| xunjigd |
2018-05-30 10:56 |
光学断层扫描干涉法
摘要 y>^^.
tgK
I
扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。 _kj]vbG^ ;
tMI YVHGy
[attachment=84368] >ZgzE
*T|B'80
建模任务 )O]T}eI
Hcq.Lq;2:
[attachment=84369] Ifj&S'():
6OES'3 Cy
结果 'y8{, R4C
[VCC+_
[attachment=84370] ~4S$+* '8
K2x[ApS#
文件信息 ^PksXfk
}'X=& 3m
[attachment=84389] IV QH
p
tT$OnZu&
（来源：讯技光电） ]n 22+]D
|
|