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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 G{s
q|1
第一篇 光学多层膜设计 0bIhP,4&
第1章 光学薄膜特性的理论计算 M-f; ,>
1.1 单色平面电磁波 ;#2yF34gv
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 _`]YWvh
1.3 光学薄膜特性的理论计算 K30{Fcb< h
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 1`&"U[{
习题 sU? %"q
第2章 光学薄膜的设计理论 BG20R=p
2.1 矢量作图法 _ %aJ/Y0Cy
2.2 有效界面法 wtro'r3
2.3 对称膜系的等效层 [tz}H&
2.4 导纳图解技术 y}lqF8s
习题 ?F%,d{^
第3章 光学薄膜系统的设计 ]OA8H[U-eA
3.1 减反射膜 7N fA)$
3.2 分束镜 K<w$
3.3 高反射膜 .\ces2,
3.4 干涉截止滤光片 v+`gQXJ"G
3.5 带通滤光片 lZ }H? n%
3.6 特殊膜系 |rk4,NG.
习题 F| O
参考文献 5F|oNI}$:
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 u "1Zv!
第4章 薄膜制备技术 64-;| k4F
4.1 真空淀积工艺 ~W j.
4b*
4.2 光学薄膜材料 xrl!$xE
GX
4.3 薄膜厚度监控艺术 V> @+&q
4.4 膜层厚度的均匀性 eB *0})
习题 L(qQ,1VY
参考文献 5 XA{<)$
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 zH+ a*R
5.1 薄膜的形成过程 r(cd?sL96R
5.2 薄膜的微观结构 /aD3E"Op
5.3 薄膜的成分 L YyOcb[x
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 N(^
q%eHp
5.5 薄膜微观结构和改善 jAb R[QR1%
习题 4brKAqg.
参考文献 :H QQ8uQfb
第三篇 光学薄膜检测技术 J9*$@&@S
第6章 薄膜透射率和反射率测量 sDnXgCcS!
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 .:=G=v=1
6.2 薄膜反射率的测试 J PK( S~
6.3 薄膜反射率的测量 iqP MCOPZ
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 L L^WeD_Y
6.5 总结 ]728x["(19
习题 Rz9Ij L.Z
参考文献 6#/v:;bF
第7章 薄膜的吸收和散射测量 #Z]l 4d3{T
7.1 激光量热计基本原理 1x~dsM;q
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 xF8^#J6>
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 gG6j>%y
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 &!5S'J %
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 i@p0Jnh|
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 iSg^np
7.7 总结 \_J;i[
习题 )4BLm
参考文献 '6zD`Q
第8章 薄膜光学常数的测量 ^6(Nu|6\@
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 of k@.TmO
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 ny{Yr>:2
8.3 薄膜波导法 NhYc e>
8.4 光学薄膜厚度的测试 .~t.B!rVSB
8.5 总结 U sS"WflB
习题 Y(3X5v?[
参考文献 H!yqIh
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 %DR8M\d1~H
9.1 薄膜的力学特性检测技术 2/m4|
9.2 薄膜器件的环境试验 R+y 9JE
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 cg]>*lH
9.4 总结 AeN$AqQd/
习题 [uD G;We=
参考文献 ,`O.0e4pn
附录 tlJ@@v&=
附录A 复数与复数运算 2jiH &'@
A.1 复数的概念 qzt.k^'-^
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 84eq T[I'
A.3 复数在物理中的运用 \x9.[?;=e
附录B 矩陈及矩陈运算 M4`. [P4
B.1 矩陈的定义 o1zKns?
B.2 矩陈运算 n Wz7$O
附录C 光的电磁理论基础 $]t3pAI[H0
C.1 振动与波 -L&%,%
C.2 电磁波 /\0g)B;]
C.3 麦克斯韦方程 \]= ''C=J
C.4 平面电磁波 MGU% "7i'}
C.5 平面电磁波性质 o3OtG#g2
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 X&14;lu%p
附录D 光的干涉 GI _.[
D.1 波的叠加原理 FZ~^cK9g:
D.2 杨氏干涉 ZGZ1Q/WH
D.3 平板的表面干涉 p]E \!/
D.4 光的空间相干性和时间相干性 Q^! x8oUF
附录E 光的偏振 =)mA.j}E2
E.1 自然光和偏振光 \\UOpl
E.2 偏振光与Jones矩陈 x^]J^L45
E.3 偏振光的获得 la}Xo0nq0+
E.4 偏振光的检验
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