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2018-05-30 10:56 |
光学断层扫描干涉法
摘要 qzJ<9H @XolFOL"f" 扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 ,dTmI{@O $A9Pi"/*z [attachment=84368] Q&vdBO/ _J!&R:]$ 建模任务 I=#`8deH( R'`'q1=R [attachment=84369] wEM=Tr/h Lo_+W1+ 结果 xl`AiO `K bY.VNA [attachment=84370] wpYk`Lr ,>rvl P 文件信息 G\BZ^SwE ih/E,B" [attachment=84389] 6
h#U,G 3p&T?E% (来源:讯技光电) /P@%{y
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