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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 7v"lNP-?jU
第一篇 光学多层膜设计 P\R27Jd
第1章 光学薄膜特性的理论计算 :
mGAt[Cc
1.1 单色平面电磁波 _D!g4"
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 U8QX46Br
1.3 光学薄膜特性的理论计算 $ 17
su')
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 pw020}`
习题
~= n#}{/
第2章 光学薄膜的设计理论 %!j:fJ()
2.1 矢量作图法 c| ~6Ie
2.2 有效界面法 @e2}BhB2
2.3 对称膜系的等效层 %}Q&1P=
2.4 导纳图解技术 le >Wm& E
习题 qN|
fEO >
第3章 光学薄膜系统的设计 L\aB c}
3.1 减反射膜 rP=sG;d
3.2 分束镜 ?w&SW{ I
3.3 高反射膜 *Td nB'Gd
3.4 干涉截止滤光片 $.mQ7XDA9
3.5 带通滤光片 ?/#}ZZK^
3.6 特殊膜系 7S^""*Q^
习题 x%>
e)L<
参考文献 5i So8*9}
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 A2H4k|8
第4章 薄膜制备技术 b'@we0V@S
4.1 真空淀积工艺 ~%y @Xsot>
4.2 光学薄膜材料 ]> !<G8 =N
4.3 薄膜厚度监控艺术 hZ\+FOx;
4.4 膜层厚度的均匀性 L;t)c
习题 .w?
.ib(
参考文献 u=+q$ Q]
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 t,%iL
5.1 薄膜的形成过程 ^U7OMl4Usq
5.2 薄膜的微观结构 dfj\RIV8
5.3 薄膜的成分 ;&;W
T
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 7 6fIC
5.5 薄膜微观结构和改善 +SXIZ`
习题 !$qKb_#nC
参考文献 [THG4582oB
第三篇 光学薄膜检测技术 &lc8G
第6章 薄膜透射率和反射率测量 T)CzK<LbR
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 vq'c@yw;
6.2 薄膜反射率的测试 2s ,8R
6.3 薄膜反射率的测量 x2VBm$>
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 o@E/r.uK
6.5 总结 XAOak$(j
习题 t` ^ Vb-
参考文献 xBnbF [
第7章 薄膜的吸收和散射测量 5"Kx9n|
7.1 激光量热计基本原理 =d;Vk
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 *e"a0
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 @]CF&: P A
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 I=DLPgzO9
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 QGnxQ{ko
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 "k W!{n
7.7 总结 ;."<m
习题 wOgE|n
参考文献 ph:3|d
第8章 薄膜光学常数的测量 ;-mdi/*g
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 %Q|eiXD
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 XFZ~ #DT&
8.3 薄膜波导法 | ?m` xO
8.4 光学薄膜厚度的测试
0au)g!ti
8.5 总结 P.WYTst=
习题 /ci]}`'ws
参考文献 Ps[$.h
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 zi] %Zp
9.1 薄膜的力学特性检测技术 m 40m<@
9.2 薄膜器件的环境试验 *e.*=$
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 B~WtZ-%%E
9.4 总结 ]L_w$ev'
习题 0`#(Toe{B
参考文献 % "3 )TN4
附录 d 4{FDqto
附录A 复数与复数运算 eBW=^B"y+
A.1 复数的概念 Q %=YM4 ;
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 KpZ:Nh$
A.3 复数在物理中的运用 B;zt#H4
附录B 矩陈及矩陈运算 Gy29MUF
B.1 矩陈的定义 &vUq}r%P
B.2 矩陈运算 8Cf|*C+_'
附录C 光的电磁理论基础 oW }!vf3z
C.1 振动与波 6o&ZIY J9k
C.2 电磁波 +JdZPb
C.3 麦克斯韦方程 T3J'f jY
C.4 平面电磁波 {5Lj8 N5
C.5 平面电磁波性质 gvavs+H %
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 wG Ko.lt
附录D 光的干涉 `H%G3M0a
D.1 波的叠加原理 &k>aP 0k"
D.2 杨氏干涉 'VnwG
D.3 平板的表面干涉 Rs;15@t@
D.4 光的空间相干性和时间相干性 | w &~g9
附录E 光的偏振 mX# "+X|
E.1 自然光和偏振光 y2Bh?>pg
E.2 偏振光与Jones矩陈 fjz) Gp
E.3 偏振光的获得 u:P~ j
E.4 偏振光的检验
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