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2018-05-30 10:56 |
光学断层扫描干涉法
摘要 eU_|.2 %Q"zU9 扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 ;>[).fX>/ lGqwB,K$z4 [attachment=84368] f ^mxj/%L |o~<Ti6] 建模任务 x^_Wfkch] r:K)Q@ [attachment=84369] yAtM|:qq @eMDRbgq;[ 结果 ,S;?3? a USu/Y29 [attachment=84370] k\_>/)g Ou/@!Y1 文件信息 6"WR}S0o `
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