散射特性BSDF测量
散射特性用来描述入射杂散光在光机件表面上如何传播和扩散，是进行精确杂散光仿真分析的基础。如果表面散射模型描述不准确，则杂散光在光学系统中的传播路径与实际存在一定甚至很大的偏差，从而导致分析结果准确性和可靠性不高。因此，需要实测样片的散射特性以满足高精度杂散光分析需求。散射特性一般由双向散射分布函数(BSDF)或双向反射分布函数(BRDF)或双向透射分布函数(BDDF)描述，其定义为： [attachment=81467] 其中L为辐射亮度、E为辐射照度、θ为极角、φ为方位角。 下标i表示入射、s表示散射。 本公司引进的散射特性测量仪为德国夫琅和费IOF研制的ALBATROSS-TT，如下图所示。 [attachment=81466] ALBATROSS-TT散射特性测量仪 .y
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该散射特性测量仪具有角度分辨率高，测试灵敏度高，测试动态范围大等特点，其主要技术指标为： 4A2}3$c9
u 可测波长：405/532/640nm； x9 > ho
u 测量精度：优于0.2%； r
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g
u 重复性精度：优于0.1%； ga
+,
P
u 角度精度：优于0.1°； cr!8Tp;2A
u 动态范围：˃1013； ;^M E
u 等效噪声BSDF：˂10-8 sr-1。 jSp&\Wj b
ALBATROSS-TT散射特性测量仪主要用于光学系统光机件表面散射特性测量，包括双向反射分布函数（BRDF）、双向透射分布函数（BTDF）和半球空间积分散射TIS测量。还可用于光学元件表面的反射率和透过率测量（绝对测量）。[attachment=81469] 结构件双向反射分布函数BRDF测量曲线（ALBATROSS-TT测量） [attachment=81470] 光学件双向反射分布函数BRDF测量曲线（ALBATROSS-TT测量） [attachment=81471] 光学件双向透射分布函数BTDF测量曲线（ALBATROSS-TT测量） JR] 2Ray
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