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2018-05-30 10:56 |
光学断层扫描干涉法
摘要 031.u<_ L!b0y7yR 扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 0m YZ7S5g MV;Y?%> [attachment=84368] VRQbf sHPwW5j/o' 建模任务 >&Ui* MHr0CYyb. [attachment=84369] 60~>f)vu PxVI{:Uz 结果 ;GgQ@s@ Jyz$&jqyr' [attachment=84370] x [{q&N!"` mA] 84zO 文件信息 J,0WQQnb lF}$`6 [attachment=84389] "J[i=~( 5)>ZO)F& (来源:讯技光电) ug6f
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