| daluo |
2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 :
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第一篇 光学多层膜设计 4{TUoI6ii
第1章 光学薄膜特性的理论计算 (`& g
1.1 单色平面电磁波 j, Y=GjfGM
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 /D12N'VaE
1.3 光学薄膜特性的理论计算 f XN;N&I
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 b3ZPlLx6
习题 GZ"O%: d
第2章 光学薄膜的设计理论 *-7 O|
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2.1 矢量作图法 R!O'DM+
2.2 有效界面法 ji "*=i
2.3 对称膜系的等效层 XX =A1#H
2.4 导纳图解技术 {r"HR%*u
习题 I'";
第3章 光学薄膜系统的设计 "(5M }5D
3.1 减反射膜 Lt)t}0
3.2 分束镜 Z1&8 U=pax
3.3 高反射膜 x|Dj
3.4 干涉截止滤光片 2 IGAZ%%
3.5 带通滤光片 B}vI<?c
3.6 特殊膜系 xk,E
A U
习题 5%9&
7
参考文献 KF.?b]
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 %!@Dop/<
第4章 薄膜制备技术 o_cj-
4.1 真空淀积工艺 /)|*Vzu
4.2 光学薄膜材料 q
o'1Pknz
4.3 薄膜厚度监控艺术 &{$\]sv
4.4 膜层厚度的均匀性 2`;
0y M
习题 pl%ag~i5
参考文献 [p(Y|~
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 Kh27[@ s
5.1 薄膜的形成过程 +m"iJW0
5.2 薄膜的微观结构 RtSk;U1
5.3 薄膜的成分 PffRV7qU0
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 |XQ!xFB
5.5 薄膜微观结构和改善 `.n[G~*w~1
习题 r8m E
参考文献 $
_ gMJ\{
第三篇 光学薄膜检测技术 b747 eR 7E
第6章 薄膜透射率和反射率测量 Lm8 cY
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 ^uYxeQY[
6.2 薄膜反射率的测试 )%*uMuF
6.3 薄膜反射率的测量 U!('`TYe
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 h5F1mr1Sa
6.5 总结 sx6`
g;
习题 K]RkKMT,
参考文献 b.$Gc!g
第7章 薄膜的吸收和散射测量 L|v1= qNH4
7.1 激光量热计基本原理 Q?vGg{>
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 IKpNc+;p
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 )=~1m85+5B
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 8G9V8hS1#B
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 2Ddrxc>48
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 {W @Y4Qqq
7.7 总结 #bnFR
习题 /<GygRs
参考文献 m~# O
~)
第8章 薄膜光学常数的测量 A\WgtM
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 _,5(HETE2
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 *8Gx_$t&
8.3 薄膜波导法 KVJiCdg -
8.4 光学薄膜厚度的测试 dq[CT
8.5 总结 B6,"S5@
习题 ,rQznE1e
参考文献
>hHn{3y
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 F`f#gpQ
9.1 薄膜的力学特性检测技术 O0 wD"V^W
9.2 薄膜器件的环境试验 <UeO+M(
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 Krz[ f
9.4 总结 nsYS0
习题 K5b8lc
参考文献 \3x,)~m
附录 Q9{%
附录A 复数与复数运算 9;kWuP>k4u
A.1 复数的概念 <vOljo
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 Aqq%HgY:t
A.3 复数在物理中的运用 g {wDI7"<q
附录B 矩陈及矩陈运算 tFXG4+$D
B.1 矩陈的定义 (1*?2u *j
B.2 矩陈运算 LDO@$jg
附录C 光的电磁理论基础 JQ!D8Ut
C.1 振动与波 #}l }1^$
C.2 电磁波 yjc:+Y{5'
C.3 麦克斯韦方程 }wz )"
C.4 平面电磁波 q
f-1}
C.5 平面电磁波性质 ,0;E_i7
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 )N<>L/R
附录D 光的干涉 x-Yt@}6mvl
D.1 波的叠加原理 19h8p>Sx0
D.2 杨氏干涉 b>?X8)f2e
D.3 平板的表面干涉 h$y1"!N(
D.4 光的空间相干性和时间相干性 { 6*h';~
附录E 光的偏振 -fn["R]
E.1 自然光和偏振光 'Q ?nU^:F#
E.2 偏振光与Jones矩陈 g tJUQu p2
E.3 偏振光的获得 | \ C{R
E.4 偏振光的检验
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