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2018-05-30 10:56 |
光学断层扫描干涉法
摘要 :PBW=W /Y| <0tq 扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 M?I^`6IOc8 _] us1 [attachment=84368] O66b^*=N}x ;;Jx1Q 建模任务 =@MJEo` D tQ`|MO&o [attachment=84369] Bm&6 @Z
Dd(xB& 结果 LmP pt3[ Lg|]|,%e [attachment=84370] S4
s#EDs K8h\T4 文件信息 Cw~fP[5XMF 8*&YQId~ [attachment=84389] d5n>2iO _ U Y5 (来源:讯技光电) 1tl qw
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