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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 6aHD?a o
第一篇 光学多层膜设计 U] GD6q
第1章 光学薄膜特性的理论计算 (EosLn
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1.1 单色平面电磁波 Mlo,F1'?>
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 La '6 k
1.3 光学薄膜特性的理论计算 K*b* ]hf{
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 8Q)|8xpYS
习题 <Z.{q Zd
第2章 光学薄膜的设计理论 I=< Qpd4
2.1 矢量作图法 [XDV-6KCE.
2.2 有效界面法 qhcx\eD:?
2.3 对称膜系的等效层 W}3%BWn
2.4 导纳图解技术 Y_jc *S
习题 4Otq3s34FT
第3章 光学薄膜系统的设计 .s,04xW\
3.1 减反射膜 ry=8Oq&[~
3.2 分束镜 >JsVIfAF
3.3 高反射膜 8]b;l; W5
3.4 干涉截止滤光片 GK1nGdT]
3.5 带通滤光片 _6r[m sH"
3.6 特殊膜系 y {Bajil
习题 " JLE
参考文献 c^pQitPv
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 qGMU>J.;c
第4章 薄膜制备技术 {,h_T0D^j
4.1 真空淀积工艺 ,Z b
4.2 光学薄膜材料 ty"L&$bf
4.3 薄膜厚度监控艺术 jXALL8[c
4.4 膜层厚度的均匀性 U5~aG!E
习题 RN[ x\" ,
参考文献 h% W,O,K/
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 kBrA ?
5.1 薄膜的形成过程 W#NZnxOX"
5.2 薄膜的微观结构 |nnFjGC`~
5.3 薄膜的成分 'kC#GTZi
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 \z FC ph4
5.5 薄膜微观结构和改善 9@q!~ur
习题 &I8DK).M+
参考文献 U\qbr.<
第三篇 光学薄膜检测技术 _/}$X"4
第6章 薄膜透射率和反射率测量 u pUJF`3
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 j
n SZ@u
6.2 薄膜反射率的测试 <a
-a~
6.3 薄膜反射率的测量 SG\ /m'F
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 LiQH!yHW
6.5 总结 l emV&$WN|
习题 !> +Lre@
参考文献 O|=?!|`o
第7章 薄膜的吸收和散射测量 j?]+~
7.1 激光量热计基本原理 SC4jKm2
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 G;u~H<
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 C6a-
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 DBcR1c&<H
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 {Ke
IYjE
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 .B2e$`s$
7.7 总结 {v=[~H>bt
习题 LK*9`dzv=G
参考文献 ^b|? ?9&
第8章 薄膜光学常数的测量 W=293mME
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 iM:-750n/
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 PHI c7*_
8.3 薄膜波导法 R[v<mo[s
8.4 光学薄膜厚度的测试 mr G?5.7W
8.5 总结 ]:?S}DRG
习题 R_GA`U\ {
参考文献 J>#yA0QD2
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 V/"RCqY4
9.1 薄膜的力学特性检测技术 6 ]<yR>
'
9.2 薄膜器件的环境试验 d#bg(y\G|
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 A=|a!N/
9.4 总结 o_Y?s+~i[/
习题 #Y-_ kQV*
参考文献 wG)[Ik6:
附录 Z> Rshtg
附录A 复数与复数运算 i(.PkYkaq
A.1 复数的概念 Y`-q[F ?\y
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 <'sm($.2
A.3 复数在物理中的运用 W
wj+\
附录B 矩陈及矩陈运算 1'TS!/ll];
B.1 矩陈的定义 gYGoJH1
B.2 矩陈运算 F 8sOc&L
附录C 光的电磁理论基础 7^! zT
C.1 振动与波 ,f,+) C$
C.2 电磁波 G^SJhdO(Q
C.3 麦克斯韦方程 tlvZy+Blv
C.4 平面电磁波 u 6l)s0Q
C.5 平面电磁波性质 30Qp:_D
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 ]K>bSK ^TX
附录D 光的干涉 Q$`uZ
D.1 波的叠加原理 iRG6Cw2
D.2 杨氏干涉 tK *y/S
D.3 平板的表面干涉 P()W\+",n
D.4 光的空间相干性和时间相干性 2MYez>D
附录E 光的偏振 sa Q
~v@
E.1 自然光和偏振光 &;JeLL1J
E.2 偏振光与Jones矩陈 ^
. A
E.3 偏振光的获得 Zn)o@'{}{
E.4 偏振光的检验
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