E9
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 -l L(:drn
附录D 光的干涉 P\B ]><!ep
D.1 波的叠加原理 VFj}{Y
D.2 杨氏干涉 0HA`
D.3 平板的表面干涉 $
\j/ s:Y
D.4 光的空间相干性和时间相干性 /G`'9cD
附录E 光的偏振 6px(]QU
E.1 自然光和偏振光 82.::J'e
E.2 偏振光与Jones矩陈 Lj"@JF;c
E.3 偏振光的获得 Nv@SpV'
E.4 偏振光的检验
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