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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 mp+lN:
第一篇 光学多层膜设计 I\oI"\}U
第1章 光学薄膜特性的理论计算 D" +xF&
1.1 单色平面电磁波 4f{(Scg
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 nLv"ON~
1.3 光学薄膜特性的理论计算 Tq=OYJq5U
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 !m tX*;b(e
习题 kpt 0spp
第2章 光学薄膜的设计理论 7K}Sk
2.1 矢量作图法 f3Cjj]RFv
2.2 有效界面法 /?Fa<{
2.3 对称膜系的等效层 {Tym#
2.4 导纳图解技术 =a3qpPkx
习题 ~}F$1;t0
第3章 光学薄膜系统的设计 (>gAnebN
L
3.1 减反射膜 wa}\bNKQk
3.2 分束镜 ,c\3 b)ax
3.3 高反射膜 l~9P 4
,
3.4 干涉截止滤光片 = ;"$t_t
3.5 带通滤光片 6Jf\}^4@k
3.6 特殊膜系 X6lR?6u%|
习题 .ko}m{
参考文献 %T :7I[f
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 |6}:n,KA.
第4章 薄膜制备技术 0/Wo":R:
4.1 真空淀积工艺 /\&Wk;u3
4.2 光学薄膜材料 " O,TL *$
4.3 薄膜厚度监控艺术 T2V#
fYCc
4.4 膜层厚度的均匀性 09 >lx$
习题 d 9n{jv|
参考文献 EO[U ezuU
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 sTALO L<
5.1 薄膜的形成过程 yAt,XG3
5.2 薄膜的微观结构 A& ~<qgBTp
5.3 薄膜的成分 7iJ=~po:o
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 NFQR
5.5 薄膜微观结构和改善 \x_fP;ma=_
习题 D3+ UV+&R/
参考文献 ve |`I=?2
第三篇 光学薄膜检测技术 W~&PGmRI
第6章 薄膜透射率和反射率测量 M;i4ss,}!
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 w/(hEF '
6.2 薄膜反射率的测试 Py)'%e
6.3 薄膜反射率的测量 + ^9;<>P
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 }m6j6uAR6)
6.5 总结 "/-T{p;.
习题 ^Q\O8f[u
参考文献 iVKX *kqc
第7章 薄膜的吸收和散射测量 !MiH^wP
7.1 激光量热计基本原理 K&WNtk3hT
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 q3s
+?&
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 dU~DlaEy(
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 mf>cv2+
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 MFyMo
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 j BvZ>H+w~
7.7 总结 _\P9~w
`
习题 h*qoe(+ZD
参考文献 G
39
第8章 薄膜光学常数的测量 P|S'MS';:
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 mQOYjy3
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 qOKC2WD
8.3 薄膜波导法 DfCo=
8.4 光学薄膜厚度的测试 UJ'}p&E
8.5 总结 `euk&]/^.)
习题 [We(0wF[`
参考文献 1z\>>N$7B
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 MO{6B#(<F
9.1 薄膜的力学特性检测技术 +C{ %pF
9.2 薄膜器件的环境试验 l|[8'*]r!
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 #egP*{F
9.4 总结 #<7ajmr
习题 K_J o^BZ
参考文献 9 xvE?8;M#
附录 #0HF7C3
附录A 复数与复数运算 =~&Fq$$
A.1 复数的概念 K%: :
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 7]q $ sQ
A.3 复数在物理中的运用 HgwL~vG
附录B 矩陈及矩陈运算 ?^F#}>C
B.1 矩陈的定义 h<wF;g,
B.2 矩陈运算 ms8PF u(f
附录C 光的电磁理论基础 NC 0H5
C.1 振动与波 NC; 4
C.2 电磁波 %Nb hR(
C.3 麦克斯韦方程 S-8O9
C.4 平面电磁波 |4i,Vkfhe
C.5 平面电磁波性质 -4JdK O
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 =s P6
附录D 光的干涉 EiY i <Z_S
D.1 波的叠加原理 ]FLuiC
D.2 杨氏干涉 \^wI9g~0
D.3 平板的表面干涉 Ah_'.r1<P9
D.4 光的空间相干性和时间相干性 _|MY/SN4A
附录E 光的偏振 ;6o p|
E.1 自然光和偏振光 BPnZ"w_
E.2 偏振光与Jones矩陈 K5Fzmo a
E.3 偏振光的获得 ChLU(IPo6
E.4 偏振光的检验
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