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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 #TUsi ,jG
第一篇 光学多层膜设计 Uc }L/ax
第1章 光学薄膜特性的理论计算 0X)'8N
1.1 单色平面电磁波 OZ_'& CZ
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 L vc*L6
1.3 光学薄膜特性的理论计算 1C=}4^Pu
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 oj<.axA,
习题 Ah &D5,3
第2章 光学薄膜的设计理论 6yF 4%Sz9
2.1 矢量作图法 2&]UFg:8Q
2.2 有效界面法 &K`[SX=
2.3 对称膜系的等效层 {61NLF\0H
2.4 导纳图解技术 -?!Z/#i4
习题 q01zN:|-1
第3章 光学薄膜系统的设计 ;=6 ++Oq
3.1 减反射膜 +iwNM+K/gQ
3.2 分束镜 1` m ~c
3.3 高反射膜 `2NL'O:
3.4 干涉截止滤光片 }{Lf 4|8
3.5 带通滤光片 $;+B)#
3.6 特殊膜系 g=[ F W@z
习题 E+"INX7
参考文献 qB7.LR*'
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 S]1+tj
第4章 薄膜制备技术 x-Z`^O
4.1 真空淀积工艺 f b_tda",}
4.2 光学薄膜材料 "^<:7 _Y
4.3 薄膜厚度监控艺术 FWdSpaas Q
4.4 膜层厚度的均匀性 (J<@e!@NE
习题 &. o}(e:]
参考文献 t_,iV9NrZ
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 G+'MT C_
5.1 薄膜的形成过程 w]) bQ 7)
5.2 薄膜的微观结构 !hF b <
5.3 薄膜的成分 E] t:_v
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 t22BO@gt74
5.5 薄膜微观结构和改善 KE 16BjX@
习题 xvjHGgWSxc
参考文献 Cz?N[dh h
第三篇 光学薄膜检测技术 [gz w<b:`
第6章 薄膜透射率和反射率测量 JO7IzD\
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 w_,.
6.2 薄膜反射率的测试 D Z ~|yH
6.3 薄膜反射率的测量 ED"5y
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 }.2pR*W
6.5 总结 ERGDo=j
习题 2v`VtV|B
参考文献 n1uJQt
第7章 薄膜的吸收和散射测量 @'R4zJ&+S
7.1 激光量热计基本原理 vo uQ.utl
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 V>A@S w
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 =[t( [DG
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 \#2,1 W@
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 c 2?(.UV
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 J%f5NSSU{6
7.7 总结 Q-O:L
习题 x}N+vK
参考文献 t wtGkkC
第8章 薄膜光学常数的测量 wXXv0OzK
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 qg:1
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 -&))$h3o\
8.3 薄膜波导法 PM =I
8.4 光学薄膜厚度的测试 [JMz~~ F
8.5 总结 y
@Y @"y
习题 4p>@UB&U
参考文献 )/bt/,M&}
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 8DLR
9.1 薄膜的力学特性检测技术 ]ueq& |
9.2 薄膜器件的环境试验 I g-VSQ
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 >0@X^o
9.4 总结 )V)4N[?GC
习题 &E {/s
参考文献 dWD9YI Yf
附录 A>7'W\R
附录A 复数与复数运算 0[PP Vr:
A.1 复数的概念 N1P [&lR
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 &}:Hp9n
A.3 复数在物理中的运用 xC<OFpI\
附录B 矩陈及矩陈运算 )dC%g=dtc
B.1 矩陈的定义 @ %ChPjN
B.2 矩陈运算 ?@_3B]Fs
附录C 光的电磁理论基础 R\0]\JEc
C.1 振动与波 WF *2^iWJ
C.2 电磁波 5>}L3r>a;
C.3 麦克斯韦方程 (.%:Q0i1
C.4 平面电磁波 @U5 +1Hjc
C.5 平面电磁波性质 HEjV7g0E
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 H0tjN&O_
附录D 光的干涉 CX CU5 -
D.1 波的叠加原理 nF
A7@hsm
D.2 杨氏干涉 D9# e2ex]
D.3 平板的表面干涉 RG: ct{i
D.4 光的空间相干性和时间相干性 "St, 4 b
附录E 光的偏振 A3'i
-
E.1 自然光和偏振光 lP9a * >=a
E.2 偏振光与Jones矩陈 S 5m1~fz
E.3 偏振光的获得 k wGj 7'
E.4 偏振光的检验
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