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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 KU*aJl_n,
第一篇 光学多层膜设计 $4~Z]-38#A
第1章 光学薄膜特性的理论计算 ?L0k |7
1.1 单色平面电磁波 M] +.xo+A
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 Ok|Dh;1_
1.3 光学薄膜特性的理论计算 -|f0;Fl
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 17,mqXX>
习题 A_Wa RYG
第2章 光学薄膜的设计理论 3"< 0_3?W
2.1 矢量作图法 +
d 3
2.2 有效界面法 &:IcwD&
2.3 对称膜系的等效层 gujP {Z
2.4 导纳图解技术 (>f`>6 V
习题 mF|KjX~s
第3章 光学薄膜系统的设计 iR lpNsN
3.1 减反射膜 HyOrAv
<
3.2 分束镜 ` C C=?E
3.3 高反射膜 mw}Bl;
- O
3.4 干涉截止滤光片 \v5;t9uBZ
3.5 带通滤光片 6>)nkD32g
3.6 特殊膜系 Dg"szJ-
习题 B /w&Lo
参考文献 Wz"H.hf
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 m{?f,Q=u@
第4章 薄膜制备技术 yjMN>L'
4.1 真空淀积工艺 ?w'86^_z
4.2 光学薄膜材料 U%q6n"[
Cr
4.3 薄膜厚度监控艺术 |2@*?o"ll
4.4 膜层厚度的均匀性 AO]cnh C
习题 OXb ShA&1
参考文献 %=Z/Frd
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 DcdEt=\)h
5.1 薄膜的形成过程 hV0fkQ.|
5.2 薄膜的微观结构 3)6 - S
5.3 薄膜的成分 V $w
lOMp
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 noL9@It0
5.5 薄膜微观结构和改善 !U>WAD9
习题 dFDf/ tH
参考文献 ,Kl?-W@
第三篇 光学薄膜检测技术 p r7lm5
第6章 薄膜透射率和反射率测量 3Jlap=]68S
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 Rz|@Bx B>n
6.2 薄膜反射率的测试 X!/Sk1
6.3 薄膜反射率的测量 h9CTcWGt
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 .(.<
6.5 总结 S\ < i`q
习题 dt,Z^z+" E
参考文献 ujS oWs
第7章 薄膜的吸收和散射测量 QDV+(
7.1 激光量热计基本原理 "t(_r@q U/
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 Iia.`"S
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 rzn,N FI
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 i!e8-gVMP&
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 0.0-rd>
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 >h#w~@e::
7.7 总结 5TB6QLPEwY
习题 ^Y%_{
参考文献 y32$b,%Xi,
第8章 薄膜光学常数的测量 xlu4
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 @v2ko5
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 ?_^{9q%9
8.3 薄膜波导法 <?5|(Q"@:
8.4 光学薄膜厚度的测试 HOFxOBV
8.5 总结 }UB@FRPF
习题 z|D*ymz*EY
参考文献 @x+2b0 b
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 ? SElJ? Z
9.1 薄膜的力学特性检测技术 7<;oz30G!L
9.2 薄膜器件的环境试验 0FI
|7
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 J:glJ '4E
9.4 总结 n "6L\u
习题 _3yG<'f[Y
参考文献 W Eif&<Y
附录 ,:A;4
附录A 复数与复数运算 |oXd4
A.1 复数的概念 BB(6[V"SV
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 z_fjmqa?
A.3 复数在物理中的运用 p\ ;| Z+0=
附录B 矩陈及矩陈运算 yvo z 3_!
B.1 矩陈的定义 o25rKC=o
B.2 矩陈运算 !h7.xl OpN
附录C 光的电磁理论基础 ~Q]5g7k=&
C.1 振动与波 cS9 jGD92
C.2 电磁波 Dz6x x?
C.3 麦克斯韦方程 /0XMQy
C.4 平面电磁波 eOE*$pH
C.5 平面电磁波性质 Rt+ -ud{O
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 pOo016afmA
附录D 光的干涉 x'I!f? / &
D.1 波的叠加原理 %NxQb '
D.2 杨氏干涉 5P-t{<]tx
D.3 平板的表面干涉 kt978qfk
D.4 光的空间相干性和时间相干性 3^+D,)#D^
附录E 光的偏振 V&s|I oTR
E.1 自然光和偏振光 P a{
E.2 偏振光与Jones矩陈 sr c+z #
E.3 偏振光的获得 Fds
11
/c7
E.4 偏振光的检验
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